CN117110676A - 通过示例进行波形搜索的设备和方法 - Google Patents

Abstract

提供了通过示例进行波形搜索的设备和方法。一种测试和测量仪器包括用于接受来自被测设备(DUT)的输入信号的输入、用于存储从输入信号得出的采样波形的采集存储器、输出显示器以及一个或多个处理器，所述一个或多个处理器被配置为：接受采样波形的一部分作为搜索部分；在采样波形中搜索与搜索部分相似的部分；以及在输出显示器上可视地指示采样波形中与搜索部分相似的部分作为匹配部分。还描述了操作方法和存储介质的描述，存储介质的操作执行上述操作。

Description

通过示例进行波形搜索的设备和方法

相关申请的交叉引用

本公开要求2022年4月19日提交的题为“WAVEFORM SEARCH BY EXAMPLE”的美国临时申请第63/332,673号的权益，其公开内容通过引用整体结合于此。

技术领域

本公开涉及测试和测量仪器，并且更具体地，涉及用于在诸如示波器的测试和测量仪器中搜索和显示感兴趣的数据的技术。

背景技术

现代示波器和其他测试和测量设备从被测设备(DUT)接受一个或多个用于测试的信号。通常，示波器在输入端口接受这样的输入信号，对波形进行采样，将样本转换成一系列数字信号，并将采样的输入波形存储为采集采样波形。然后，仪器对采集波形(也称为样本或样本波形)执行测试和测量。并且，因为采集波形作为样本波形存储在采集存储器中，所以可以重复执行测试，或者可以由仪器对相同存储的采集波形形成各种测试。

很多时候，输入信号携带可能随时间重复的信息。换句话说，特别是当DUT是数字设备时，模式可能在输入信号中重复。或者在输入信号中可能出现缺陷，例如来自相邻输入信号的串扰，这可能表现为电压波动(blip)或以其他可测量的方式表现。这种串扰可能会影响输入信号并使其性能降级。有些令人沮丧的是，诸如串扰和其他缺陷之类的缺陷可能只是不规则地出现在输入信号中。可以使用各种触发器和其他类型的测试技术来尝试隔离缺陷或定位重复的波形的相似部分。例如，某个缺陷可能在大电压信号通过后的短时间内作为小电压尖峰出现。在这些实例中，用户可以设置触发器来扫描这些条件下的样本波形。或者用户可能希望隔离输入信号内存储器读取开始的实例。但是这些缺陷可能会在缺陷间有所不同，或者可能具有使用已知技术无法检测到的其他性质。并且当组成操作的信号由于各种因素而彼此不同时，甚至搜索在输入信号内传输的读取开始或其他操作也可能不准确。

根据本公开的实施例解决了在传统仪器中发现的这些和其他限制。

附图说明

图1示出了根据本公开的实施例的测试和测量仪器的示例输出显示，包括通过示例特征的搜索。

图2示出了根据本公开的实施例的测试和测量仪器的另一示例输出显示，包括通过示例特征的搜索。

图3示出了根据本公开的实施例的测试和测量仪器的又一示例输出显示，包括通过示例特征的搜索。

图4示出了在根据本公开的实施例中使用的已知示例相关算法。

图5是示出根据本公开的实施例中生成的相关因子的图。

图6是根据本公开的实施例的测试和测量仪器的示例折叠输出显示，包括通过示例特征的搜索。

图7是示出了根据本公开的实施例可以在其上操作的测试和测量仪器的组件的示例框图。

具体实施方式

图1是测试和测量仪器的示例输出显示100，示出了作为样本存储的所采集的输入波形的一部分。在这种实例中，采集的波形是射频前端(RFFE)波形。根据本公开的实施例提供了允许用户选择波形的用户可定义部分的接口和功能。然后，用户可以控制仪器在存储的样本波形中搜索和定位相似部分的其他实例，搜索结果以易于可视化结果的格式突出显示给用户。

图1的输出显示100包括若干组件，其外观或呈现可由用户控制。主显示110向用户示出采样波形的一部分。典型地，主显示110包括测量参数的刻度或其他指示，测量参数可以包括例如相对于时间的电压、电流或功率。由于采样波形可能相当大，通常主显示110在任一时间仅示出存储在仪器中的整个采样波形的一部分，例如波形的缩放部分。用户可以以已知的方式控制显示多少采样波形。主显示100的概览显示120被示出为与主显示110相邻。在图1中，概览显示120被示出在输出显示110上方，但是主显示110和概览显示120的相对位置可以是用户可控的。基于其与流行视频游戏的相似性，有时概览显示120被称为“防守者”显示。概览显示120示出了整个采样波形。概览显示120可包括指示或索引，用于给用户指示或索引示出在主显示110中的波形部分出现在相对于整个采样波形的何处，因为主显示通常不示出整个采样波形。

搜索工具131作为用户接口130的一部分出现，用户接口130可以位于输出显示100附近或测试和测量仪器的显示器的另一部分中。搜索工具131包括允许用户标识采样波形的特定部分的工具和功能。为了标识这些部分，用户首先选择用户接口130中的“光标”框，这使得一对光标132出现在主显示110上。光标132的水平位置由用户通过主显示110中的用户接口来控制，以标识和选择用于搜索的采样波形的一部分的开始和结束。光标132之间的波形部分是为搜索选择的波形部分，称为搜索部分136。光标132是独立可控的，这意味着为搜索选择的波形部分可以具有任何宽度。此外，通过扩展或收缩主显示110上示出的波形部分，用户可以选择波形的非常大的部分或波形的非常小的部分进行搜索。

用户通过首先定位光标132以选择搜索部分136，并然后选择搜索工具131中的“启用搜索”框来发起搜索。当如此选择时，根据本公开的实施例搜索整个采样波形，在采样波形中寻找匹配搜索部分136的事件。下面参照图4和图5提供如何搜索采样波形的详细描述。在该实施例中为滑块控件的阈值控件允许用户指定与采样波形的搜索部分136的匹配需要有多接近才被标识为匹配。向右移动滑块增加了采样波形的部分被认为匹配所需的与搜索部分136的接近程度。类似地，向左移动滑块降低采样波形的部分被认为匹配所需的接近程度。阈值控件不必是滑块，并且事实上，不必用图形来说明。在其他实施例中，用户可以使用键盘录入百分比匹配。用于接收期望匹配水平的指示的其他形式的控件也是可能的，例如用户接口130中的可控机械或计算机生成的旋钮。一旦用户建立了期望的阈值，本公开的实施例就可视地指示采样波形中被认为与搜索部分136匹配的那些部分。在图1中，匹配140和150在主显示110上被突出显示，以可视地指示搜索结果。注意，匹配140和150中的波形部分大体但不完全相似于搜索部分136。如果用户想要等同或几乎等同的匹配，则用户将增加搜索工具131中的阈值滑块或其他控件，以使搜索系统不再认为匹配140、150是合格的匹配。在操作中，仪器实时或接近实时地生成匹配。在图1的示例中，对于具有记录长度为100,000个样本的波形，生成匹配花费了141.88毫秒，这显示在用户接口130中。因此，用户可以控制搜索工具131中的阈值滑块，并且实时或接近实时地看到在主显示110中突出显示的匹配。

本公开的实施例附加地在概览显示120中可视地指示采样波形的匹配部分。概览显示120上的匹配156对应于搜索部分136，并且匹配160、170分别对应于匹配140、150。附加的匹配180没有在主显示110中示出，因为它们在视图之外，但是仍然在概览显示120上示出。在图1中，这些附加匹配180用阴影或突出显示来指示，但是其他指示(例如箭头、改变匹配部分的颜色、线条样式和/或数据点标记)或者任何其他类型的可视指示符也可以指示匹配。在概览显示120中突出显示这些附加匹配180向用户示出了采样波形匹配出现的位置，即使它们当前没有示出在主显示110上。在一些实施例中，搜索部分136及其对应的匹配156以不同于剩余匹配的颜色出现，或者以其他方式指示作为搜索主题的采样波形的特定部分。匹配的总数，在这种情况下是6，在用户接口130中用数字示出。在一些实施例中，匹配的开始和结束时间可以被收集并存储在数据文件中或列表形式中。通过这种方式，用户可以使用存储的时间来定位样本波形的特定部分，以供以后分析。

图2示出了显示200中的另一个波形。显示200包括主显示210和概览显示220，其操作类似于图1的主显示110和概览显示120。图2中所示的样本采集是在一些存储器中常见的DDR3(双倍数据速率3)信号，例如SDRAM(同步动态随机存取存储器)。在光标232之间选择的DDR3波形的搜索部分236标识DDR3波形中存储器读取的开始。在用户通过操纵光标232选择搜索部分236之后，当用户选择用户接口230的搜索工具231中的“启用搜索”框时，发起搜索。在图2所示的示例中，位于21的系统匹配并将匹配指示为概览显示220中的指示280。并非所有的匹配180都在图2中被标记，但是在概览显示220中确实作为阴影部分出现。不同于图1，除了搜索部分236本身，没有匹配出现在主显示210中。可以通过调整用户接口230中的阈值滑块231来控制更多或更少的匹配。控制阈值滑块允许用户仅选择出现在采样波形中的合格存储器读取。

图3示出了对图2中使用的相同DDR3采样波形的另一种操作。在图3的示例中，用户已经通过操纵光标332，在显示300上示出的采样波形中选择了已知为读取开始段的波形部分作为搜索部分336。在用户接口330的搜索工具331中选择“启用搜索”功能后，系统在采样波形中搜索与所选读取开始段的匹配，并在概览显示320中将总共十三个匹配指示为380，以及在主显示310中指示两个匹配。同样，并非所有的匹配都在图3中被标记，但是在概览显示320中确实作为阴影出现。图3的主显示310中的两个匹配包括由用户指定的搜索部分336和一个附加匹配340。

这些示例示出了本公开的实施例为用户提供的用于标识采样波形中与所选搜索部分相匹配的部分的能力和易用性。在一些实施例中，一个或多个标准搜索部分，例如预定义的示例，可以存储在仪器中，并且使其可用从而可以由用户在例如用户接口330中选择。在这样的实施例中，用户将选择期望搜索的波形的特定片段或部分。例如，用户可以选择读取开始、写入开始、读取的开始或结束，或者任何类型的波形的任何其他期望的部分。然后，通过选择用户接口330中的“启用搜索”框，系统在采样波形中搜索与所选搜索部分匹配的所有匹配。在这个实施例中，用户接口330可以存储几十或几百个波形样本部分，供用户选择。此外，用户可以能够存储他或她自己的波形部分以供以后选择。预定义的示例可以是各种波形的若干片段或部分的平均，以创建标准化的示例。附加地，如果示例具有与主显示310中示出的当前比例和速率不同的时间刻度或采样率，则本公开的实施例可以自动将预定义的示例缩放到显示的比例或采样率。例如，这种缩放可以通过插值来执行。

在本公开的技术之前，找到读/写DDR3分组的开始是一项重大工作，涉及生成专门的触发或使用其他类型的波形匹配。然而，使用根据本公开的实施例的搜索机制以准确、快速和简单的方式解决了这个问题。它也是非常灵活的，使得波形的任何感兴趣的或功能上重要的部分可以被突出显示，并且然后根据本公开的实施例的测试和测量仪器将自动搜索、找到并可视地标识完整波形的相似部分。

波形搜索功能的精度可能会随着波形噪声的增加而有所下降。然而，通过调整所描述的阈值，即使在采样波形中存在大量噪声时，也有可能辨别出匹配段。

根据本公开的一些实施例，搜索算法使用类间相关(ICC)相关的形式，其示例可以由图4所示的已知等式来表示。其他类似于ICC相关的算法可用于替代实施例中，但是ICC相关用于优选实施例中，因为已经发现它对波形数据工作良好，例如从被测电子和电光设备(DUT)采集的波形。

使用ICC找出匹配的示例算法如下所表示：

该示例算法通过输入向量的每个点遍历与搜索部分(称为“引用”)宽度相同的窗口，其中向量被分割成从索引开始并继续通过引用长度的新向量。最终结果是介于-1和1之间的相关值，其中1意指100％相关，而-1意指反向相关。0意指没有可辨别的相关性。此外，如果样本波形的特定部分的相关值满足或超过阈值，则样本波形的特定部分被认为与搜索部分匹配。

图5示出了上面产生的示例算法的操作。样本波形505是要搜索的波形。样本波形505的搜索部分536用小椭圆指示。该示例中的搜索部分536与图1的搜索部分136相同。阈值水平515被设置为1.0或接近1.0，这意味着，在该示例中，为了被认为与搜索部分匹配，采样波形505的一部分需要非常接近与搜索部分536的精确匹配。样本波形505的每个窗口的相关值由示例算法生成，如上所述，该示例算法生成当前窗口中的样本波形505的部分与搜索部分536之间的相关值。当搜索部分536与当前窗口中的样本波形505的部分紧密相关时，为样本波形505的该部分生成更高的相关值。生成样本波形中每个窗口的相关性545。尽管相关值通常不被图形表示或示出给用户，但是图5为了解释示出了相关值。在图5中，注意相关值545被限制在-1和+1之间，如上所述。

相关值545具有若干峰值，其中特定窗口的相关值处于或接近阈值515。峰值525是满足或超过阈值515的那些，而峰值535则不是。在这个示例中，导致相关值超过阈值515的采样波形的窗口，即生成相关峰值525的那些窗口，被认为是匹配，并且如上所述被指示给用户。因为生成相关峰值535的窗口的相关值不满足或超过阈值，所以它们将不会被标识为匹配。如上所述，阈值515可由用户调整。因此，在图5的示例中，如果阈值515被调整为例如0.90，则导致所有峰值525和535的采样波形的所有窗口将被认为是匹配，并示出给用户。

上述示例算法可以针对速度进行优化，并且在一些实施例中，针对GPU或FPGA加速进行优化。在一个示例中，对于5M大小的记录上的DDR3样本波形，在膝上型计算机上测量的存储器读取的当前性能搜索是大约400mS，并且找到了1898个匹配段。对相同波形的写入段匹配大约为200mS。执行匹配的时间更短，因为写入参考段大约是读取段的一半大小，并且匹配的速度取决于参考段大小和向量的记录长度。

通过使用其他相关算法或涉及相关的算法，可以实现类似的行为。还将可以创建“段限制掩模”，并使该掩模推进通过波形以找到匹配区域。

应用本公开的实施例的示例用例包括找到串扰攻击者的实例。对于这个示例，两个或更多个通道可以在测量仪器上操作，每个通道在时间上相关。用户选择第一通道上的样本波形的伪像，该伪像可以指示来自攻击者通道的可能串扰效应。通过选择伪像作为感兴趣的受害者通道上的搜索部分来执行搜索。在生成匹配后，用户步进通过相应的匹配，并可视地在其他通道的样本波形上寻找同步转换。例如，上述RFFE信号中的异常峰值可能是由于信号是时钟信号的串扰的受害者而导致的。选择其中一个峰值，并然后将峰值的时序与时钟通道上的波形行为进行比较，可以确认波形伪影是由串扰引起的。

根据本公开的实施例的另一个示例为用户提供了在串行数据中找到感兴趣的元素的工具。如上所述，许多被测试的输入信号具有重复的特征，例如特征序列(signature)上升或下降沿或伪像。选择那些特征之一作为搜索部分允许用户快速定位包括相同特征或行为的样本波形的其他部分。示例特征可以包括分组的开始、分组的结束和特定的比特序列等。

又一个示例包括计数或可视化重复的异常。在这个示例中，用户选择感兴趣的异常，以确定它是否是唯一的事件。如果异常是唯一的，则在采样波形中将找不到匹配。相反，如果异常再次出现，根据本公开的实施例将定位并指示异常为匹配。此外，如图1-3所示，在用户接口部分中提供匹配计数。因此，在采样波形中匹配所选异常的异常数量被统计并示出给用户。这种特征可以帮助用户理解事件的频率，并且可能理解它们在采样波形中的位置的模式。

另外的示例可以包括同时在两个通道上执行独立搜索。典型地，通道将在时间上彼此相关，但是，如上所述，本公开的实施例可以通过修改采样波形中的一个以匹配另一个，或者通过自动包括插值或其他技术以在分析期间使波形时间相关来计及时间差异。在这个示例中，用户通过选择要搜索的第一采样波形的一部分，在第一通道上执行搜索。然后，用户在第二通道上执行搜索，第二通道通常(但不是必须)包括不同的采样波形，例如第二波形。用户可以在第一采样波形和第二采样波形二者中选择相同的搜索部分进行搜索，或者用户可以为每个单独的波形选择不同的搜索部分。此外，不同的阈值可以应用于两个不同的搜索。通常，匹配各个搜索的结果可视地指示在每个相应波形显示的输出设备上。此外，第二可视指示可以出现在波形显示上，其指示在其他波形上匹配发生的位置。在一些实施例中，可以使用布尔函数来评估两个搜索的结果。换句话说，可以可视地向用户指示在对第一波形和第二波形的搜索二者中是否出现了相同时间段内的搜索。再进一步的，也可以实现搜索结果之间的任何布尔函数，例如OR、AND和XOR，以及包括NOT函数的任何组合。例如，本公开的实施例可以在波形显示中的一个或两个上仅可视地指示那些在时间上重叠的搜索结果，或者在可控制的时间差异阈值内的搜索结果。再进一步的，这些独立搜索并不仅限于两个通道，而是可以在可被独立搜索的任何数量的通道的情况下被使用。

图6是测试和测量设备的示例输出显示，其示出了采集的波形如何可以彼此“折叠”并同时显示。在这个示例中，原始采集的波形是从DUT接收的DDR2(动态数据速率2)信号。多个帧或其他重复段被仪器收集，并一起显示在合成显示中，例如显示600。与特定搜索段的匹配可用作门，使仪器将每个段重置为时间零，并然后同时示出每个匹配的段。以这种方式，用户可以在该显示上观看相同或相似波形行为的多个实例。在图6的示例中，当读取和写入两者同时呈现在折叠显示上时，观察读取和写入之间的关系。在所示的示例中，可以通过观看显示600来观察数据信号中的相位差和DQS短脉冲(strobe)信号中的幅度差。这种类型的折叠视图，例如显示600，对于查看各种信号之间的关系非常有用。

本公开的各种实施例还可以包括用户观看跨两个或更多个通道的波形属性的能力，每个通道接受不同的波形来寻找匹配。例如，两个或更多个通道可以是数据总线的分离通道。每个通道的每个采集样本可以具有单独可选的阈值水平。在一些实施例中，为了被认为是匹配，所有所选通道的所有包括的波形必须满足它们各自的阈值。

本公开的实施例还可以用于组合一个或多个参考搜索，例如标识DDR2读取的开始，随后是分组结束指示。结果可以被标记为“读取分组”。

本公开的实施例在特定的硬件和/或软件上操作，以实现上述操作。图7是示例测试和测量仪器700的框图，例如用于实现本文公开的公开实施例的示波器或频谱分析仪。测试和测量仪器700包括一个或多个端口702，其可以是任何信令介质。端口702可以包括接收器、发射器和/或收发器。每个端口702是测试和测量仪器700的通道。端口702与一个或多个处理器716耦合，以处理在端口702从一个或多个被测设备(DUT)790接收的信号和/或波形。在一些实施例中，端口接受来自DUT 790或来自一个或多个DUT的多个信号。尽管图7中示出了四信号DUT 790，但是测试和测量仪器700可以接受多达端口702数量的任意数量的输入信号。此外，尽管为了便于说明，在图7中仅示出了一个处理器716，但是本领域技术人员将会理解，不同类型的多个处理器716可以在仪器700中组合使用，而不是单个处理器716。

端口702也可以连接到测试仪器700中的测量单元708。测量单元708可以包括能够测量通过端口702接收的信号各方面(例如，电压、安培数、幅度、功率、能量等)的任何组件。测试和测量仪器700可以包括附加的硬件和/或处理器，例如调节电路、模数转换器和/或其他电路，以将接收到的信号转换成波形用于进一步分析。然后，得到的波形可以存储在存储器710中，以及显示在显示器712上。

一个或多个处理器716可以被配置为执行来自存储器710的指令，并且可以执行由这些指令指示的任何方法和/或相关联步骤，例如显示和修改由仪器接收的输入信号。存储器710可以被实现为处理器高速缓存、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、固态存储器、(一个或多个)硬盘驱动器或任何其他存储器类型。存储器710充当用于存储数据的介质，所述数据例如采集的样本波形、计算机程序产品和其他指令。

用户输入714耦合到处理器716。用户输入714可以包括键盘、鼠标、触摸屏和/或用户可用来设置和控制仪器700的任何其他控件。用户输入714可以包括结合显示器712操作的图形用户接口或文本/字符接口。用户输入714可以接收远程命令或程序形式的命令。上述用户接口130、230、330可以是用户输入714的一部分。用户输入714可以进一步包括来自用户在仪器700上或者来自远程设备的程序输入。显示器712可以是数字屏幕、基于阴极射线管的显示器或任何其他监视器，以向用户显示波形、测量值和其他数据。虽然测试仪器700的组件被描绘为集成在测试和测量仪器700内，但是本领域普通技术人员将会理解，这些组件中的任何一个都可以在测试仪器700的外部，并且可以以任何常规方式(例如，有线和/或无线通信介质和/或机制)耦合到测试仪器700。例如，在一些实施例中，显示器712可以远离测试和测量仪器700，或者该仪器可以被配置为除了在仪器700上显示输出之外，还向远程设备发送输出。在进一步的实施例中，来自测量仪器700的输出可被发送到远程设备或存储在远程设备中，例如云设备，可从耦合到云设备的其他机器访问该输出。

仪器700可以包括波形搜索处理器720，其可以是与上述一个或多个处理器716分离的处理器，或者波形搜索处理器720的功能可以集成到一个或多个处理器716中。此外，波形搜索处理器720可以包括单独的存储器，使用上述存储器710，或仪器700可访问的任何其他存储器。波形搜索处理器720可以包括实现上述功能的专用处理器。例如，波形搜索处理器720可以包括相关生成器722，该相关生成器722用于使用上述实现波形搜索生成的过程和操作来生成波形搜索的相关性。匹配显示处理器724可以基于所生成的相关性来生成匹配，并在显示器712上将它们示出给用户。匹配显示处理器724可以在用户操纵显示的元素(例如阈值控制滑块)时实时或接近实时地控制更新匹配显示。波形搜索处理器720的任何或所有组件，包括相关生成器722和匹配显示处理器724，可以在一个或多个单独的处理器中体现，并且这里描述的单独功能可以实现为专用或通用处理器的特定预编程操作。此外，如上所述，波形搜索处理器720的任何或所有组件或功能可以集成到操作仪器700的一个或多个处理器716中。

在一些实施例中，波形搜索处理器720可以在与采集用于测试的输入信号的仪器分离的设备上。在这样的实施例中，该分离的设备可以从远程设备检索所采集的波形，或者从远程存储设备检索它，并且在该分离的设备上执行上述搜索功能。然后，结果可以显示在该分离的设备上，或者如上所述，可以从该分离的设备导出以在不同的设备上示出。在再其他实施例中，该分离的设备可以本地存储搜索结果，并使它们可供远程设备的用户使用。

本公开的方面可以在特别创建的硬件、固件、数字信号处理器或包括根据编程指令操作的处理器的特别编程的通用计算机上操作。这里使用的术语控制器或处理器旨在包括微处理器、微型计算机、专用集成电路(ASIC)和专用硬件控制器。本公开的一个或多个方面可以体现在计算机可用数据和计算机可执行指令中，例如由一个或多个计算机(包括监视模块)或其他设备执行的一个或多个程序模块中。通常，程序模块包括例程、程序、对象、组件、数据结构等，其在由计算机或其他设备中的处理器执行时执行特定的任务或实现特定的抽象数据类型。计算机可执行指令可以存储在非暂时性计算机可读介质上，例如硬盘、光盘、可移动存储介质、固态存储器、随机存取存储器(RAM)等。如本领域技术人员将理解的，程序模块的功能可以根据需要在各个方面进行组合或分布。此外，该功能可以全部或部分体现在固件或硬件等价物中，例如集成电路、FPGA等。特定的数据结构可以用于更有效地实现本公开的一个或多个方面，并且这样的数据结构被认为在这里描述的计算机可执行指令和计算机可用数据的范围内。

在一些情况下，所公开的方面可以用硬件、固件、软件或其任意组合来实现。所公开的方面还可以实现为由一个或多个或非暂时性计算机可读介质携带或存储在其上的指令，这些指令可以由一个或多个处理器读取和执行。这种指令可以被称为计算机程序产品。如本文所讨论的，计算机可读介质意指可由计算设备访问的任何介质。作为示例而非限制，计算机可读介质可以包括计算机存储介质和通信介质。

计算机存储介质意指可用于存储计算机可读信息的任何介质。作为示例而非限制，计算机存储介质可以包括RAM、ROM、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、闪存或其他存储器技术、致密盘只读存储器(CD-ROM)、数字视频盘(DVD)或其他光盘存储装置、磁带盒、磁带、磁盘存储装置或其他磁存储设备，以及以任何技术实现的任何其他易失性或非易失性、可移动或不可移动介质。计算机存储介质不包括信号本身和信号传输的暂时形式。

通信介质意指可用于计算机可读信息通信的任何介质。作为示例而非限制，通信介质可以包括同轴电缆、光纤电缆、空气或任何其他适于电、光、射频(RF)、红外、声或其他类型信号通信的介质。

示例

以下提供了所公开技术的说明性示例。这些技术的实施例可以包括下述示例中的一个或多个以及任意组合。

示例1是一种测试和测量仪器，包括用于接受来自被测设备(DUT)的输入信号的输入、用于存储从输入信号得出的采样波形的采集存储器、输出显示器以及一个或多个处理器，所述一个或多个处理器被配置为：接受采样波形的一部分作为搜索部分；在采样波形中搜索与搜索部分相似的部分；以及在输出显示器上可视地指示采样波形中与搜索部分相似的那些部分作为匹配部分。

示例2是根据示例1的测试和测量，其中采样波形的部分超过以被认为是匹配部分的与搜索部分的相似度是用户可控制的。

示例3是根据任一前述示例的测试和测量设备，其中一个或多个处理器被配置成接受两个用户可控光标之间的波形部分作为搜索部分。

示例4是根据任一前述示例的测试和测量设备，其中被配置为将采样波形的部分可视地指示为匹配部分的一个或多个处理器被配置为在输出显示器上突出显示匹配部分。

示例5是根据任一前述示例的测试和测量设备，其中搜索部分是从存储的搜索部分的列表中选择的。

示例6是根据任一前述示例的测试和测量设备，其中被配置为在采样波形中搜索与搜索部分相似的部分的一个或多个处理器被配置为生成采样波形的一个或多个部分的相关值。

示例7是根据示例6的测试和测量设备，其中一个或多个处理器被配置成当采样波形的一个或多个部分中特定部分与搜索部分相关的相关值高于阈值相关值时，可视地指示匹配部分。

示例8是根据任一前述示例的测试和测量设备，其中被配置为将采样波形的部分可视地指示为匹配部分的一个或多个处理器被配置为同时在主显示以及包括整个采样波形的概览显示中可视地指示采样波形的部分。

示例9是根据任一前述示例的测试和测量设备，其中一个或多个处理器被配置成仅在用户请求执行搜索之后才在样本波形中搜索与搜索部分相似的部分。

示例10是根据任一前述示例的测试和测量设备，还包括用于接受第二输入信号的第二输入，其中采集存储器被配置成存储从第二输入信号得出的第二采样波形，并且其中一个或多个处理器被配置成在示出第二采样波形的显示上可视地指示匹配部分。

示例11是根据示例10的测试和测量设备，其中一个或多个处理器被配置为：接受第二采样波形的一部分作为第二搜索部分；在第二采样波形中搜索与第二搜索部分相似的部分；以及在输出显示器上可视地指示采样波形的那些部分和/或第二采样波形的与第二搜索部分相似的作为第二匹配部分的部分。

示例12是根据示例11的测试和测量设备，其中一个或多个处理器被配置成仅当采样波形的部分相似于搜索部分并且第二采样波形的部分相似于第二搜索部分时才可视地指示匹配。

示例13是一种测试和测量仪器的操作方法，包括：在存储在测试和测量仪器上的采样波形中搜索与采样波形的所选部分相似的部分；以及在输出显示器上可视地指示采样波形的与采样波形的所选部分相似的部分作为匹配部分。

示例14是根据示例13的方法，还包括：接受来自被测设备(DUT)的输入信号；生成从输入信号得出的采样波形；以及将采样波形存储在测试和测量仪器上。

示例15是根据任一前述示例方法的方法，其中搜索采样波形包括基于采样波形的部分与采样波形的所选部分的相关性来生成它们的相关值。

示例16是根据任一前述示例方法的方法，其中可视地指示采样波形的与采样波形的所选部分相似的部分包括可视地仅指示采样波形中包括超过阈值相关值的相关值的那些部分。

示例17是一种存储一个或多个指令的非暂时性计算机可读存储介质，当由计算设备的一个或多个处理器执行时，所述一个或多个指令使得计算设备进行以下操作：在计算设备可访问的采样波形中搜索与采样波形的所选部分相似的部分；以及在输出显示器上可视地指示采样波形的与采样波形的所选部分相似的部分作为匹配部分。

示例18是根据示例17的非暂时性计算机可读存储介质，其中一个或多个指令的执行还使得计算设备进行以下操作：接受来自被测设备(DUT)的输入信号；生成从输入信号得出的样本波形；以及将样本波形存储在计算设备上。

示例19是根据示例18的非暂时性计算机可读存储介质，其中一个或多个指令的执行还使得计算设备基于采样波形的部分与采样波形的所选部分的相关性来生成它们的相关值。

示例20是根据前述示例17-19中任一个的非暂时性计算机可读存储介质，其中一个或多个指令的执行还使得计算设备可视地仅指示采样波形中包括超过阈值相关值的相关值的那些部分。

所公开主题的先前描述的版本具有许多优点，这些优点已经被描述或者对于普通技术人员来说将是清楚的。尽管如此，这些优点或特征并不是在所公开的装置、系统或方法的所有版本中都是必需的。

此外，该书面描述引用了特定的特征。应当理解，本说明书中的公开内容包括那些特定特征的所有可能的组合。在特定方面或示例的上下文中公开了特定特征的情况下，该特征也可以在可能的范围内用于其他方面和示例的上下文中。

此外，当在本申请中引用具有两个或更多定义的步骤或操作的方法时，定义的步骤或操作可以以任何顺序或同时执行，除非上下文排除了那些可能性。

尽管为了说明的目的已经示出和描述了本发明的具体示例，但是将理解，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以进行各种修改。因此，除了所附权利要求之外，本发明不应受到限制。

Claims (20)

1.一种测试和测量仪器，包括：

用于接受来自被测设备(DUT)的输入信号的输入；

用于存储从输入信号得出的采样波形的采集存储器；

输出显示器；以及

一个或多个处理器，被配置为：

接受采样波形的一部分作为搜索部分；

在采样波形中搜索与搜索部分相似的部分；以及

在输出显示器上可视地指示采样波形中与搜索部分相似的那些部分作为匹配部分。

2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中采样波形的部分超过以被认为是匹配部分的与搜索部分的相似度是用户可控制的。

3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中一个或多个处理器被配置成接受两个用户可控光标之间的波形部分作为搜索部分。

4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中被配置为将采样波形的部分可视地指示为匹配部分的一个或多个处理器被配置为在输出显示器上突出显示匹配部分。

5.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中搜索部分是从存储的搜索部分的列表中选择的。

6.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中被配置为在采样波形中搜索与搜索部分相似的部分的一个或多个处理器被配置为生成采样波形的一个或多个部分的相关值。

7.根据权利要求6所述的测试和测量仪器，其中一个或多个处理器被配置成当采样波形的一个或多个部分中特定部分与搜索部分相关的相关值高于阈值相关值时，可视地指示匹配部分。

8.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中被配置为将采样波形的部分可视地指示为匹配部分的一个或多个处理器被配置为同时在主显示以及包括整个采样波形的概览显示中可视地指示采样波形的部分。

9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，其中一个或多个处理器被配置成仅在用户请求执行搜索之后才在样本波形中搜索与搜索部分相似的部分。

10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器，还包括用于接受第二输入信号的第二输入，其中采集存储器被配置成存储从第二输入信号得出的第二采样波形，并且其中一个或多个处理器被配置成在示出第二采样波形的显示上可视地指示匹配部分。

11.根据权利要求10所述的测试和测量仪器，其中一个或多个处理器被配置为：

接受第二采样波形的一部分作为第二搜索部分；

在第二采样波形中搜索与第二搜索部分相似的部分；以及

在输出显示器上可视地指示采样波形的那些部分和/或第二采样波形的与第二搜索部分相似的作为第二匹配部分的部分。

12.根据权利要求11所述的测试和测量仪器，其中一个或多个处理器被配置成仅当采样波形的部分相似于搜索部分并且第二采样波形的部分相似于第二搜索部分时才可视地指示匹配。

13.一种测试和测量仪器的操作方法，包括：

在存储在测试和测量仪器上的采样波形中搜索与采样波形的所选部分相似的部分；以及

在输出显示器上可视地指示采样波形的与采样波形的所选部分相似的部分作为匹配部分。

14.根据权利要求13所述的方法，还包括：

接受来自被测设备(DUT)的输入信号；

生成从输入信号得出的采样波形；以及

将采样波形存储在测试和测量仪器上。

15.根据权利要求13所述的方法，其中搜索采样波形包括基于采样波形的部分与采样波形的所选部分的相关性来生成它们的相关值。

16.根据权利要求13所述的方法，其中可视地指示采样波形的与采样波形的所选部分相似的部分包括可视地仅指示采样波形中包括超过阈值相关值的相关值的那些部分。

17.一种存储一个或多个指令的非暂时性计算机可读存储介质，当由计算设备的一个或多个处理器执行时，所述一个或多个指令使得计算设备进行以下操作：

在计算设备可访问的采样波形中搜索与采样波形的所选部分相似的部分；以及

在输出显示器上可视地指示采样波形的与采样波形的所选部分相似的部分作为匹配部分。

18.根据权利要求17所述的非暂时性计算机可读存储介质，其中一个或多个指令的执行还使得计算设备进行以下操作：

接受来自被测设备(DUT)的输入信号；

生成从输入信号得出的样本波形；以及

将样本波形存储在计算设备上。

19.根据权利要求18所述的非暂时性计算机可读存储介质，其中一个或多个指令的执行还使得计算设备进行以下操作：

基于采样波形的部分与采样波形的所选部分的相关性来生成它们的相关值。

20.根据权利要求17所述的非暂时性计算机可读存储介质，其中一个或多个指令的执行还使得计算设备进行以下操作：

可视地仅指示采样波形中包括超过阈值相关值的相关值的那些部分。