JP6436527B2 - Soldering equipment - Google Patents

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Description

本発明は半田処理装置に関するものである。   The present invention relates to a solder processing apparatus.

近年、多くの機器には電子部品を実装した電子回路基板(以下、単に「基板」と記すことがある)が搭載されている。基板の形成工程においては、リード線を基板上の配線パターンに接合するための半田付け処理が行われる。   In recent years, an electronic circuit board (hereinafter simply referred to as “substrate”) on which electronic components are mounted is mounted on many devices. In the substrate formation process, a soldering process for joining the lead wires to the wiring pattern on the substrate is performed.

半田付け処理を効率良く行うことの出来る装置として、半田を基板上に供給して溶融させる半田処理装置が利用されている。半田処理装置は、例えば、半田鏝の内部を通るようにして半田片を基板上へ供給し、半田鏝の熱によってその半田を溶融させる。特許文献1には、供給された半田片を加熱溶融させて半田付けを行うように構成された装置が開示されている。   As an apparatus capable of performing soldering processing efficiently, a solder processing apparatus that supplies and melts solder on a substrate is used. For example, the solder processing apparatus supplies a solder piece onto the substrate so as to pass through the inside of the soldering iron, and melts the solder by the heat of the soldering iron. Patent Document 1 discloses an apparatus configured to perform soldering by heating and melting a supplied solder piece.

しかし、上記構成の半田処理装置では、半田付け処理等の各工程は主に時間によって管理されており、半田が溶融して半田付けがなされたかどうかを検知することは容易ではなかった。   However, in the solder processing apparatus having the above configuration, each process such as a soldering process is managed mainly by time, and it has not been easy to detect whether the solder has been melted and soldered.

例えば特許文献2には、半田が溶融して好適なフィレットが形成されたかどうかを、電子部品のリード端子と、リード端子とは絶縁して電機部品に設けられたチェック端子との導通によって検知する方法が提案されている。
しかし、特許文献2に提案の方法では、複数のリード端子のそれぞれに対応してチェック端子を設ける必要があり、しかもそれらのチェック端子は電子部品に予め設けておく必要があるため、電子部品が大型化及び重量化する。
For example, in Patent Document 2, whether or not a suitable fillet is formed by melting the solder is detected by continuity between a lead terminal of the electronic component and a check terminal provided in the electrical component that is insulated from the lead terminal. A method has been proposed.
However, in the method proposed in Patent Document 2, it is necessary to provide check terminals corresponding to each of the plurality of lead terminals, and these check terminals must be provided in advance in the electronic component. Increase size and weight.

また特許文献3には、基板に形成するランドを分割し、分割したランドを探針用ランドと接続し、探針用ランドに探針を接触させて、探針間の電気抵抗を測定して半田付け部のリフトオフ(半田クラック)の発生を検査する方法が提案されている。
しかし、特許文献3に提案の方法は、半田付け後の検査方法であって、半田付け処理中に良好な半田付けがなされたかどうかは検査できない。また、探針用ランドを基板に設ける必要があり基板が大面積化するおそれがある。
In Patent Document 3, the land formed on the substrate is divided, the divided land is connected to the probe land, the probe is brought into contact with the probe land, and the electrical resistance between the probes is measured. There has been proposed a method for inspecting the occurrence of lift-off (solder cracks) in a soldered portion.
However, the method proposed in Patent Document 3 is an inspection method after soldering, and it cannot be inspected whether good soldering is performed during the soldering process. Further, it is necessary to provide a probe land on the substrate, which may increase the area of the substrate.

そしてまた特許文献4には、クリーム半田による電子部品の半田付け性を、クリーム半田を介して試験基板に載置された電子部品の電圧測定によって評価する方法が提案されている。
しかしながら、引用文献4に提案の評価方法は、電子部品のクリーム半田に対する半田付け性を評価する方法であって、半田付け処理中の半田付け性を評価する方法ではない。
Further, Patent Document 4 proposes a method for evaluating the solderability of an electronic component by cream solder by measuring the voltage of the electronic component placed on the test substrate via the cream solder.
However, the evaluation method proposed in the cited document 4 is a method for evaluating the solderability of the electronic component to the cream solder, and is not a method for evaluating the solderability during the soldering process.

また特許文献5には、基板の表面に所定間隔をあけて互いに絶縁した一対の電極を設け、この一対の電極間に噴流半田が接触するかどうかによって噴流半田の噴流高さや幅を管理可能とする装置が提案されている。
しかしながら、引用文献5に提案の装置は、半田処理する前に噴流半田の噴流高さや幅を調整・管理するためのものであって、半田付け処理中の半田付け性を評価する方法ではない。
In Patent Document 5, a pair of electrodes insulated from each other at a predetermined interval is provided on the surface of the substrate, and the jet height and width of the jet solder can be controlled depending on whether the jet solder contacts between the pair of electrodes. An apparatus has been proposed.
However, the apparatus proposed in the cited document 5 is for adjusting and managing the jet height and width of the jet solder before the solder processing, and is not a method for evaluating the solderability during the soldering process.

特許第5184359号公報Japanese Patent No. 5184359 特開2009−54781号公報JP 2009-54781 A 特開2003−273506号公報JP 2003-273506 A 特開2000−28509号公報JP 2000-28509 A 特開平11−126963号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-126963

本発明は上記事情に鑑みなされたものであり、基板に実装する電子部品を特殊な構造とすることなく、また基板に検査用のランドを設けることなく、半田が溶融してきちんと半田付けが成されたかどうかを半田付け処理中に検知することができる半田処理装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and without melting the electronic components to be mounted on the board and without providing inspection lands on the board, the solder can be melted and soldered properly. An object of the present invention is to provide a solder processing apparatus capable of detecting whether or not the soldering process has been performed.

本発明に係る半田処理装置は、半田を基板上に供給して溶融させる半田処理装置であって、前記供給の経路である供給孔を有し略筒形状で、前記略筒形状の先端部が前記基板に近接又は接触して、前記供給された半田を溶融させる半田鏝部と、前記供給孔を通るように半田を前記基板上へ落下させて供給する半田供給部とを備え、前記供給された半田の溶融を検知する検知手段をさらに備えたことを特徴とする。   A solder processing apparatus according to the present invention is a solder processing apparatus that supplies and melts solder onto a substrate, has a supply hole that is the supply path, has a substantially cylindrical shape, and the tip end portion of the substantially cylindrical shape is A solder trough that melts the supplied solder in proximity to or in contact with the substrate; and a solder supply unit that drops and supplies the solder onto the substrate through the supply hole. It further comprises a detecting means for detecting melting of the solder.

また上記構成として、より具体的には、前記検知手段は一対のチェック端子を有し、前記一対のチェック端子は、少なくとも一方が溶融前の半田と接触せず、且つ、双方が溶融後の半田と接触する位置に設けられ、前記一対のチェック端子間の導通検知により前記供給された半田の溶融を検知する構成としてもよい。   Further, as the above configuration, more specifically, the detection means has a pair of check terminals, and at least one of the pair of check terminals is not in contact with the solder before melting, and both are solder after melting. It is good also as a structure which is provided in the position which contacts with and detects the melting of the supplied solder by the conduction | electrical_connection detection between a pair of said check terminals.

さらに上記構成として、より具体的には、前記供給孔の先端部が外方に向かって連続的に拡径し、前記一対のチェック端子の少なくとも一方が、前記供給孔の拡径した部分に設けられた構成としてもよい。   More specifically, as the above-described configuration, more specifically, the tip end portion of the supply hole continuously increases in diameter toward the outside, and at least one of the pair of check terminals is provided in a portion where the diameter of the supply hole is increased. It is good also as the structure comprised.

あるいはまた上記構成として、より具体的には、前記供給孔の先端部の内周面に、周方向又は軸方向に溝部あるいは凹部が形成され、前記一対のチェック端子の少なくとも一方が、前記溝部又は前記凹部に設けられた構成としてもよい。   Alternatively, as the above configuration, more specifically, a groove or a recess is formed in the circumferential direction or the axial direction on the inner peripheral surface of the tip of the supply hole, and at least one of the pair of check terminals is the groove or It is good also as a structure provided in the said recessed part.

また上記構成として、より具体的には、電子部品をスルーホール実装する半田処理装置であって、前記一対のチェック端子の一方が半田供給面側に設けられ、もう一方がスルーホールを介して反対面側に設けられ、前記一対のチェック端子間の導通検知により前記供給された半田の溶融及びバックフィレットの形成を検知する構成としてもよい。   In addition, as the above configuration, more specifically, a solder processing apparatus for mounting an electronic component through hole, wherein one of the pair of check terminals is provided on the solder supply surface side and the other is opposite through the through hole. It is good also as a structure which is provided in the surface side and detects melting of the supplied solder and formation of a back fillet by detecting conduction between the pair of check terminals.

上記構成において、前記一対のチェック端子の溶融した半田と接触する部分は、半田と濡れ性のある材料からなるのが好ましい。   In the above configuration, it is preferable that the portions of the pair of check terminals that are in contact with the melted solder are made of a material that has wettability with the solder.

また上記構成として、より具体的には、前記検知手段が、物体の接触を検知する第1接触センサーを有し、第1接触センサーは、溶融前の半田と接触せず、且つ、溶融後の半田と接触する位置に設けられている構成としてもよい。   Further, as the above configuration, more specifically, the detection unit includes a first contact sensor that detects contact of an object, and the first contact sensor does not contact the solder before melting, and after the melting. It is good also as a structure provided in the position which contacts with solder.

さらに上記構成として、より具体的には、前記供給孔の先端部が外方に向かって拡径し、第1接触センサーが、前記供給孔の拡径した部分に設けられた構成としてもよい。   Furthermore, as the above configuration, more specifically, the tip end portion of the supply hole may increase in diameter toward the outside, and the first contact sensor may be provided in a portion where the diameter of the supply hole is increased.

あるいは上記構成として、より具体的には、前記供給孔の先端部の内周面に、周方向又は軸方向に溝部あるいは凹部が形成され、第1接触センサーが、前記溝部又は前記凹部に設けられた構成としてもよい。   Alternatively, as the above configuration, more specifically, a groove or a recess is formed in the circumferential direction or the axial direction on the inner peripheral surface of the tip of the supply hole, and the first contact sensor is provided in the groove or the recess. It is good also as a structure.

また上記構成として、より具体的には、電子部品をスルーホール実装する半田処理装置であって、前記検知手段が、物体の接触を検知する第2接触センサーをさらに有し、第2接触センサーが、半田供給面に対してスルーホールを介して反対面側に設けられ、第1接触センサーと第2接触センサーによって前記供給された半田の溶融及びバックフィレットの形成を検知する構成としてもよい。   More specifically, the above-described configuration is a solder processing apparatus for mounting an electronic component through-hole, wherein the detection unit further includes a second contact sensor for detecting contact of an object, and the second contact sensor The solder supply surface may be provided on the opposite surface side through a through hole, and the melting of the supplied solder and the formation of the back fillet may be detected by the first contact sensor and the second contact sensor.

本発明の半田処理装置によれば、基板に実装する電子部品を特殊な構造とすることなく、また基板に検査用のランドを設けることなく、半田鏝部に供給された半田が溶融してきちんと半田付けが成されたかどうかを半田付け処理中に検知することができる。   According to the solder processing apparatus of the present invention, the solder supplied to the solder flange is properly melted without having a special structure for the electronic component to be mounted on the substrate and without providing the inspection land on the substrate. Whether or not soldering has been performed can be detected during the soldering process.

また、電子部品をスルーホール実装する場合には、半田鏝部に供給された半田が溶融し、フィレット及びバックフィレットの形成されたかどうかを半田付け処理中に検知することができる。   In addition, when electronic parts are mounted through holes, it is possible to detect during the soldering process whether the solder supplied to the solder flange has melted and fillets and back fillets have been formed.

本発明に係る半田処理装置の一実施形態を示す斜視図である。1 is a perspective view showing an embodiment of a solder processing apparatus according to the present invention. 図1のI-I線断面図である。It is the II sectional view taken on the line of FIG. 本発明にかかる半田処理装置の概略を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the outline of the solder processing apparatus concerning this invention. 一対のチェック端子の鏝先への取付け位置を例示する部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which illustrates the attachment position to a tip of a pair of check terminals. チェック端子の構造例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structural example of a check terminal. 一対のチェック端子による半田片の溶融検知を説明する部分断面図である。It is a fragmentary sectional view explaining melting detection of a solder piece by a pair of check terminals. 一対のチェック端子による半田片の溶融検知を説明する部分断面図である。It is a fragmentary sectional view explaining melting detection of a solder piece by a pair of check terminals. 本発明に係る半田処理装置の他の実施形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows other embodiment of the solder processing apparatus which concerns on this invention. 図8のII-II線断面図である。It is the II-II sectional view taken on the line of FIG. 本発明に係る半田処理装置の他の実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which shows other embodiment of the solder processing apparatus which concerns on this invention. 本発明に係る半田処理装置の他の実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which shows other embodiment of the solder processing apparatus which concerns on this invention. 本発明に係る半田処理装置の他の実施形態を示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which shows other embodiment of the solder processing apparatus which concerns on this invention.

以下に本発明の実施形態について図面を参照して説明する。なお、本発明はこれらの実施形態に何ら限定されるものではない。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. The present invention is not limited to these embodiments.

(第1実施形態)
図1は本発明にかかる半田処理装置の一実施形態を示す斜視図であり、図2は図1に示す半田処理装置をI-I線で切断した断面図であり、図3は本発明にかかる半田処理装置の概略を示すブロック図である。なお、図1では、支持部1の一部を切断し、半田処理装置の内部を表示するようにしている。
(First embodiment)
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a solder processing apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view of the solder processing apparatus shown in FIG. 1 cut along line II, and FIG. 3 is a solder according to the present invention. It is a block diagram which shows the outline of a processing apparatus. In FIG. 1, a part of the support part 1 is cut to display the inside of the solder processing apparatus.

本発明にかかる半田処理装置Aは、上方から糸半田Wを供給し、下部に設けられた半田鏝Saを利用し、半田鏝Saの下方に配置される配線基板Bdと電子部品Epとを半田付けする装置である。図1、図2、図3に示すように、半田処理装置Aは支持部1、カッターユニット2、駆動機構3、半田送り機構6、半田鏝Sa及び制御部8(図3参照)を備えている。   The solder processing apparatus A according to the present invention supplies the thread solder W from above and uses the solder iron Sa provided at the lower part to solder the wiring board Bd and the electronic component Ep disposed below the solder iron Sa. It is a device to attach. As shown in FIGS. 1, 2, and 3, the solder processing apparatus A includes a support unit 1, a cutter unit 2, a drive mechanism 3, a solder feeding mechanism 6, a solder iron Sa, and a control unit 8 (see FIG. 3). Yes.

半田処理装置Aは、治具Gjに取り付けられた配線基板BdのランドLdと、配線基板Bdに配置された電子部品Epの端子とに溶融半田を供給し、接続固定を行う。半田付けを行うとき、治具Gjを縦横に移動させ配線基板BdのランドLdとの位置決めを行う。また、そして、半田処理装置Aは上下方向に移動可能であり、位置決め後上下方向に移動することで、半田鏝Saの先端をランドLdに接触させることができる。   The solder processing apparatus A supplies the molten solder to the lands Ld of the wiring board Bd attached to the jig Gj and the terminals of the electronic component Ep arranged on the wiring board Bd, and performs connection fixing. When performing soldering, the jig Gj is moved vertically and horizontally to position the wiring board Bd with the land Ld. Further, the solder processing apparatus A is movable in the vertical direction, and the tip of the solder iron Sa can be brought into contact with the land Ld by moving in the vertical direction after positioning.

支持部1は、立設された平板状の壁体11を備えている。カッターユニット2は、半田送り機構6によって送られた糸半田Wを所定長さの半田片W1に切断するものである。カッターユニット2は、摺動ガイド13に固定されたカッター下刃22と、カッター下刃22の上部に配置され、摺動可能に配置されたカッター上刃21とを備えている。また、カッターユニット2は、駆動機構3の後述する第2アクチュエーター32によって、上下方向(カッター上刃21の摺動方向と交差する方向)に駆動されるプッシャーピン23を備えている(図2参照)。   The support portion 1 includes a flat plate-like wall body 11 that is erected. The cutter unit 2 is for cutting the thread solder W fed by the solder feeding mechanism 6 into solder pieces W1 having a predetermined length. The cutter unit 2 includes a cutter lower blade 22 fixed to the sliding guide 13, and a cutter upper blade 21 that is disposed above the cutter lower blade 22 and is slidably disposed. Further, the cutter unit 2 includes a pusher pin 23 that is driven in a vertical direction (a direction intersecting the sliding direction of the cutter upper blade 21) by a second actuator 32 described later of the drive mechanism 3 (see FIG. 2). ).

図2に示すように、カッター上刃21は、半田送り機構6にて送られた糸半田Wが挿入される貫通孔である上刃孔211と、プッシャーピン23が挿入された貫通孔であるピン孔212とを備えている。上刃孔211の下端の辺縁部は切刃状に形成されている。カッター下刃22は、上刃孔211を貫通した糸半田Wが挿入される貫通孔である下刃孔221を備えている。下刃孔221の上端の辺縁部は切刃状に形成されている。上刃孔211と下刃孔221とは、糸半田Wが挿入されている状態で、糸半田Wと交差する方向にずれることで、互いの切刃によって糸半田Wを半田片W1に切断する。   As shown in FIG. 2, the cutter upper blade 21 is an upper blade hole 211 that is a through hole into which the thread solder W fed by the solder feeding mechanism 6 is inserted, and a through hole into which the pusher pin 23 is inserted. Pin hole 212 is provided. The lower edge of the upper blade hole 211 is formed in a cutting edge shape. The cutter lower blade 22 includes a lower blade hole 221 that is a through hole into which the thread solder W penetrating the upper blade hole 211 is inserted. The edge part of the upper end of the lower blade hole 221 is formed in a cutting blade shape. The upper blade hole 211 and the lower blade hole 221 are displaced in a direction intersecting with the thread solder W in a state where the thread solder W is inserted, so that the thread solder W is cut into the solder pieces W1 by the mutual cutting blades. .

上刃孔211とピン孔212とは、カッター上刃21の摺動方向に並んで設けられている。カッター上刃21は、上刃孔211と下刃孔221とが上下に重なる位置と、ピン孔212と下刃孔221とが上下に重なる位置との間を摺動する。   The upper blade hole 211 and the pin hole 212 are provided side by side in the sliding direction of the cutter upper blade 21. The cutter upper blade 21 slides between a position where the upper blade hole 211 and the lower blade hole 221 overlap vertically and a position where the pin hole 212 and the lower blade hole 221 overlap vertically.

図2に示すように、駆動機構3は、カッター下刃22に固定されカッター上刃21を摺動させる第1アクチュエーター31と、カッター上刃21に取り付けられ、プッシャーピン23を駆動する第2アクチュエーター32とを備えている。第1アクチュエーター31は、カッター下刃22に固定されたシリンダー311と、シリンダー311の内部に配置され、供給される空気の圧力で伸縮するピストンロッド312とを備えている。ピストンロッド312の先端部分がカッター上刃21に固定されており、ピストンロッド312の伸縮動作によってカッター上刃21が摺動する。   As shown in FIG. 2, the drive mechanism 3 includes a first actuator 31 that is fixed to the cutter lower blade 22 and slides the cutter upper blade 21, and a second actuator that is attached to the cutter upper blade 21 and drives the pusher pin 23. 32. The first actuator 31 includes a cylinder 311 fixed to the cutter lower blade 22 and a piston rod 312 that is disposed inside the cylinder 311 and expands and contracts by the pressure of supplied air. The tip portion of the piston rod 312 is fixed to the cutter upper blade 21, and the cutter upper blade 21 slides by the expansion and contraction of the piston rod 312.

なお、図2に示す半田処理装置Aでは、第1アクチュエーター31のピストンロッド312がシリンダー311から最も突出したとき、カッター上刃21が図中左端にあり、上刃孔211が下刃孔221と上下に重なるようになっている。また、図示はしないが、ピストンロッド312がシリンダー311に収納されたとき、カッター上刃21が図中右端に移動し、ピン孔212が下刃孔221と上下に重なるようになっている。   In the solder processing apparatus A shown in FIG. 2, when the piston rod 312 of the first actuator 31 protrudes most from the cylinder 311, the cutter upper blade 21 is at the left end in the drawing, and the upper blade hole 211 is connected to the lower blade hole 221. It is designed to overlap vertically. Although not shown, when the piston rod 312 is housed in the cylinder 311, the cutter upper blade 21 moves to the right end in the figure, and the pin hole 212 overlaps the lower blade hole 221 vertically.

第2アクチュエーター32は、カッター上刃21に固定されたシリンダー321と、シリンダー321の内部に配置され、空気圧で伸縮するピストンロッド322とを備えている。ピストンロッド322の先端にはプッシャーピン23が固定されている。第2アクチュエーター32は、ピン孔212と下刃孔221とが上下に重なっている状態のとき、ピストンロッド322を伸長させることで、プッシャーピン23を下刃孔221に挿入し、ピストンロッド322をシリンダー321に収容することでプッシャーピン23を下刃孔221から抜く。カッターユニット2(図1に図示)によって切断された半田片W1が下刃孔221に残っている場合でも、このプッシャーピン23の動作によって、押し出される。   The second actuator 32 includes a cylinder 321 fixed to the cutter upper blade 21 and a piston rod 322 that is disposed inside the cylinder 321 and expands and contracts by air pressure. A pusher pin 23 is fixed to the tip of the piston rod 322. When the pin hole 212 and the lower blade hole 221 overlap each other, the second actuator 32 extends the piston rod 322 so that the pusher pin 23 is inserted into the lower blade hole 221 and the piston rod 322 is moved. The pusher pin 23 is removed from the lower blade hole 221 by being accommodated in the cylinder 321. Even when the solder piece W1 cut by the cutter unit 2 (shown in FIG. 1) remains in the lower blade hole 221, it is pushed out by the operation of the pusher pin 23.

半田送り機構6は、糸半田Wを供給するものであり、糸半田Wを送る一対の送りローラ61と、送りローラ61で送られる糸半田Wをガイドするガイド管62とを備えている。一対の送りローラ61は、支持部1に取り付けられており、糸半田Wを挟むとともに、回転することで糸半田Wを下方に送る。送りローラ61は回転角度(回転数)によって、送り出した糸半田の長さを決定している。   The solder feed mechanism 6 supplies the thread solder W, and includes a pair of feed rollers 61 that feed the thread solder W and a guide tube 62 that guides the thread solder W fed by the feed roller 61. The pair of feed rollers 61 is attached to the support portion 1, sandwiches the thread solder W, and rotates to feed the thread solder W downward. The feed roller 61 determines the length of the fed solder wire according to the rotation angle (number of rotations).

ガイド管62は、弾性変形可能な管体であり、上端は、送りローラ61の糸半田Wが送り出される部分に近接して配置されている。また、ガイド管62の下端はカッター上刃21の摺動に追従して移動するものであり、上刃孔211に連結されている。ガイド管62はカッター上刃21が摺動する範囲で引っ張られたり、突っ張ったりしないように設けられている。   The guide tube 62 is a tube body that can be elastically deformed, and its upper end is disposed in the vicinity of a portion of the feed roller 61 where the thread solder W is fed out. The lower end of the guide tube 62 moves following the sliding of the cutter upper blade 21 and is connected to the upper blade hole 211. The guide tube 62 is provided so as not to be pulled or stretched within a range in which the cutter upper blade 21 slides.

図1に示すように、半田鏝Saは、カッターユニット2の下方に固定されている。半田鏝Saの詳細について以下に説明する。   As shown in FIG. 1, the solder iron Sa is fixed below the cutter unit 2. Details of the soldering iron Sa will be described below.

半田鏝Saは、ヒーターユニット4と、ヒーターユニット4に取り付けられた鏝先5と、鏝先5の温度を取得する温度センサー(不図示)とを備えている。図2に示すように、ヒーターユニット4は、通電によって発熱するヒーター41と、ヒーター41を取り付けるためのヒーターブロック42と、ヒーターブロック42を保持するヒーターブロック保持部43とを備えている。   The solder iron Sa includes a heater unit 4, a iron tip 5 attached to the heater unit 4, and a temperature sensor (not shown) that acquires the temperature of the iron tip 5. As shown in FIG. 2, the heater unit 4 includes a heater 41 that generates heat when energized, a heater block 42 for attaching the heater 41, and a heater block holding portion 43 that holds the heater block 42.

ヒーターブロック42は円筒形状を有しており、外周面には、ヒーター41が巻き付けられている。ヒーターブロック42は、軸方向の下端部に鏝先5をとりつけるための断面円形状の凹部421と、凹部421の底部の中心部から反対側に貫通する半田供給孔422とを備えている。   The heater block 42 has a cylindrical shape, and the heater 41 is wound around the outer peripheral surface. The heater block 42 includes a recess 421 having a circular cross section for attaching the tip 5 to the lower end portion in the axial direction, and a solder supply hole 422 penetrating from the center of the bottom of the recess 421 to the opposite side.

ヒーターブロック保持部43は、平板状の本体部に形成された貫通孔である保持孔430を備え、図2における左右両端部には一対のチェック端子71a,71bが取付られている。保持孔430にヒーターブロック42の凹部421と反対側の端部を圧入することでヒーターブロック42はヒーターブロック保持部43に保持されている。なお、図2に示すように、ヒーターブロック42の保持孔430に圧入される部分は、小径になるように段差が形成されているが、これに限定されるものではなく、段差無しの形状であってもよい。   The heater block holding portion 43 includes a holding hole 430 which is a through hole formed in a flat plate-like main body portion, and a pair of check terminals 71a and 71b are attached to both left and right end portions in FIG. The heater block 42 is held by the heater block holding portion 43 by press-fitting the end of the heater block 42 opposite to the concave portion 421 into the holding hole 430. In addition, as shown in FIG. 2, the step press-fitted into the holding hole 430 of the heater block 42 is formed with a step so as to have a small diameter, but is not limited to this, and has a shape without a step. There may be.

ヒーターブロック保持部43を支持部1に取り付けることで、半田鏝Saが支持部1に固定される。図2に示すように、半田鏝Saは、ヒーターブロック保持部43を支持部1に取り付けたとき、カッター下刃22の下刃孔221とヒーターブロック42の半田供給孔422とが連通する。   By attaching the heater block holding portion 43 to the support portion 1, the solder iron Sa is fixed to the support portion 1. As shown in FIG. 2, when the heater block holding portion 43 is attached to the support portion 1, the solder iron Sa communicates between the lower blade hole 221 of the cutter lower blade 22 and the solder supply hole 422 of the heater block 42.

図2に示すように、鏝先5は、半田に対して非濡れ性の部材からなり、上下方向(軸方向)に伸びる円筒形状を有する。鏝先5の中央部分には軸方向に延びる供給孔51が形成されている。鏝先5は、熱伝導率が100W/m・K以上の材料が好ましく、例えば、炭化ケイ素、窒化アルミニウム等のセラミックやタングステン等の金属で形成されていることが好ましく、セラミックスがより好ましい。   As shown in FIG. 2, the tip 5 is made of a non-wetting member with respect to the solder and has a cylindrical shape extending in the vertical direction (axial direction). A supply hole 51 extending in the axial direction is formed in the central portion of the tip 5. The tip 5 is preferably made of a material having a thermal conductivity of 100 W / m · K or more. For example, the tip 5 is preferably made of a ceramic such as silicon carbide or aluminum nitride, or a metal such as tungsten, and more preferably a ceramic.

鏝先5は、ヒーターブロック42に対して着脱可能であり、装着時には上部がヒーターブロック42の凹部421に挿入されて配置され、下端部がヒーターブロック42より下方に突出する。そして、鏝先5の供給孔51と半田供給孔422とが連通する。カッターユニット2で切断された半田片W1は、下刃孔221から半田供給孔422を介して供給孔51に供給される。   The tip 5 is detachable from the heater block 42, and when mounted, the upper portion is inserted into the recess 421 of the heater block 42, and the lower end protrudes downward from the heater block 42. The supply hole 51 of the tip 5 and the solder supply hole 422 communicate with each other. The solder piece W1 cut by the cutter unit 2 is supplied from the lower blade hole 221 to the supply hole 51 through the solder supply hole 422.

半田鏝Saで半田付けを行う場合、ヒーターブロック42を介して鏝先5にヒーター41の熱が伝達され、その熱で供給孔51に供給された半田片W1を溶融する。ヒーターブロック42の温度は、不図示の温度センサーによって検知され、検知信号は制御部8に送信される。そして、制御部8においてヒーターブロック42が所定温度となるようにヒーター41への電圧印加制御がなされる。   When soldering with the soldering iron Sa, the heat of the heater 41 is transmitted to the iron tip 5 through the heater block 42, and the solder piece W1 supplied to the supply hole 51 is melted by the heat. The temperature of the heater block 42 is detected by a temperature sensor (not shown), and a detection signal is transmitted to the control unit 8. The controller 8 controls the voltage application to the heater 41 so that the heater block 42 has a predetermined temperature.

半田処理装置Aでは、筒形状の鏝先5の先端を、配線基板BdのランドLdに接触させた状態で、半田付けを行うことで、半田やフラックスヒューム等が飛び散るのを抑制している。なお、半田処理装置Aと基板Bdとは、鏝先5の下端と、基板Bd上のランドLdとが離接するように相対移動可能とされている。   In the solder processing apparatus A, soldering, flux fume, and the like are suppressed from being scattered by performing soldering in a state where the tip of the cylindrical tip 5 is in contact with the land Ld of the wiring board Bd. The solder processing apparatus A and the substrate Bd are relatively movable so that the lower end of the tip 5 and the land Ld on the substrate Bd are in contact with each other.

制御部8について説明する。制御部8は、MPUやCPU等の論理回路を含む構成となっている。図3に示すように、制御部8は、駆動部3の第1アクチュエーター31及び第2アクチュエーター32、ヒーターユニット4のヒーター41、半田送り部6の送りローラ61を制御するようになっており、各部と接続され、信号の送受信ができるようになっている。また、制御部8は、温度センサー(不図示)と接続しており、温度センサーで測定したヒーターブロック42の温度を取得している。さらに、制御部8は、鏝先5の供給孔51に供給された半田片W1の溶融を検知する検知手段(一対のチェック端子71a,71b)とも接続しており、検知手段からの信号に基づいて半田接合の完了判断やヒーターの設定温度を制御する。そしてまた、記憶部81と接続しており、記憶部81との間で情報をやり取りできるようになっている。記憶部81は、情報の呼び出しが可能なROM、呼び出し及び書き込みが可能なRAM、着脱が可能なフラッシュメモリ等の半導体メモリやハードディスク等を有している。   The control unit 8 will be described. The control unit 8 includes a logic circuit such as an MPU or CPU. As shown in FIG. 3, the control unit 8 controls the first actuator 31 and the second actuator 32 of the drive unit 3, the heater 41 of the heater unit 4, and the feed roller 61 of the solder feed unit 6. It is connected to each part and can send and receive signals. The control unit 8 is connected to a temperature sensor (not shown) and acquires the temperature of the heater block 42 measured by the temperature sensor. Further, the control unit 8 is also connected to detection means (a pair of check terminals 71a and 71b) for detecting melting of the solder piece W1 supplied to the supply hole 51 of the tip 5 and based on a signal from the detection means. Control the completion of soldering and the set temperature of the heater. Further, it is connected to the storage unit 81 so that information can be exchanged with the storage unit 81. The storage unit 81 includes a ROM that can call information, a RAM that can be called and written, a semiconductor memory such as a detachable flash memory, a hard disk, and the like.

図2に示すように、鏝先5の先端部には、検知手段としての一対のチェック端子71a,71bが供給孔51内の対向位置に露出するように着脱可能に鏝先5に差し込まれている。より詳細には、図2の部分拡大図に示すように、鏝先5の供給孔51の先端部(下端部)は、下方に向かって連続的に拡径しており、この供給孔51の拡径部52に、一対のチェック端子71a,71bがその先端部が露出するように取り付けられている。これにより、供給孔51内に供給された溶融していない半田片W1は、一対のチェック端子71a,71bには接触せず、一対のチェック端子71a,71b間に導通は生じない。一方、加熱によって半田片W1が溶融すると、溶融した半田が一対のチェック端子71a,71bに接触し、一対のチェック端子71a,71bに導通が生じる。換言すると、一つのチェック端子71a,71b間の導通を検知することによって、供給孔51内の半田片W1の溶融を検知することができる。   As shown in FIG. 2, a pair of check terminals 71 a and 71 b as detection means are detachably inserted into the tip 5 of the tip 5 so as to be exposed at opposing positions in the supply hole 51. Yes. More specifically, as shown in the partially enlarged view of FIG. 2, the tip end portion (lower end portion) of the supply hole 51 of the tip 5 is continuously expanded in the downward direction. A pair of check terminals 71a and 71b are attached to the enlarged diameter portion 52 so that the tip portions thereof are exposed. As a result, the unmelted solder piece W1 supplied into the supply hole 51 does not contact the pair of check terminals 71a and 71b, and no conduction occurs between the pair of check terminals 71a and 71b. On the other hand, when the solder piece W1 is melted by heating, the melted solder comes into contact with the pair of check terminals 71a and 71b, and conduction occurs between the pair of check terminals 71a and 71b. In other words, the melting of the solder piece W1 in the supply hole 51 can be detected by detecting the conduction between the check terminals 71a and 71b.

なお、一対のチェック端子71a,71bの取付位置は、一対のチェック端子71a,71bの少なくとも一方が溶融前の半田片と接触せず、且つ、双方が溶融後の半田片W1と接触する位置であれば特に限定はなく、鏝先5に形成された供給孔51の形状や、供給される半田片W1の大きさや形状、半田付けする電子部品Epの形状などから適宜決定すればよい。例えば図4(a)に示すように、供給孔51の下端部に段差が形成されるように拡径部53を形成し、この拡径部53に一対のチェック端子71a,71bを設けてもよい。あるいは、図4(b)に示すように、供給孔51の下端部に軸方向に溝部54を形成し、この溝部54にチェック端子を設けてもよい。また図には示さないが、供給孔51の下端部の内周面に凹部を形成し、一対のチェック端子71a,71bの一方又は両方を凹部に設けるようにしてもよい。   The mounting positions of the pair of check terminals 71a and 71b are positions where at least one of the pair of check terminals 71a and 71b does not contact the solder piece before melting and both contact the solder piece W1 after melting. There is no particular limitation as long as it is determined, and it may be appropriately determined from the shape of the supply hole 51 formed in the tip 5, the size and shape of the supplied solder piece W1, the shape of the electronic component Ep to be soldered, and the like. For example, as shown in FIG. 4A, the enlarged diameter portion 53 is formed so that a step is formed at the lower end portion of the supply hole 51, and a pair of check terminals 71a and 71b are provided in the enlarged diameter portion 53. Good. Alternatively, as shown in FIG. 4B, a groove 54 may be formed in the axial direction at the lower end of the supply hole 51, and a check terminal may be provided in the groove 54. Although not shown in the drawing, a recess may be formed on the inner peripheral surface of the lower end portion of the supply hole 51, and one or both of the pair of check terminals 71a and 71b may be provided in the recess.

また、チェック端子71a,71bの半田片W1と接触する先端部分は、導電性を有し且つ半田に対して濡れ性のある材料で構成するのが望ましい。半田に対して濡れ性のある材料としては、Fe,Cu,Ni及びこれらの合金が挙げられる。一方、チェック端子71a,71bの先端部分以外の表面は、半田に対して濡れ性のない材料で被覆するのが望ましい。これにより、チェック端子71a,71bに付着する半田を少なくできる。半田に対して濡れ性のない材料としては、Crなどが挙げられる。また、チェック端子71a,71bは半田を介した導通を検知できる範囲において、熱容量の小さいものが好ましく、チェック端子71a,71bの断面径としては、例えば、0.1mm〜1mmの範囲が好ましい。図5に、チェック端子の一例を示す。この図に示すチェック端子71は、Feからなる芯材の外周部分をCrメッキし、端部はFeが露出するようにしたものである。   Further, it is desirable that the tip portions of the check terminals 71a and 71b that are in contact with the solder pieces W1 are made of a material having conductivity and wettability to the solder. Examples of the material having wettability to solder include Fe, Cu, Ni, and alloys thereof. On the other hand, it is desirable to coat the surfaces of the check terminals 71a and 71b other than the tip portions with a material that does not wet the solder. Thereby, the solder adhering to the check terminals 71a and 71b can be reduced. Examples of the material that does not wet with solder include Cr. In addition, the check terminals 71a and 71b preferably have a small heat capacity within a range in which conduction through the solder can be detected, and the cross-sectional diameter of the check terminals 71a and 71b is preferably in the range of 0.1 mm to 1 mm, for example. FIG. 5 shows an example of the check terminal. In the check terminal 71 shown in this figure, the outer peripheral portion of the core material made of Fe is Cr plated, and the end portion is exposed to Fe.

チェック端子71a,71bの鏝先5への取付けは着脱自在であるのが望ましい。長期間の使用によっては、チェック端子71a,71bの半田と接触する部分に酸化物や異物が付着して導通不良となるおそれがあるので、チェック端子71a,71bを定期的に鏝先5から取り外して清掃できるようにするためである。   It is desirable that the check terminals 71a and 71b are attached to the tip 5 in a detachable manner. Depending on the long-term use, oxides or foreign substances may adhere to the portions of the check terminals 71a and 71b that come into contact with the solder, resulting in poor conduction. Therefore, the check terminals 71a and 71b are periodically removed from the tip 5 So that they can be cleaned.

図6に、図1及び図2に示す半田処理装置を用いて電子部品Epを基板Bdにスルーホール実装する場合の説明図を示す。基板Bdの下面に取り付けられた電子部品Epから上方に突き出たリードピンLpが基板BdのスルーホールThを挿通して基板Bdの上面に突出している。このリードピンLpとスルーホールThの外周に形成されているランドLdとを半田で接合する場合、リードピンLp及びランドLdの外周を取り囲むように円筒状の鏝先5が基板Bdの上面と接触し、供給孔51構内に半田片W1が供給される。供給孔51内に供給された半田片W1はまだ溶融していないので、例えば、リードピンLpの上端に当接して供給孔51内で起立状態となる(図6(a))。この状態では、一対のチェック端子71a,71bに半田片W1は接触していないので、一対のチェック端子71a,71b間に導通は生じない。次いで、鏝先5からの熱によって半田片W1が溶融すると、溶融した半田はリードピンLpの周囲にフィレットを形成し一対のチェック端子71a,71bと接触する(図6(b))。これによって一対のチェック端子71a,71b間に導通が生じて半田片W1の溶融が検知される。なお、このとき、一対のチェック端子71a,71bの一方が溶融半田のフィレット部分と接触し、もう一方がバックフィレットと接触するように配置すれば、フィレットの形成のみならずバックフィレットの形成も同時に検知することができる。その実施形態については後述する。   FIG. 6 is an explanatory diagram in the case where the electronic component Ep is mounted on the substrate Bd using the solder processing apparatus shown in FIGS. 1 and 2. A lead pin Lp protruding upward from the electronic component Ep attached to the lower surface of the substrate Bd is inserted through the through hole Th of the substrate Bd and protrudes from the upper surface of the substrate Bd. When the lead pin Lp and the land Ld formed on the outer periphery of the through hole Th are joined by solder, the cylindrical tip 5 is in contact with the upper surface of the substrate Bd so as to surround the outer periphery of the lead pin Lp and the land Ld. The solder piece W1 is supplied into the supply hole 51. Since the solder piece W1 supplied into the supply hole 51 has not melted yet, for example, it abuts on the upper end of the lead pin Lp and stands up in the supply hole 51 (FIG. 6A). In this state, since the solder piece W1 is not in contact with the pair of check terminals 71a and 71b, no conduction occurs between the pair of check terminals 71a and 71b. Next, when the solder piece W1 is melted by the heat from the tip 5, the melted solder forms a fillet around the lead pin Lp and comes into contact with the pair of check terminals 71a and 71b (FIG. 6B). As a result, conduction occurs between the pair of check terminals 71a and 71b, and the melting of the solder piece W1 is detected. At this time, if it is arranged so that one of the pair of check terminals 71a and 71b is in contact with the fillet portion of the molten solder and the other is in contact with the back fillet, not only the fillet but also the back fillet is formed at the same time. Can be detected. The embodiment will be described later.

図7に、基板表面に形成されたランドLdとリード線LLとを半田で接合する場合の鏝先5及び一対のチェック端子71a,71bの構成を示す説明図を示す。円筒形状の鏝先5の下端部には切り欠き部55が形成されており、鏝先5の下端が基板表面に接触した際に、切り欠き部55は基板表面に接触せず開口を形成する。図7(a)の実施形態では、チェック端子71bは鏝先5の下端部にその先端が供給孔51の内部に露出するように取り付けられ、もう一つのチェック端子71aは、鏝先5の切り欠き部55の外側に先端が位置するように取り付けられている。鏝先5の供給孔51に供給された溶融していない半田片W1(図7における破線)は、チェック端子71a,71bのいずれにも接触せず、一対のチェック端子71a,71b間に導通は生じない。次いで、鏝先5からの加熱で半田片W1が溶融すると、溶融半田はチェック端子71bに接触する。また、溶融半田の一部は流動して切り欠き部55と基板表面とで形成される開口から外方に流れ出しもう一つのチェック端子71aと接触する。これにより、一対のチェック端子71a,71b間に導通が生じ、半田片W1の溶融が検知される。   FIG. 7 is an explanatory diagram showing the configuration of the tip 5 and the pair of check terminals 71a and 71b when the land Ld formed on the substrate surface and the lead wire LL are joined by solder. A notch 55 is formed at the lower end of the cylindrical tip 5, and when the lower end of the tip 5 contacts the substrate surface, the notch 55 does not contact the substrate surface and forms an opening. . In the embodiment of FIG. 7A, the check terminal 71b is attached to the lower end portion of the tip 5 so that its tip is exposed inside the supply hole 51, and the other check terminal 71a is It is attached so that the tip is located outside the notch 55. The unmelted solder piece W1 (broken line in FIG. 7) supplied to the supply hole 51 of the tip 5 does not contact any of the check terminals 71a and 71b, and conduction is established between the pair of check terminals 71a and 71b. Does not occur. Next, when the solder piece W1 is melted by heating from the tip 5, the molten solder comes into contact with the check terminal 71b. Also, a part of the molten solder flows and flows outward from an opening formed by the notch 55 and the substrate surface, and comes into contact with another check terminal 71a. Thereby, conduction | electrical_connection arises between a pair of check terminals 71a and 71b, and melting of the solder piece W1 is detected.

図7(b)の実施形態では、一方のチェック端子71aが、その先端が切り欠き部55と基板Bdの表面とで形成される開口に位置するように取り付けられている。この場合、鏝先5からの熱で溶融した半田が切り欠き部55と基板Bdの表面とで形成される開口まで流動すると、一対のチェック端子71a,71b間に導通が生じ、半田片W1の溶融が検知される。   In the embodiment of FIG. 7B, one check terminal 71a is attached so that its tip is located in an opening formed by the notch 55 and the surface of the substrate Bd. In this case, when the solder melted by the heat from the tip 5 flows to the opening formed by the notch 55 and the surface of the substrate Bd, conduction occurs between the pair of check terminals 71a and 71b, and the solder piece W1 Melting is detected.

鏝先5の下端部に形成する切り欠き部55の位置や大きさ、形状は、ランドLdとリード線LLとを接合する溶融半田の凝固後の形状を考慮し適宜決定すればよい。また、鏝先5を基板表面と接触させず、近接した状態でランドLdとリード線LLとの半田接合を行う場合には、鏝先5の下端部に切り欠き部55を設けなくてもよい。またこの場合には、一対のチェック端子71a,71bの双方を鏝先5の下端部と基板表面との隙間あるいは隙間近傍に設けてもよい。   The position, size, and shape of the notch 55 formed at the lower end portion of the tip 5 may be appropriately determined in consideration of the shape after solidification of the molten solder that joins the land Ld and the lead wire LL. Further, in the case where solder bonding is performed between the land Ld and the lead wire LL in a state where the tip 5 is not brought into contact with the substrate surface, the notch 55 may not be provided at the lower end portion of the tip 5. . In this case, both the pair of check terminals 71a and 71b may be provided in the gap between the lower end of the tip 5 and the substrate surface or in the vicinity of the gap.

(第2実施形態)
図8に、本発明に係る半田処理装置の第2実施形態を示す斜視図、そして図9に、図8のII-II線で切断した断面図を示す。図8及び図9に示す半田処理装置Bは、電子部品Epをスルーホール実装する装置であって、溶融半田の基板表面のフィレット形成のみならず基板裏面のバックフィレット形成をも検知できる装置である。なお、以下の説明において、図1及び図2で示した第1実施形態の装置と同じ部材及び部分についてはその説明は省略する。
(Second Embodiment)
FIG. 8 is a perspective view showing a second embodiment of the solder processing apparatus according to the present invention, and FIG. 9 is a sectional view taken along line II-II in FIG. The solder processing apparatus B shown in FIGS. 8 and 9 is an apparatus for mounting the electronic component Ep through-hole, and can detect not only the fillet formation on the substrate surface of the molten solder but also the back fillet formation on the back surface of the substrate. . In the following description, the description of the same members and parts as those of the apparatus of the first embodiment shown in FIGS. 1 and 2 is omitted.

図8(a)は、複数のリードピンLpが本体から上方に突き出た電子部品Epが、ランドLdが形成されたスルーホールThを有する基板Bdに実装される前の斜視図である。リードピンLpのそれぞれに対応して、ランドLdが形成されたスルーホールThが基板Bdに設けられている。   FIG. 8A is a perspective view before the electronic component Ep in which a plurality of lead pins Lp protrude upward from the main body is mounted on the substrate Bd having the through hole Th in which the land Ld is formed. Corresponding to each of the lead pins Lp, a through hole Th in which a land Ld is formed is provided in the substrate Bd.

図8(b)は、スルーホールThに形成されたランドLdと電子部品EpのリードピンLpとを半田接合する半田処理装置Bの斜視図である。半田処理装置Bにおける、支持部1、カッターユニット2、駆動機構3、半田送り機構6、半田鏝Sa及び制御部8は、第1実施形態の半田処理装置Aと同じである。また半田処理装置Bは、半田処理装置Aと同様に、基板Bdに対して離接する方向に相対移動可能である。半田処理装置Aと異なる点は、一方のチェック端子71aが鏝先5の下端部に取り付けられ、もう一方のチェック端子71bが基板Bdの裏面のバックフィレット形成部に移動可能な点である。   FIG. 8B is a perspective view of the solder processing apparatus B that solder-joins the land Ld formed in the through hole Th and the lead pin Lp of the electronic component Ep. The support unit 1, the cutter unit 2, the drive mechanism 3, the solder feeding mechanism 6, the solder iron Sa, and the control unit 8 in the solder processing apparatus B are the same as those in the solder processing apparatus A of the first embodiment. Similarly to the solder processing apparatus A, the solder processing apparatus B is relatively movable in a direction in which the solder processing apparatus B is separated from and contacting the substrate Bd. The difference from the solder processing apparatus A is that one check terminal 71a is attached to the lower end portion of the tip 5 and the other check terminal 71b is movable to the back fillet forming portion on the back surface of the substrate Bd.

チェック端子71bは、エアーシリンダー91によって出入するロッド92に取り付けられている。エアーシリンダー91は、ヒーターブロック43(図2に図示)に取り付けられた「L」字状のステー431の下端部に取り付けられており、半田処理装置Bと共に移動する。   The check terminal 71 b is attached to a rod 92 that is moved in and out by an air cylinder 91. The air cylinder 91 is attached to a lower end portion of an “L” -shaped stay 431 attached to the heater block 43 (shown in FIG. 2), and moves together with the solder processing apparatus B.

半田処理装置Bによる半田接合及び半田溶融(フィレット及びバックフィレットの形成)の検知は次のようにして行われる。まず、半田処理装置B及び基板Bdの一方又は両方の移動によって、半田接合するランドLd及びリードピンLpの上方に鏝先5を位置させる。そして、半田処理装置Bを基板方向に相対移動させて鏝先5を基板表面のランドLdに接触させる。半田処理装置Bが相対移動しているとき、ロッド92はエアーシリンダー91内に引き込まれ、チェック端子71bは基板Bdと接触しない位置とされている。次いで、図9に示すように、エアーシリンダー91からロッド92を突出させ、チェック端子71bの先端を溶融半田のバックフィレットと接触する位置に移動させる。そして、半田片W1(図9の破線)が供給孔51に供給される。半田片W1が溶融していない状態のときは、チェック端子71a及びチェック端子71bに半田は接触しないので、チェック端子71a,71b間の導通は生じない。また、半田が溶融しても溶融半田がフィレットを形成しただけではチェック端子71a,71b間の導通は生じない。溶融半田がフィレットを形成するとともにスルーホールThを通って基板裏面側にバックフィレットを形成して初めてチェック端子71a,71b間に導通が生じる。すなわち、チェック端子71a,71b間の導通の有無によって、溶融半田のフィレット及びバックフィレットの形成が検知される。   Detection of solder bonding and solder melting (formation of fillet and back fillet) by the solder processing apparatus B is performed as follows. First, the tip 5 is positioned above the land Ld and the lead pin Lp to be soldered by moving one or both of the solder processing apparatus B and the substrate Bd. Then, the solder processing apparatus B is relatively moved in the substrate direction to bring the tip 5 into contact with the land Ld on the substrate surface. When the solder processing apparatus B is relatively moving, the rod 92 is pulled into the air cylinder 91, and the check terminal 71b is not in contact with the substrate Bd. Next, as shown in FIG. 9, the rod 92 is protruded from the air cylinder 91, and the tip of the check terminal 71b is moved to a position where it comes into contact with the back fillet of the molten solder. Then, the solder piece W1 (broken line in FIG. 9) is supplied to the supply hole 51. When the solder piece W1 is not melted, the solder does not contact the check terminal 71a and the check terminal 71b, so that conduction between the check terminals 71a and 71b does not occur. Further, even if the solder is melted, conduction between the check terminals 71a and 71b does not occur if the molten solder only forms a fillet. Only when the molten solder forms a fillet and a back fillet is formed on the back side of the substrate through the through hole Th, conduction occurs between the check terminals 71a and 71b. That is, the formation of the molten solder fillet and back fillet is detected based on the presence or absence of conduction between the check terminals 71a and 71b.

溶融半田のフィレット及びバックフィレットの形成が検知されると、ロッド92がエアーシリンダー91内に引き込まれ、チェック端子71bは基板Bdと接触しない位置に移動する。その後、半田処理装置Bは相対移動し、次に半田接合するランドLd及びリードピンLpの上方に鏝先5が位置する。そして、上記の半田接合及び半田溶融検知(フィレット及びバックフィレットの形成)が同様にして繰り返し行われる。   When the formation of the molten solder fillet and back fillet is detected, the rod 92 is drawn into the air cylinder 91 and the check terminal 71b moves to a position where it does not come into contact with the substrate Bd. Thereafter, the solder processing apparatus B relatively moves, and the tip 5 is positioned above the land Ld and the lead pin Lp to be soldered next. Then, the solder joint and the solder melting detection (fillet and back fillet formation) are repeated in the same manner.

(第3実施形態)
図10及び図11に、本発明に係る半田処理装置の第3実施形態を示す部分断面図を示す。これらの図に示す実施形態では、供給孔51内に供給された半田片W1の溶融を検知する検知手段として、物体の接触を検知する接触センサーを用いている。図10の半田処理装置では、供給孔51の下端の、下方に向かって連続的に拡径した拡径部52に第1接触センサー72aの触針の先端部が露出するように取り付けられている。図10(a)に示すように、供給孔51内に供給された溶融していない半田片W1は、第1接触センサー72aの触針に接触しない。一方、図10(b)に示すように、鏝先5による加熱によって半田片W1が溶融すると、溶融した半田が第1接触センサー72aの触針に接触し、第1接触センサー72aによって、供給孔51内の半田片W1の溶融が検知される。
(Third embodiment)
10 and 11 are partial cross-sectional views showing a third embodiment of the solder processing apparatus according to the present invention. In the embodiments shown in these drawings, a contact sensor that detects contact of an object is used as detection means for detecting melting of the solder piece W1 supplied into the supply hole 51. In the solder processing apparatus of FIG. 10, the tip of the stylus of the first contact sensor 72a is attached to be exposed at the enlarged diameter portion 52 that continuously expands downward at the lower end of the supply hole 51. . As shown in FIG. 10A, the unmelted solder piece W1 supplied into the supply hole 51 does not contact the stylus of the first contact sensor 72a. On the other hand, as shown in FIG. 10B, when the solder piece W1 is melted by heating with the tip 5, the melted solder comes into contact with the stylus of the first contact sensor 72a, and the first contact sensor 72a causes the supply hole to be supplied. The melting of the solder piece W1 in 51 is detected.

本発明で使用する接触センサーとしては、物体の接触を検知するものであれば特に限定はなく従来公知のものを使用できる。市販されているものとしては、オムロン社製「円柱型タッチスイッチD5C」が好適に使用される。   The contact sensor used in the present invention is not particularly limited as long as it detects contact of an object, and a conventionally known sensor can be used. As a commercially available product, “Cylindrical Touch Switch D5C” manufactured by OMRON Corporation is preferably used.

前述の実施形態と同様に、第1接触センサー72aの触針は、溶融前の半田片W1と接触せず且つ溶融後の半田と接触する位置に設ける必要がある。第1接触センサー72aの触針の取付け位置は、供給される半田片W1の大きさや形状、半田付けする電子部品Epの形状などから適宜決定すればよい。例えば、前述の実施形態と同様に、図4に示したような、供給孔51の下端部に形成された拡径部53、あるいは、供給孔51の下端部に形成された軸方向の溝部54に第1接触センサー72aの触針を設けてもよい。また図には示さないが、供給孔51の下端部の内周面に凹部を形成し、この凹部に第1接触センサー72aの触針を設けるようにしてもよい。   Similar to the above-described embodiment, the stylus of the first contact sensor 72a needs to be provided at a position that does not contact the solder piece W1 before melting and contacts the solder after melting. The attachment position of the stylus of the first contact sensor 72a may be appropriately determined from the size and shape of the supplied solder piece W1, the shape of the electronic component Ep to be soldered, and the like. For example, as in the above-described embodiment, as shown in FIG. 4, the enlarged diameter portion 53 formed at the lower end portion of the supply hole 51 or the axial groove portion 54 formed at the lower end portion of the supply hole 51. The stylus of the first contact sensor 72a may be provided. Although not shown in the drawing, a concave portion may be formed on the inner peripheral surface of the lower end portion of the supply hole 51, and the stylus of the first contact sensor 72a may be provided in the concave portion.

図11は、第1接触センサー72a及び第2接触センサー72bによって、スルーホール実装する電子部品Epの基板表面のフィレット形成及び基板裏面のバックフィレット形成を検知する場合の説明図である。半田処理装置の全体構成は、図9及び図10に示したと同じ構成であり、一対のチェック端子71a,71bに代えて第1接触センサー72a及び第2接触センサー72bを使用したものである。このような構成の半田処理装置によれば、溶融半田による基板表面のフィレットは第1接触センサー72aによって検知され、基板裏面のバックフィレットは第2接触センサー72bによって検知される。なお、半田処理装置の動作制御は、図8及び図9に示した半田処理装置と同じ動作制御である。   FIG. 11 is an explanatory diagram in the case where the first contact sensor 72a and the second contact sensor 72b detect the fillet formation on the substrate surface and the back fillet formation on the substrate back surface of the electronic component Ep to be mounted through-hole. The overall configuration of the solder processing apparatus is the same as that shown in FIGS. 9 and 10, and uses a first contact sensor 72a and a second contact sensor 72b instead of the pair of check terminals 71a and 71b. According to the solder processing apparatus having such a configuration, the fillet on the substrate surface due to the molten solder is detected by the first contact sensor 72a, and the back fillet on the back surface of the substrate is detected by the second contact sensor 72b. The operation control of the solder processing apparatus is the same operation control as that of the solder processing apparatus shown in FIGS.

(その他の実施形態)
前記実施形態では、検知手段として一対のチェック端子71a,71b又は接触センサー72a,72bを用いていたが、これらを併用してももちろん構わない。例えば、基板表面のフィレット形成を一対のチェック端子71a,71bの導通によって検知し、基板裏面のバックフィレット形成を接触センサー72で検知しても構わない。
(Other embodiments)
In the above-described embodiment, the pair of check terminals 71a and 71b or the contact sensors 72a and 72b are used as detection means. For example, the fillet formation on the front surface of the substrate may be detected by conduction between the pair of check terminals 71a and 71b, and the back fillet formation on the back surface of the substrate may be detected by the contact sensor 72.

供給孔51内における半田片W1の溶融を検知する検知手段として、気体流量センサーや圧力センサーを用いることも可能である。半田処理装置では、半田の酸化防止のため鏝先5の供給孔51内に窒素を定量供給している。そこで例えば、図12に示すように、鏝先5の先端部に供給孔51に繋がるパイプPを取付け、ここから窒素を排出又は供給する。供給孔51内におけるパイプPの開口部は、半田片W1が溶融していないときは開口しているが、半田片W1が溶融すると溶融半田で全部又は一部が塞がれるようにする。このような構成によれば、パイプPを流動する窒素の流量や圧力を検知することにより、供給孔51内の半田片W1の溶融を検知することができる。さらには、開口部の塞がり程度によって、一部が溶融しているといった半田片W1の溶融状態も検知し得る。   As a detecting means for detecting the melting of the solder piece W1 in the supply hole 51, it is also possible to use a gas flow rate sensor or a pressure sensor. In the solder processing apparatus, nitrogen is quantitatively supplied into the supply hole 51 of the tip 5 in order to prevent oxidation of the solder. Therefore, for example, as shown in FIG. 12, a pipe P connected to the supply hole 51 is attached to the tip of the hook 5, and nitrogen is discharged or supplied from here. The opening of the pipe P in the supply hole 51 is open when the solder piece W1 is not melted, but when the solder piece W1 is melted, all or part of the opening is closed with the molten solder. According to such a configuration, the melting of the solder piece W1 in the supply hole 51 can be detected by detecting the flow rate and pressure of nitrogen flowing through the pipe P. Furthermore, the melted state of the solder piece W1 such that a part of the solder piece W1 is melted can be detected depending on the degree of blockage of the opening.

本発明の半田処理装置は、半田鏝部に供給された半田が溶融し、きちんと半田付けが成されたかどうかを半田付け処理中に検知でき有用である。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The solder processing apparatus of the present invention is useful because it can detect during the soldering process whether the solder supplied to the solder ridge has melted and has been properly soldered.

1 支持部
2 カッターユニット
3 駆動機構
4 ヒーターユニット
5 鏝先
6 半田送り機構
A 半田処理装置
B 半田処理装置
P パイプ
W 糸半田
W1 半田片
11 壁体
13 摺動ガイド
21 カッター上刃
22 カッター下刃
23 プッシャーピン
31 第1アクチュエーター
32 第2アクチュエーター
41 ヒーター
42 ヒーターブロック
43 ヒーターブロック保持部
51 供給孔
61 送りローラ
62 ガイド管
71a,71b チェック端子
72a 第1接触センサー
72b 第2接触センサー
Sa 半田鏝
Bd 基板
Ep 電子部品
Ld ランド
211 上刃孔
212 ピン孔
221 下刃孔
311 シリンダー
321 シリンダー
421 凹部
422 半田供給孔
430 保持孔
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Support part 2 Cutter unit 3 Drive mechanism 4 Heater unit 5 Tip 6 Solder feed mechanism A Solder processing apparatus B Solder processing apparatus P Pipe W Yarn solder W1 Solder piece 11 Wall body 13 Sliding guide 21 Cutter upper blade 22 Cutter lower blade 23 Pusher pin 31 1st actuator 32 2nd actuator 41 Heater 42 Heater block 43 Heater block holding part 51 Supply hole 61 Feed roller 62 Guide pipe 71a, 71b Check terminal 72a 1st contact sensor 72b 2nd contact sensor Sa Soldering iron Bd board Ep Electronic component Ld Land 211 Upper blade hole 212 Pin hole 221 Lower blade hole 311 Cylinder 321 Cylinder 421 Recess 422 Solder supply hole 430 Holding hole

Claims (9)

半田を基板上に供給して溶融させる半田処理装置であって、
前記供給の経路である供給孔を有し略筒形状で、前記略筒形状の先端部が前記基板に近接又は接触して、前記供給された半田を溶融させる半田鏝部と、
前記供給孔を通るように半田を前記基板上へ落下させて供給する半田供給部と
を備え、
前記供給された半田の溶融を検知する検知手段をさらに備え
前記検知手段は一対のチェック端子を有し、
前記一対のチェック端子は、少なくとも一方が溶融前の半田と接触せず、且つ、双方が溶融後の半田と接触する位置に設けられ、
前記一対のチェック端子間の導通検知により前記供給された半田の溶融を検知する
ことを特徴とする半田処理装置。
A solder processing apparatus for supplying and melting solder on a substrate,
A substantially cylindrical shape having a supply hole which is the supply path, and a tip end portion of the substantially cylindrical shape being close to or in contact with the substrate, and a solder flange portion for melting the supplied solder;
A solder supply unit that drops and supplies the solder onto the substrate so as to pass through the supply hole;
It further comprises a detecting means for detecting melting of the supplied solder ,
The detection means has a pair of check terminals,
The pair of check terminals is provided at a position where at least one of the check terminals does not contact with the solder before melting, and both contact with the solder after melting,
The solder processing apparatus, wherein melting of the supplied solder is detected by detecting conduction between the pair of check terminals .
前記供給孔の先端部が外方に向かって拡径し、前記一対のチェック端子の少なくとも一方が、前記供給孔の拡径した部分に設けられた請求項記載の半田処理装置。 The tip portion of the supply hole is enlarged toward the outside, wherein at least one of the pair of check terminals, soldering apparatus according to claim 1, wherein provided on the enlarged diameter portion of said supply hole. 前記供給孔の先端部の内周面に、周方向又は軸方向に溝部あるいは凹部が形成され、前記一対のチェック端子の少なくとも一方が、前記溝部又は前記凹部に設けられた請求項又は記載の半田処理装置。 Wherein the inner peripheral surface of the distal end portion of the supply holes, the circumferential direction or the axial direction in the groove or recess is formed, at least one of the pair of check terminals, the groove or claim 1 or 2, wherein provided in the recess Soldering equipment. 電子部品をスルーホール実装する半田処理装置であって、
前記一対のチェック端子の一方が半田供給面側に設けられ、もう一方がスルーホールを介して反対面側に設けられ、
前記一対のチェック端子間の導通検知により前記供給された半田の溶融及びバックフィレットの形成を検知する請求項1〜のいずれかに記載の半田処理装置。
A solder processing apparatus for mounting electronic components through holes,
One of the pair of check terminals is provided on the solder supply surface side, and the other is provided on the opposite surface side through the through hole,
Soldering apparatus according to any one of claims 1 to 3 for detecting the supplied solder melting and forming of the back fillet by conduction detection between the pair of check terminals.
前記一対のチェック端子の溶融した半田と接触する部分が、半田と濡れ性のある材料からなる請求項1〜のいずれかに記載の半田処理装置。 The melted portion in contact with the solder of the pair of check terminals, soldering apparatus according to any one of claims 1 to 4 comprising a solder wettability of a material. 半田を基板上に供給して溶融させる半田処理装置であって、
前記供給の経路である供給孔を有し略筒形状で、前記略筒形状の先端部が前記基板に近接又は接触して、前記供給された半田を溶融させる半田鏝部と、
前記供給孔を通るように半田を前記基板上へ落下させて供給する半田供給部と
を備え、
前記供給された半田の溶融を検知する検知手段をさらに備え、
前記検知手段は、物体の接触を検知する第1接触センサーを有し、
第1接触センサーは、溶融前の半田と接触せず、且つ、溶融後の半田と接触する位置に設けられていることを特徴とする半田処理装置。
A solder processing apparatus for supplying and melting solder on a substrate,
A substantially cylindrical shape having a supply hole which is the supply path, and a tip end portion of the substantially cylindrical shape being close to or in contact with the substrate, and a solder flange portion for melting the supplied solder;
A solder supply unit that drops and supplies solder onto the substrate so as to pass through the supply hole;
With
It further comprises a detecting means for detecting melting of the supplied solder,
The detection means includes a first contact sensor that detects contact of an object,
The first contact sensor does not contact with the solder before melting, and solder processing apparatus characterized by being provided at a position in contact with the solder after melting.
前記供給孔の先端部が外方に向かって拡径し、第1接触センサーが、前記供給孔の拡径した部分に設けられた請求項記載の半田処理装置。 The solder processing apparatus according to claim 6 , wherein a tip end portion of the supply hole has an increased diameter toward the outside, and the first contact sensor is provided at a portion of the supply hole having an increased diameter. 前記供給孔の先端部の内周面に、周方向又は軸方向に溝部あるいは凹部が形成され、第1接触センサーが、前記溝部又は前記凹部に設けられた請求項又は記載の半田処理装置。 The solder processing apparatus according to claim 6 or 7 , wherein a groove or a recess is formed in an inner peripheral surface of a tip portion of the supply hole in a circumferential direction or an axial direction, and a first contact sensor is provided in the groove or the recess. . 電子部品をスルーホール実装する半田処理装置であって、
前記検知手段が、物体の接触を検知する第2接触センサーをさらに有し、
第2接触センサーが、半田供給面に対してスルーホールを介して反対面側に設けられ、
第1接触センサーと第2接触センサーによって前記供給された半田の溶融及びバックフィレットの形成を検知する請求項のいずれかに記載の半田処理装置。
A solder processing apparatus for mounting electronic components through holes,
The detection means further includes a second contact sensor that detects contact of an object,
A second contact sensor is provided on the opposite side of the solder supply surface through a through hole;
Soldering apparatus according to any one of claims 6-8 for detecting the formation of a melt and the back fillet of solder that is the supply by the first contact sensor and the second contact sensor.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2018025787A1 (en) * 2016-07-30 2018-02-08 株式会社パラット Soldering device and soldering method
JP6138324B1 (en) * 2016-07-30 2017-05-31 株式会社パラット Soldering apparatus, soldering method, printed circuit board manufacturing method, and product manufacturing method
JP6792858B2 (en) * 2016-08-01 2020-12-02 株式会社アンド Soldering equipment
JP7032799B2 (en) * 2018-03-05 2022-03-09 株式会社アンド Soldering equipment
JP7006925B2 (en) * 2018-03-23 2022-01-24 株式会社アンド How to judge the state of the trowel

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3314088B2 (en) * 1992-06-08 2002-08-12 栄修 永田 Soldering method and soldering device
WO2008023461A1 (en) * 2006-08-21 2008-02-28 Mitsuo Ebisawa Soldering iron, method for manufacturing electronic apparatus by using it, amd manufacturing equipment
JP2008270553A (en) * 2007-04-20 2008-11-06 Toyota Motor Corp Lead component and inspecting method of soldering state of the same
JP2009054781A (en) * 2007-08-27 2009-03-12 Toyota Motor Corp Electronic product manufacturing method incorporating solder inspection, its electronic product and electronic component therefor

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