JP2018067698A - Soldering evaluation method and device therefor - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To evaluate the quality of soldering from a soldered substrate surface side.SOLUTION: A soldering evaluation method includes: a terminal inserted into a land that has a through hole penetrating through a soldered substrate; a soldering iron supplying a molten solder in the through hole; and a heat transfer body transferring heat of solder fusion of the through hole on the back side of the substrate to the surface side of the substrate. In the soldering evaluation method, during soldering or after the completion of soldering, temperatures of the heat transfer body are detected to evaluate the soldering, and the quality of a back fillet can be determined from the solder surface side of the substrate.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、半田片を加熱溶融する半田付けの検査を行う半田付け評価方法およびその装置に関するものである。  The present invention relates to a soldering evaluation method and apparatus for inspecting soldering by heating and melting a solder piece.

近年、各種機器において電気部品を実装した電子回路が搭載されている。電子回路の形成工程においては、リード線を基板上の配線パターン(ランド)に接合する処理等のため、半田鏝を用いた半田付けが実施される。また半田付けの工程を機械的に実現させるため、鏝先の部分を備えた半田処理装置が利用されている。
このような半田処理装置は、例えば加熱された鏝先内に半田片(糸半田を切断したもの)を供給し、鏝先の熱を用いて半田片を加熱溶融することにより、下方へ溶融した半田を供給するように構成される。これにより、下方に配置しておいた基板に対する半田付け工程が実現可能である。
しかしながら、半田付け条件や半田材料あるいは基板のバラツキによって半田接合が十分でない場合があり、半田付けの信頼性を保証する検査が必要となっている。特にスルーホールに部品の端子を挿入して半田付けを行う場合、スルーホール内に半田が充填され、かつ基板の裏側に半田が盛り上がるバックフィレットの形成が求められている。
In recent years, electronic circuits on which electrical components are mounted are mounted on various devices. In the formation process of the electronic circuit, soldering using a soldering iron is performed for the process of joining the lead wire to the wiring pattern (land) on the substrate. In addition, in order to mechanically realize the soldering process, a solder processing apparatus having a hook portion is used.
For example, such a solder processing apparatus melts downward by supplying solder pieces (cut from thread solder) into a heated tip and heating and melting the solder pieces using the heat of the tip. It is configured to supply solder. Thereby, the soldering process with respect to the board | substrate arrange | positioned below is realizable.
However, solder bonding may not be sufficient depending on soldering conditions, solder materials, or board variations, and inspection for assuring the reliability of soldering is required. In particular, when soldering is performed by inserting a component terminal into a through hole, it is required to form a back fillet in which the through hole is filled with solder and the solder rises on the back side of the substrate.

特許文献1に記載されている技術は、筒内部で半田を溶融させる半田鏝の筒外部の温度を検出して半田の溶融が適切に行われていることを判別するものである。
特許文献2に記載されている技術は、溶融した半田の温度を放射温度計で計測し、その温度波形から半田接合部の良否判定を行うものである。
このバックフィレットの検査は、従来行われている電気的導通検査やカメラを用いた外観検査では判別が困難であり、自動での検査を実施することができなかった。
The technique described in Japanese Patent Laid-Open No. 2004-151867 is to detect that the solder is properly melted by detecting the temperature outside the solder tub where the solder is melted inside the cylinder.
The technique described in Patent Document 2 measures the temperature of molten solder with a radiation thermometer, and determines the quality of the solder joint from the temperature waveform.
This back fillet inspection is difficult to discriminate in the conventional electrical continuity inspection and appearance inspection using a camera, and automatic inspection cannot be performed.

特開2016−059923号公報JP, 2006-059923, A 特開2013−251488号公報JP 2013-251488 A

しかしながら、特許文献1に記載されている技術では、筒の外部から温度を検出しているため溶融半田の温度を正確に計測できず、半田の良否判定の精度が低いという欠点があり、またバックフィレットの形成の判別は困難であった。
特許文献2に記載されている技術は、基板表面のスルーホールの中心付近の半田の温度計測を行っており、半田付けされる端子には電気部品が取りつけられているので、基板の裏面から温度測定あるいは外観検査によりバックフィレットの良否を判別することがで困難であった。
本発明は上述した課題に鑑み、半田付け基板の表面からバックフィレットなどの半田付け良否の判別方法の提供を目的とする。
However, the technique described in Patent Document 1 has a drawback that the temperature of the molten solder cannot be accurately measured because the temperature is detected from the outside of the cylinder, and the accuracy of solder quality determination is low. Discrimination of fillet formation was difficult.
The technique described in Patent Document 2 measures the temperature of the solder near the center of the through hole on the surface of the substrate, and since electrical components are attached to the terminals to be soldered, the temperature is measured from the back surface of the substrate. It was difficult to determine the quality of the back fillet by measurement or appearance inspection.
In view of the above-described problems, an object of the present invention is to provide a method for discriminating whether soldering is good such as a back fillet from the surface of a soldering substrate.

本発明に係る半田付けの評価方法は、半田付け基板を貫通するスルーホールを有するランドに溶融半田を流入する半田鏝と、スルーホール基板の裏面側の半田溶融熱を基板の表面側に伝える伝熱体とを備え、伝熱体の温度を検出して半田付けが正常に行われたことを判定するものである。   According to the soldering evaluation method of the present invention, a solder rod that flows molten solder into a land having a through-hole penetrating the soldering substrate and a solder melting heat on the back surface side of the through-hole substrate are transmitted to the front surface side of the substrate. A heat element, and detects the temperature of the heat transfer element to determine that the soldering has been performed normally.

また上記方法として具体的には、伝熱体はスルーホール内に挿入された端子と分岐された計測用端子からなり、この計測用端子の温度を計測することにより、半田付けの良否を判定するものである。
また上記方法として具体的には、伝熱体をランドを延長して設け、このランドの温度を測定することにより、半田付けの良否を判定するものである。
Specifically, as the above method, the heat transfer body is composed of a terminal inserted into the through-hole and a branched measurement terminal, and the quality of the soldering is determined by measuring the temperature of the measurement terminal. Is.
Specifically, as the above method, a heat transfer body is provided by extending a land, and the temperature of the land is measured to determine whether soldering is good or bad.

また上記方法として具体的には、端子にその円周方向に広げた拡大部を備え、この拡大部によって伝熱を促進して温度を計測し、半田付けの良否を判定するものである。
また上記方法として具体的には、伝熱体は、スルーホールより半径方法に離れた位置に備えられ、この伝熱体の温度を計測することにより、半田付けの良否を判定するものである。
また、本発明に係る半田評価方法は、半田付け基板を貫通するスルーホールを有するランドと、スルーホール内に溶融半田を供給する半田鏝と、前記ランドの外周部の温度を検出するものである。
Specifically, as the above method, the terminal is provided with an enlarged portion that is widened in the circumferential direction, and heat conduction is promoted by the enlarged portion to measure the temperature, thereby determining whether soldering is good or bad.
Specifically, as the above method, the heat transfer body is provided at a position away from the through hole in a radial manner, and the quality of the soldering is determined by measuring the temperature of the heat transfer body.
The solder evaluation method according to the present invention detects a land having a through hole penetrating a soldering substrate, a solder iron for supplying molten solder into the through hole, and a temperature of an outer peripheral portion of the land. .

また、本発明の半田付け装置は、半田付け基板を貫通するスルーホールを有するランドと、スルーホール内に溶融半田を供給する鏝先と、スルーホール基板の裏面側の半田溶融熱を前記基板の表面側に伝える伝熱体と、伝熱体の温度を検出する温度検出手段とを備え、温度検出手段により半田付けの良否の評価を行うものである。   The soldering apparatus according to the present invention also includes a land having a through-hole penetrating the soldering substrate, a tip for supplying molten solder into the through-hole, and solder melting heat on the back side of the through-hole substrate. A heat transfer body to be transmitted to the surface side and a temperature detection means for detecting the temperature of the heat transfer body are provided, and the quality of the soldering is evaluated by the temperature detection means.

本発明に係る半田付け評価方法によれば、スルーホールから基板の裏面に供給された溶融半田の熱を、伝熱体によって基板表面側に伝達させ、基板表面側からその温度を計測することにより半田付けの評価を行うことができ、半田付け時に半田付けの良否を判定することができる。  According to the soldering evaluation method according to the present invention, the heat of the molten solder supplied from the through hole to the back surface of the substrate is transferred to the substrate surface side by the heat transfer body, and the temperature is measured from the substrate surface side. Evaluation of soldering can be performed, and the quality of soldering can be determined at the time of soldering.

本発明の実施例にかかる半田付け装置の斜視図である。It is a perspective view of the soldering apparatus concerning the Example of this invention. 図1に示す半田付け装置のII−II線で切断した断面図である。It is sectional drawing cut | disconnected by the II-II line | wire of the soldering apparatus shown in FIG. 本発明の半田付け評価方法を示す実施例1の構成を示す図であり、(a)は断面図であり、(b)は(a)のA矢視図である。It is a figure which shows the structure of Example 1 which shows the soldering evaluation method of this invention, (a) is sectional drawing, (b) is A arrow view of (a). 同実施例1の測定用端子を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the terminal for a measurement of the Example 1. FIG. 同実施例1の半田付け状態を示す断面図であり、(a)は半田付けが良好な場合を示す図であり、(b)は半田付けが不良の場合を示す図である。It is sectional drawing which shows the soldering state of the Example 1, (a) is a figure which shows the case where soldering is favorable, (b) is a figure which shows the case where soldering is bad. 本発明の半田付け評価方法を示す実施例2の構成を示す図であり、(a)は断面図であり、(b)は(a)の要部のB矢視図である。It is a figure which shows the structure of Example 2 which shows the soldering evaluation method of this invention, (a) is sectional drawing, (b) is B arrow view of the principal part of (a). 同実施例2の測定用端子を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the terminal for a measurement of the Example 2. 同実施例2の半田付け状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the soldering state of the Example 2. 同実施例2の他の測定用端子を示す実施例である。3 is an example showing another measurement terminal of Example 2. FIG. 本発明の半田付け評価方法の実施例3の構成を示す図であり、(a)は断面図であり、(b)は(a)の要部のC矢視図である。It is a figure which shows the structure of Example 3 of the soldering evaluation method of this invention, (a) is sectional drawing, (b) is C arrow directional view of the principal part of (a). 同実施例3の半田付けの状態を示す断面図であり、(a)は半田付けの正常な場合を示す図であり、(b)は半田付けの不良な状態を示す図である。It is sectional drawing which shows the state of soldering of the Example 3, (a) is a figure which shows the normal case of soldering, (b) is a figure which shows the state in which soldering is unsatisfactory. 同実施例3の他のランド形状を示す実施例である。It is an Example which shows the other land shape of the Example 3. 不完全な半田付けの状態を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the state of incomplete soldering. 本発明の半田付け評価方法の実施例4の構成を示す図であり、(a)は半田付けの良好な場合の断面図、(b)は要部のD矢視図である。It is a figure which shows the structure of Example 4 of the soldering evaluation method of this invention, (a) is sectional drawing in the case of favorable soldering, (b) is D arrow view of the principal part. 同実施例4の端子形状を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the terminal shape of the Example 4. 同実施例5の半田付けの不良の場合の断面図である。It is sectional drawing in the case of the defect of soldering of Example 5. 同実施例5の正常な半田付け状態を示す図で、(a)は断面図、(b)は(a)の要部のE矢視図である。It is a figure which shows the normal soldering state of the Example 5, (a) is sectional drawing, (b) is E arrow view of the principal part of (a). 同実施例5の不良の半田付け状態を示す図で、(a)は断面図、(b)は(a)の要部のE矢視図である。It is a figure which shows the defective soldering state of the Example 5, (a) is sectional drawing, (b) is an E arrow directional view of the principal part of (a). 従来の半田付け装置の断面図である。It is sectional drawing of the conventional soldering apparatus.

本発明の実施形態について、実施例1から図面を参照しながら以下に説明する。なお、本発明の内容はこれらの実施形態に何ら限定されるものではない。   Embodiments of the present invention will be described below from Example 1 with reference to the drawings. The contents of the present invention are not limited to these embodiments.

図1は本発明の実施例1にかかる半田付け評価方法における半田付け装置の斜視図であり、図2は図1に示す半田付け装置AのII−II線で切断した断面図である。なお、図1では、筐体及び支持部1の一部を切断し、半田付け装置Aの内部を表示するようにしている。   FIG. 1 is a perspective view of a soldering apparatus in a soldering evaluation method according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line II-II of the soldering apparatus A shown in FIG. In FIG. 1, a part of the housing and the support portion 1 is cut to display the inside of the soldering apparatus A.

図1および図2に示すように半田付け装置Aは、上方から糸半田Wを供給し、下部に設けられた鏝先5を利用して、鏝先5の下方に配置される配線基板Bdと、電気部品Epとを半田付けする装置である。なお、糸半田Wは、管状の半田層の内部にフラックス層が設けられた構造となっている。従って糸半田Wを切断して生成される半田片も、同様に、管状の半田層の内部にフラックス層が設けられた構造となる。半田付け装置Aは、支持部1、カッターユニット2、駆動機構3、ヒーターユニット4、鏝先5及び半田送り機構6を備えている。ヒーターユニット4と鏝先5とを組み合わせたものが、半田鏝部を構成している。
支持部1は、立設された平板状の壁体11を備えている。なお、以下の説明では、便宜上、図1に示すように、壁体11に沿う水平方向をX方向、壁体11と垂直な水平方向をY方向、壁体11に沿う鉛直方向をZ方向(上下方向)とする。例えば、図1に示すように、壁体11はZX平面を有している。
As shown in FIG. 1 and FIG. 2, the soldering apparatus A supplies the wire solder W from above and uses the tip 5 provided at the lower portion to connect the wiring board Bd disposed below the tip 5 This is a device for soldering the electrical component Ep. The thread solder W has a structure in which a flux layer is provided inside a tubular solder layer. Accordingly, the solder piece generated by cutting the thread solder W similarly has a structure in which a flux layer is provided inside the tubular solder layer. The soldering apparatus A includes a support unit 1, a cutter unit 2, a drive mechanism 3, a heater unit 4, a tip 5, and a solder feed mechanism 6. A combination of the heater unit 4 and the tip 5 constitutes a soldering iron part.
The support portion 1 includes a flat plate-like wall body 11 that is erected. In the following description, for convenience, as shown in FIG. 1, the horizontal direction along the wall body 11 is the X direction, the horizontal direction perpendicular to the wall body 11 is the Y direction, and the vertical direction along the wall body 11 is the Z direction ( Vertical direction). For example, as shown in FIG. 1, the wall 11 has a ZX plane.

半田付け装置Aは、治具Gjに取り付けられた配線基板Bdと、配線基板Bdに配置された電気部品Epの端子Pとに溶融半田を供給し、接続固定を行う。半田付けを行うとき、治具GjをX方向及びY方向に移動させ配線基板BdのランドLdとの位置決めを行う。また、そして、半田付け装置AはZ方向に移動可能であり、位置決め後Z方向に移動することで、鏝先5の先端をランドLdに接触させることができる。
支持部1は、壁体11のZ方向の下端部より上方にずれた位置に設けられた保持部12と、壁体11のZ方向の辺縁部(下部)に固定された摺動ガイド13と、壁体11のZ方向の端部(下端部)に設けられたヒーターユニット固定部14とを備えている。
The soldering apparatus A supplies the molten solder to the wiring board Bd attached to the jig Gj and the terminal P of the electrical component Ep arranged on the wiring board Bd, and performs connection fixing. When soldering, the jig Gj is moved in the X direction and the Y direction to position the wiring board Bd with the land Ld. Further, the soldering apparatus A is movable in the Z direction, and the tip of the hook 5 can be brought into contact with the land Ld by moving in the Z direction after positioning.
The support portion 1 includes a holding portion 12 provided at a position shifted from a lower end portion of the wall body 11 in the Z direction, and a sliding guide 13 fixed to the edge portion (lower portion) of the wall body 11 in the Z direction. And a heater unit fixing portion 14 provided at an end portion (lower end portion) of the wall body 11 in the Z direction.

カッターユニット2は、半田送り機構6によって送られた糸半田Wを所定長さの半田片Wh(図2)に切断するものである。カッターユニット2は、摺動ガイド13に固定されたカッター下刃22(固定刃部)と、カッター下刃22の上部に配置され、X方向に摺動可能に配置されたカッター上刃21(可動刃部)と、カッター上刃21に設けられ、カッター上刃21の摺動方向と交差する方向(Z方向)に摺動するプッシャーピン23(半田押部)とを備えている。  The cutter unit 2 is for cutting the thread solder W fed by the solder feeding mechanism 6 into solder pieces Wh (FIG. 2) having a predetermined length. The cutter unit 2 includes a cutter lower blade 22 (fixed blade portion) fixed to the sliding guide 13 and a cutter upper blade 21 (movable) disposed on the cutter lower blade 22 and slidable in the X direction. Blade part) and a pusher pin 23 (solder pressing part) that is provided on the cutter upper blade 21 and slides in a direction (Z direction) intersecting the sliding direction of the cutter upper blade 21.

図2に示すように、カッター上刃21は、半田送り機構6にて送られた糸半田Wが挿入される貫通孔である上刃孔211と、プッシャーピン23のロッド部231が挿入された貫通孔であるピン孔212とを備えている。上刃孔211の下端の辺縁部は切刃状に形成されている。カッター下刃22は、上刃孔211を貫通した糸半田Wが挿入される貫通孔である下刃孔221を備えている。下刃孔221の上端の辺縁部は切刃状に形成されている。上刃孔211と下刃孔221とは、糸半田Wが挿入されている状態で、糸半田Wと交差する方向にずれることで、互いの切刃によって糸半田Wが切断される。 プッシャーピン23は半田押部であり、カッター上刃21とカッター下刃22で切断されて下刃孔221に残った半田片Whを下方に押すものである。  As shown in FIG. 2, the cutter upper blade 21 has an upper blade hole 211 that is a through hole into which the thread solder W fed by the solder feeding mechanism 6 is inserted, and a rod portion 231 of the pusher pin 23 inserted therein. The pin hole 212 which is a through-hole is provided. The lower edge of the upper blade hole 211 is formed in a cutting edge shape. The cutter lower blade 22 includes a lower blade hole 221 that is a through hole into which the thread solder W penetrating the upper blade hole 211 is inserted. The edge part of the upper end of the lower blade hole 221 is formed in a cutting blade shape. The upper blade hole 211 and the lower blade hole 221 are displaced in a direction intersecting with the thread solder W in a state where the thread solder W is inserted, whereby the thread solder W is cut by the mutual cutting blade. The pusher pin 23 is a solder pressing part, and pushes down the solder piece Wh cut by the cutter upper blade 21 and the cutter lower blade 22 and remaining in the lower blade hole 221.

図1、図2に示すように、駆動機構3は、保持部12に保持されたエアーシリンダー31と、保持部12に設けられた貫通孔を貫通し、エアーシリンダー31によってZ方向に摺動駆動されるピストンロッド32と、保持部12とカッター下刃22との両方に支持され、Z方向に延びる円柱状のガイド軸35を備えている。そして、駆動機構3は、ガイド軸35にZ方向に摺動可能に支持されたカム部材33と、カム部材33に設けられた後述のピン332が係合するカム溝340を有するスライダー部34とを備えている。  As shown in FIGS. 1 and 2, the drive mechanism 3 passes through an air cylinder 31 held by the holding portion 12 and a through hole provided in the holding portion 12, and is driven to slide in the Z direction by the air cylinder 31. And a cylindrical guide shaft 35 that is supported by both the holding rod 12 and the cutter lower blade 22 and extends in the Z direction. The drive mechanism 3 includes a cam member 33 supported by the guide shaft 35 so as to be slidable in the Z direction, and a slider portion 34 having a cam groove 340 with which a later-described pin 332 provided on the cam member 33 is engaged. It has.

図2に示すように、ヒーターユニット4は、半田片Whを加熱し、溶融させるための加熱装置であり、壁体22の下端部に設けられたヒーターユニット固定部14に固定されている。ヒーターユニット4は、電気を通すことで発熱するヒーター41と、ヒーター41を取り付けるためのヒーターブロック42とを備えている。ヒーター41は円筒形状のヒーターブロック42の外周面に巻き回されている。
鏝先5は、上下方向に伸びた円筒形状の加熱可能な部材であり、中央部分に軸方向に延びる半田孔51を備えている。鏝先5は、ヒーターブロック42の凹部421に挿入され、図示を省略した部材によって抜け止めがなされている。また、鏝先5の半田孔51は、ヒーターブロック42の半田供給孔421と連通しており、半田供給孔421から半田片Whが送られる。
鏝先5は、ヒーター41からの熱が伝達されており、その熱で半田片Whを溶融させる。
As shown in FIG. 2, the heater unit 4 is a heating device for heating and melting the solder piece Wh, and is fixed to the heater unit fixing portion 14 provided at the lower end portion of the wall body 22. The heater unit 4 includes a heater 41 that generates heat when electricity is passed, and a heater block 42 for attaching the heater 41. The heater 41 is wound around the outer peripheral surface of a cylindrical heater block 42.
The tip 5 is a cylindrical heatable member extending in the vertical direction, and has a solder hole 51 extending in the axial direction at the center. The tip 5 is inserted into the recess 421 of the heater block 42 and is prevented from coming off by a member not shown. Further, the solder hole 51 of the tip 5 communicates with the solder supply hole 421 of the heater block 42, and the solder piece Wh is sent from the solder supply hole 421.
The tip 5 is transferred with heat from the heater 41 and melts the solder piece Wh with the heat.

図1、図2に示すように、半田送り機構6は、糸半田Wを供給するものであり、糸半田Wを送る一対の送りローラ(61a、61b)と、送られた糸半田Wをカッター上刃21の上刃孔211にガイドするガイド管62とを備えている。一対の送りローラ(61a、61b)は、支持部1に取り付けられており、糸半田Wを挟むとともに、回転することで糸半田Wを下方に送る。ガイド管62は、弾性変形可能な管体であり、上端は、送りローラ61の糸半田Wが送り出される部分に近接して配置されている。  As shown in FIGS. 1 and 2, the solder feeding mechanism 6 supplies thread solder W, a pair of feed rollers (61a, 61b) for feeding the thread solder W, and the thread solder W fed thereto by a cutter. And a guide tube 62 for guiding the upper blade 21 into the upper blade hole 211. The pair of feed rollers (61a, 61b) are attached to the support unit 1, sandwich the yarn solder W, and rotate to feed the yarn solder W downward. The guide tube 62 is a tube body that can be elastically deformed, and its upper end is disposed in the vicinity of a portion of the feed roller 61 where the thread solder W is fed out.

また、ガイド管62の下端は、カッター上刃21の上刃孔211と連通するように設けられている。なお、ガイド管62の下端はカッター上刃21の摺動に追従して移動するものであり、ガイド管62はカッター上刃21が摺動する範囲で過剰に引っ張られたり、突っ張ったりしないように設けられている。各送りローラ(61a、61b)は回転角度(回転数)によって、送り出した糸半田の長さを決定している。  The lower end of the guide tube 62 is provided so as to communicate with the upper blade hole 211 of the cutter upper blade 21. Note that the lower end of the guide tube 62 moves following the sliding of the cutter upper blade 21, and the guide tube 62 is not excessively pulled or stretched within the range in which the cutter upper blade 21 slides. Is provided. Each feed roller (61a, 61b) determines the length of the thread solder fed out by the rotation angle (number of rotations).

半田付け装置Aで半田付けを行う場合、半田付け装置A全体をロボットなどの駆動装置により下降させ、鏝先5の先端を半田付けを行う配線基板BdのランドLdに接触させ、鏝先5で、ランドLd及び電気部品Epの端子Pを囲む。このとき、鏝先5には、ヒーター41からの熱が伝達されており、鏝先5が接触することでランドLd及び電気部品Epの端子Pは、半田付けに適した温度に加温(プレヒート)される。  When soldering is performed by the soldering apparatus A, the entire soldering apparatus A is lowered by a driving device such as a robot, and the tip of the tip 5 is brought into contact with the land Ld of the wiring board Bd to be soldered. , Surrounding the land Ld and the terminal P of the electrical component Ep. At this time, heat from the heater 41 is transmitted to the tip 5, and when the tip 5 comes into contact, the land Ld and the terminal P of the electric component Ep are heated to a temperature suitable for soldering (preheating). )

次に、半田付け装置Aの動作について説明する。図2に示すように、ヒータ41で鏝先5を加熱した後、半田送り機構6で糸半田Wを設定された長さで送り、シリンダー31によって、カム部材33を介して上刃21をスライドさせ、糸半田Wを切断し、切断された半田片Whは鏝先5の半田孔51の中を通過し、端子Pに当接し鏝先5から受熱し溶融する。  Next, the operation of the soldering apparatus A will be described. As shown in FIG. 2, after the tip 5 is heated by the heater 41, the thread solder W is fed by a set length by the solder feeding mechanism 6, and the upper blade 21 is slid by the cylinder 31 via the cam member 33. Then, the thread solder W is cut, and the cut solder piece Wh passes through the solder hole 51 of the tip 5, contacts the terminal P, receives heat from the tip 5 and melts.

次に本発明の半田付けの評価方法に関してて述べる。従来、スルーホールを有する基板へのはんだ付けは、図19に示す構成であった。スルーホールThとランドLdを有する配線基板Bdに端子Pを有する電気部品Epを半田付けするものである。図19(a)は半田付けが良好に行われた場合であり、溶融した半田WhがスルーホールThを通過して基板Bdの裏面(下側)まで供給された場合であり、(b)は基板Bdの裏面側まで半田Whが供給されていない場合である。図19(b)の状態では電気的には導通しているが、機械的な強度が不十分であり、温度の上下サイクルや振動に繰り返し晒されると、電気部品Epが離脱することがある。しかしながら半田付け当初においては電気部品Epの端子Pと配線基板BdのランドLdとは電気的には導通しており、導通テストでは異常は発見されない。また配線基板Bdの裏側は電気部品Epがあるため外観検査を行うことは困難である。   Next, the soldering evaluation method of the present invention will be described. Conventionally, soldering to a substrate having a through hole has a configuration shown in FIG. The electrical component Ep having the terminal P is soldered to the wiring board Bd having the through hole Th and the land Ld. FIG. 19A shows a case where the soldering is performed well, where the melted solder Wh passes through the through hole Th and is supplied to the back surface (lower side) of the substrate Bd, and FIG. This is a case where the solder Wh is not supplied to the back side of the substrate Bd. In the state of FIG. 19 (b), although electrically conductive, the mechanical strength is insufficient, and the electrical component Ep may be detached when repeatedly exposed to a temperature up / down cycle or vibration. However, at the beginning of soldering, the terminal P of the electrical component Ep and the land Ld of the wiring board Bd are electrically connected, and no abnormality is found in the continuity test. Further, since the back side of the wiring board Bd has the electrical component Ep, it is difficult to perform an appearance inspection.

本発明の実施例1の配線基板Bdを図3に示す。図3(b)は(a)のA矢視図である。図3において、配線基板Bdを貫通するスルーホールThを有するランドLdが、配線基板Bdの両面に設けられている。この基板Bdの裏面側にはL字型の伝熱体Dtが設けられ、伝熱体Dtの一方は、ランドLdの近傍に、また半田付け時にスルーホールTh内に挿入される端子Tdの近傍に配置され、他方は基板Bdを挿入口Ksを貫通して端部は基板Bdの表面側に露出する。図4は伝熱体Dtの形状を示す斜視図である。Ztは絶縁体である。   A wiring board Bd according to the first embodiment of the present invention is shown in FIG. FIG. 3B is a view taken in the direction of arrow A in FIG. In FIG. 3, lands Ld having through holes Th penetrating the wiring board Bd are provided on both surfaces of the wiring board Bd. An L-shaped heat transfer body Dt is provided on the back side of the substrate Bd, and one of the heat transfer bodies Dt is in the vicinity of the land Ld and in the vicinity of the terminal Td inserted into the through hole Th during soldering. The other is penetrating the substrate Bd through the insertion opening Ks and the end is exposed on the surface side of the substrate Bd. FIG. 4 is a perspective view showing the shape of the heat transfer body Dt. Zt is an insulator.

次に半田付け時の状態について述べる。図5(a)は半田付けが正常に行われた例をを示しており、トップフィレットFtとバックフィレットFbが形成されており、図5(b)は半田付けの異常な状態を示しとバックフィレットが形成されていない。図(a)では、バックフィレットFbにより溶融半田Whの熱が伝熱体Dtに伝達され、基板Bdの表面側に位置する伝熱体Dtの上部の温度が上昇する。この温度を温度検出手段である放射温度計Hoで検出する。溶融半田Whからの伝熱体Dtへの伝熱は、溶融半田Whからの伝熱のみならず、バックフィレットFbが形成されることにより、ランドLdや端子Tdから溶融半田Whを介して行われるので、温度上昇を高くすることができる。半田付けの良否の判定は、伝熱体Dtの温度値や温度変化度合あるいは半田片の溶融からの伝熱体Dtの温度変化の時間に対する変化特性から判断することができる。検出温度が高いあるいは温度の変化速度が大きい場合には正常に半田付けが行われたと判定する。伝熱体Dtが配線基板Bdを貫通する部分では、伝熱体Dtと挿入口Ksとの間に一部あるいは全部に隙間を設けることにより、バックフィレットFb以外の伝熱を低減することができるので、検出精度が向上する。   Next, the state during soldering will be described. FIG. 5A shows an example in which the soldering is normally performed, and the top fillet Ft and the back fillet Fb are formed. FIG. 5B shows the abnormal state of the soldering and the back. Fillets are not formed. In the figure (a), the heat of the molten solder Wh is transmitted to the heat transfer body Dt by the back fillet Fb, and the temperature of the upper part of the heat transfer body Dt located on the surface side of the substrate Bd increases. This temperature is detected by a radiation thermometer Ho which is a temperature detecting means. Heat transfer from the molten solder Wh to the heat transfer body Dt is performed not only from the molten solder Wh but also from the land Ld and the terminal Td via the molten solder Wh by forming the back fillet Fb. Therefore, the temperature rise can be increased. Whether the soldering is good or bad can be determined from the temperature characteristic of the heat transfer body Dt, the degree of temperature change, or the change characteristics with respect to time of the temperature change of the heat transfer body Dt from melting of the solder pieces. When the detected temperature is high or the temperature change rate is large, it is determined that the soldering has been normally performed. In a portion where the heat transfer body Dt penetrates the wiring board Bd, a heat transfer other than the back fillet Fb can be reduced by providing a gap in part or all between the heat transfer body Dt and the insertion port Ks. Therefore, the detection accuracy is improved.

図5(b)においては、バックフィレットFbが形成されないので、溶融半田Whの下部から伝熱体Dtへの熱伝達量が少なく、伝熱体Dtの温度が低い、あるいは時間に対する温度変化度合が小さい。この場合には半田付けが正常に行われなかったと判定し、警報を行ったり、半田付け作業の停止を行う。
温度計は、放射温度計のみならず熱電対温度計や測温抵抗体を利用したものや、あるいは温度によって色彩が変化するものでも良い。また、上記の温度計は半田付け装置Aと一体的にロボットなどで駆動し、その位置を半田付け箇所の移動と同期させても良い。
In FIG. 5B, since the back fillet Fb is not formed, the amount of heat transfer from the lower part of the molten solder Wh to the heat transfer body Dt is small, the temperature of the heat transfer body Dt is low, or the temperature change degree with respect to time is small. small. In this case, it is determined that the soldering has not been performed normally, and an alarm is given or the soldering operation is stopped.
The thermometer may be not only a radiation thermometer but also a thermocouple thermometer or a resistance temperature detector, or a color whose color changes depending on the temperature. The thermometer may be driven by a robot or the like integrally with the soldering apparatus A, and the position thereof may be synchronized with the movement of the soldering location.

図6は本発明の実施例2を示したもので、(a)は配線基板Bdの断面図であり、(b)はそのB矢視図である。実施例1との相違点は、図6(a)に示すようにスルーホールThに挿入する端子Tdを分岐させて伝熱体部Dt1を形成している点にある。図7は端子Dt1の斜視図である。図8は半田付けが正常に行われたときの状態を示し、バックフィレットFbが形成されたことにより溶融半田Whの熱が伝熱体部Dt1へ熱伝達し、その温度を放射温度計Hoで検出する。図9は端子Tdの伝熱体部Dt1への分岐部を細くして伝熱を抑制する熱抵抗Ntを設け、端子Tdからの伝熱を少なくして伝熱体部Dt1への伝熱を溶融半田Whからの熱を主体として行わせて、バックフィレットFbの検出精度を高めたものである。   6A and 6B show a second embodiment of the present invention, in which FIG. 6A is a cross-sectional view of a wiring board Bd, and FIG. The difference from the first embodiment is that, as shown in FIG. 6A, the terminal Td to be inserted into the through hole Th is branched to form the heat transfer body portion Dt1. FIG. 7 is a perspective view of the terminal Dt1. FIG. 8 shows a state when the soldering is normally performed, and by forming the back fillet Fb, the heat of the molten solder Wh is transferred to the heat transfer portion Dt1, and the temperature is measured by the radiation thermometer Ho. To detect. FIG. 9 is provided with a thermal resistance Nt that suppresses heat transfer by narrowing the branch portion of the terminal Td to the heat transfer body portion Dt1, and reduces heat transfer from the terminal Td to reduce heat transfer to the heat transfer body portion Dt1. The heat from the molten solder Wh is mainly used to improve the detection accuracy of the back fillet Fb.

図10は本発明の実施例3を示したもので、(a)は配線基板Bdの断面図であり、(b)はそのC矢視図である。実施例1との相違点は、伝熱体をランドで構成した点にある。スルーホールThの周囲に第1ランドLd1を構成し、溝Mzを介してその外周にさらに第2ランドLd2を配置し、測定用パターンPsによって第3ランドLd3と連通する。第1ランドLd1、第2ランドLd2、第3ランドLd3および測定パターンPsはいずれも半田濡れ性の良い材質で構成され、溝Mzは半田非濡れ性の材料で構成されている。   10A and 10B show a third embodiment of the present invention, in which FIG. 10A is a cross-sectional view of a wiring board Bd, and FIG. 10B is a C arrow view thereof. The difference from the first embodiment is that the heat transfer body is composed of lands. A first land Ld1 is formed around the through hole Th, and a second land Ld2 is further disposed on the outer periphery of the first land Ld1 via the groove Mz. The first land Ld1 communicates with the third land Ld3 by the measurement pattern Ps. The first land Ld1, the second land Ld2, the third land Ld3, and the measurement pattern Ps are all made of a material having good solder wettability, and the groove Mz is made of a material having no solder wettability.

図11は半田付けを行ったときの状態を示すもので、(a)は、半田付けが正常に行われたときの状態を示し、(b)はバックフィレットが形成されなかったときの状態を示す。図11(a)においてバックフィレットFbが形成されると、溶融半田Whは第1ランドLd1から溝Mzを超えて第2ランドLd2に流れ、さらに測定用パターンPsから第3ランドLd3へと伝わって、第3ランドLd3の温度は上昇する。この温度を放射温度計Hoで計測する。
一方、図11(b)ではバックフィレットが形成されないので、溶融半田Whの第1ランドLd1から第2ランドLd2への流れが半田非濡れ性の溝Mzで阻止され、第3ランドLd3の温度上昇は小さい。この低い温度を放射温度計Hoが検出することにより、半田付け異常を判定する。
FIG. 11 shows a state when soldering is performed. (A) shows a state when soldering is normally performed, and (b) shows a state when a back fillet is not formed. Show. When the back fillet Fb is formed in FIG. 11A, the molten solder Wh flows from the first land Ld1 over the groove Mz to the second land Ld2, and further from the measurement pattern Ps to the third land Ld3. The temperature of the third land Ld3 rises. This temperature is measured with a radiation thermometer Ho.
On the other hand, since the back fillet is not formed in FIG. 11B, the flow of the molten solder Wh from the first land Ld1 to the second land Ld2 is blocked by the solder non-wetting groove Mz, and the temperature of the third land Ld3 increases. Is small. By detecting this low temperature by the radiation thermometer Ho, a soldering abnormality is determined.

図12は、ランドの形状を変形させた実施例であり、第1ランドLd1の凹部Ldoと第3ランドLd3の凸部Ldtとの間で溝Mz1を形成した例である。この場合も上記と同様溝Mz1を半田への非濡れ性の材料で構成することにより、前述と同様の作用を得ることができる。   FIG. 12 shows an embodiment in which the shape of the land is changed, and is an example in which the groove Mz1 is formed between the concave portion Ldo of the first land Ld1 and the convex portion Ldt of the third land Ld3. In this case as well, the same effect as described above can be obtained by forming the groove Mz1 with a material that is not wettable to solder.

図13は、バックフィレットが形成されてはいるが不十分な半田付けの例を示す。図13に示す半田付けはバックフィレットFb1が形成され第1ランドLd1をに流れているが、第2ランドLd2まで達しておらず、最良なバックフィレットが形成されていない。
図14は本発明の実施例4を示したもので、実施例3との相違は、端子に拡大部を設けた点にある。図14は半田付け時の状態を示したもので、バックフィレットFbを形成する近傍に端子Td1の拡大部Kdを設けることにより、溶融半田を第1ランドLd1から第2ランドLd2へ流れやすくして、バックフィレットFbを広がらせて半田付け強度を高める。このとき溶融半田の熱は第3ランドLd3に伝達するので、放射温度計Hoで温度上昇を検出する。図15(a)に端子Td1の斜視図を示す。
端子Td1の形状として、図15(b)に示すように端子の軸をずらせた形状や、(c)に示すように一方向に拡大部を形成したもの、あるいは(d)に示すように円周方向に拡大したものも考えられる。
FIG. 13 shows an example of insufficient soldering although a back fillet is formed. In the soldering shown in FIG. 13, the back fillet Fb1 is formed and flows through the first land Ld1, but does not reach the second land Ld2, and the best back fillet is not formed.
FIG. 14 shows a fourth embodiment of the present invention. The difference from the third embodiment is that an enlarged portion is provided on the terminal. FIG. 14 shows a state at the time of soldering. By providing an enlarged portion Kd of the terminal Td1 in the vicinity of forming the back fillet Fb, the molten solder can easily flow from the first land Ld1 to the second land Ld2. The back fillet Fb is spread to increase the soldering strength. At this time, since the heat of the molten solder is transferred to the third land Ld3, the temperature rise is detected by the radiation thermometer Ho. FIG. 15A shows a perspective view of the terminal Td1.
As the shape of the terminal Td1, a shape in which the axis of the terminal is shifted as shown in FIG. 15B, an enlarged portion formed in one direction as shown in FIG. 15C, or a circle as shown in FIG. The thing expanded in the circumferential direction is also considered.

実施例1〜4のそれぞれにおいて、配線基板Bdの表面側における伝熱体の位置は、鏝先5が配線基板Bdに接触したときの鏝先先端の外径よりも外側に配置することができる。そのことによって、半田付けの作業中に伝熱体の温度を計測することが可能になり、半田作業中の温度変化を捕らえて半田づけの良否を判定することができる。   In each of Examples 1 to 4, the position of the heat transfer body on the surface side of the wiring board Bd can be arranged outside the outer diameter of the tip of the tip when the tip 5 contacts the wiring board Bd. . As a result, it is possible to measure the temperature of the heat transfer body during the soldering operation, and it is possible to determine whether the soldering is good or not by capturing the temperature change during the soldering operation.

図16は本発明の実施例5を示したもので、(a)は配線基板Bdの断面図を示し、(b)は(a)の要部のD矢視を示す。(a)図に示す放射温度計HoがランドLdの温度を計測する位置を、(b)に示すようにランドLdの外側Poにする。
図17は正常に半田付けが行われた状態を示すもので、(a)は配線基板Bdの断面図を示し、(b)は(a)の要部のE矢視を示す。トップフィレットFtはランドLd全体広がり、放射温度計HoはトップフィレットFtの温度を検出することになり、溶融半田の高い温度を検出する。
図18は半田付けが正常に行われなかった状態を示すもので、(a)は配線基板Bdの断面図を示し、(b)は(a)の要部のF矢視を示す。半田や配線基板への加熱が十分でない場合あるいはフラックスの供給が不十分な場合には、トップフィレットFtは球形になってランドLd全体より小さくなり、半田がスルーホール内に供給されず、バックフィレットが形成されない。放射温度計HoはトップフィレットFtの外側の温度を検出することになり、比較的低い温度を検出する。温度を検出する位置は、正常な半田付けと不良な半田付けとをあらかじめ行ったうえで配置する。
以上述べたようにランドLdの外周部の温度を検出することにより、半田付けの良否を判定できる。
FIGS. 16A and 16B show a fifth embodiment of the present invention, in which FIG. 16A shows a cross-sectional view of the wiring board Bd, and FIG. 16B shows a main part of FIG. (A) The position where the radiation thermometer Ho shown in the figure measures the temperature of the land Ld is set to the outside Po of the land Ld as shown in (b).
FIG. 17 shows a state in which soldering is normally performed. FIG. 17A is a cross-sectional view of the wiring board Bd, and FIG. 17B is a view of the main part of FIG. The top fillet Ft extends over the entire land Ld, and the radiation thermometer Ho detects the temperature of the top fillet Ft, and detects the high temperature of the molten solder.
18A and 18B show a state where soldering is not normally performed. FIG. 18A shows a cross-sectional view of the wiring board Bd, and FIG. 18B shows a main part of FIG. When the solder or the wiring board is not sufficiently heated or when the supply of flux is insufficient, the top fillet Ft becomes spherical and becomes smaller than the entire land Ld, so that the solder is not supplied into the through hole, and the back fillet Is not formed. The radiation thermometer Ho detects a temperature outside the top fillet Ft, and detects a relatively low temperature. The position for detecting the temperature is arranged after performing normal soldering and defective soldering in advance.
As described above, the quality of soldering can be determined by detecting the temperature of the outer peripheral portion of the land Ld.

なお、ランドLdや端子Tdはそれぞれ半田濡れ性が良く、熱伝導率の高い材料を選定することにより検出精度が高まる。
また、温度計測を複数行って平均値やデータ処理を行うことによって、さらに判定の精度を高めることも可能である。
The land Ld and the terminal Td each have good solder wettability, and the detection accuracy is increased by selecting a material having high thermal conductivity.
In addition, it is possible to further increase the accuracy of determination by performing a plurality of temperature measurements and performing an average value and data processing.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこの内容に限定されるものではない。また本発明の実施形態は、発明の趣旨を逸脱しない限り、種々の改変を加えることが可能である。  As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not limited to this content. The embodiments of the present invention can be variously modified without departing from the spirit of the invention.

5 鏝先
51 半田孔
A 半田付け装置
Bd 配線基板(基板)
Dt 伝熱体
Dt1 分岐端子
Ho 放射温度計(温度検出手段)
Ks 挿入口
Ld、Ld1、Ld2、Ld3 ランド
Bd 配線基板(基板)
Th スルーホール
Wh 半田片
5 Tip 51 Solder hole A Soldering device Bd Wiring board (board)
Dt Heat transfer body Dt1 Branch terminal Ho Radiation thermometer (temperature detection means)
Ks insertion slot Ld, Ld1, Ld2, Ld3 Land Bd Wiring board (board)
Th Thru hole Wh Solder piece

Claims (10)

半田付け基板を貫通するスルーホールを有するランドと、前記スルーホール内に溶融半田を供給する鏝先と、前記スルーホールの前記基板の裏面側の半田溶融熱を前記基板の表面側に伝える伝熱体とを備え、前記伝熱体の温度を検出して半田付けの評価を行うことを特徴とする半田付け評価方法。   A land having a through-hole penetrating the soldering substrate, a tip for supplying molten solder into the through-hole, and a heat transfer for transferring the solder melting heat on the back surface side of the substrate to the through-hole to the surface side of the substrate A soldering evaluation method comprising: detecting a temperature of the heat transfer body and evaluating soldering. 前記伝熱体は、前記スルーホール内に挿入される電気部品の端子または前記ランドとすくなくともどちらかと非接触状態に配置され、前記溶融半田によって伝熱されることを特徴とする請求項1記載の半田付け評価方法。   2. The solder according to claim 1, wherein the heat transfer body is disposed in a non-contact state with at least one of a terminal of the electrical component inserted into the through hole and the land and is transferred by the molten solder. Evaluation method. 前記伝熱体は、前記端子と一体に形成された分岐端子からなることを特徴とする請求項1記載の半田付け評価方法。   The soldering evaluation method according to claim 1, wherein the heat transfer body includes a branch terminal formed integrally with the terminal. 前記伝熱体は、前記基板を貫通する部分において前記基板と少なくとも一部に間隙を設けたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の半田付け評価方法。   The soldering evaluation method according to any one of claims 1 to 3, wherein the heat transfer body is provided with a gap at least in part with the substrate in a portion penetrating the substrate. 前記伝熱体は、前記基板の裏面側の前記ランドを延長して構成したこと特徴とする請求項1記載の半田付け評価方法。   The soldering evaluation method according to claim 1, wherein the heat transfer body is configured by extending the land on the back side of the substrate. 前記ランドを分離し、前記溶融半田で伝熱することを特徴とする請求項5記載の半田付け評価方法。   6. The soldering evaluation method according to claim 5, wherein the land is separated and heat is transferred by the molten solder. 前記端子は、前記端子の軸と直角方向に広げた拡大部を備えたことを特徴とする請求項5から6のいずれか1項に記載の半田付け評価方法。   The soldering evaluation method according to claim 5, wherein the terminal includes an enlarged portion that is widened in a direction perpendicular to the axis of the terminal. 前記伝熱体は、前記基板の表面において前記鏝先の半径より離れて配置されたことを特徴とする請求項1〜7のいずれか1項に記載の半田付け評価方法。   The soldering evaluation method according to any one of claims 1 to 7, wherein the heat transfer body is disposed away from a radius of the tip on the surface of the substrate. 半田付け基板を貫通するスルーホールを有するランドと、前記スルーホール内に溶融半田を供給する鏝先とを備え、前記ランドは前記基板の表面側の前記スルーホールの周囲に設けられ、前記ランドの外周部の温度を検出して半田付けの評価を行うことを特徴とする半田付け評価方法。   A land having a through hole penetrating the soldering substrate, and a tip for supplying molten solder into the through hole, the land being provided around the through hole on the surface side of the substrate, A soldering evaluation method characterized by detecting the temperature of the outer peripheral portion and evaluating soldering. 半田付け基板を貫通するスルーホールを有するランドと、前記スルーホール内に溶融半田を供給する鏝先と、前記スルーホールの前記基板の裏面側の半田溶融熱を前記基板の表面側に伝える伝熱体と、前記伝熱体の温度を検出する温度検出手段とを備え、前記温度検出手段により半田付けの評価を行うことを特徴とする半田付け装置。
A land having a through-hole penetrating the soldering substrate, a tip for supplying molten solder into the through-hole, and a heat transfer for transferring the solder melting heat on the back surface side of the substrate to the through-hole to the surface side of the substrate A soldering apparatus comprising: a body; and temperature detection means for detecting a temperature of the heat transfer body, wherein the temperature detection means evaluates soldering.
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