JP6428414B2 - オートサンプラ - Google Patents

Description

本発明は、液体クロマトグラフにおいて試料を自動的に採取し、その試料を分析カラムに通じる分析流路に導入するオートサンプラに関するものである。

高速液体クロマトグラフ（ＨＰＬＣ）用のオートサンプラや超高速液体クロマトグラフ（ＵＨＰＬＣ）用のオートサンプラには、装置内に設置された分析対象試料の温度を所定温度に制御する機能を備えたものがある（特許文献１参照。）。かかるオートサンプラは、試料を収容したマイクロプレートや試料容器の設置されたプレート（以下、これらのプレートをサンプルプレートと称する。）をサンプルラックに設置し、そのサンプルラックをオートサンプラの試料収容庫内に設置するようになっている。

サンプルラックは、サンプルプレートを設置する部分が熱伝導性の良好な素材で構成されており、オートサンプラの試料収容庫内にはサンプルラックを冷却するための冷却素子が設けられている。冷却素子によって試料収容庫内に収容されたサンプルラックを冷却することで、サンプルラックに設置されたサンプルプレートの分析対象試料の温度を例えば１０℃以下に制御する。

特許第５４７２１６１号公報

上記のようなオートサンプラでは、１つのサンプルラックに２以上のサンプルプレートを設置するためのスペースが設けられているものがある。かかるオートサンプラで、サンプルプレートの設置スペースが空いた状態のサンプルラックを試料収容庫内に設置した場合に、そのサンプルラックの空いている設置スペースの表面が試料収容庫内で露出したまま冷却素子によって、例えば５℃など室温よりも低い温度に冷却されることで、その部分に結露水が発生し、サンプルラックを試料収容庫から引き出した際にその結露水が庫外に漏れ出したり、オートサンプラ内の機構を破損してしまったりするなどの問題を生じることがあった。

そこで、本発明は、オートサンプラの試料収容庫内に設置されたサンプルラックの表面に結露が発生することを防止することを目的とするものである。

本発明に係るオートサンプラの一実施形態は、サンプルプレートを上面に設置する熱伝導性のプレートホルダを備えたサンプルラックと、サンプルラックを設置するラック設置部と、ラック設置部に設置されたサンプルラックのプレートホルダを冷却する冷却素子と、ラック設置部に設置されたサンプルラックのプレートホルダにサンプルプレートが設置されているか否かを検知するプレート検知部と、プレート検知部によるサンプルプレートの検知結果に基づき、ラック設置部に設置されたサンプルラックのプレートホルダにサンプルプレートが設置されていないときに、そのプレートホルダを冷却する冷却素子の出力をオフにする冷却制御部と、を備えたものである。

本発明に係るオートサンプラの一実施形態では、サンプルラックのプレートホルダ上にサンプルプレートが設置されているか否かを検知するプレート検知部を備え、プレート設置部に設置されたサンプルラックのプレートホルダ上にサンプルプレートが設置されていないときは、そのプレートホルダを冷却する冷却素子の出力をオフにするようになっているので、サンプルプレートが設置されていないプレートホルダが冷却されることがなくなり、そのプレートホルダの表面に結露水が発生することが防止される。

オートサンプラの一実施例の試料収容庫内の構成を概略的に示す斜視図である。 同実施例の試料収容庫内をサンプルラックとともに示す斜視図である。 同実施例の制御系統の一例を示すブロック図である。 同実施例のニードルアセンブリの一例を示す斜視図である。 オートサンプラの他の実施例における制御系統を示すブロック図である。 同実施例の冷却素子の出力管理動作の一例を示すフローチャートである。

本発明に係るオートサンプラの一実施形態として、サンプルラックがプレートホルダを複数備えているものが挙げられる。かかる場合には、各プレートホルダは熱的に分離されており、冷却素子は、サンプルラックの各プレートホルダを個別に冷却するように各プレートホルダに対応して複数設けられ、冷却制御部は、プレート検知部によるサンプルプレートの検知結果に基づき、ラック設置部に設置されたサンプルラックの各プレートホルダのうちサンプルプレートの設置されていないプレートホルダに対応する冷却素子の出力をオフにするように構成されていることが好ましい。これにより、サンプルラックに設けられたプレートホルダのうち、サンプルラックの設置されているプレートホルダの冷却を行ないながら、サンプルラックの設置されていないプレートホルダが冷却されないようにして結露の発生を防止することができる。

本発明に係るオートサンプラの好ましい実施形態におけるプレート検知部は、ラック設置部に設置されたサンプルラックのプレートホルダ上のサンプルプレートの有無に応じた信号を出力するように、ラック設置部におけるプレートホルダに対応した位置に設けられたプレートセンサ、及びプレートセンサからの出力信号に基づいてプレートホルダ上のサンプルプレートの有無を判定するプレート有無判定部により構成されていてもよい。

また、本発明に係るオートサンプラのさらに好ましい実施形態では、ラック設置部に設置されたサンプルラックのプレートホルダに設置されたサンプルプレートの試料を採取するために先端が鉛直下方向を向くニードルを有し、そのニードルをラック設置部の上方において水平面内方向と鉛直方向へ移動させるニードルアセンブリであって、ニードルをラック設置部上の所定位置において下降させたときにサンプルプレートの有無に応じた信号を出力するニードル側センサを有するニードルアセンブリをさらに備えていてもよい。その場合、プレート検知部は、ニードル側センサと、ニードル側センサの出力信号に基づいてプレートホルダ上のサンプルプレートの有無を判定するプレート有無判定部により構成されていることが好ましい。そうすれば、サンプルプレートを検知するためのセンサを別途設けることなく、サンプルラック上のサンプルプレートの有無を検知することができ、コストの低減を図ることができる。

図１及び図２を用いて、オートサンプラの一実施例について説明する。

オートサンプラの試料収容庫内に、ラック設置部として２つのラックテーブル２ａと２ｂが設けられている。ラックテーブル２ａ，２ｂの上面にサンプルラック１６が設置されるようになっている。ラックテーブル２ａ，２ｂに設置されるサンプルラック１６は、サンプルプレート２２を設置するための設置スペースであるプレートホルダ１８を２ヶ所に備えているものである。サンプルプレート２２とは、例えば複数のサンプルリザーバを備えたマイクロプレートや、複数の試料バイアルを設置するプレートなどである。

なお、この実施例ではラック設置部として２つのラックテーブル２ａ，２ｂを備えているが、ラック設置部は１つだけ備えていてもよいし、３つ以上備えていてもよい。また、この実施例では、サンプルラック１６にプレートホルダ１８が２つ設けられているが、３つ以上設けられていてもよい。

サンプルラック１６は断熱性の素材、例えばポリプロピレン(ＰＰ)やポリブチレンテレフタレート(ＰＢＴ)などの樹脂と発泡系断熱材などによって構成されており、プレートホルダ１８のみが熱伝導性の素材、例えば鉄、銅、アルミニウムなどの金属によって構成されている。各プレートホルダ１８は互いに間隔をもって設けられており、熱的に互いに分離している。

図示は省略されているが、プレートホルダ１８には、例えばサンプルプレート２２の裏面側に設けられた突起を嵌め込むための凹部が設けられており、その凹部にサンプルプレート２２の突起が嵌め込まれることで、プレートホルダ１８上におけるサンプルプレート２２の位置決めがなされるようになっている。

サンプルラック１６のラックテーブル２ａ，２ｂへの設置は、サンプルラック１６をラックテーブル２ａ，２ｂの一端側（図において右側）から、サンプルラック１６の先端部（図において左側端部）がラックテーブル２ａ，２ｂの他端側（図において左側）に設けられたストッパ１１に接するまでラックテーブル２ａ，２ｂ上をスライドさせることで行なう。

試料収容庫の最奥部内壁面１０にラックセンサ６ａ，６ｂがそれぞれラックテーブル２ａ，２ｂに対応して設けられている。これらのラックセンサ６ａ，６ｂは発光部と受光部が対向配置されたＵ字型のマイクロセンサである。サンプルラック１６の先端部に、サンプルラック１６の先端側へさらに突起したセクタ２０が設けられている。セクタ２０は、サンプルラック１６がストッパ１１に接するまでラックテーブル２ａ，２ｂ上をスライドしたときに、ラックセンサ６ａ，６ｂの発光部と受光部の間に挿入されるようになっている。セクタ２０がラックセンサ６ａ，６ｂの発光部と受光部の間に挿入されることで、ラックセンサ６ａ，６ｂがオンの状態からオフの状態に切り替わり、サンプルラック１６がラックテーブル２ａ，２ｂ上に設置されたことが検知される。

ラックテーブル２ａは、ラックテーブル２ａ上に設置されたサンプルラック１６のプレートホルダ１８の下面と接する２ヶ所の位置に熱伝導部５ａ−１と５ａ−２を備えている。ラックテーブル２ａは断熱性の素材、例えば発泡系断熱材などによって構成されており、熱伝導部５ａ−１と５ａ−２は互いに熱的に分離されている。

熱伝導部５ａ−１と５ａ−２の下方に、互いに独立して駆動される例えばペルチェ素子からなる冷却素子４ａ−１，４ａ−２がそれぞれ設けられており、冷却素子４ａ−１，４ａ−２によって熱伝導部５ａ−１，５ａ−２に接するプレートホルダ１８を冷却し、それによってプレートホルダ１８上に設置されたサンプルプレート２２の温度を所定温度に冷却する。熱伝導部５ａ−１，５ａ−２は、例えば冷却素子４ａ−１，４ａ−２の吸熱面をラックテーブル２ａ，２ｂの上面に露出させたものである。

熱伝導部５ａ−１，５ａ−２には温度センサ９ａ−１，９ａ−２がそれぞれ埋設されている。冷却素子４ａ−１，４ａ−２の出力は、温度センサ９ａ−１，９ａ−２の出力信号に基づいて、熱伝導部５ａ−１，５ａ−２の温度が予め設定された温度になるように制御される。

ラックテーブル２ａ上に設置されたサンプルラック１６の各プレートホルダ１８におけるサンプルプレート２２の有無を検知するためのプレートセンサ８ａ−１，８ａ−２が設けられている。この実施例では、プレートセンサ８ａ−１，８ａ−２は、ラックテーブル２ａの側方における各熱伝導部５ａ−１，５ａ−２に対応する位置に設けられている。プレートセンサ８ａ−１，８ａ−２としては、マイクロスイッチ、フォトセンサ、反射センサ等を用いることができる。

ラックテーブル２ｂ及びその周囲の構成はラックテーブル２ａ及びその周囲の構成と同一であるため、ラックテーブル２ｂ及びその周囲の構成についての説明は省略する。

ラックテーブル２ａ，２ｂの上方に、サンプルプレート２２から試料を採取するためのニードル１４を有するニードルアセンブリ１２が設けられている。ニードルアセンブリ１２は水平面内方向と鉛直方向へニードル１４を移動させるものである。

次に、この実施例の制御系統を図３を用いて説明する。

冷却素子４ａ−１，４ａ−２，４ｂ−１，４ｂ−２の出力は制御部２６によって制御される。制御部２６には、ラックセンサ６ａ，６ｂ、プレートセンサ８ａ−１，８ａ−２，８ｂ−１，８ｂ−２、温度センサ９ａ−１，９ａ−２，９ｂ−１，９ｂ−２の出力信号が取り込まれる。制御部２６はそれらの信号に基づいて冷却素子４ａ−１，４ａ−２，４ｂ−１，４ｂ−２の出力を個別に制御する。制御部２６は、所定のプログラムを格納した記憶装置とその記憶装置に格納されたプログラムを実行する演算素子によって構成されるものである。

制御部２６はラック有無判定部２８、プレート有無判定部３０及び冷却制御部３２を備えている。ラック有無判定部２８、プレート有無判定部３０及び冷却制御部３２は、制御部２６をなす記憶装置に格納されたプログラムとそのプログラムを演算素子が実行することによって得られる機能である。

ラック有無判定部２８は、ラックセンサ６ａ，６ｂの出力信号に基づいて、ラックテーブル２ａ，２ｂのそれぞれにサンプルラック１６が設置されているか否かを判定する。

プレート有無判定部３０は、プレートセンサ８ａ−１，８ａ−２，８ｂ−１，８ｂ−２の出力信号に基づき、各熱伝導部５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２上にサンプルプレート２２が設置されているか否かを判定する。プレートセンサ８ａ−１，８ａ−２，８ｂ−１，８ｂ−２とプレート有無判定部３０は、各熱伝導部５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２上におけるサンプルプレート２２の有無を検知するプレート検知部をなしている。

冷却制御部３２は、温度センサ９ａ−１，９ａ−２，９ｂ−１，９ｂ−２の出力信号に基づいて各熱伝導部５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２の温度が予め設定された温度になるように、各冷却素子４ａ−１，４ａ−２，４ｂ−１，４ｂ−２の出力を個別に制御する。

さらに、冷却制御部３２は、ラック有無判定部２８やプレート有無判定部３０の判定結果に基づいて各冷却素子４ａ−１，４ａ−２，４ｂ−１，４ｂ−２の出力のオン／オフを切り替えるようになっている。すなわち、ラックテーブル２ａと２ｂのいずれか一方又は両方にサンプルラック１６が設置されていない場合には、サンプルラック１６の設置されていないラックテーブル２ａ又は２ｂに設けられている冷却素子の出力をオフにし、さらに、サンプルラック１６が設置されているがそのサンプルラック１６にサンプルプレート２２の設置されていないプレートホルダ１８がある場合には、そのプレートホルダ１８に対応する冷却素子の出力をオフにする。例えば、図２では、ラックテーブル２ｂに設置されるサンプルラック１６の基端側（図において右側）のプレートホルダ１８にサンプルプレート２２が設置されていないため、冷却素子４ｂ−２の出力がオフにされる。

図４にニードルアセンブリ１２の一例を示す。

この例のニードルアセンブリ１２は、ニードルアセンブリ１２本体部からニードル１４の先端よりも下方へ伸びた容器押え３６を備えている。容器押え３６は、このニードルアセンブリ１２が、ニードル１４の先端を試料容器内へ挿入するために試料容器の上方から下降した際に、ニードル１４の先端よりも先に下端部が試料容器に接することによって試料容器の転倒等を防止するものである。容器押え３６の基端は、ニードルアセンブリ１２本体に鉛直向きに固定された軸４０に沿ってニードルアセンブリ１２とは相対的に鉛直方向へ移動可能なブロック３８に保持されている。ブロック３８はコイルバネなどの圧縮された弾性体によって常時下方へ負勢されている。

ニードルアセンブリ１２の本体部にはＵ字型のマイクロスイッチ４４（ニードル側センサ）が設けられており、ブロック３８にはそのマイクロスイッチ４４のオン／オフを切り替えるためのセクタ４６が設けられている。通常時、すなわち容器押え３６の下端が試料容器等に接していないときは、セクタ４６がマイクロスイッチ４４の発光部と受光部の間に挿入された状態であり、マイクロスイッチ４４がオフ状態になっている。容器押え３６の下端が試料容器等に接した状態でさらにニードルアセンブリ１２が下降すると、ブロック３８とニードルアセンブリ１２本体部との位置関係が変化し、それに伴ってセクタ４６がマイクロスイッチ４４から離脱し、マイクロスイッチ４４がオン状態になる。ニードルアセンブリ１２が一定高さまで下降したときにマイクロスイッチ４４がオン状態になるか否かにより、試料容器の有無が判定される。

ニードルアセンブリ１２にマイクロスイッチ４４が設けられている場合には、プレートセンサ８ａ−１，８ａ−２，８ｂ−１，８ｂ−２に代えてこのマイクロスイッチ４４を、各熱伝導部５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２上のサンプルプレート２２の有無を検知するためのセンサとして用いることができる。

マイクロスイッチ４４をサンプルプレート２２の有無を検知するためのセンサとして用いる場合には、図５に示されるように、マイクロスイッチ４４の出力信号が制御部２６ａに取り込まれる。制御部２６ａには、マイクロスイッチ４４の出力信号に基づいて、各熱伝導部５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２上のサンプルプレート２２の有無を判定するプレート有無判定部３０ａが設けられている。マイクロスイッチ４４とプレート有無判定部３０ａは、各熱伝導部５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２上のサンプルプレート２２の有無を検知するプレート検知部をなしている。

ニードルアセンブリ１２を各熱伝導部５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２上の所定の位置の上方から下降させたときに、その位置にサンプルプレート２２が存在すれば、容器押え３６の下端がサンプルプレート２２又はそのサンプルプレート２２に設置された試料容器に接することでマイクロスイッチ４４がオン状態になる。プレート有無判定部３０は、サンプルプレート２２の有無を検知すべきタイミングで、ニードルアセンブリ１２を各熱伝導部５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２上の所定の位置の上方から下降させ、一定距離だけ下降させたときにマイクロスイッチ４４がオン状態になるか否かにより、熱伝導部５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２上の各位置にサンプルプレート２２が存在するか否かを判定するように構成されている。

次に、制御部２６による各冷却素子４ａ−１，４ａ−２，４ｂ−１，４ｂ−２の出力管理動作について図１、図２及び図３とともに図６のフローチャートを用いて説明する。なお、この実施例のオートサンプラは、電源が投入されると冷却素子４ａ−１，４ａ−２，４ｂ−１，４ｂ−２の駆動が開始され、その後に以下の出力管理動作が開始されるものとする。

この実施例では、以下の動作がラックテーブル２ａ側とラックテーブル２ｂ側で交互に又は同時に実行される。ここでは、一方のラックテーブル２ａ側について説明するが、他方のラックテーブル２ｂについても同様である。

まず、ラックセンサ６ａの出力信号を取り込み、ラックテーブル２ａにサンプルラック１６が設置されているか否かが検知される。サンプルラック１６が設置されている場合には、そのラックテーブル２ａに設けられている冷却素子４ａ−１及び４ａ−２の出力をオンにし、温度センサ５ａ−１及び５ａ−２に基づいた温度制御を開始する。サンプルラック１６が設置されていない場合には、そのラックテーブル２ａに設けられている冷却素子４ａ−１及び４ａ−２の出力をオフにする。

ラックテーブル２ａにサンプルラック１６が設置されており、冷却素子４ａ−１及び４ａ−２の出力をオンにした場合には、サンプルラック１６の各プレートホルダ１８上（各熱伝導部５ａ−１及び５ａ−２上）におけるサンプルプレート２２の有無を検知する。図１から図３を用いて説明した実施例のように、各熱伝導部５ａ−１及び５ａ−２上におけるサンプルプレート２２の有無を検出するためのプレートセンサ８ａ−１及び８ａ−２が設けられている場合には、それらのプレートセンサ８ａ−１及び８ａ−２の出力信号に基づいてサンプルプレート２２の有無を検知する。他方、図４に示すニードル側センサ（マイクロスイッチ４４）の出力信号に基づいて各熱伝導部５ａ−１及び５ａ−２上におけるサンプルプレート２２の有無を検出する場合には、ニードルアセンブリ１２を熱伝導部５ａ−１及び５ａ−２上の所定の位置から一定距離だけ下降させ、そのときのマイクロスイッチ４４の出力信号に基づいて、サンプルプレート２２の有無を検知する。

すべてのプレートホルダ１８上にサンプルプレート２２がある場合には、各冷却素子４ａ−１及び４ａ−２の出力をオン状態で維持し、いずれかのプレートホルダ１８上にサンプルプレート２２がない場合、すなわち空いているプレートホルダ１８がある場合には、その空いているプレートホルダ１８に対応する冷却素子４ａ−１又は４ａ−２の出力をオフにする。

上記の動作を逐次実行することにより、オートサンプラの試料収容庫内において露出した熱伝導部５ａ−１、５ａ−２、プレートホルダ１８が冷却されず、これらの表面における結露水の発生が防止される。

なお、以上において説明した実施例では、１つのサンプルラック１６に複数のプレートホルダ１８が設けられ、そのプレートホルダ１８の数に対応する数の冷却素子４ａ−１、４ａ−２、４ｂ−１，４ｂ−２が設けられている場合について説明しているが、本発明は、１つのサンプルラックをプレートホルダの数に関係なく１つの冷却素子で冷却する場合も含む。

例えば、図１を用いて説明すると、各ラックテーブル２ａ，２ｂにそれぞれ１つずつの冷却素子が設けられている場合が挙げられる。かかる場合、ラックテーブル２ａ又は２ｂにサンプルラック１６が設置されたときに、そのサンプルラック１６のプレートホルダ１８上にサンプルプレート２２が設置されていないときは、そのサンプルラック１６を冷却する冷却素子の出力をオフにして、結露の発生を防止する。図２のように、サンプルラック１６のプレートホルダ１８のうち一部のプレートホルダ１８にサンプルプレート２２が設置されていないときは、そのサンプルラック１６が設置されているラックテーブル２ａ又は２ｂ（図２では２ｂ）の冷却素子の出力をオフにする。

また、装置の機能として、サンプルプレート２２の冷却を優先するか結露発生の防止を優先するかをユーザに選択させる機能を設け、サンプルプレート２２の冷却を優先する場合には、サンプルラック１６の少なくとも１つのプレートホルダ１８にサンプルプレート２２が設置されていれば冷却素子の出力をオンにし、結露発生の防止を優先する場合には、サンプルラック１６の少なくとも１つのプレートホルダ１８にサンプルプレート２２が設置されていなければ冷却素子の出力をオフにするようにしてもよい。

２ａ，２ｂ ラックテーブル
４ａ−１，４ａ−２，４ｂ−１，４ｂ−２ 冷却素子
５ａ−１，５ａ−２，５ｂ−１，５ｂ−２ 熱伝導部
６ａ，６ｂ ラックセンサ
８ａ−１，８ａ−２，８ｂ−１，８ｂ−２ プレートセンサ
９ａ−１，９ａ−２，９ｂ−１，９ｂ−２ 温度センサ
１０ 試料収容庫内の最奥壁面
１１ ストッパ
１２ ニードルアセンブリ
１４ ニードル
１６ サンプルラック
１８ プレートホルダ
２０，４６ セクタ
２２ サンプルプレート
２６，２６ａ 制御部
２８ ラック有無判定部
３０，３０ａ プレート有無判定部
３２ 冷却制御部
３６ 容器押え
３８ ブロック
４０ 軸
４２ 弾性体
４４ マイクロスイッチ

Claims (4)

1. サンプルプレートを上面に設置する熱伝導性のプレートホルダを備えたサンプルラックと、
   前記サンプルラックを設置するラック設置部と、
   前記ラック設置部に設置された前記サンプルラックの前記プレートホルダを冷却する冷却素子と、
   前記ラック設置部に設置された前記サンプルラックの前記プレートホルダにサンプルプレートが設置されているか否かを検知するプレート検知部と、
   前記プレート検知部によるサンプルプレートの検知結果に基づき、前記ラック設置部に設置された前記サンプルラックの前記プレートホルダにサンプルプレートが設置されていないときに、その前記プレートホルダを冷却する前記冷却素子の出力をオフにする冷却制御部と、を備えたオートサンプラ。
2. 前記サンプルラックは前記プレートホルダを複数備え、各プレートホルダは熱的に分離されており、
   前記冷却素子は、前記サンプルラックの前記各プレートホルダを個別に冷却するように前記各プレートホルダに対応して複数設けられ、
   前記冷却制御部は、前記プレート検知部によるサンプルプレートの検知結果に基づき、前記ラック設置部に設置された前記サンプルラックの前記各プレートホルダのうちサンプルプレートの設置されていない前記プレートホルダに対応する前記冷却素子の出力をオフにするように構成されている請求項１に記載のオートサンプラ。
3. 前記プレート検知部は、前記ラック設置部に設置されたサンプルラックの前記プレートホルダ上のサンプルプレートの有無に応じた信号を出力するように、前記ラック設置部における前記プレートホルダに対応した位置に設けられたプレートセンサ、及び前記プレートセンサからの出力信号に基づいて前記プレートホルダ上のサンプルプレートの有無を判定するプレート有無判定部により構成されている請求項１又は２に記載のオートサンプラ。
4. 前記ラック設置部に設置されたサンプルラックの前記プレートホルダに設置されたサンプルプレートの試料を採取するために先端が鉛直下方向を向くニードルを有し、そのニードルを前記ラック設置部の上方において水平面内方向と鉛直方向へ移動させるニードルアセンブリであって、前記ニードルを前記ラック設置部上の所定位置において下降させたときに前記サンプルプレートの有無に応じた信号を出力するニードル側センサを有するニードルアセンブリをさらに備え、
   前記プレート検知部は、前記ニードル側センサと、前記ニードル側センサの出力信号に基づいて前記プレートホルダ上のサンプルプレートの有無を判定するプレート有無判定部により構成されている請求項１又は２に記載のオートサンプラ。
   

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