JP6427432B2 - 電源装置及び溶接用電源装置 - Google Patents

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Description

本発明は、電源装置及び溶接用電源装置に関するものである。
例えばアーク溶接機に用いる電源装置は、スイッチング素子を用いるインバータ回路(スイッチング電源回路)を備えて直流電力を高周波交流電力に一旦変換し、トランスを介した二次側にて所望の出力電力を生成する構成となっている。このような電源装置では、スイッチング素子をスイッチング制御(オン・オフ制御)する駆動信号がトランジスタやフォトカプラ等の素子を用いて生成される。しかしながら、これらトランジスタやフォトカプラ等の素子のスイッチング速度には、個体毎にばらつきが存在する。このスイッチング速度のばらつきに起因して、スイッチング素子に供給される駆動信号のオンパルス幅にばらつきが生じる。すると、インバータ制御のバランスが崩れて、トランスの磁束が片側の極性に偏る偏磁という現象が発生する。このような偏磁が発生すると、片側の極性を担当するインバータ回路のスイッチング素子に過度な電流が流れることとなり、このスイッチング素子が異常発熱し、最悪の場合には破損することがある。
そこで、フォトカプラの間に可変抵抗器を設け、その可変抵抗器の抵抗値を調整することにより、スイッチング速度のばらつきに起因する駆動信号間の信号伝達時間差を調整して、駆動信号のオンパルス幅のばらつきを小さくする技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特公平6−32858号公報
ところが、トランジスタやフォトカプラ等の素子におけるスイッチング速度等の特性は、使用環境(例えば、使用温度)や使用時間等によって変化する。このため、従来の電源装置では、使用環境が変わる度に、手動で可変抵抗器の抵抗値を調整する必要があり、その調整作業が繁雑であるという問題がある。
このような問題は、トランスを有するアーク溶接用電源装置以外の電源装置においても同様に発生する。
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、駆動信号のオンパルス幅のばらつきを容易に補償でき、偏磁の発生を好適に抑制できる電源装置及び溶接用電源装置を提供することにある。
上記課題を解決する電源装置は、トランスの一次側に設けられ、ブリッジ回路を構成するスイッチング素子の動作により直流電圧から高周波交流電圧を生成するインバータ回路と、前記トランスの二次側にて所望出力電力を生じさせるように前記スイッチング素子のスイッチング動作を制御する駆動信号を生成する制御部と、を備えた電源装置であって、前記制御部は、前記駆動信号のオンパルス幅を設定する指令値を生成する制御回路と、前記指令値に基づくパルス幅を持つ前記駆動信号を前記スイッチング素子に出力する駆動回路と、前記駆動信号に応じたパルス信号のパルス幅を測定するパルス幅測定回路と、を有し、前記制御回路は、前記パルス幅測定回路で測定されたパルス幅と前記指令値との比較結果に基づいて、前記指令値を補正するように構成されており、前記トランスの一次側に入力される入力電流を検出する電流検出器を備え、前記制御部は、前記駆動信号と前記電流検出器にて取得した検出信号とを入力し、前記検出信号が0Aである場合には前記駆動信号を前記パルス信号として前記パルス幅測定回路に出力する一方で、前記検出信号が0A以外の場合には、前記検出信号を全波整流し、全波整流後の信号を波形整形した信号を前記パルス信号として前記パルス幅測定回路に出力する信号処理回路を備えている。
この構成によれば、駆動信号に応じたパルス信号のパルス幅が測定され、そのパルス幅と指令値との比較結果に基づいて指令値が補正される。このとき、パルス信号のパルス幅は、駆動信号のオンパルス幅に対応するパルス幅である。このため、パルス信号のパルス幅と指令値との比較結果には、駆動回路内の素子の特性ばらつきが反映されている。このような比較結果に基づいて指令値を補正することにより、上記特性ばらつきによる影響を低減することができ、駆動信号のオンパルス幅のばらつきを補償することができる。この結果、トランスにおける偏磁の発生を抑制できる。また、制御回路の内部演算によって指令値を補正できるため、手作業による調整が必要なく、駆動信号のオンパルス幅の補償を容易に行うことができる。
この構成によれば、検出信号が0Aであって、その検出信号を用いて指令値の補正を行うことができない期間に、駆動信号をパルス信号として用いて指令値の補正を行うことができる。
また、上記電源装置において、前記制御回路は、前記電源装置の電源オン時に常時、又は間欠的に前記指令値の補正を実行する。
この構成によれば、使用環境の変化や使用時間等に起因して駆動回路内の素子の特性ばらつきが変化する場合であっても、電源オン時には常時又は間欠的に、上記特性ばらつきの変化に合わせて指令値を補正することができる。
また、上記課題を解決する溶接用電源装置は、上記電源装置を用い、溶接用の出力電力を生成するように構成される。
この構成によれば、溶接用の出力電力を生成する溶接用電源装置での駆動信号のオンパルス幅のばらつきを容易に補償でき、偏磁の発生を好適に抑制できる。
本発明の電源装置及び溶接用電源装置によれば、駆動信号のオンパルス幅のばらつきを容易に補償でき、偏磁の発生を好適に抑制できる。
一実施形態における溶接用電源装置の構成図である。 一実施形態における信号処理回路の構成図である。 一実施形態におけるパルス幅測定回路の構成図である。 一実施形態における溶接用電源装置の動作を示すフローチャートである。 一実施形態における溶接用電源装置の動作を示す波形図である。 変形例における溶接用電源装置の制御部の構成図である。 変形例における溶接用電源装置の制御部の構成図である。
以下、電源装置(溶接用電源装置)の一実施形態について説明する。
図1に示すように、本実施形態の電源装置10は、一次側変換回路11と、インバータ回路12と、溶接トランスINTと、二次側変換回路13とを有するアーク溶接用電源装置である。電源装置10は、商用電源から供給される三相の交流入力電力からアーク溶接に適した直流出力電力を生成する。
一次側変換回路11は、ダイオードブリッジ回路からなる整流回路DR1と、整流回路DR1の出力端子間に接続された平滑コンデンサC1とを有している。一次側変換回路11は、三相の交流入力電力を一旦直流電力に変換してインバータ回路12に出力する。
インバータ回路12は、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)等の半導体スイッチング素子TR1〜TR4を用いたフルブリッジ回路にて構成されている。具体的には、第1上アームにスイッチング素子TR1が、第1下アームにスイッチング素子TR2が、第2上アームにスイッチング素子TR3が、第2下アームにスイッチング素子TR4がそれぞれ配置されてなる。スイッチング素子TR1,TR2間のインバータ回路12の出力端子aと、スイッチング素子TR3,TR4間のインバータ回路12の出力端子bとは、トランスINTの一次側コイルL1と接続されている。
インバータ回路12は、スイッチング素子TR1,TR4が組となり、スイッチング素子TR2,TR3が組となって、各組が交互にスイッチング動作することで、一次側変換回路11から入力される直流電力を高周波交流電力に変換し、トランスINTの一次側コイルL1に供給する。スイッチング素子TR1,TR4がオン状態のときは、一次側コイルL1に正の電圧が印加され、一次側コイルL1に入力される入力電流Iaが出力端子aから一次側コイルL1に向かって流れて正の値となる。一方、スイッチング素子TR2,TR3がオン状態のときは、一次側コイルL1に負の電圧が印加され、入力電流Iaが一次側コイルL1から出力端子aに向かって流れて負の値となる。また、スイッチング素子TR1〜TR4が全てオフ状態のときは、入力電流Iaは0Aとなる。これらスイッチング素子TR1〜TR4のスイッチング動作は、制御部30から入力される駆動信号S1〜S4に基づいて行われる。
トランスINTの二次側では、インバータ回路12にて生成された高周波交流電力が所定電圧に変換され、二次側コイルL2から出力される。二次側コイルL2には、二次側変換回路13が接続されている。
二次側変換回路13は、二次側整流回路DR2と、直流リアクトルDCLとを備えている。二次側整流回路DR2は、一対のダイオードを用いた全波整流回路よりなり、各ダイオードのアノードが二次側コイルL2の両側端子にそれぞれ接続され、各ダイオードのカソードは共に直流リアクトルDCLの一端に接続されている。直流リアクトルDCLの他端は、電源装置10のプラス側の出力端子o1に接続されている。電源装置10のマイナス側の出力端子o2は、二次側コイルL2の中間端子と接続されている。このような、二次側変換回路13は、トランスINTの二次側コイルL2からの高周波交流電力をアーク溶接の直流出力電力に変換し、出力端子o1,o2から出力する。そして、電源装置10のプラス側の出力端子o1に溶接トーチTHを、マイナス側の出力端子o2に溶接対象Mをそれぞれ接続し、電源装置10にて生成した直流出力電力に基づき溶接トーチTHの電極と溶接対象Mとの間にアークを生じさせ、溶接対象Mのアーク溶接が行われる。
電源装置10には、CPU(Central Processing Unit)等を含む制御部30が備えられている。制御部30には、インバータ回路12の出力端子、つまりトランスINTの一次側に設置した電流検出器21から、入力電流Iaに対応する検出信号Ibが入力される。また、制御部30には、電源装置10の出力側電源線上に設置した電流検出器22から、電源装置10の出力電流Ioに対応する検出信号Idが入力される。制御部30には、電源装置10の出力側電源線間に設置した電圧検出器23から、電源装置10の出力電圧Voに対応する検出信号Vdが入力される。因みに、電流検出器21,22は、例えば、ホール素子を用いるホール式電流センサである。
制御部30は、入力された検出信号Ib,Idからそれぞれ得られる入力電流Ia及び出力電流Ioの実値、入力された検出信号Vdから得られる出力電圧Voの実値及びそれらの目標値等を含む各種パラメータに基づいて、その時々で適切な出力を行うための内部演算を行っている。制御部30は、内部演算結果に基づいて、スイッチング素子TR1〜TR4をそれぞれスイッチング制御する駆動信号S1〜S4を生成する。この制御部30は、信号処理回路31と、パルス幅測定回路32と、制御回路33と、駆動回路34とを備えている。
信号処理回路31には、電流検出器21から入力電流Iaに対応する検出信号Ibが入力される。この検出信号Ibは、入力電流Iaと同様に、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間に正の値となり、スイッチング素子TR2,TR3のオン時間に負の値となる(図5参照)。信号処理回路31は、検出信号Ibに基づいて、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間に対応するパルス幅のパルスとスイッチング素子TR2,TR3のオン時間に対応するパルス幅のパルスとを持つパルス信号Puを生成する。
図2に示すように、信号処理回路31は、電流検出器21の二次側に接続された全波整流回路41と、全波整流回路41の出力端子に接続された波形整形回路42とを備えている。
全波整流回路41は、4個のダイオードD1〜D4を用いたブリッジ回路にて構成されている。ダイオードD1,D2間、及びダイオードD3,D4間にはそれぞれ電流検出器21の出力端子が接続されている。具体的には、電流検出器21の一方の出力端子がダイオードD1のアノードとダイオードD2のカソードとに接続され、電流検出器21の他方の出力端子がダイオードD3のアノードとダイオードD4のカソードとに接続されている。ダイオードD2,D4のアノードはグランドに接続されている。そして、全波整流回路41は、電流検出器21で検出された検出信号Ibを全波整流し、その整流後の信号を波形整形回路42に供給する。
波形整形回路42は、抵抗R1,R2と、ダイオードD5と、コンデンサC2と、コンパレータ43と、基準電源E1と、プルアップ抵抗R3と、反転回路44とを備えている。抵抗R1、ダイオードD5及びコンデンサC2は、全波整流回路41の出力端子間、つまりダイオードD1,D3のカソードとダイオードD2,D4のアノードとの間に並列に接続されている。
コンパレータ43の反転入力端子には、ダイオードD1,D3のカソードが接続されている。コンパレータ43の非反転入力端子には、抵抗R2を介して基準電源E1が接続されており、基準電源E1にて生成される基準電圧が入力される。コンパレータ43の出力端子はプルアップ抵抗R3と反転回路44とに接続されている。そして、波形整形回路42は、上記全波整流後の信号を波形整形してパルス信号Puを生成し、そのパルス信号Puを反転回路44から出力する。ここで、パルス信号Puは、図5に示すように、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間に対応するパルス幅のパルスPm(例えば、パルスP1,P3,P5,P7)と、スイッチング素子TR2,TR3のオン時間に対応するパルス幅のパルスPm(例えば、P2,P4,P6,P8)とを有する。換言すると、パルス信号Puは、スイッチング素子TR1,TR4がオンする期間、及びスイッチング素子TR2,TR3がオンする期間に対応してHレベル(例えば、高電位電源電圧レベル)になり、スイッチング素子TR1〜TR4の全てがオフする期間に対応してLレベル(例えば、グランドレベル)になる。
以上説明した信号処理回路31による信号処理(つまり、全波整流及び波形整形)によって、検出信号Ibから安定な矩形パルスを持つパルス信号Puを生成することができる。
図3に示したパルス幅測定回路32は、信号処理回路31からパルス信号Puを入力し、そのパルス信号Puが有するパルスPmのパルス幅を測定する。このパルス幅測定回路32は、カウンタ51と、水晶発振器52とを備えている。カウンタ51は、信号処理回路31からのパルス信号PuがHレベルである期間、つまりパルスPmが発生している期間に、水晶発振器52から入力するクロック信号CKをカウントする。カウンタ51は、パルスPmのパルス幅に対応するカウント値Nmを制御回路33に出力する。なお、クロック信号CKの周波数は例えば40MHz程度とすることができ、クロック信号CKの周期Tは例えば25ns程度とすることができる。
制御回路33は、パルス幅測定回路32からのカウント値Nmと、電流検出器22からの検出信号Idと、電圧検出器23からの検出信号Vdとを入力する。制御回路33は、インバータ回路12のスイッチング制御としてPWM制御を実施しており、検出信号Id,Vdに基づいて、その時々でスイッチング素子TR1〜TR4のオンデューティが適切となるような駆動信号S1〜S4のオンパルス幅の設定(算出)を行っている。具体的には、制御回路33は、その時々において出力電力を大きくする場合には、駆動信号S1〜S4のオンパルス幅を長く設定する一方で、出力電力を小さくする場合には、駆動信号S1〜S4のオンパルス幅を短く設定する指令値Fa,Fbを生成する。
駆動回路34は、指令値Faに基づくオンパルス幅を持つ駆動信号S1,S4を生成し、指令値Fbに基づくオンパルス幅を持つ駆動信号S2,S3を生成する。駆動回路34は、駆動信号S1〜S4をそれぞれスイッチング素子TR1〜TR4に供給する。この駆動回路34は、駆動信号S1〜S4をスイッチング素子TR1〜TR4にそれぞれ出力する複数(ここでは、スイッチング素子TR1〜TR4と同数の4個)のフォトカプラ34Aを備えている。
ところで、駆動回路34内のフォトカプラ34Aやスイッチング素子TR1〜TR4の特性(例えば、スイッチング速度)にばらつきが存在すると、指令値Fa,Fbで指定される駆動信号S1〜S4のオンパルス幅(指令値)と、スイッチング素子TR1〜TR4が実際にオンされる期間(実値)との間に差が生じる場合がある。このような差に起因して、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間と、スイッチング素子TR2,TR3のオン時間との差が大きくなると、トランスINTの磁束が片側の極性に偏る偏磁が発生する。
そこで、本実施形態の制御回路33は、指令値Fa,Fbと、カウント値Nmから得られるパルス幅Wa,Wb(図5参照)との比較結果に基づいて、駆動信号S1〜S4の実際のオンパルス幅が所望のパルス幅になるように指令値Fa,Fbを補正する。そして、駆動回路34は、補正後の指令値Fa,Fbに基づくオンパルス幅を持つ駆動信号S1〜S4を生成する。ここで、パルス幅Waは、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間(実値)に対応し、パルス幅Wbは、スイッチング素子TR2,TR3のオン時間(実値)に対応している。このようなパルス幅Wa,Wb(実値)と指令値Fa,Fbとの差分に基づいて指令値Fa,Fbを補正することにより、フォトカプラ34A及びスイッチング素子TR1〜TR4の特性ばらつきによる影響を低減することができる。これによって、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間を補正前の指令値Faに近づけることができ、スイッチング素子TR2,TR3のオン時間を補正前の指令値Fbに近づけることができる。したがって、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間と、スイッチング素子TR2,TR3のオン時間との差を小さくできる。すなわち、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間と、スイッチング素子TR2,TR3のオン時間とのばらつきを補償することができる。この結果、トランスINTにおける偏磁の発生を抑制することができる。
次に、図4及び図5に従って、電源装置10の動作について説明する。
図4に示したステップST1において、電源装置10の電源がオンされると、制御部30は、各種変数を初期化する初期化処理を実行する。本例では、制御部30は、パルス幅Wa,Wbを算出する際に必要なパルスPmの個数nを8個に設定し、m(mは整数)番目のパルスPmのカウント値Nmを「0」に設定し、パルスPmを識別するための変数mを最小値の「1」に設定する。
また、電源装置10の電源がオンされると、制御回路33では、トランスINTの二次側にて所望の出力電力を生じさせるように、指令値Fa,Fbが生成される。この指令値Faに基づいて、駆動信号S1,S4のオンパルス幅(ここでは、Hレベルパルスの幅)が設定され、指令値Fbに基づいて、駆動信号S2,S3のオンパルス幅(ここでは、Hレベルパルスの幅)が設定される。このときの指令値Faと指令値Fbとは、通常、同一の値に設定されている。なお、これら指令値Fa,Fbは、制御回路33内の記憶装置(図示略)に記憶される。
そして、図5に示した時刻t1〜t2において、駆動信号S1,S4のオンパルスに基づいてスイッチング素子TR1,TR4がオンされると、電流検出器21で検出される検出信号Ibが正の値になる。このスイッチング素子TR1,TR4のオン期間(時刻t1〜t2)に対応して、パルス信号PuにHレベルのパルスPm(ここでは、パルスP1)が発生する。このパルスP1のパルス幅W1がパルス幅測定回路32で測定される。
具体的には、まず時刻t1において、パルス信号Puの立ち上がりエッジが発生すると(ステップST2でYES)、パルス幅測定回路32は、1番目のパルスP1のパルス幅の測定、つまりクロック信号CKのカウントを開始する(ステップST3)。具体的には、パルス幅測定回路32は、クロック信号CKの立ち上がりエッジを検出する度にカウント値Nm(ここでは、カウント値N1)をカウントアップする(N1=N1+1)。このカウント動作は、パルス信号Puの立ち下がりエッジが発生するまで繰り返し実行される。
次いで、図5に示した時刻t2において、パルス信号Puの立ち下がりエッジが発生すると(ステップST4でYES)、パルス幅測定回路32は、クロック信号CKのカウントを停止する(ステップST5)。このとき、パルス幅測定回路32は、パルスP1のパルス幅W1に対応するカウント値N1を制御回路33に出力する。また、制御回路33は、変数mに「1」を加算する。これにより、変数mは「2」となる。
次に、ステップST6において、制御回路33は、変数mが個数n(本例では、n=8)よりも大きいか否かを判定する。すなわち、ステップST6では、所定数(本例では、8個)のパルスPmのパルス幅Wmの測定が終了したか否かが判定される。ここでは、m=2であり、m<nであるため(ステップST6でNO)、ステップST2に戻る。
続いて、図5に示した時刻t2〜t3では、スイッチング素子TR1〜TR4の全てがオフされ、パルス信号PuがLレベルであるため(ステップST2でNO)、パルス幅測定回路32によるパルス幅測定(カウント動作)は開始されない。
次いで、図5に示した時刻t3〜t4において、駆動信号S2,S3のオンパルスに基づいてスイッチング素子TR2,TR3がオンされると、電流検出器21で検出される検出信号Ibが負の値になる。このスイッチング素子TR2,TR3のオン期間に対応して、パルス信号PuにHレベルのパルスP2が発生する。そして、パルスP1の際と同様にして、パルスP2のパルス幅W2がパルス幅測定回路32で測定され、パルスP2のパルス幅W2に対応するカウント値N2が制御回路33に出力される(ステップST2〜ST5参照)。
以後も同様にして、パルス信号PuのパルスP3〜P8のパルス幅W3〜W8がパルス幅測定回路32で測定され、それらパルスP3〜P8のパルス幅W3〜W8に対応するカウント値N3〜N8が制御回路33に出力される。
その後、ステップST5において、変数mに「1」が加算されると、m=9となってm>nとなるため(ステップST6でYES)、ステップST7に移る。
続いて、制御回路33は、パルス幅測定回路32から入力したカウント値N1〜N8に基づいて、スイッチング素子TR1〜TR4の実際のオン時間に対応するパルス幅Wa,Wbを算出する(ステップST7)。具体的には、制御回路33は、クロック信号CKの周期をTとしたときに、パルスPmのパルス幅Wm(つまり、パルスP1〜P8のパルス幅W1〜W8)を以下の式で求める。
Wm=Nm×T
ここで、本例では、パルスP1〜P8のうち奇数番目のパルスP1,P3,P5,P7のパルス幅W1,W3,W5,W7がスイッチング素子TR1,TR4のオン時間に対応している。また、パルスP1〜P8のうち偶数番目のパルスP2,P4,P6,P8のパルス幅W2,W4,W6,W8がスイッチング素子TR2,TR4のオン時間に対応している。
そこで、制御回路33は、パルス幅W1,W3,W5,W7の平均値を求めて、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間に対応するパルス幅Waを算出する。また、制御回路33は、パルス幅W2,W4,W6,W8の平均値を求めて、スイッチング素子TR2,TR4のオン時間に対応するパルス幅Wbを算出する。すなわち、制御回路33は、以下の式からパルス幅Wa,Wbを算出する。
Wa=(W1+W3+W5+W7)/4
={(N1×T)+(N3×T)+(N5×T)+(N7×T)}/4
Wb=(W2+W4+W6+W8)/4
={(N2×T)+(N4×T)+(N6×T)+(N8×T)}/4
次に、制御回路33は、算出したパルス幅Wa,Wb(実値)と上記記憶装置に記憶されていた指令値Fa,Fbとの比較結果に基づいて、スイッチング素子TR1〜TR4のオンパルス幅を示す指令値Fa,Fbを補正する(ステップST8)。具体的には、制御回路33は、記憶装置に記憶されていた指令値Fa,Fbを便宜上それぞれ指令値WFa,WFbとしたときに、以下の式を用いて補正後の指令値Fa,Fbを算出する。
Fa=(WFa−Wa)+WFa
Fb=(WFb−Wb)+WFb
すなわち、算出したパルス幅Wa,Wb(実値)と記憶装置に記憶されていた指令値WFa,WFbとの差分を、その指令値WFa,WFbに加算することにより、補正後の指令値Fa,Fbを算出する。ここで、算出したパルス幅Wa,Wbと指令値WFa,WFbとの差分が、フォトカプラ34Aやスイッチング素子TR1〜TR4の特性ばらつき等に起因して生じる差である。このため、上記差分を本来の指令値Fa,Fb(ここでは、最初に設定された補正前の指令値WFa,WFb)に重畳することにより、上記特性ばらつきを補償することができる。
例えば、スイッチング素子TR1,TR4の実際のオン時間に相当するパルス幅Waが指令値WFaよりも小さい場合には、指令値WFaに対して足りない時間分だけ指令値WFaを大きくするように補正される。また、パルス幅Waが指令値WFaよりも大きい場合には、指令値WFaに対して余分な時間分だけ指令値WFaを小さくするように補正される。これにより、スイッチング素子TR1,TR4の実際のオン時間を、本来の指令値WFaに近づけることができる。同様に、スイッチング素子TR2,TR3の実際のオン時間を、本来の指令値WFbに近づけることができる。したがって、スイッチング素子TR1,TR4の実際のオン時間と、スイッチング素子TR2,TR3の実際のオン時間との差を小さくすることができる。
以上説明した制御部30による指令値Fa,Fbの補正処理は、電源装置10の電源オン時に常時行われる。すなわち、ステップST8の補正処理が終了した後、再度ステップST1が開始される。
次に、本実施形態の特徴的な効果を記載する。
(1)駆動信号S1〜S4に応じた信号としてトランスINTの入力電流Iaが検出され、その入力電流Iaに対応する検出信号Ibからパルス信号Puが生成される。そのパルス信号Puが有するパルスPmのパルス幅Wmが測定され、その測定結果に基づいてスイッチング素子TR1〜TR4の実際のオン時間に相当するパルス幅Wa,Wbが算出される。これらパルス幅Wa,Wb(実値)と指令値Fa,Fbとの差分に基づいて、指令値Fa,Fbが補正される。すなわち、フォトカプラ34Aの特性ばらつき等に起因して生じる上記差分が指令値Fa,Fbに重畳されて指令値Fa,Fbが補正される。このため、補正後の指令値Fa,Fbに基づいて駆動信号S1〜S4のオンパルス幅を設定することにより、上記特性ばらつきによる影響を低減することができる。したがって、フォトカプラ34Aに特性ばらつきが存在する場合であっても、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間と、スイッチング素子TR2,TR3のオン時間との差が大きくなることを抑制できる。この結果、トランスINTにおける偏磁の発生を好適に抑制することができる。
また、指令値Fa,Fbの補正は、制御回路33の内部演算によって自動的に実行される。このため、可変抵抗器の抵抗値を手作業で調整する場合に比べて、指令値Fa,Fbの補正、及び駆動信号S1〜S4のオンパルス幅のばらつきの補償を容易に行うことができる。
(2)指令値Fa,Fbの補正処理は、電源装置10の電源オン時に常時実行される。また、制御部30では、その時々で得られる上記差分に基づいて、指令値Fa,Fbが補正される。このため、使用環境(例えば、使用温度)の変化や使用時間等に起因して、フォトカプラ34A等の特性ばらつきが変化した場合であっても、その特性ばらつきを補償するように指令値Fa,Fbを容易に補正することができる。すなわち、特性ばらつきの変化に応じて上記差分も変化するため、その変化した差分に基づいて指令値Fa,Fbを補正することにより、変化後の特性ばらつきを補償することができる。したがって、使用環境の変化や経年劣化によりフォトカプラ34A等の素子の特性ばらつきが変化した場合であっても、駆動信号S1〜S4のオンパルス幅のばらつきを補償することができ、偏磁の発生を好適に抑制することができる。
(3)さらに、入力電流Iaに対応する検出信号Ibを用いてパルス幅Wa,Wbを算出するようにした。このため、指令値Fa,Fbとパルス幅Wa,Wbとの差分は、フォトカプラ34Aの特性ばらつきと併せて、スイッチング素子TR1〜TR4の特性ばらつきを反映したものになる。したがって、上記差分を指令値Fa,Fbに重畳することにより、フォトカプラ34Aの特性ばらつきによる影響と併せて、スイッチング素子TR1〜TR4の特性ばらつきによる影響も低減することができる。
(4)インバータ回路12とトランスINTとを備える溶接用電源装置10においては、トランスINTが過度の偏磁状態となると回路上に大きな電流が生じるため、インバータ回路12のスイッチング素子TR1〜TR4が異常発熱状態となり得る構成である。したがって、本実施形態のような構成の電源装置10への適用が特に有効であり、溶接用電源装置10の信頼性向上に貢献できる。
(5)複数のパルスPmのパルス幅Wmの平均値からパルス幅Wa,Wbを算出するようにした。このため、例えばノイズ等に起因してスイッチング素子TR1〜TR4のオン時間が一時的に急変した場合であっても、その急変に伴って指令値Fa,Fbが必要以上に補正されることを好適に抑制することができる。
なお、上記実施形態は、以下のように変更してもよい。
・上記実施形態では、算出したパルス幅Wa,Wbと指令値WFa,WFbとの差分を、最初に設定された補正前の指令値WFa,WFbに加算するようにした。これに限らず、例えば、上記差分を、その時々で出力電流Ioに対応する検出信号Idに基づいて生成される指令値Fa,Fbに加算するようにしてもよい。
・上記実施形態では、制御部30による指令値Fa,Fbの補正処理を、電源装置10の電源オン時に常時行うようにした。これに限らず、例えば、指令値Fa,Fbの補正処理を、電源装置10の電源オン時に間欠的に行うようにしてもよい。すなわち、電源装置10の電源オン時において、指令値Fa,Fbの補正処理を、所定時間(例えば、1時間)毎に1回行うようにしてもよい。
・あるいは、指令値Fa,Fbの補正処理を、出荷検査時等の1回のみ実施するようにしてもよい。この場合には、出荷検査用の検査ユニットに制御回路33と同様の回路を設け、その回路で上記実施形態と同様の補正処理を実施し、補正処理後の指令値を電源装置10内の制御回路33に設定する。なお、この場合の電源装置10には、パルス幅測定回路32から出力されるカウント値Nmを検査ユニットに送信する通信装置が設けられる。
・上記実施形態の制御回路33において、算出したパルス幅Wa,Wbと指令値Fa,Fbとの差分値の算出を複数回行って、複数回分の差分値の平均値を算出し、その差分値の平均値を本来の指令値Fa,Fb(最初に設定された補正値又はその時々で検出信号Id等に基づいて生成される指令値)に加算するようにしてもよい。
・上記実施形態の指令値Fa,Fbの補正処理における個数nは特に限定されない。例えば、個数nを「2」〜「7」に設定してもよいし、個数nを「9」以上に設定してもよい。
・上記実施形態では、複数のパルスPmのパルス幅Wmの平均値を算出してパルス幅Wa,Wbを算出するようにした。これに限らず、例えば、スイッチング素子TR1,TR4のオン時間に対応する1つのパルスPmのパルス幅Wmをパルス幅Waとし、スイッチング素子TR2,TR3のオン時間に対応する1つのパルスPmのパルス幅Wmをパルス幅Wbとして算出してもよい。
・上記実施形態では、トランスINTの入力電流Iaに対応する検出信号Ibからパルス信号Puを生成し、そのパルス信号Puのパルス幅Wmを測定するようにした。すなわち、駆動回路34から出力される駆動信号S1〜S4に応じたパルス信号として、検出信号Ib(トランスINTの入力電流Ia)から生成されたパルス信号Puを利用するようにしたが、これに限らず適宜変更してもよい。
・例えば図6に示すように、制御部30を制御部30Aに変更してもよい。制御部30Aでは、制御部30(図1参照)から信号処理回路31が省略され、パルス幅測定回路32に駆動信号S1〜S4がパルス信号として入力される。パルス幅測定回路32は、駆動信号S1〜S4のオンパルス幅をそれぞれ測定する。具体的には、パルス幅測定回路32は、駆動信号S1〜S4のオンパルスが発生している期間にクロック信号CK(図3参照)をカウントし、各駆動信号S1〜S4のオンパルス幅に対応するカウント値Nmを制御回路33に出力する。
制御回路33は、カウント値Nmに基づいて、駆動信号S1〜S4の実際のオンパルス幅に相当するパルス幅(第2パルス幅)を算出し、その算出したパルス幅と指令値F1〜F4との差分を算出する。また、制御回路33は、算出した差分を本来の指令値F1〜F4(例えば、最初に設定された補正値又はその時々で検出信号Id等に基づいて生成される指令値)に加算することにより、指令値F1〜F4を補正する。そして、駆動回路34は、補正後の指令値F1に基づくオンパルス幅を持つ駆動信号S1と、補正後の指令値F2に基づくオンパルス幅を持つ駆動信号S2と、補正後の指令値F3に基づくオンパルス幅を持つ駆動信号S3と、補正後の指令値F4に基づくオンパルス幅を持つ駆動信号S4とを生成する。
この構成によれば、駆動回路34内のフォトカプラ34A等の素子の特性ばらつきに起因して生じる差分、つまり算出したパルス幅と指令値F1〜F4との差分に基づいて、指令値F1〜F4が補正される。これにより、フォトカプラ34Aの特性ばらつきによる影響を低減することができ、駆動信号S1〜S4のオンパルス幅のばらつきを補償することができる。
また、駆動信号S1〜S4のオンパルス幅を個別に測定するため、それら駆動信号S1〜S4のオンパルス幅をそれぞれ設定する指令値F1〜F4を個別に補正することができる。
・例えば図7に示すように、制御部30を制御部30Bに変更してもよい。制御部30Bでは、信号処理回路31が信号処理回路31Aに変更されている。この信号処理回路31Aには、電流検出器21からの検出信号Ibと、駆動信号S1〜S4とが入力される。信号処理回路31Aは、検出信号Ibが0Aであるときは、駆動信号S1〜S4をパルス信号Puとしてパルス幅測定回路32に出力する。一方、信号処理回路31Aは、検出信号Ibが0A以外のときは、上記実施形態と同様に、検出信号Ibからパルス信号Puを生成し、そのパルス信号Puをパルス幅測定回路32に出力する。
この構成によれば、検出信号Ibが0Aのとき、つまり検出信号Ibから生成したパルス信号Puを用いて指令値F1〜F4の補正処理を行うことのできない期間に、駆動信号S1〜S4を用いて指令値F1〜F4の補正処理を行うことができる。
なお、信号処理回路31Aにおける検出信号Ibと駆動信号S1〜S4との切替条件は、上記条件に限らずに適宜変更してもよい。
・インバータ回路12はフルブリッジ回路以外の構成であってもよく、例えばハーフブリッジ回路であってもよい。
・アーク溶接用の電源装置10に適用したが、他の溶接用の電源装置や溶接以外の電源装置に適用してもよい。
10 電源装置(溶接用電源装置)
11 一次側変換回路
12 インバータ回路
13 二次側変換回路
21 電流検出器
30,30A,30B 制御部
31,31A 信号処理回路
32 パルス幅測定回路
33 制御回路
34 駆動回路
34A フォトカプラ
51 カウンタ
Fa,Fb 指令値
F1〜F4 指令値
Ia 入力電流
Ib 検出信号
INT 溶接トランス(トランス)
L1 一次側コイル
L2 二次側コイル
Pu パルス信号
S1〜S4 駆動信号
TR1〜TR4 スイッチング素子
Wa,Wb パルス幅(第1パルス幅)

Claims (3)

  1. トランスの一次側に設けられ、ブリッジ回路を構成するスイッチング素子の動作により直流電圧から高周波交流電圧を生成するインバータ回路と、
    前記トランスの二次側にて所望出力電力を生じさせるように前記スイッチング素子のスイッチング動作を制御する駆動信号を生成する制御部と、を備えた電源装置であって、
    前記制御部は、
    前記駆動信号のオンパルス幅を設定する指令値を生成する制御回路と、
    前記指令値に基づくオンパルス幅を持つ前記駆動信号を前記スイッチング素子に出力する駆動回路と、
    前記駆動信号に応じたパルス信号のパルス幅を測定するパルス幅測定回路と、を有し、
    前記制御回路は、前記パルス幅測定回路で測定されたパルス幅と前記指令値との比較結果に基づいて、前記指令値を補正するように構成されており、
    前記トランスの一次側に入力される入力電流を検出する電流検出器を備え、
    前記制御部は、
    前記駆動信号と前記電流検出器にて取得した検出信号とを入力し、前記検出信号が0Aである場合には前記駆動信号を前記パルス信号として前記パルス幅測定回路に出力する一方で、前記検出信号が0A以外の場合には、前記検出信号を全波整流し、全波整流後の信号を波形整形した信号を前記パルス信号として前記パルス幅測定回路に出力する信号処理回路を備えていることを特徴とする電源装置。
  2. 請求項1に記載の電源装置において、
    前記制御回路は、前記電源装置の電源オン時に常時、又は間欠的に前記指令値の補正を実行することを特徴とする電源装置。
  3. 請求項1又は2に記載の電源装置を用い、溶接用の出力電力を生成するように構成されたことを特徴とする溶接用電源装置。
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