JP6416065B2 - 診断回路及び半導体システム - Google Patents
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Description
通常運用時には、運用系レジスタRM(n+1)と、安全系レジスタRS(n+1)には、同一の信号が入力される。すなわち、通常運用時において、第1出力部MUXI(n)は、運用系レジスタRM(n)からの入力信号を選択して論理回路部Gに出力する。また、第2出力部MUXO(n)は、論理回路部Gからの入力信号を選択して、次段の安全系レジスタRS(n+1)に出力する。
診断値の設定時には、第1出力部MUXI(n)は、運用系レジスタRM(n)からの入力信号を選択して論理回路部Gに出力する。また、第2出力部MUXO(n)は、安全系レジスタRS(n)からの入力信号を選択して、安全系レジスタRS(n+1)に出力する。
診断時には、第1出力部MUXI(n)は、安全系レジスタRS(n)からの入力信号を選択して論理回路部Gに出力する。また、第2出力部MUXO(n)は、論理回路部Gからの入力信号を選択して、安全系レジスタRS(n+1)に出力する。すなわち、診断信号に基づき、論理回路部Gが出力した多数の出力のうちの1つとして結果信号が次段の安全系レジスタRS(n+1)に出力される。
図7は、診断回路100の変形例1を示すブロック図である。変形例1は、遷移故障の検出を診断回路100内で行わず、回路規模をより低減しようとしたしたものである。このため、第1比較部CMP(n)を有しないことで、図2の診断回路100と相違している。これにより、回路規模をより低減可能である。
図8は、診断回路100の変形例2を示すブロック図である。変形例2は、比較系レジスタRC(n)(0≦n<m)(第3レジスタ)を備えることで図2の診断回路100と相違している。以下、図2の診断回路100と相違する部分を説明する。
図9は、診断回路100の変形例3を模式的に示す図である。図9において、四角型は安全系レジスタRS(n)を示している。また、数字の(1)から(4)は、診断信号を分割してパラレルに入力する位置と、結果信号をパラレルに取り出す位置を矢印の向きを変えて示している。
Claims (7)
- 連続的に接続された複数段の回路部を有する診断回路であって、
前記複数段の回路部は、それぞれ、
第1レジスタと、
前記第1レジスタに対応する第2レジスタと、
前記第1レジスタ及び前記第2レジスタと接続され、前記第1レジスタからの第1入力信号と前記第2レジスタからの第2入力信号のうち、一方を選択して出力する第1出力部と、
前記第1出力部から出力された信号を少なくとも含む入力信号に基づき論理演算を行う論理回路部からの出力された第3入力信号と前記第2入力信号のうち、一方を選択して、次段の第2レジスタに出力する第2出力部と、
を備えることを特徴とする診断回路。 - 前記第1出力部において前記第1入力信号が選択され、前記第2出力部において前記第2入力信号が選択された状態で、前記第2レジスタへ診断信号が入力されると、
前記第2レジスタに前記診断信号に基づく診断値が設定された後に、前記第1レジスタへのクロック信号の供給が停止され、前記第1出力部において前記第2入力信号が選択され、且つ前記第2出力部において前記第3入力信号が選択されて前記論理回路部の診断を行うことを特徴とする請求項1に記載の診断回路。 - 前記論理回路部から前記診断信号に基づく結果信号が次段の第2レジスタに入力された後に、前記第1レジスタに前記クロック信号が供給されることを特徴とする請求項2に記載の診断回路。
- 連続的に接続された複数段の回路部を有する半導体システムであって、
前記複数段の回路部は、それぞれ、
第1レジスタと、
前記第1レジスタに対応する第2レジスタと、
前記第1レジスタ及び前記第2レジスタと接続され、前記第1レジスタからの第1入力信号と前記第2レジスタからの第2入力信号のうち、一方を選択して出力する第1出力部と、
前記第1出力部から出力された信号を少なくとも含む入力信号に基づき論理演算を行う論理回路部からの出力された第3入力信号と前記第2入力信号のうち、一方を選択して、次段の第2レジスタに出力する第2出力部と、
を備えることを特徴とする半導体システム。 - 前記第2レジスタの初段へ診断信号を診断パターンとしてシリアルに出力する診断パターン出力部を、更に備え、
前記第1出力部において前記第1入力信号が選択され、且つ前記第2出力部において前記第2入力信号が選択された状態で、
前記第1レジスタへ前記第3入力信号が入力され、前記診断パターン出力部から前記第2レジスタへ診断信号が入力されることを特徴とする請求項4に記載の半導体システム。 - 前記連続的に接続された複数段の回路部に更に連続的に接続された最終段の回路部であって、前記最終段の回路部の前段における回路部の第2出力部に接続された第2レジスタを有する最終段の回路部を更に備え、
前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第1出力部において前記第1入力信号が選択され、前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第2出力部において前記第2入力信号が選択された状態で、前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第2レジスタへ診断信号が入力されると、
前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第2レジスタに前記診断信号に基づく診断値が設定された後に、前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第1レジスタへのクロック信号の供給が停止され、前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第1出力部において前記第2入力信号が選択され、且つ前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第2出力部において前記第3入力信号が選択されて前記論理回路部の診断を行うことを特徴とする請求項1に記載の診断回路。 - 前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第2出力部から、前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第2レジスタに設定された前記診断値に基づく前記論理回路部の結果信号が出力され、前記複数段の回路部のそれぞれの次段の回路部が備える前記第2レジスタに入力された後に、前記複数段の回路部のそれぞれが備える前記第1レジスタに前記クロック信号が供給されることを特徴とする請求項6に記載の診断回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015181215A JP6416065B2 (ja) | 2015-09-14 | 2015-09-14 | 診断回路及び半導体システム |
US15/066,375 US9823302B2 (en) | 2015-09-14 | 2016-03-10 | Semiconductor circuit and semiconductor system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015181215A JP6416065B2 (ja) | 2015-09-14 | 2015-09-14 | 診断回路及び半導体システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017058795A JP2017058795A (ja) | 2017-03-23 |
JP6416065B2 true JP6416065B2 (ja) | 2018-10-31 |
Family
ID=58237616
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015181215A Expired - Fee Related JP6416065B2 (ja) | 2015-09-14 | 2015-09-14 | 診断回路及び半導体システム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9823302B2 (ja) |
JP (1) | JP6416065B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102020104595B3 (de) * | 2020-02-21 | 2021-05-12 | Infineon Technologies Ag | Integrierter Schaltkreis mit Selbsttestschaltung, Verfahren zum Betreiben eines integrierten Schaltkreises mit Selbsttestschaltung, Mehrkernprozessoreinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer Mehrkernprozessoreinrichtung |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AU616213B2 (en) | 1987-11-09 | 1991-10-24 | Tandem Computers Incorporated | Method and apparatus for synchronizing a plurality of processors |
JP2000227456A (ja) * | 1999-02-05 | 2000-08-15 | Kawasaki Steel Corp | スキャンフリップフロップ |
JP3893238B2 (ja) * | 2000-07-14 | 2007-03-14 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置の不良解析装置 |
JP2004340877A (ja) | 2003-05-19 | 2004-12-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置 |
JP4455547B2 (ja) * | 2006-07-07 | 2010-04-21 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
JP2008026074A (ja) | 2006-07-19 | 2008-02-07 | Hitachi Ltd | Icテスト方法及びic |
JP2009192461A (ja) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路装置 |
JP5347951B2 (ja) * | 2009-12-24 | 2013-11-20 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 集積回路及び故障診断回路 |
US9773570B2 (en) * | 2013-03-06 | 2017-09-26 | International Business Machines Corporation | Built-in-self-test (BIST) test time reduction |
-
2015
- 2015-09-14 JP JP2015181215A patent/JP6416065B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2016
- 2016-03-10 US US15/066,375 patent/US9823302B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017058795A (ja) | 2017-03-23 |
US20170074931A1 (en) | 2017-03-16 |
US9823302B2 (en) | 2017-11-21 |
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