JP6414842B2 - 検査方法及び検査装置 - Google Patents
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
り返しながら透明体内部を伝播する過程で、透明体に存在する欠陥部によって散乱された散乱光を透明体の表裏いずれかの面を通して光電検出する透明体の欠陥検出方法、が開示されている。
を解析装置10で解析する。ここでaは、出射光L2が受光部2に映し出された平面画像である。
、異物が含まれる材料と相違していれば検出は可能である。さらに異物の形態も、固体、液体、気体のいずれか、またはこれらの複合体、でもよい。
合成シリカからなるガラスブロック(300mm立方体)を試験体として用意した。この試験体に対して、蛍光灯下での目視観察(比較例1)、従来の検査方法(比較例2)、本発明の検査方法(実施例1)を用いて、水平に載置した試験体の一側面から対向する側面に対して、内部の異物観察を実施した。測定条件はそれぞれ以下のとおりである。
白色光の蛍光灯下(1000ルクス)で、目視により試験体の6主面全面から異物の有無を確認した。
波長532nmのレーザ光を1500μm径から60μm径に集光したビーム光(出力5mW)を、試験体の一面から、一面の高さ中心部をブロック幅一往復スキャンして、照射した。そして、照射面と垂直方向の一主面方向に、CCDカメラを設置し、得られた画像を市販の光学分光解析装置にて、異物の有無を判定した。
波長532nmのレーザ光を1500μm径から60μm径に集光したビーム光(出力5mW)を試験体の一面から照射し比較例1と同様にスキャンして、照射面と対向する一主面方向の照射光の光軸上に、CCDカメラの受光部が来るように設置し、得られた画像を比較例2と同じ光学分光解析装置で解析し、異物の有無を判定した。
1 照射部
2 受光部
L1 照射光
L2 出射光
X 異物
a 受光部2で得られる平面画像
Xa 異物Xにより得られた画像
10 解析装置
Claims (2)
- 照射光を光透過性の材料に照射する照射部と、前記照射光の光線軸上に配置された、前記照射光が前記光透過性の材料中を透過して得られた出射光を受光する受光部と、前記受光した出射光を解析する解析装置とを備えた検査装置を用いた、光透過性の材料内部に存在する異物を光学的に検査する検査方法であって、
予め、寸法が既知の金属箔を光透過性の材料に形成し、前記参照画像を蓄積するステップと、照射光を検査対象の光透過性の材料に照射する照射ステップと、前記照射光が、前記検査対象の光透過性材料中を透過後得られた出射光を受光する受光ステップと、前記受光された出射光を解析する解析ステップと、を備え、
前記解析ステップでは、
前記異物と接触せずに透過した直接光成分と前記異物外周縁部で回折した回折光成分のうち、直接光成分から画像処理する手段または電気信号へ変換後処理する手段のいずれかによって、前記異物の外郭の測定画像を得、前記測定画像から異物の外郭を特定すると共に、
前記直接光成分と前記回折光成分のうち、前記回折光成分から画像処理する手段または電気信号へ変換後処理する手段のいずれかによって、前記異物が作り出す特定の一平面方向の形状の測定画像を得、前記測定画像と前記参照画像と比較し、異物の特定の一平面方向の形状を特定することを特徴とする異物検査方法。 - 照射光を材料表面に照射する照射部と、前記照射光の光線軸上に配置された、前記照射光が前記材料表面で全反射後出射して得られる出射光を受光する受光部と、前記受光した出射光を解析する解析装置とを備えた検査装置を用いた、材料表面に存在する異物を光学的に検査する検査方法であって、
予め、寸法が既知の金属箔を材料に形成し、前記参照画像を蓄積するステップと、照射光を検査対象の材料表面に照射する照射ステップと、前記照射光が、前記検査対象の材料表面で全反射後出射して得られる出射光を受光する受光ステップと、前記受光された出射光を解析する解析ステップと、を備え、
前記解析ステップでは、
前記異物と接触せずに全反射した直接光成分と前記異物外周縁部で回折した回折光成分のうち、直接光成分から画像処理する手段または電気信号へ変換後処理する手段のいずれかによって、前記異物の外郭の測定画像を得、前記測定画像から異物の外郭を特定すると共に、
前記直接光成分と前記回折光成分のうち、前記回折光成分から画像処理する手段または電気信号へ変換後処理する手段のいずれかによって、前記異物が作り出す特定の一平面方向の形状の測定画像を得、前記測定画像と前記参照画像と比較し、異物の特定の一平面方向の形状を特定することを特徴とする異物検査方法。
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