JP6373203B2 - 電極リード部の貫通気泡検査方法 - Google Patents
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Description
この発明は、圧力センサー等の電極リード部の気泡の有無を検査する方法に関するものである。
ダイアフラム構造の半導体チップを備えた圧力センサーは従来から使われている。かかる圧力センサーは、半導体チップと、前記半導体チップを収容する容器（ハウジング及びカバー）から構成される。容器内の圧力変化は半導体チップのダイアフラムを変形することで、ダイアフラムの静電容量の変化として検出される。前記静電容量の情報は、半導体チップの電極部から、圧力センサーの金属製カバーを貫通した導電製リードピンにより容器の外部に取り出す。圧力センサーのカバーと、前記導電性リードピンとを絶縁するため、さらに圧力センサー内を気密封止するため、電極リード部をハーメチックシールしている。前記電極リード部は、電磁シールドのための中空金属製円筒と、導電性リードピンと、接着用ガラスと、から構成される。
従来技術の事例として特許文献１を参照すると、図１は圧力センサー全体の断面図の模式図であり、前記図１の符号３０は半導体チップ、１１と１２はロアハウジングとアッパハウジング、１３はカバー、４２は金属製のシールド、４３は絶縁材料（ガラス）からなるハーメチックシールド部、そして４０は電極リード部である。
従来型の圧力センサーに用いる電極リード部において、接着用ガラスに貫通気泡が存在することにより、圧力センサーの絶縁特性が劣化する場合がある。貫通気泡とは、例えば本願の図２（ｂ）を参照すると、製造工程でガラスを溶融する際にハーメチックシールド部（接着用ガラス４）の内部に生じるもので、導電性リードピン２の表面から金属製のシールド３の表面にわたる大きさの気泡５をいう。かかる絶縁抵抗特性の劣化により、製品仕様を満たさない不良品が発生する恐れがある。特許文献１には、絶縁特性劣化を判定する具体的な検査方法は何も開示されていない。
従来型の圧力センサーの電極リード部において、前記電極リード部を破壊して目視で検査する破壊検査によらなければ、貫通気泡の存在を確認することができない。そこで電極リード部内の貫通気泡の有無を、前記電極リード部を破壊せずに検出する方法が強く望まれている。
本願発明は、導電性リードピンと、この導電性リードピンを通す貫通孔を有する金属部材と、前記導電性リードピンと前記貫通孔との間に生じる空間を満たす接着用ガラスから構成する電極リード部の検査方法において、
前記金属部材と前記導電性リードピンとの間の絶縁抵抗値を次のステップで計測する貫通気泡検査方法であって、
予め、前記接着用ガラスに前記貫通気泡が無い第一の電極リード部と、前記接着用ガラスに前記貫通気泡がある第二の電極リード部とを用いて両方の前記絶縁抵抗を計測することにより、貫通気泡有無判定のための絶縁抵抗値しきい値を求めるステップと、
第三の電極リード部に対して、室温から所定の最大値へ温度上昇させた後に、前記所定の最大値から特定温度値まで下降させたときの前記絶縁抵抗値を計測するステップと、
前記特定温度値における前記絶縁抵抗値が前記所定の絶縁抵抗値しきい値より小さい場合に、前記第三の電極リード部において前記金属部材と前記導電性リードピンとの間に貫通気泡があると判断するステップと、
を特徴とする貫通気泡検査方法である。
前記金属部材と前記導電性リードピンとの間の絶縁抵抗値を次のステップで計測する貫通気泡検査方法であって、
予め、前記接着用ガラスに前記貫通気泡が無い第一の電極リード部と、前記接着用ガラスに前記貫通気泡がある第二の電極リード部とを用いて両方の前記絶縁抵抗を計測することにより、貫通気泡有無判定のための絶縁抵抗値しきい値を求めるステップと、
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前記特定温度値における前記絶縁抵抗値が前記所定の絶縁抵抗値しきい値より小さい場合に、前記第三の電極リード部において前記金属部材と前記導電性リードピンとの間に貫通気泡があると判断するステップと、
を特徴とする貫通気泡検査方法である。
電極リード部の金属製円筒の外側表面と、導電性リードピンとの間の絶縁抵抗の温度特性を計測して、電極リード部の接着用ガラスに貫通気泡が存在することを確認できるため電極リード部を破壊する検査は必要なくなる。
本発明の実施の形態１.を図１から図３を参照しながら詳細に説明する。
実施の形態１．
図１は、円筒形状の電極リード部の外形図であり、圧力センサーのカバーの貫通部（図示せず）に取り付ける前の状態を表している。１は電極リード部である。２は導電性リードピンで、３は電極リード部の中空金属製円筒である。外部からガスバーナーなどで前記電極リード部１を加熱することで接着用ガラス（図示せず）を融解させて前記導電性リードピン２と、前記中空金属製円筒３の内面と、を接合する。かかる加工により、前記電極リード部１の前記中空金属製円筒３と、前記導電性リードピン２は、互いに電気的に絶縁できる。
実施の形態１．
図１は、円筒形状の電極リード部の外形図であり、圧力センサーのカバーの貫通部（図示せず）に取り付ける前の状態を表している。１は電極リード部である。２は導電性リードピンで、３は電極リード部の中空金属製円筒である。外部からガスバーナーなどで前記電極リード部１を加熱することで接着用ガラス（図示せず）を融解させて前記導電性リードピン２と、前記中空金属製円筒３の内面と、を接合する。かかる加工により、前記電極リード部１の前記中空金属製円筒３と、前記導電性リードピン２は、互いに電気的に絶縁できる。
前記電極リード部１を圧力センサーのカバーの貫通部（図示せず）に設置した後、外部からガスバーナーなどで加熱することで封着用ガラス（図示せず）を融解させて前記カバー貫通部の内面と接合させる。かかる加工により、圧力センサーのカバーと前記導電性リードピン２を絶縁するとともに、圧力センサーを気密封止する。
さらに前記導電性リードピン２の先端部と、半導体チップ（図示せず）の電極部は金属線でボンディングされる。
さらに前記導電性リードピン２の先端部と、半導体チップ（図示せず）の電極部は金属線でボンディングされる。
図２（ａ）と（ｂ）は、前記電極リード部１の断面図である。前記図２（ａ）の４は、接着用ガラスであり、前記中空金属製円筒３の内面と、導電性リードピン２との間で溶融接着している状態を示す。前記図２（ｂ）は、電極リード部１の断面図であるが、前記接着用ガラス４に、貫通気泡５が存在していることを示す。
尚、電極リード部１は、中空金属製円筒に限らず以外の中空金属製角柱など他の形状を採用してもよいものとする。
尚、電極リード部１は、中空金属製円筒に限らず以外の中空金属製角柱など他の形状を採用してもよいものとする。
図３は、前記電極リード部１の前記接着用ガラス４の内部に前記貫通気泡５が存在する場合と、存在しない場合の、絶縁抵抗の温度特性を示す図である。前記図３の絶縁抵抗の温度変化は、実験により得られた一つの事例である。尚、絶縁抵抗を計測する手段は、電圧を印加して流れる電流から抵抗値を測定する従来の絶縁抵抗測定装置を想定しているが他の計測手段を採用してもよい。
前記図３の横軸に、測定温度を印字にしているが、前記横軸は、温度変化の時間経過を表す時間軸である。周囲温度を２０℃から上昇させ、５０℃に達した後、今度は周囲温度を下げて２０℃まで下げ、その後再度周囲温度を上昇させて３５℃まで変化させていることを示す。温度変化を見やすくするため時間幅は任意である。縦軸は前記電極リード部１の前記中空金属製円筒３の外側表面と、前記電極リード部１の外に出している前記導電性リードピン２の間の絶縁抵抗の値を示す。１０は貫通気泡有無判定として定めた抵抗値である。前記貫通気泡有無判定として定めた抵抗値１０の値は、２０，０００ＭΩとしている。１１は、貫通気泡４を持たない電極リード部その１の絶縁抵抗温度特性である。前記温度特性１１は、周囲温度が変化しても、前記抵抗値１０より値が大きく、絶縁抵抗の値はほぼ一定であることが実験により判明した。
前記貫通気泡５を持った電極リード部その２と、その３の絶縁抵抗温度特性はそれぞれ１２、と１３である。周囲温度が３５℃から５０℃の範囲では、前記貫通気泡５を持つ電極リード部その２、その３の絶縁抵抗値は、前記貫通気泡有無判定として定めた抵抗値１０の値より大きい。しかし、周囲温度３５℃以下の温度領域での絶縁抵抗値は、前記貫通気泡有無判定として定めた抵抗値１０の値より小さいことが実験により判明した。前記貫通気泡内で結露が発生したことで絶縁抵抗の低下が生じていると想定している。
前記図３の絶縁抵抗温度特性から、周囲温度が３５℃以下の状態で、前記中空金属製円筒部３の外側表面と、電極リード部１の外に出している前記導電性リードピン２との間の絶縁抵抗を計測したとき、前記貫通気泡有無判定の抵抗値１０を常に超えた場合、前記貫通気泡５が存在しない正常品とし、一方、特定の温度範囲で計測した絶縁抵抗が前記貫通気泡有無判定の抵抗値１０より低い値になった場合、前記貫通気泡５が在る不良品と判定する。かかる検査方法が今回の発明である。
電極リード部１の金属製円筒３の外側表面と、導電性リードピン２との間の絶縁抵抗の温度特性を計測して電極リード部の接着用ガラスに貫通気泡が存在することを確認できるため、前記貫通気泡の存在を目視で検査する破壊検査を実施する必要性はなくなる。
ここで前記絶縁不良判定として定めた前記抵抗値１０の値の２０，０００ＭΩを貫通気泡有無判定の規定値と定めるとともに囲温度３５℃を特定温度と定めたが、この２個の数値は検査実施の前に行われる絶縁抵抗温度特性の計測値を検討することで定めるものである。材質や寸法が異なる電極リード部に対して、前記貫通気泡有無判定の規定値と、特定温度は異なる値を採用する必要がある。
本発明の電極リード部の貫通気泡検査方法は、電極リード部の接着用ガラスの貫通気泡有無を判別する検査方法であるが、本発明の検査法は、そのまま圧力センサーのカバーと、電極リード部の中空金属との間に置かれた封着用ガラス（図示せず）における貫通気泡の有無を検出する非破壊検査方法に適用できる。例えば先行文献１において、図１の６０の封着用ガラスにおける貫通気泡の存在の検出方法に採用できる。
本発明は、ダイアフラム構造の半導体チップを備えた圧力センサーに限らず、ダイアフラム構造以外の半導体チップを備えた圧力センサーの電極リード部の貫通気泡検査方法にも活用できる。
１ 電極リード部
２ 導電性リードピン
３ 中空金属製円筒
４ 接着用ガラス
５ 貫通気泡
１０ 貫通気泡有無判定用の抵抗値
１１ 貫通気泡が無い電極リード部その１の
絶縁抵抗温度特性
１２ 貫通気泡が在る電極リード部その２の絶縁抵抗温度特性
１３ 貫通気泡が在る電極リード部その３の絶縁抵抗温度特性
２ 導電性リードピン
３ 中空金属製円筒
４ 接着用ガラス
５ 貫通気泡
１０ 貫通気泡有無判定用の抵抗値
１１ 貫通気泡が無い電極リード部その１の
絶縁抵抗温度特性
１２ 貫通気泡が在る電極リード部その２の絶縁抵抗温度特性
１３ 貫通気泡が在る電極リード部その３の絶縁抵抗温度特性
Claims (1)
- 導電性リードピンと、この導電性リードピンを通す貫通孔を有する金属部材と、前記導電性リードピンと前記貫通孔との間に生じる空間を満たす接着用ガラスから構成する電極リード部の検査方法において、
前記金属部材と前記導電性リードピンとの間の絶縁抵抗値を次のステップで計測する貫通気泡検査方法であって、
予め、前記接着用ガラスに前記貫通気泡が無い第一の電極リード部と、前記接着用ガラスに前記貫通気泡がある第二の電極リード部とを用いて両方の前記絶縁抵抗を計測することにより、貫通気泡有無判定のための絶縁抵抗値しきい値を求めるステップと、
第三の電極リード部に対して、室温から所定の最大値へ温度上昇させた後に、前記所定の最大値から特定温度値まで下降させたときの前記絶縁抵抗値を計測するステップと、
前記特定温度値における前記絶縁抵抗値が前記所定の絶縁抵抗値しきい値より小さい場合に、前記第三の電極リード部において前記金属部材と前記導電性リードピンとの間に貫通気泡があると判断するステップと、
を特徴とする貫通気泡検査方法。
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| JP2015028926A JP6373203B2 (ja) | 2015-02-17 | 2015-02-17 | 電極リード部の貫通気泡検査方法 |
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| JP2015028926A Active JP6373203B2 (ja) | 2015-02-17 | 2015-02-17 | 電極リード部の貫通気泡検査方法 |
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