JP6346167B2 - 工作機械におけるアナログ測定走査方法および対応する工作機械装置 - Google Patents
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Description
Claims (15)
- 複数のオフセットトラバースにわたり対象の表面の走査測定データを取得する、工作機械装置上に取り付けられたアナログ測定プローブを使用して、前記対象の前記表面に関する測定データセットを生成する方法であって、後のトラバースが、以前のトラバースからオフセットされることにより、一連のトラバースにわたって、前記アナログ測定プローブの表面検出領域が前記対象から離れる方にもしくは前記対象に向かう方に進行し、少なくとも1つの後のトラバースの相対動作経路が、少なくとも1つの以前のトラバースの間に取得されたデータに基づき生成および/または更新されることを特徴とする方法。
- 前記少なくとも1つの後のトラバースに関する前記相対動作経路は、少なくとも1つの以前のトラバースの間に取得されたデータに基づき前記後のトラバースの予め定められた動作経路を変更することにより、生成および/または更新されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 少なくとも1つの後のトラバースが、前記対象と前記アナログ測定プローブとの不利な位置関係を回避するために更新されることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 少なくとも1つの後のトラバースが、第1のしきい値を超過するデータを前記アナログ測定プローブに取得させる前記対象と前記アナログ測定プローブとの位置関係を回避するために更新され、それにより、前記不利な位置関係を回避させることを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 前記アナログ測定プローブは、好ましい測定範囲を有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記好ましい測定範囲は、少なくとも上限境界により規定され、少なくとも1つの後のトラバースが、その上限境界を超過する測定値を前記アナログ測定プローブに取得させる位置関係を回避するために、更新されることを特徴とする請求項5に記載の方法。
- 各トラバースに関して、前記アナログ測定プローブは、前記対象の前記表面上の実質的に同一の基準測定ラインに沿って測定データを取得することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
- 各トラバースに関して、前記アナログ測定プローブは、前記対象の前記表面上の異なる基準測定ラインに沿って測定データを取得することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記トラバースの前記基準測定ラインの形状が、実質的に同一であることを特徴とする請求項8に記載の方法。
- 前記基準測定ラインは、相互に実質的に平行に延在することを特徴とする請求項9に記載の方法。
- 前記アナログ測定プローブは、コンタクトアナログプローブであることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一項に記載の方法。
- 工作機械装置上に取り付けられたアナログ測定プローブを使用して対象のフィーチャを測定する方法であって、
前記フィーチャに関する走査測定データを収集するために前記アナログ測定プローブおよび前記対象が互いに対して移動し得る予め定められた動作経路を工作機械の制御装置にロードするステップであって、前記予め定められた動作経路は、前記アナログ測定プローブが各トラバースに沿った走査測定データを取得するための複数のトラバースを含む、ステップと、
前記予め定められた動作経路にしたがって前記アナログ測定プローブおよび/または前記対象を相対的に移動させることにより走査オペレーションを実施するステップとを含み、
前記予め定められた動作経路は、以前に収集された走査測定データに基づき前記トラバースの終了時において更新されることを特徴とする方法。 - 工作機械装置により実行される場合に、請求項1乃至12のいずれか一項に記載の方法を前記工作機械装置に実施させる命令を含むことを特徴とするコンピュータプログラム。
- 工作機械装置により実行される場合に、請求項1乃至12のいずれか一項に記載の方法を前記工作機械装置に実施させる命令を含むことを特徴とするコンピュータ可読媒体。
- 工作機械と、前記工作機械上に取り付けられたアナログ測定プローブとを備える、工作機械装置であって、前記工作機械装置は、前記アナログ測定プローブを移動させることにより、複数のオフセットトラバースにわたる対象の表面の走査測定データを取得することによるアナログ測定を利用して、前記対象の前記表面に関する測定データセットを生成するように構成され、後のトラバースが、以前のトラバースからオフセットされることにより、一連のトラバースにわたって、前記アナログ測定プローブの表面検出領域が前記対象から離れる方にもしくは前記対象に向かう方に進行し、少なくとも1つの後のトラバースの相対動作経路が、少なくとも1つの以前のトラバースの間に取得されたデータに基づき生成および/または更新されることを特徴とする工作機械装置。
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US10215560B2 (en) * | 2015-03-24 | 2019-02-26 | Kla Tencor Corporation | Method for shape classification of an object |
GB201505999D0 (en) | 2015-04-09 | 2015-05-27 | Renishaw Plc | Measurement method and apparatus |
US10545019B2 (en) * | 2015-04-14 | 2020-01-28 | Hexagon Metrology, Inc. | CMM probe path controller and method |
US9952580B2 (en) * | 2016-01-29 | 2018-04-24 | The Boeing Company | Method and an apparatus for machining a part for an assembly |
GB201806828D0 (en) * | 2018-04-26 | 2018-06-13 | Renishaw Plc | Surface finish stylus |
GB201806830D0 (en) * | 2018-04-26 | 2018-06-13 | Renishaw Plc | Surface finish stylus |
EP3611465A1 (en) * | 2018-08-14 | 2020-02-19 | Renishaw PLC | Method, computer program and apparatus for measurement cycle generation in a touch trigger coordinate machine |
EP3623883A1 (de) * | 2018-09-17 | 2020-03-18 | HAAS Schleifmaschinen GmbH | Verfahren und werkzeugmaschine zur bearbeitung von werkstücken unbekannter werkstückgeometrie |
US10814492B2 (en) * | 2019-02-15 | 2020-10-27 | R-Go Robotics Ltd | Apparatus and method for surface traversing with capacitive sensing of surface |
JP2022075107A (ja) * | 2020-11-06 | 2022-05-18 | 株式会社ミツトヨ | 形状測定装置および異常検出方法 |
CN112925263A (zh) * | 2021-01-25 | 2021-06-08 | 深圳市玄羽科技有限公司 | 一种cnc数控机台探头及其控制方法 |
Family Cites Families (62)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4153998A (en) | 1972-09-21 | 1979-05-15 | Rolls-Royce (1971) Limited | Probes |
US4166323A (en) | 1973-09-14 | 1979-09-04 | Maag Gear-Wheel & Machine Co. Ltd. | Gear tester for profile and lead testing |
GB1551218A (en) | 1975-05-13 | 1979-08-22 | Rolls Royce | Probe for use in displacement measuring apparatus |
GB2174216B (en) | 1985-03-19 | 1988-10-26 | Mitutoyo Mfg Co Ltd | Method of operating a coordinate measuring instrument |
CN85105480A (zh) | 1985-07-17 | 1987-01-14 | 通用电气公司 | 针尖接触式探测系统 |
GB8713715D0 (en) | 1987-06-11 | 1987-07-15 | Renishaw Plc | Workpiece inspection method |
JPH02145908A (ja) | 1988-11-28 | 1990-06-05 | Okuma Mach Works Ltd | デジタイジング装置におけるスタイラスのたわみ補正自動設定方法 |
GB8908854D0 (en) | 1989-04-19 | 1989-06-07 | Renishaw Plc | Method of and apparatus for scanning the surface of a workpiece |
US5189806A (en) * | 1988-12-19 | 1993-03-02 | Renishaw Plc | Method of and apparatus for scanning the surface of a workpiece |
GB9110818D0 (en) | 1991-05-21 | 1991-07-10 | Renishaw Metrology Ltd | A method of measuring workpieces using a surface contacting measuring probe |
DE4245012B4 (de) | 1992-04-14 | 2004-09-23 | Carl Zeiss | Verfahren zur Messung von Formelementen auf einem Koordinatenmeßgerät |
EP0588512B1 (en) | 1992-09-12 | 1997-04-09 | RENISHAW plc | Method of and apparatus for scanning the surface of a workpiece |
US5948972A (en) | 1994-12-22 | 1999-09-07 | Kla-Tencor Corporation | Dual stage instrument for scanning a specimen |
GB2302589B (en) | 1995-06-21 | 1998-11-11 | Zeiss Stiftung | Probe head for coordinate measuring machines with a clamping device for clamping the deflectable part of the probe head |
DE19730471C5 (de) | 1997-07-16 | 2009-02-19 | Hexagon Metrology Gmbh | Verfahren zum Scannen mit einem Koordinatenmeßgerät |
US6580964B2 (en) | 1998-10-24 | 2003-06-17 | Renishaw Plc | Calibrations of an analogue probe and error mapping |
JP4660779B2 (ja) | 2000-08-18 | 2011-03-30 | 学校法人 中央大学 | 移動装置の位置誤差評価方法およびその評価結果に基づく移動精度向上方法 |
JP3905771B2 (ja) | 2001-03-02 | 2007-04-18 | 株式会社ミツトヨ | 測定機の校正方法及び装置 |
GB0118492D0 (en) | 2001-07-30 | 2001-09-19 | Renishaw Plc | A machine tool control process and apparatus therfor |
GB0126232D0 (en) * | 2001-11-01 | 2002-01-02 | Renishaw Plc | Calibration of an analogue probe |
GB0210990D0 (en) | 2002-05-14 | 2002-06-19 | Rolls Royce Plc | Method of generating an inspection program and method of generating a visual display |
GB0215152D0 (en) | 2002-07-01 | 2002-08-07 | Renishaw Plc | Probe or stylus orientation |
GB0215478D0 (en) | 2002-07-04 | 2002-08-14 | Renishaw Plc | Method of scanning a calibrating system |
GB0220158D0 (en) | 2002-08-30 | 2002-10-09 | Renishaw Plc | Method of scanning |
CN1297796C (zh) | 2003-07-02 | 2007-01-31 | 西安交通大学 | 线阵光电传感器层析扫描三维测量方法及其装置 |
GB0322115D0 (en) | 2003-09-22 | 2003-10-22 | Renishaw Plc | Method of error compensation |
GB0322362D0 (en) | 2003-09-24 | 2003-10-22 | Renishaw Plc | Measuring methods for use on machine tools |
US7543393B2 (en) * | 2003-12-16 | 2009-06-09 | Renishaw Plc | Method of calibrating a scanning system |
GB0329098D0 (en) | 2003-12-16 | 2004-01-21 | Renishaw Plc | Method of calibrating a scanning system |
GB0400144D0 (en) | 2004-01-06 | 2004-02-11 | Renishaw Plc | Inspection system |
EP1555676A3 (en) | 2004-01-14 | 2006-09-13 | FEI Company | Method of operating a probe microscope |
CN1727871A (zh) | 2004-01-14 | 2006-02-01 | Fei公司 | 探针显微镜的操作方法 |
US20080021672A1 (en) | 2004-03-18 | 2008-01-24 | Renishaw Plc | Scanning an Object |
JP4782990B2 (ja) * | 2004-05-31 | 2011-09-28 | 株式会社ミツトヨ | 表面倣い測定装置、表面倣い測定方法、表面倣い測定プログラムおよび記録媒体 |
JP4510520B2 (ja) | 2004-06-01 | 2010-07-28 | キヤノン株式会社 | 形状測定方法および形状測定装置 |
GB0414649D0 (en) | 2004-06-30 | 2004-08-04 | Renishaw Plc | Generation of a CNC machine tool control program |
GB0417536D0 (en) | 2004-08-06 | 2004-09-08 | Renishaw Plc | The use of surface measurement probes |
GB0508273D0 (en) | 2005-04-25 | 2005-06-01 | Renishaw Plc | Method for scanning the surface of a workpiece |
GB0508395D0 (en) * | 2005-04-26 | 2005-06-01 | Renishaw Plc | Method for scanning the surface of a workpiece |
US20070050089A1 (en) | 2005-09-01 | 2007-03-01 | Yunquan Sun | Method for detecting the position and orientation of holes using robotic vision system |
GB0608235D0 (en) | 2006-04-26 | 2006-06-07 | Renishaw Plc | Differential calibration |
GB0611109D0 (en) | 2006-06-06 | 2006-07-19 | Renishaw Plc | A method for measuring workpieces |
GB0625260D0 (en) | 2006-12-19 | 2007-01-24 | Renishaw Plc | A method for measuring a workpiece using a machine tool |
GB0703423D0 (en) * | 2007-02-22 | 2007-04-04 | Renishaw Plc | Calibration method and apparatus |
EP1978328B1 (en) | 2007-04-03 | 2015-02-18 | Hexagon Metrology AB | Oscillating scanning probe with constant contact force |
GB0707921D0 (en) * | 2007-04-24 | 2007-05-30 | Renishaw Plc | Apparatus and method for surface measurement |
WO2008132483A1 (en) | 2007-04-30 | 2008-11-06 | Renishaw Plc | Analogue probe with temperature control and method of operation |
EP1988357B1 (en) | 2007-05-04 | 2018-10-17 | Hexagon Technology Center GmbH | Coordinate measuring method and device |
GB0713639D0 (en) | 2007-07-13 | 2007-08-22 | Renishaw Plc | Error correction |
GB0716218D0 (en) | 2007-08-20 | 2007-09-26 | Renishaw Plc | Measurement path generation |
JP5091702B2 (ja) | 2008-02-04 | 2012-12-05 | 株式会社ミツトヨ | プローブの真直度測定方法 |
US7752000B2 (en) | 2008-05-02 | 2010-07-06 | Qcept Technologies, Inc. | Calibration of non-vibrating contact potential difference measurements to detect surface variations that are perpendicular to the direction of sensor motion |
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WO2010049693A2 (en) | 2008-10-29 | 2010-05-06 | Renishaw Plc | Measurement method |
GB0900878D0 (en) | 2009-01-20 | 2009-03-04 | Renishaw Plc | Method for optimising a measurement cycle |
JP5281992B2 (ja) | 2009-08-28 | 2013-09-04 | 株式会社日立製作所 | 走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法 |
EP2290486A1 (en) | 2009-08-28 | 2011-03-02 | Renishaw plc | Machine tool calibration method |
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US9217997B2 (en) | 2010-09-13 | 2015-12-22 | Hexagon Technology Center Gmbh | Method and apparatus for controlling a surface scanning coordinate measuring machine |
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EP2764324B1 (en) * | 2011-10-06 | 2019-03-27 | Renishaw PLC | Method and apparatus for locating a feature of an object |
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