JP6282814B2 - タイヤ試験機 - Google Patents

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Description

本発明は、タイヤの試験を行うためのタイヤ試験機に関する。
自動車等に装着されるタイヤに、周方向で弾性率や寸法形状に不均一な部分があると、上記部分は高速回転時に振動を生じさせて走行性能を低下させる要因となる。このため、タイヤは、その性能試験を行うべく、加硫成形後にタイヤ試験機により周方向の均一性を検査されている。
タイヤの各種性能試験を行うタイヤ試験機として、例えば、特許文献1に示すように、タイヤをその両側のビードで挟む上リム及び下リムと、これら上下のリムを上下方向の軸心回りでそれぞれ回転自在に保持する上リム用上スピンドル及び下リム用下スピンドルと、これら上下のスピンドルの少なくとも一方を昇降させることによって上リムと下リムとの間でタイヤの着脱を可能にさせるスピンドル昇降装置とを有し、回転中の均一性(ユニフォミティ)を試験し測定するものがある。
ここで、タイヤ試験機で行われる各種性能試験は、タイヤの力系の特性計測試験、外形形状の計測試験などである。これらの特性測定試験においてはタイヤユニフォミティ試験機が用いられ、リムにチャックしたタイヤに、ある荷重を負荷して回転ドラムに押し付け、スピンドル軸とドラム軸との間の距離を固定した上で、タイヤを回転させて、タイヤに発生する変動力(フォースバリエーション、Force Variation)を測定する。そして、タイヤ径方向の変動力(ラジアルフォースバリエーション、以下、RFVと略する)、タイヤの幅方向の変動力(ラテラルフォースバリエーション、以下、LFVと略する)を主に測定する。
タイヤから発生する変動力は、主に、ゴムの堅さや肉厚の不均一性、真円精度不良により発生する。また、タイヤに作用させる荷重は、乗用車用のタイヤの場合には数百kgfとなる。タイヤの回転数は、低速ユニフォミティでは60rpmに規定されている。そして、タイヤを正転方向(CW:上スピンドルからタイヤ軸方向に見て右回り)、または、逆転方向(CCW:上スピンドルからタイヤ軸方向に見て左回り)させて、タイヤに発生する変動力を測定する。
これらのタイヤ試験機においては、予めデータベースにレシピが記憶されている。ここで、レシピとは、タイヤ試験機による試験の内容(試験の手順等)等が記述された設定表である。レシピには、パラメータを入力することができる。そして、タイヤ試験機では、レシピに定められた試験の内容に従ってタイヤの各種性能試験が行われる。また、各種性能試験の測定結果に応じて、再度試験を行う場合もある。
特開2002−267561号公報
しかしながら、試験の順番(例えば、CW試験の後にCCW試験を行うのかどうか)の判定、全ての試験の後に再度試験を行うかどうかの判定などは試験の測定結果によることが多く、その判定基準は、タイヤ試験機を使用する客先などによって変化することが多い。その一方、従来のタイヤ試験機では、レシピで決められた試験の順番に、レシピで決められた内容の試験を行うことしかできない。そのため、試験の測定結果に基づいて、レシピで決められた試験の順番を変更することができない。また、客先などによって変化することが多い判定基準のすべてを満たすように試験の順番とその内容を決めたレシピを準備することは困難であり、従来のタイヤ試験機には、汎用性に欠けてしまうという問題がある。
従って、上記に対応するため、今までは客先ごとにレシピの基本構成を変更したり、その客先用の特別なレシピを構成したりする必要があり、プログラムとそのメンテナンスに費用がかかっていた。また、客先がレシピの基本構成を変更する場合には、レシピのプログラム部分の改造を行う必要があった。
そこで、本発明が解決しようとする課題は、タイヤの試験を行うタイヤ試験機において、タイヤ試験機を使用する客先が、レシピで決められた試験の順番をより柔軟に変更できるようにして、汎用性を向上させるタイヤ試験機を提供するものである。
上記の課題を解決するために、本発明に係るタイヤ試験機は、タイヤの試験を行うタイヤ試験機での複数の試験の内容とその順番を記述したレシピを、その試験の内容である基本構成が変更されないように予め記憶するレシピ記憶手段と、前記レシピに記述された試験の内容に従って前記タイヤ試験機によるタイヤの試験を行うタイヤ試験手段と、前記レシピの基本構成を変更することなく、前記レシピに記述された各試験に対応して、前記レシピに記述された当該試験以降の順番を変更するかどうかの判定基準と試験の順番変更の内容とを記述したプログラムを、変更試験仕様として入力手段により入力されて記憶する変更試験仕様記憶手段と、前記タイヤ試験手段によりタイヤに対して前記レシピに記述された内容に従って行われた各試験が終わる毎に、前記変更試験仕様に記述された前記判定基準に基づいて、前記レシピに記述された試験の順番を変更するかどうかの判断を行い、試験の結果が前記判定基準を満たすと判断した場合に、前記変更試験仕様に記述された試験の順番変更の内容に従って、当該試験以降の順番を変更する変更判断手段と、備え、前記タイヤ試験手段は、前記変更判断手段で試験の結果が前記判定基準を満たすと判断しない場合には前記レシピに記述された順番で、前記変更判断手段で試験の結果が前記判定基準を満たすと判断した場合には前記変更試験仕様に記述された順番で、試験を行うことを特徴とする。
これによると、レシピに記述された順番で各試験が終わる毎に、変更試験仕様に記述された判断基準に基づいて、変更判断手段がレシピに記述された順番を変更するかどうかの判断を行う。変更判断手段により、試験の結果が前記判定基準を満たさず、レシピに記述された試験の順番を変更する必要が無いと判断された場合は、レシピに従った順番でタイヤの試験を行う。一方変更判断手段により、試験の結果が前記判定基準を満たし、レシピに記述された当該試験以降の順番を変更すると判断された場合は、客先仕様に応じた変更試験仕様に記述された試験の順番変更の内容に基づいて、当該試験以降の順番が変更される。従って、客先ごとにレシピの基本構成を変更したり、その客先用の特別なレシピを構成したりすることなく、変更試験仕様を設定するだけで、客先がいつでも要望する試験の結果に対応した試験の順番の変更を行うことができ、プログラムとそのメンテナンス時間が減ると共に、試験の順番をより柔軟に変更でき、汎用性が向上する。
ここで、本発明に係るタイヤ試験機は、前記変更試験仕様は、更に、前記レシピに記述された試験が全て行われた後に、試験の結果に基づいて、前記レシピに記述された試験を再度行うかどうかの判定基準と再試験の内容とを記述しており、前記変更判断手段は、更に、前記レシピに記述された試験が全て行われた後に、前記変更試験仕様に記述された前記判定基準に基づいて、前記レシピに記述された試験を再度行うかどうかの判断を行い、試験の結果が前記判定基準を満たすと判断した場合に、前記変更試験仕様に記述された再試験の内容に従って、再度試験を行うものであっても良い。
これによると、レシピに記述された試験が全て行われた後に、変更試験仕様に記述された判断基準に基づいて、変更判断手段がレシピに記述された試験を再度行うかどうかの判断を行う。変更判断手段により、試験の結果が前記判定基準を満たし、再試験を行うと判断された場合は、変更試験仕様に記述された再試験の内容に従って、タイヤ試験機によるタイヤの試験が再度行われる。従って、客先ごとにレシピの基本構成を変更したり、その客先用の特別なレシピを構成したりすることなく、変更試験仕様を設定するだけで、客先がいつでも要望する試験の結果に対応した再試験を行うことができ、プログラムとそのメンテナンス時間が減ると共に、試験の順番をより柔軟に変更でき、汎用性が向上する。
ここで、本発明に係るタイヤ試験機は、前記変更試験仕様は、ルアスクリプト言語にて記述されていても良い。これによると、一般的であるルアスクリプト言語にて変更試験仕様が記述されていることから、汎用性及び信頼性が向上する。
ここで、本発明に係るタイヤ試験機は、前記判定基準は、前記試験で使用されるパラメータを用いても良い。また、前記パラメータは、前記試験のステップ、前記試験の各計測結果数値、前記試験の各計測結果に応じたランク、前記試験後のタイヤランク、前記試験の各計測結果数値の波形次数、および、前記試験の計測時のタイヤ内圧状態、荷重状態、タイヤ外径、タイヤ幅の少なくともいずれか1つを含んでも良い。
本発明のタイヤ試験機は、タイヤの試験を行うタイヤ試験機において、タイヤ試験機を使用する客先が、レシピで決められた試験の順番をより柔軟に変更できるようにして、汎用性を向上させる。
本実施形態に係るタイヤ試験機を示す側面図である。 本実施形態に係るタイヤ試験機を示す平面図である。 本実施形態に係るタイヤ試験機における制御機構を示すブロック図である。 本実施形態に係るタイヤ試験機における表示手段の画面イメージを示す図である。 本実施形態に係るタイヤ試験機における表示手段の画面イメージの別の一例を示す図である。
以下、図面を参照しつつ、本発明に係るタイヤ試験機を実施するための形態について、具体的な一例に即して説明する。
尚、以下に説明するものは、例示したものにすぎず、本発明に係るタイヤ試験機の適用限界を示すものではない。すなわち、本発明に係るタイヤ試験機は、下記の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいてさまざまな変更が可能なものである。
(タイヤ試験機の構成)
まず、図1及び図2を参照して、本実施形態に係るタイヤ試験機100の構成について説明する。
図2に示すように、タイヤ試験機100は、入口コンベア35、センターコンベア28、および出口コンベア34を有する。各コンベア35,28,34は、試験対象となるタイヤ10を搬送方向Dに搬送するように配置されている。
図1に示すように、タイヤ試験機100は、下フレーム1、下フレーム1上に取り付けられた一対の鉛直フレーム3a,3b、鉛直フレーム3a,3bに取り付けられたスライドガイド部としてのリニアガイド40a,40b、リニアガイド40a,40b間に架け渡された可動ビーム4、下フレーム1に取り付けられた固定側チャックとしての下チャック2、および、可動ビーム4に取り付けられた移動側チャックとしての上チャック5を有する。
下フレーム1は、例えば鋼板の溶接はり合わせ構造や、H型、I型等の鋼材からなり、水平方向に延在している。
鉛直フレーム3a,3bは、例えば鋼板の溶接はり合わせ構造や、角型鋼管からなり、下フレーム1の上面にボルト・ナット等を介して固定されている。鉛直フレーム3a,3bは、それぞれ下フレーム1の両端部に固定されており、下フレーム1から鉛直方向上方に向けて延在させられている。また、鉛直フレーム3a,3bにおける互いに対向する側面には、それぞれリニアガイド40a,40bが取り付けられている。鉛直フレーム3a,3bには、それぞれボールねじ7a,7b(ねじ軸)が取り付けられている。ボールねじ7a,7bは、鉛直フレーム3a,3bそれぞれの内部空間内において、鉛直方向に延在させられている。
可動ビーム4は、例えば鋼板の溶接はり合わせ構造や、H型、I型等の鋼材からなり、その両端がボールねじ7a,7bそれぞれのナット部分と接続されている。可動ビーム4は、ボールねじ7a,7bおよびリニアガイド40a,40bを介して一対の鉛直フレーム3a,3bに支持されている。また、可動ビーム4は、リニアガイド40a,40bにガイドされつつボールねじ7a,7bの回転により上昇または下降する。可動ビーム4の鉛直方向位置は、いずれか一方の鉛直フレーム3a,3b(本実施形態では鉛直フレーム3b)に設けられた直線センサ(リニアセンサ)8により検出される。あるいはモータ41a,41bのエンコーダ信号を鉛直方向位置検出に使うことも可能である。
ボールねじ7a,7bの下端には、それぞれ、モータ41a,41bが直接連結されている。これらのモータ41a,41bによりボールねじ7a,7bは回転させられる。なお、モータ41a,41bは同期駆動される。
ボールねじ7a,7bの、モータ41a,41bと可動ビーム4との間の部分には、それぞれ、円盤に多数の穴14が穿孔された円形ディスク13a,13bが設けられている。円形ディスク13a,13bは、それぞれ、ボールねじ7a,7bの、モータ41a,41bと可動ビーム4との間の部分に固定されている。円形ディスク13a,13bの中心とボールねじ7a,7bの軸心とは一致させられている。穴14は、長孔であっても、真円の孔であってもよく、穴14の個数、各部寸法、配置(円形ディスク13a,13bの中心からの距離など)は、ボールねじ7a,7bのピッチなどに基づいて決定される。
円形ディスク13a,13bそれぞれの穴14にエアシリンダ44a,44bで駆動されるピンを挿入し、円形ディスク13a,13bそれぞれが固定され、これによってボールねじ7a,7bの回転を停止させる。これにより、円形ディスク13a,13b及びそれぞれの穴14と、エアシリンダ44a,44b及びエアシリンダ44a,44bで駆動されるピンは、可動ビーム停止機構として機能する。そして、下チャック2と上チャック5との間に挟持されたタイヤ10の内部空間に空気またはガス(窒素ガスなど)が供給された際に、可動ビーム4を上昇不能に固定する。これにより、上チャック5は可動ビーム4を介して下チャック2に対して上昇不能に固定される。
エアシリンダ44a,44bは、それぞれ、シリンダ本体と断面形状が円形のピンとから構成されている。エアシリンダ44a,44bを構成するそれぞれのピンは、シリンダ本体に給排される空気の圧により、シリンダ本体から進退するようになっている。なお、エアシリンダ44a,44bを構成するシリンダ本体、ならびにピンガイド構成は、それぞれ、鉛直フレーム3a,3bなどの静止物(固定物)に固定され、これによってピンは円形ディスク回転方向に移動不能とされ、円形ディスク13a,13bにピン挿入後、円形ディスクの回転を止めることが可能となっている。
なお、エアシリンダ44a,44bに換えて、油圧シリンダなどを用いてもよいし、さらには、作業員が手動で円形ディスク13a,13bそれぞれの穴14にピンを挿入してもよい。
上チャック5は、可動ビーム4の長手方向中央であってその下面から下方に延在するように可動ビーム4に取り付けられている。
上チャック5は、可動ビーム4に固定された外側ハウジング23と、外側ハウジング23内に配置された回転可能な上スピンドル24と、上スピンドル24の下端部の外周側に固定された上リム30と上スピンドル24の下端部の中央側に形成された鉛直下方に向かって拡がりつつ開口するメス状テーパ部27とを有する。
このメス状テーパ部27に、下チャック2の後述するプランジャ20の上端部に形成されるオス状テーパ21が挿入されて係合する。上スピンドル24の下端部のメス状テーパ部27、すなわち、上スピンドル24の下端部の内側面は、プランジャ20の上端部と同じ角度で鉛直方向に対して傾斜した傾斜面とされている。
上リム30は、上スピンドル24の下端部を囲むように配置されており、上スピンドル24とともに鉛直方向に沿った軸を中心として回転可能である。
また、上スピンドル24の内部には、鉛直方向に沿って、上端から下端まで空気が通る穴である空気供給通路25aが設けられている。空気供給通路25aは、可動ビーム4の上端に配置されたロータリージョイント26に接続されている。
下チャック2は、下フレーム1の長手方向中央であってその上面から上方に延在するように下フレーム1に取り付けられている。
下チャック2は、下フレーム1に固定された外側ハウジング18と、外側ハウジング18内に配置された回転可能な下スピンドル19と、下スピンドル19内に配置された伸縮可能なプランジャ20と、下スピンドル19の上端部に固定された下リム29とを有する。
下スピンドル19は、図2に示すスピンドルモータ31とタイミングベルトで接続されている。そして、スピンドルモータ31の駆動により、下スピンドル19は、鉛直方向に沿った軸を中心として回転する。ここで、下スピンドル19の回転数は、スピンドルモータ31により制御される。プランジャ20は、下スピンドル19とともに鉛直方向に沿った軸を中心として回転可能であるとともに、下スピンドル19が鉛直方向に伸縮不能であるのに対し、エアシリンダ22a,22bの駆動により鉛直方向に伸縮(下スピンドル19に対して相対移動する)可能である。
プランジャ20は、棒形状部材であり、その上端部は、先端に向かうにつれて狭くなるように外側面が鉛直方向に対して傾斜した傾斜面を有するテーパ形状の凸部(オス状テーパ)21が形成される。下リム29は、下スピンドル19の上端部を囲むように配置されており、下スピンドル19とともに鉛直方向に沿った軸を中心として回転可能である。
プランジャ20のガイド部材(図示せず)には、リニアセンサ(直線センサ。図3参照。)36が取り付けられている。ガイド部材はプランジャ20に固定されており、プランジャ20と一緒に動く。このリニアセンサ36は、上チャック5(上リム30)の下チャック2(下リム29)に対する位置(鉛直方向位置)を検出するためのセンサであり、デジタル式の直線センサとされている。デジタル式の直線センサは分解能が高いので、デジタル式の直線センサを用いることで、上チャック5(上リム30)の下チャック2(下リム29)に対する位置を精度良く検出することができる。このプランジャ20の延伸量によって上チャック5の下チャック2に対する位置決めが行われ、またその決められた位置にて円形ディスク13a,13bの穴にピンが挿入される。
なお、リニアセンサ36は、デジタル式である必要はなく、アナログ式のリニアセンサを用いてもよい。また、リニアセンサ36はプランジャ28自体に取り付けられているが、エアシリンダ22a,22bに内蔵されたデジタル式またはアナログ式のリニアセンサであってもよい。また、プランジャ20の両ストローク端を検出するために、両ストローク端にリミットスイッチを取り付けても良い。また、上チャック5の下チャック2に対する位置を検出する目的で鉛直フレーム3b)に設けられた直線センサ(リニアセンサ)8を用いても良い。また上チャック5の下チャック2に対する位置を検出する目的でモータ41a,41bのエンコーダ出力を用いても良い。
プランジャ20の上端部の内部には空気供給通路25bが設けられている。この空気供給通路25bは、上スピンドル24に設けられた空気供給通路25aとタイヤ10の内部空間とを連通させる通路である。
上チャック5および下チャック2は、下フレーム1の長手方向中央において、互いに鉛直方向に対向する位置に配置されている。すなわち、下チャック2の下スピンドル19、プランジャ20、および下リム29の回転軸は、上チャック5の上スピンドル24、および上リム30の回転軸と一致している。
更に、下スピンドル19には、後述するドラム50によるタイヤ10の押し付け荷重を検出するロードセル37(図3参照。)が配置されている。
(タイヤ試験機のドラムの構成)
次に、図2を参照し、タイヤ試験機100のドラム50の構成について説明する。
ドラム50は、扁平な円柱状でかつ中心に回転軸を備え、支持枠52に鉛直方向を中心に回転可能に軸支されている。ドラム50の回転軸の下端または上端には、ドラム50を回転させるための図示しないモータが連結されることも可能である。
支持枠52には、移動機構51が備えられる。移動機構51は、支持枠52を介してドラム50を搬送方向Dとほぼ直交する方向に沿って水平方向に移動させるものであり、ドラム50及び支持枠52を一体に水平方向、すなわち下チャック2の下スピンドル19と上チャック5の上スピンドル24との間に挟持されたタイヤ10に対して接近及び離反する方向に移動させることができる。移動機構は、送り部分をボールねじ、エアシリンダ、ガイド部分をころ入りのリニアレールウェイ、機械加工面どうしを合わせたレール等で構成することができる。
(タイヤ試験機の制御機構の構成)
次に、図3〜図5を参照し、タイヤ試験機100の制御機構60の構成について説明する。
図3に示すように、制御機構60は、PLC、モーションコントローラ、パーソナルコンピュータ等を含めたコントローラにより構成されて、レシピ記憶手段61、タイヤ試験手段62、スクリプト記憶手段(変更試験仕様記憶手段)63、変更判断手段64を備える。また、タイヤ試験手段62は、モータ(スピンドル)31、移動機構(ドラム)51、リニアセンサ36、ロードセル37に接続されており、レシピに設定された内容をタイヤ試験機100の各部へ指令し、試験を行う。また、入力手段66、表示手段67が、制御機構60に接続されている。
リニアセンサ36は、タイヤ試験手段62に対して、下スピンドル19と上スピンドル24とでタイヤ10を挟持したことを検知して検知信号を出力する。ロードセル37は、タイヤ試験手段62に対して、ドラム50とタイヤ10とが接触したことを検知して検知信号を出力する。
スピンドルモータ31は、タイヤ試験手段62の指令に基づいて下スピンドル19と上スピンドル24とで挟持したタイヤ10を回転させる。移動機構51は、タイヤ試験手段62の指令に基づいてドラム50を移動させる。
入力手段66は、例えば、外部に接続されたキーボードやマウスである。また、表示手段67は、例えば、外部に接続されたモニターである。
レシピ記憶手段61は、タイヤ試験機100による試験の内容と順番が記述された設定表であるレシピを、予め外部から入力されて記憶する手段である。レシピには、例えばユニフォミティ試験の場合は、タイヤサイズ情報、試験のためのパラメータ情報(タイヤ内圧、荷重、タイヤ搬送速度など)、試験を行う順番とその内容、などが記述される。ここで、レシピを選択する方法には、制御機構60に記憶されたレシピを手動で読みだして制御機構60にセットする方法、図示しない上位のコントローラからタイヤ10の種別情報が入力され、これに応じたレシピが、制御機構60に記憶された複数のレシピの群から選定される方法、図示しない上位のコントローラからタイヤ10の種別に応じたレシピが制御機構60にダウンロードされる方法などが選択可能である。尚、パラメータは予め記述され、可変しないように構成されていても良い。
タイヤ試験手段62は、レシピに記述された試験の内容と順番に従って、タイヤ試験機100においてタイヤ10の試験を行う手段である。
具体的には、タイヤ試験手段62は、下スピンドル19と上スピンドル24とでタイヤ10を挟持したことをリニアセンサ36が検知して検知信号が入力されると、下スピンドル19と上スピンドル24と挟持されたタイヤ10をレシピに記述された順番に、各試験の内容(荷重、計測されるタイヤ特性の内容、タイヤの回転方向(CW方向/CCW方向)、他)に基づいて、タイヤの試験を開始する。より具体的には、所定の方向(CWまたはCCW)に所定の回転数で回転させるようにスピンドルモータ31を駆動させる。そして、タイヤ試験手段62は、所定の回転数で回転するタイヤ10に接触したことをロードセル37が検知した検知信号が入力されるまで、移動機構51でドラム50を移動させる。そして、タイヤ試験手段62は、ドラム50とタイヤ10とが接触したことをロードセル37が検知した検知信号が入力されると、下スピンドル19と上スピンドル24とで挟持されたタイヤ10の回転を規定回転数までレシピに基づいた所定の加速度で増速させるようにスピンドルモータ31を駆動させると共に、ロードセル37が検知するドラム50のタイヤ10に対する荷重がレシピに基づいた試験荷重になるまで、移動機構51でドラム50を移動させる。そして、ロードセル37を用いて、RFV、LFVを測定する。測定結果は、図示しない記憶手段に記憶される。
スクリプト記憶手段63は、客先により入力手段66を介して、レシピに記述された各試験に対応して、レシピに記述された当該試験以降の順番を変更するかどうかの判定基準と試験の順番変更の内容とが記述されたプログラムであるスクリプト(変更試験仕様)を記憶する手段である。即ち、スクリプトには、レシピに記述された各試験に対応して、タイヤ試験手段62が行ったタイヤ試験の測定結果に応じた判定基準に基づいて、その試験以降のテストの順番を変更する仕様が記述される。更に、スクリプトには、レシピに記述された試験が全て行われた後に、試験の結果に基づいて、レシピに記述された試験を再度行うかどうかの判定基準と再試験の内容とが記述されても良い。ここで、スクリプトは、ルアスクリプト言語を用いて記述されることが好ましい。スクリプトは、例えば、タイヤ試験手段62でレシピに従って行われた試験での測定結果が所定の結果以上であるどうかを判定基準とし、判定基準を満たす場合、この試験以降の順番の試験をスキップし、終了する旨の記載や、タイヤ試験手段62でレシピに従って全ての試験が行われた後に、全ての試験での測定結果が所定の結果以下であるかどうかを判定基準とし、判定基準を満たす場合、再度、同じレシピに従った試験を最初から実行する旨の記載等がなされる。
変更判断手段64は、レシピに記述された順番で行われる各試験が終わるごとに、タイヤ試験手段62による測定結果と、スクリプトに記述された判定基準に基づいて、レシピに記憶された試験の順番を変更するかどうかの判断を行い、試験の結果がスクリプトに記述された判定基準を満たすと判断した場合に、スクリプトに記述された試験の順番変更の内容に従って、当該試験以降の順番を変更する手段である。また、スクリプトに、レシピに記述された試験が全て行われた後に、試験の結果に基づいて、レシピに記述された試験を再度行うかどうかの判定基準と再試験の内容とが記述されている場合、変更判断手段64は、このレシピに記述された試験が全ての行われた後に、タイヤ試験機62による各試験の測定結果と、スクリプトに記述された判定基準に基づいて、再度同じ試験を再度実行するかどうかの判断を行い、試験の結果がスクリプトに記述された判定基準を満たすと判断した場合に、スクリプトに記述された再試験の内容に従って、再度試験を行う。更に、変更判断手段64は、レシピに記述された全ての試験が終わったあと、表示手段67に測定結果を表示して、客先により入力手段66を介して、複数のスクリプトからいずれのスクリプトを選択するかの判断を行ってもよい。
具体的には、図4の画面イメージに示すように、表示手段67には、レシピのうち、試験を行う順番(テスト番号の欄)とその内容(方向、スピンドル速度、タイヤ内圧、荷重、ウォームアップ時間、ウォームアップ回転数の欄)が示されている。ここで、各試験の一番右側の順番変更スクリプトの欄に、スクリプトがそのファイル名で記載されている。例えば、テスト番号1の試験のスクリプトには、テスト番号1の試験でRFVの測定結果がランクA〜Eの中のAであった場合、この試験の次の順番のテスト番号2の試験をスキップし、終了する旨の記述がなされている。
また、図4の画面イメージに示すように、表示手段67には、レシピの一番下段の再試験スクリプトの欄に、このレシピに記述された全ての試験が終わった後、各試験の測定結果に基づいて再度同じテストを最初から実行するかを記載したスクリプトがファイル名で記載されている。このスクリプトは、例えば、総合ランクの測定結果がランクA〜Eの中のEであった場合、再度このレシピ記載の試験を一番最初からやりなおす旨の記述がなされている。
尚、図4に示す例において、各試験の右側の順番変更スクリプトの欄、または、レシピの一番下段の再試験スクリプトの欄に、ファイル名が記載されていない場合は、変更判断手段64による判断は行われず、それぞれ次の試験を実施し、または、試験の終了を行う。
このように、本実施形態のタイヤ試験機100によると、レシピに従って行われた各試験の試験結果及び変更試験仕様に記述された判断基準に基づいて、変更判断手段64により、試験の順番を変更する必要が無いと判断された場合は、レシピに従った順番でタイヤ10の試験を行う。一方、各試験の試験結果及び変更試験仕様に記述された判断基準に基づいて、変更判断手段64により、当該試験以降の順番を変更すると判断された場合は、客先仕様に応じた変更試験仕様に記述された試験の順番変更の内容に基づいて、当該試験以降の順番を変更される。従って、客先ごとにレシピの基本構成を変更したり、その客先用の特別なレシピを構成したりすることなく、変更試験仕様を設定するだけで、客先がいつでも要望する試験の結果に対応した試験の順番の変更を行うことができ、プログラムとそのメンテナンス時間が減ると共に、試験の順番をより柔軟に変更でき、汎用性が向上する。
また、レシピで記載された一連の試験の結果及び変更試験仕様に記述された判断基準に基づいて、再試験を行うと判断された場合は、変更試験仕様に記述された再試験の内容に従って、タイヤ試験機100によるタイヤ10の試験が再度行われる。従って、客先ごとにレシピの基本構成を変更したり、その客先用の特別なレシピを構成したりすることなく、変更試験仕様を設定するだけで、客先がいつでも要望する試験の結果に対応した再試験を行うことができ、プログラムとそのメンテナンス時間が減ると共に、試験の順番をより柔軟に変更でき、汎用性が向上する。
また、スクリプトが、一般的であるルアスクリプト言語で記述されることから、汎用性及び信頼性が向上する。
以上、本発明の好適な実施の形態について説明したが、本発明は、前記実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した限りにおいてさまざまな変更が可能なものである。
上述した本実施形態に係るタイヤ試験機100において、スクリプトに記述された判定基準として、例えば、試験のステップ、試験の各計測結果数値、試験の各計測結果に応じたランク、試験後のタイヤランク、試験の各計測結果数値の波形次数、計測時のタイヤ内圧状態、荷重状態、タイヤ外径、タイヤ幅を含むようにしても良い。その他、タイヤ試験機100で使用される種々のパラメータを判断に使うことが可能である。
上述した本実施形態に係るタイヤ試験機100では、図4の画面イメージに示すように、表示手段67において、レシピの一番下段の再試験スクリプトの欄に、このレシピに記述された全ての試験が終わった後、各試験の測定結果に基づいて再度同じ試験を最初から実行するかを記載したスクリプトがファイル名で記載されているが、それに限らない。例えば、このレシピに記述された全ての試験が終わった後に、図5に示すようなスクリプトのファイルを選択する画面を表示させ、図5の画面に基づいて、再試験を行うスクリプトのファイルを選択するように構成しても良い。
10 タイヤ
61 レシピ記憶手段
62 タイヤ試験手段
63 変更試験仕様記憶手段
64 変更判断手段
66 入力手段
100 タイヤ試験機

Claims (5)

  1. タイヤの試験を行うタイヤ試験機での複数の試験の内容とその順番を記述したレシピを、その試験の内容である基本構成が変更されないように予め記憶するレシピ記憶手段と、
    前記レシピに記述された試験の内容に従って前記タイヤ試験機によるタイヤの試験を行うタイヤ試験手段と、
    前記レシピの基本構成を変更することなく、前記レシピに記述された各試験に対応して、前記レシピに記述された当該試験以降の順番を変更するかどうかの判定基準と試験の順番変更の内容とを記述したプログラムを、変更試験仕様として入力手段により入力されて記憶する変更試験仕様記憶手段と、
    前記タイヤ試験手段によりタイヤに対して前記レシピに記述された内容に従って行われた各試験が終わる毎に、試験の結果及び前記変更試験仕様に記述された前記判定基準に基づいて、前記レシピに記述された試験の順番を変更するかどうかの判断を行い、試験の結果が前記判定基準を満たすと判断した場合に、前記変更試験仕様に記述された試験の順番変更の内容に従って、当該試験以降の順番を変更する変更判断手段と、備え
    前記タイヤ試験手段は、前記変更判断手段で試験の結果が前記判定基準を満たすと判断しない場合には前記レシピに記述された順番で、前記変更判断手段で試験の結果が前記判定基準を満たすと判断した場合には前記変更試験仕様に記述された順番で、試験を行うことを特徴とするタイヤ試験機。
  2. 前記変更試験仕様は、更に、前記レシピに記述された試験が全て行われた後に、試験の結果に基づいて、前記レシピに記述された試験を再度行うかどうかの判定基準と再試験の内容とを記述しており、
    前記変更判断手段は、更に、前記レシピに記述された試験が全て行われた後に、前記変更試験仕様に記述された前記判定基準に基づいて、前記レシピに記述された試験を再度行うかどうかの判断を行い、試験の結果が前記判定基準を満たすと判断した場合に、前記変更試験仕様に記述された再試験の内容に従って、再度試験を行うことを特徴とする請求項1に記載のタイヤ試験機。
  3. 前記変更試験仕様は、ルアスクリプト言語にて記述されていることを特徴とする請求項1または2に記載のタイヤ試験機。
  4. 前記判定基準は、前記試験で使用されるパラメータを用いることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載のタイヤ試験機。
  5. 前記パラメータは、前記試験のステップ、前記試験の各計測結果数値、前記試験の各計測結果に応じたランク、前記試験後のタイヤランク、前記試験の各計測結果数値の波形次数、および、前記試験の計測時のタイヤ内圧状態、荷重状態、タイヤ外径、タイヤ幅の少なくともいずれか1つを含むことを特徴とする請求項4に記載のタイヤ試験機。
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