JP6278850B2 - 導波管接続構造およびその製造方法 - Google Patents

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本発明は、導波管接続構造およびその製造方法に関し、特に、高周波の電磁波の伝送用の導波管接続構造およびその製造方法に関するものである。
波長がミリメータで表されるような高周波の電磁波(ミリ波)を低損失で伝送するために、通常は導波管が用いられる。導波管は一般的に断面が角部に丸みを帯びた矩形であるパイプのような形状をした構造体であり、この構造体はたとえば誘電体の基板内の中空部分として形成される。導波管を製品に採用した場合、製品を組み立てる工程においてしばしば複数の導波管同士を接続する必要が生じる。
このとき、仮に導波管同士の接続部に位置ずれまたは過大な隙間が存在すれば、接続された導波管にて伝送される電磁波が接続部にて反射したり、通過損失または漏洩を生じ、電磁波の伝送損失が発生して、当該導波管が形成された電気製品全体の性能が低下する場合がある。このため、複数の導波管の接続部において生じる電磁波信号の損失を最小限に抑えて、電磁波を効率よく伝送する手段が従来から検討されている。
たとえば以下の特許文献1においては、第1の誘電体基板と第2の誘電体基板とをはんだで接合させることにより、第1の誘電体基板に形成された導波管と第2の誘電体基板に形成された導波管とを、電磁波が低損失で伝送可能となるよう接続させる技術が開示されている。
また以下の特許文献2においては、2つの誘電体基板のそれぞれの導波管の近くに導電性樹脂などの接着剤を塗布し、接着剤を2つの誘電体基板で挟み込むようにして、2つの誘電体基板の導波管同士を接続させる技術が開示されている。
さらに以下の特許文献3においては、導波管の周囲に電気的に電磁波の漏れを遮断することが可能なチョーク溝構造が設けられた導波管接続構造が開示されている。
特開2005−45836号公報 特開2004−254068号公報 特開2003−188601号公報
特許文献1のはんだによる接合技術においては、はんだの溶融時にはんだ自体または誘電体基板が動きやすいため、正確な位置決めが困難になるという問題がある。
特許文献2の接着剤による誘電体基板の接続についても、2つの誘電体基板を接着固定する際に、2つの誘電体基板の間の位置ずれまたは傾きが原因の隙間が生じる可能性がある。
特許文献3のチョーク溝構造を用いた場合においても、上記の各特許文献の開示技術と同様に、位置ずれまたは過大な隙間により、複数接続された導波管を伝送する電磁波の損失が増加する可能性がある。
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、導波管が形成された複数の誘電体基板を接続する際に位置ずれまたは過大な隙間が生じることが抑制された導波管接続構造およびその製造方法を提供することである。
本発明の導波管接続構造は、中空構造の第1の導波管が形成された、第1の誘電層を含む第1の基板と、中空構造の第2の導波管が形成された、第2の誘電層を含む第2の基板とを備えている。第1の基板の一方の第1の主表面と第2の基板の一方の第2の主表面とが接合材により接続されることにより第1および第2の導波管が接続される。一方の第1の主表面と一方の第2の主表面とのいずれか一方には嵌合部を構成する複数の凸部が、いずれか他方には嵌合部を構成する複数の凹部が、それぞれ形成されている。凹部の内部の少なくとも一部には空隙が存在する。
本発明の導波管接続構造の製造方法は、以下の工程を備えている。まず第1の基板および第2の基板が準備される。第1の基板を貫通する第1の導波管および第2の基板を貫通する第2の導波管が形成される。第1の基板の一方の第1の主表面と第2の基板の一方の第2の主表面とのいずれか一方に嵌合部を構成する複数の凸部が、いずれか他方には嵌合部を構成する複数の凹部が、それぞれ形成される。一方の第1の主表面と一方の第2の主表面とが接合材により接続されることにより第1および第2の導波管が接続される。凸部と凹部とは互いに嵌合され、凹部の内部の少なくとも一部には空隙が形成される。
本発明によれば、第1および第2の基板に形成された複数の嵌合部の凸部および凹部が嵌合されることにより、第1および第2の基板が位置決めされた状態で、第1および第2の基板が互いに接続される。このため、第1の導波管と第2の導波管との接続部における位置ずれまたは過大な隙間の発生が抑制され、導波管での電磁波の伝送特性が向上する。
実施の形態1の導波管接続構造を構成する各部材を説明するための概略斜視図である。 図3中のII−II線に沿う、実施の形態1の導波管接続構造の第1例の概略断面図である。 実施の形態1の導波管接続構造の概略平面図である。 図3の導波管が複数並ぶように配置された、実施の形態1の導波管接続構造の概略平面図である。 図2に示す凸部と凹部とが位置ずれを起こした態様を示す概略断面図である。 図2に示す凸部と凹部とが位置ずれを起こした態様を示す概略平面図である。 実施の形態1の第1の誘電体基板の製造方法の第1工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第1の誘電体基板の製造方法の第2工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第1の誘電体基板の製造方法の第3工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第1の誘電体基板の製造方法の第4工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第1の誘電体基板の製造方法の第5工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第1の誘電体基板の製造方法の第6工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第2の誘電体基板の製造方法の第1工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第2の誘電体基板の製造方法の第2工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第2の誘電体基板の製造方法の第3工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第2の誘電体基板の製造方法の第4工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第2の誘電体基板の製造方法の第5工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の第2の誘電体基板の製造方法の第6工程を示す概略断面図である。 実施の形態1の製造方法において、図12の第1の誘電体基板と図18の第2の誘電体基板とを接続させる工程を示す概略断面図である。 実施の形態1における第1の導波管に対する第2の導波管の、X方向およびY方向の位置ずれの量を示すグラフである。 実施の形態1の導波管接続構造の第2例の概略断面図である。 実施の形態2の導波管接続構造の概略断面図である。 実施の形態2の第2の誘電体基板の製造方法の第1工程を示す概略断面図である。 実施の形態2の第2の誘電体基板の製造方法の第2工程を示す概略断面図である。 図26中のXXV−XXV線に沿う、実施の形態3の導波管接続構造の第1例の概略断面図である。 実施の形態3の導波管接続構造の第1例の概略平面図である。 図26の導波管が複数並ぶように配置された、実施の形態3の導波管接続構造の第1例の概略平面図である。 実施の形態3の導波管接続構造の第2例の概略平面図である。 図28の導波管が複数並ぶように配置された、実施の形態3の導波管接続構造の第2例の概略平面図である。 実施の形態3の導波管接続構造の第3例の概略断面図である。 実施の形態4の導波管接続構造の第1例の概略断面図である。 実施の形態4の導波管接続構造の第2例の概略断面図である。 実施の形態4の導波管接続構造の第3例の概略断面図である。 図35中のXXXIV−XXXIV線に沿う、実施の形態5の導波管接続構造の概略断面図である。 実施の形態5の導波管接続構造の概略平面図である。 図35の導波管が複数並ぶように配置された、実施の形態5の導波管接続構造の概略平面図である。 図38中のXXXVII−XXXVII線に沿う、実施の形態6の導波管接続構造の概略断面図である。 実施の形態6の導波管接続構造の概略平面図である。 図38の導波管が複数並ぶように配置された、実施の形態6の導波管接続構造の概略平面図である。 図41中のXL−XL線に沿う、実施の形態7の導波管接続構造の概略断面図である。 実施の形態7の導波管接続構造の概略平面図である。 図41の導波管が複数並ぶように配置された、実施の形態7の導波管接続構造の概略平面図である。
以下、本発明の実施の形態について図に基づいて説明する。
(実施の形態1)
まず本実施の形態の導波管接続構造の構成について図1〜図3を用いて説明する。なお、説明の便宜のため、X方向、Y方向、Z方向が導入されている。図1において、X方向は導波管接続構造100の全体を平面視したときの左右方向であって、Y方向は導波管接続構造100の全体を平面視したときの上下方向である。またZ方向はX方向およびY方向の双方に直交する方向であって、誘電体基板1および誘電体基板2の表面に直交し、主表面1Aと主表面2Aとが互いに向かい合う上下方向である。なお図2のIII−III線が折れ曲がっていることからわかるように、図3の左右方向は、図2のX方向とY方向との双方を示すため、図3中にはX方向などを示していない。
また本実施の形態の導波管接続構造100は、多方面の製品に適用可能であるが、たとえばミリ波レーダの一方式であるいわゆるFM/CW(Frequency Modulated Continuous Wave)方式を採用した小型レーダなどに多用される。このため以下においてはすべてFM/CWレーダに適用した場合を例にとって説明される。なお以下の実施の形態に記載の導波管接続構造100が用いられるFM/CWレーダの使用周波数は76.5GHzである。
図1を参照して、本実施の形態の導波管接続構造100は、第1の基板としての誘電体基板1と、第2の基板としての誘電体基板2とを有している。誘電体基板1は高周波の送受信回路またはその制御回路などが搭載される樹脂製のプリント基板である。誘電体基板2は平面アンテナとして機能する低損失の樹脂基板(高周波用低損失プリント基板)である。このため本来誘電体基板1には高周波の送受信回路およびその制御回路などが搭載されるが、ここではその図示が省略されている。また本来誘電体基板2には導波管変換部といわれるアンテナ面上の構造およびアンテナのパターン配線についての図示が省略されている。
誘電体基板1は1対の主表面のうち一方の第1の主表面としての主表面1Aと、Z方向に関して主表面1Aに対向するように配置された他方の第1の主表面としての主表面1Bとを有している。同様に誘電体基板2は1対の主表面のうち一方の第2の主表面としての主表面2Aと、Z方向に関して主表面2Aに対向するように配置された他方の第2の主表面としての主表面2Bとを有している。図1においては誘電体基板1のZ方向上側の主表面が主表面1Aになっており、誘電体基板1のZ方向下側の主表面が主表面1Bになっている。また図1においては誘電体基板2のZ方向下側の主表面が主表面2Aになっており、誘電体基板2のZ方向上側の主表面が主表面2Bになっている。
誘電体基板1には第1の導波管としての導波管3が、誘電体基板2には第2の導波管としての導波管4が、それぞれ形成されている。導波管3は主表面1Aから主表面1Bに達するように形成された中空構造であり、導波管4は主表面2Aから主表面2Bに達するように形成された中空構造である。
誘電体基板1の主表面1Aには複数の凸部5が互いに間隔をあけて形成されている。また誘電体基板2の主表面2Aには複数の凹部6が互いに間隔をあけて形成されている。複数の凸部5と複数の凹部6とは互いにZ方向に関して対向するよう嵌合可能な構成となっており、これらにより複数の嵌合部7が構成されている。
図2を参照して、誘電体基板1は第1の誘電層としての誘電層11と、第1の導電層としての導電層12とを有している。誘電層11は誘電体基板1全体の中心をなす、誘電体材料により形成された領域である。導電層12はたとえば誘電層11の表面を覆うように形成された、たとえば銅により形成された薄膜である。導電層12は誘電体基板1全体の最表面部に配置されることにより、主表面1A,1Bを形成している。
同様に誘電体基板2は第2の誘電層としての誘電層13と、第2の導電層としての導電層14とを有している。誘電層13は誘電体基板2全体の中心をなす、誘電体材料により形成された領域である。導電層14はたとえば誘電層13の表面を覆うように形成された、たとえば銅により形成された薄膜である。導電層14は誘電体基板2全体の最表面部に配置されることにより、主表面2A,2Bを形成している。以上のようにここでは導電層12,14を含めて誘電体基板1,2と定義する。
導電層12にはニッケルめっき膜、銅めっき膜または金めっき膜が含まれてもよいが、図2においてはニッケルめっき膜、銅めっき膜または金めっき膜の図示が省略されている。また平面アンテナとして用いられる誘電体基板2の特性上の理由により、導電層14には金めっき膜等は含まれず、銅のみが含まれる。
凸部5は、主表面1Aを含む導電層12が、凸部5の周囲における導電層12に対して図2の上側に突出するように形成されている。また凹部6は、導電層14に形成され、凹部6の側部および底部は導電層14が露出している。つまり凸部5は導電層12により形成された突起部であり、凹部6は導電層14により囲まれた(導電層14により形成された)導電層14の欠落した部分である。
本実施の形態においては、凸部5および凹部6の、主表面1Aに沿う方向に関する寸法はそれぞれの全体において変化せずほぼ一定である。すなわち凸部5および凹部6は筒状の形状を有している。
誘電体基板1と誘電体基板2とは、嵌合部7としての凸部5と凹部6とが互いに嵌合することにより一体となり、かつ誘電体基板1と誘電体基板2とは接合材としての導電性接合材15により接続されている。ここでは誘電体基板1の主表面1Aと誘電体基板2の主表面2Aとが導電性接合材15により互いに接続されている。導電性接合材15はシート状の導電性の接着剤がその接続時に硬化されたものであり、半硬化状態の樹脂製接着シートである。より具体的には、導電性接合材15はたとえば銀系の充填剤を含有した熱硬化性エポキシ樹脂をシート状に伸ばし、効果途中で反応停止させ、それをプレス機で打ち抜き加工することにより所望の形状に仕上げられたものである。あるいは導電性接合材15としてはこのような熱硬化プロセスを伴わない導電性の粘着材が用いられてもよい。この打ち抜き加工においては導電性接合材15には、以下に述べる開口が併せて形成される。
導電性接合材15は、誘電体基板1と誘電体基板2との間に挟まるように配置されるが、少なくとも導波管3,4と平面的に重なる位置ならびに嵌合部7において導電性接合材15が配置されない開口を有している。すなわち導波管3と導波管4とが接続される位置には導電性接合材15は配置されず、導波管3と導波管4との中空部分は、導波管3と導波管4との間隙の中空部分と接続される。これにより導波管3と導波管4とは一体の中空部分として接続形成される。また嵌合部7のたとえば凹部6内には導電性接合材15が配置されず、凹部6の内部の少なくとも一部には中空の空隙8が存在している。空隙8は、嵌合部7における凹部6と凸部5との寸法の差により生じる領域である。つまり空隙8は導電層および誘電層のいずれも配置されていない、たとえば空気などが存在する中空の領域である。
導電性接合材15により導電層12と導電層14とが互いに電気的に接続されれば、導電層12と導電層14とが同電位になる。さらに本実施の形態においては、凸部5がその周囲の主表面1Aに対してZ方向に突出する寸法d1と、凹部6がその周囲の主表面2Aに対してZ方向に凹む寸法d2と、主表面1Aと主表面2AとのギャップGとの間に、d1<d2+Gの関係が成り立っている。これにより、凸部5と凹部6とを嵌合する際に、導電性接合材15のつぶれしろを確保することができる。
さらに導電性接合材15の導波管3,4に最も近い開口としての接合材外周端16は、平面視における導波管3,4の外周端に対してさらに寸法αだけ外側に配置された状態が維持されるように、導電層12と導電層14とが接続されることが好ましい。このように寸法αを設けることにより、導電性接合材15が導波管3,4内に侵入することによる導波管3,4内の電磁波の伝送ロスの発生を抑制することができる。
具体的な寸法αの値は、導波管接続構造100の電気設計により決定される。たとえば76.5GHzで使用されるFM/CWレーダの導波管3,4の性能に影響を与えないためには、後述するようにαの値は100μm以下であることが好ましい。
なお誘電体基板1の主表面1B側には導電層12が除去され誘電層11が露出する領域Tが存在する。この主表面1B側は電子部品などが実装される面であり、導電層12は誘電層11が露出された領域Tにおいて除去されることによりプリント基板のパターン配線として形成されている。電子部品(高周波の送受信回路およびその制御回路など)の細かい配置については上記のように図2においては省略されている。
図3を参照して、導波管3,4は、たとえば平面視におけるX方向の寸法がA、平面視におけるY方向の寸法がBであり、各角部が丸みを帯びた矩形状に近い平面形状を有しているが、このような態様に限られない。また凸部5および凹部6は平面視において円形状を有しているが、このような態様に限られず、たとえば凸部5および凹部6は平面視において正方形状であってもよい。凹部6に凸部5が容易に嵌合されるようにするために、凹部6は凸部5よりも平面視におけるサイズが大きくなっている。
図1〜図3においては説明を容易にするために誘電体基板1,2のそれぞれの平面視における中央部に1つの導波管3,4のみが形成されているが、このような態様に限られない。また図1〜図3においては嵌合部7は導波管3,4の平面視における角部の近くに合計4つ形成されているが、このような態様に限らず、複数(2つ以上)の任意の数とすることができる。
たとえば図4を参照して、誘電体基板1,2のそれぞれに平面視において互いに間隔をあけて並ぶように複数(たとえば2つ)の導波管3,4が形成され、これらのそれぞれの周囲に複数の嵌合部7が互いに間隔をあけて形成されていてもよい。導波管3,4のそれぞれは高周波の電磁波の送受信回路の一部として機能するため、図4の場合は、たとえば電磁波の送信用のチャンネルと受信用のチャンネルとが1つずつ、合計2つのチャンネルが形成されている。
なお、導波管3,4の平面視における角部の近くに嵌合部7を形成することにより、導波管3,4と嵌合部7との最短距離である図の斜め方向の間隔を広くすることができる。このようにすれば、嵌合部7および導波管3,4と平面視において重なる位置において導電性接合材15が形成されない開口の加工が容易になる。
基本的に誘電体基板1と誘電体基板2とは、平面視において位置ずれすることなく重なった状態で導電性接合材15により互いに接続されることが好ましい。導波管3と導波管4とは平面視において同じ位置に同じ大きさで形成されている。このため、仮に誘電体基板1と誘電体基板2とがまったく位置ずれしなければ、平面視において同じ平面形状で重なるように導波管3と導波管4とが接続される。ところがたとえば図5および図6を参照して、たとえば誘電体基板2が誘電体基板1に対し、本来の位置に対して図6のY方向上側(図5の左側)にPだけ位置がずれた場合を考える。なお図5と図6とは同じ現象としての(同じ方向の)位置ずれを示している。
図5においては凸部5の右側の外周端が凹部6の右側の外周端と接触している。凸部5の位置に対する凹部6の形成される位置のずれが発生する可能性があるが、このずれを考慮しなければ、嵌合部7において凸部5と凹部6とが嵌合していることにより、誘電体基板1と誘電体基板2とは、少なくとも図5の左右方向(図6のY方向)に関してはPより大きな位置ずれが発生することはない。
上記の位置ずれPの電気的な要求値を求めるため、導波管接合構造100を本実施の形態の検討対象としている76.5GHzのFM/CWレーダに適用した場合について、3次元の解析モデルを作成し、高周波解析で多用されている3次元電磁界シミュレータ(HFSS)により解析がなされた。その結果、位置ずれPは100μm以下に抑えられることが好ましく、Pの値は小さいほどより好ましいことがわかった。なお図5、図6においてはY方向のみの位置ずれPが生じているが、実際にはX方向およびY方向の双方において位置ずれPが発生する可能性がある。このため凹部6は凸部5に対してX方向およびY方向の寸法の差(凸部5との間に空隙8などが形成される部分の寸法)が100μm以下であることが好ましい。
また上記と同様の解析により、上記のαおよびG(図2参照)の値も100μm以下とすることが好ましいことがわかった。
次に図7〜図19を用いて、本実施の形態の誘電体基板1,2の製造方法の概略について説明する。ただし図7〜図19は主に凸部5および凹部6の製造工程を説明する簡略図であり、これらの図に示す態様は、図1〜図3の導波管接続構造100の完成品の態様と必ずしも一致しない。
まず図7〜図12を用いて、誘電体基板1の製造方法の概略について説明する。図7を参照して、まず誘電体基板1(第1の基板)として、樹脂製の誘電層11(第1の誘電層)の一方およびその反対側である他方の双方の主表面上に、たとえば銅の薄膜である厚みがたとえば18μmの導電層12が形成された銅張積層板が準備される。ここではこの後誘電体基板1が完成するまで一貫して誘電体基板1と呼ぶこととする。
銅張積層板は、汎用のプリント基板材料として市販されているものが用いられる。この誘電層11は、たとえば図1のX方向の寸法が100mm、図1のY方向の寸法が80mm、図1のZ方向の寸法が1.4mmである。導電層12は図7の段階ではZ方向に関する最大厚みが18μmであるが、後述するスルーホール内のめっき処理により、導電層12の全体の厚みが加算される。
図8を参照して、図7の工程において準備された誘電体基板1の、互いに対向する1対の第1の主表面1A,1Bのうち一方の主表面1Aから、他方の主表面1Bに達するように、誘電体基板1を貫通する中空構造の第1の導波管3が形成される。導波管3は、ドリルまたはルータを用いて、誘電体基板1を厚み方向に貫通するように機械的に開口部を設けることによりスルーホールとして形成される。
なおここでは説明を簡単にするため、一貫して各図の最上部の主となる表面を主表面1A、各図の最下部の主となる表面を主表面1Bと示すこととする。このため以降の各工程間で主表面1A,1Bは異なる表面を表している。
図9を参照して、図8で準備された誘電体基板1の導波管3となるスルーホールの側壁面および、スルーホールの端部を含む図8の主表面1A,1B上の全面にめっき膜12pが形成される。スルーホールのめっき膜はたとえば銅の薄膜であり、その厚みはたとえば30μm程度である。この結果、図8の主表面1A,1B上の全面に導電層の厚みが加算される。加算された後の導電層12とめっき膜12pとのZ方向に関する厚みの和の最大値はたとえば50μmになる。
図10を参照して、次にたとえば一般公知の感光性ドライフィルムレジスト20などが、導電層12(めっき膜12p)の一方の主表面1A(誘電層11と対向する主表面と反対側の、たとえば図9の上側の主表面)上に貼付される。
図11を参照して、通常の写真製版技術すなわち露光および現像により、感光性ドライフィルムレジスト20がたとえば図11の左右方向に関する中央の導波管3よりも左側の領域の一部において残存するようにパターニングされる。次にパターニングされたフォトレジスト20をマスクとして通常の写真製版技術およびエッチングがなされることにより、(導電層12および)めっき膜12pが露出している部分のみエッチング液が触れることで、当該部分が所望の深さまで除去され浅くなる。このときは(導電層12および)めっき膜12pが露出している部分の(導電層12および)めっき膜12pがZ方向に関して部分的に除去される、いわゆるハーフエッチングがなされる。このため(導電層12および)めっき膜12pが部分的に除去された領域においても除去後に薄くなった(導電層12および)めっき膜12pが残存する。
たとえば図11においては、エッチングがされない導電層12とめっき膜12pとの厚みの和は50μmであるが、エッチングがされる領域の導電層12とめっき膜12pとは厚み30μm分が除去されることにより、エッチング後の厚みは20μmとなる。
ただし導波管3のスルーホールを覆うめっき膜12pは、上記のような誘電体基板1のエッチングとは状況が異なり、導波管3の壁の抵抗などによってエッチング液の流動性が阻害される。このため主表面1A,1Bのように厚み30μm分が除去されるわけではなく、厚み10〜15μm分程度が除去される。このため導波管3内は導波管3外よりもめっき膜12pのエッチング量が少ない。
(導電層12および)めっき膜12pのエッチング方法としては、上記の方法のほかに、たとえばエッチング工程の前にスルーホールのめっき膜12pを保護するためにスルーホール部を一般公知の感光材としてのフォトレジストで覆うテンティング法を適用することができる。
図12を参照して、剥離液を用いて感光性ドライフィルムレジスト20が除去される。これにより(導電層12および)めっき膜12pは、エッチングがされなかった領域が、エッチングがされなかった領域の周囲のエッチングされた領域に対してZ方向上側に突出する形状の凸部5として形成される。エッチングされた領域の(導電層12および)めっき膜12pの表面は誘電体基板1の主表面1Aとして形成される。なお図12においては凸部5は1つのみ形成されるが、実際には間隔を隔てて複数(2つ以上)の凸部5が形成される。
凸部5のZ方向の寸法d1(図2参照)は30μmであるが、その平面視における寸法は、たとえば平面形状が円形である場合にはその直径が0.65mmであり、たとえば平面形状が正方形である場合にはその1辺の長さが0.65mmである。
なお図12に示すように凸部5の側面が主表面1Aに対してほぼ垂直に延びるように導電層12がエッチングされるためには、たとえば導電層12上に異方性エッチングが可能な種類のエッチング液を吹き付けるなどの処理を行なうことが好ましい。
以上に示す導電層12とめっき膜12pとを合わせたものが、図1などにおいては導電層12としてまとめて示されている。
次に図13〜図19を用いて、誘電体基板2の製造方法の概略について説明する。図13を参照して、まず誘電体基板2(第2の基板)として、樹脂製の誘電層13(第2の誘電層)の一方およびその反対側である他方の双方の主表面上に、たとえば銅の薄膜である厚みがたとえば9μmの導電層14が形成された銅張積層板が準備される。ここではこの後誘電体基板2が完成するまで一貫して誘電体基板2と呼ぶこととする。
導電層14は、アンテナに求められる高周波電気特性上の理由により、導電層12より薄いことが好ましい。具体的にはたとえばZ方向に関する厚みが最大で20μmである。上記の厚みが9μmの導電層を使うのは、後述するスルーホール内のめっき処理により、導電層12の全体の厚みが加算されるためである。
誘電層13は、平面アンテナとして機能する低損失の樹脂基板(高周波用低損失プリント基板)である。この誘電層13は、たとえば図1のX方向の寸法が100mm、図1のY方向の寸法が80mm、図1のZ方向の寸法が100μmである。
図14を参照して、図13の工程において準備された誘電体基板2の、互いに対向する1対の第2の主表面2A,2Bのうち一方の主表面2Aから、他方の主表面2Bに達するように、誘電体基板2を貫通する中空構造の第2の導波管4が形成される。導波管4は、導波管3と同様の手法により形成され、導波管4の平面視における寸法および形成される位置は、導波管3の平面視における寸法および形成される位置とほぼ同じである。
図15を参照して、図14で準備された誘電体基板2の導波管4となるスルーホールの側壁面および、スルーホールの端部を含む図14の主表面2A,2B上の全面にめっき膜14pが形成される。スルーホールのめっき膜はたとえば銅の薄膜であり、その厚みはたとえば10μm程度である。この結果、図14の主表面2A,2B上の全面に導電層の厚みが加算される。加算された後の導電層14とめっき膜14pとのZ方向に関する厚みの和の最大値はたとえば20μmになる。
図16を参照して、次に図10の工程と同様に、導電層14の一方の主表面上に感光性ドライフィルムレジスト20が貼付される。本工程にはエッチング工程の前にスルーホールのめっき膜14pを保護するためにスルーホール部を一般公知の感光材としてのフォトレジストで覆うテンティング法が適用される。
図17を参照して、次に図11の工程と同様に、通常の写真製版技術により、感光性ドライフィルムレジスト20がたとえば図17の左右方向に関する中央の導波管4よりも右側の領域の一部において除去されるようにパターニングされる。次にパターニングされた感光性ドライフィルムレジスト20をマスクとして通常の写真製版技術およびエッチングがなされることにより、図17の中央の導波管4よりも右側の領域の一部において導電層14がZ方向に関して部分的に除去される、いわゆるハーフエッチングがなされる。このため導電層14が部分的に除去された領域においても除去後に薄くなった導電層14が残存する。
たとえば図17においては、エッチングがされない導電層14の厚みは20μmであるが、エッチングがされる領域の導電層14は厚み15μm分が除去されることにより、エッチング後に残存される厚みは5μmとなる。
図18を参照して、図12と同様にフォトレジスト20が除去される。これにより導電層14は、エッチングがされた領域が、エッチングがされた領域の周囲のエッチングがされなかった領域に対してZ方向下側に凹んだ形状の凹部6として形成される。エッチングがされなかった領域の導電層14の表面は誘電体基板2の主表面2Aとして形成される。なお図18においては凹部6は1つのみ形成されるが、実際には間隔を隔てて複数(2つ以上)の凹部6が形成される。
凹部6についても、主表面2Aに対して側面がほぼ垂直に延びるように形成するために、たとえば導電層14上に異方性エッチングが可能な種類のエッチング液を吹き付けることが好ましい。
凹部6のZ方向の寸法d2(図2参照)は15μmであるが、その平面視における寸法は、たとえば平面形状が円形である場合にはその直径が0.70mmであり、たとえば平面形状が正方形である場合にはその1辺の長さが0.70mmである。
図19を参照して、誘電体基板1の主表面1Aと誘電体基板2の主表面2Aとが、上記のように開口が形成された導電性接合材15により接続される。このとき誘電体基板1の凸部5は誘電体基板2の凹部6に挿入されることにより凸部5と凹部6とが互いに嵌合され、凹部6の内部の少なくとも一部には空隙8が形成される。
このとき導波管3と導波管4とが平面視において同じ平面形状で重なるように接続される。また主表面1Aと主表面2Aとに挟まれた領域においては、導波管3と導波管4とは互いに途切れるが、その領域の周囲に導電性接合材15が配置されることにより当該領域は導電性接合材15に囲まれる。これにより、導波管3と導波管4とは、その接続部も含めその周囲が完全に部材11〜15のいずれかで囲まれた1本の導波管として接続される。
導波管3,4の寸法は、導波管3,4を通過する電磁波の周波数帯域に基づいて決定される。たとえば76.5GHzの電磁波が伝送されるFM/CWレーダ装置の場合は、ミリ波の周波数を扱う場合に多用されている標準的な導波管寸法として、導波管3,4は以下の寸法とされることが好ましい。上記のスルーホールの側壁面にめっき膜が形成された後において、平面視におけるX方向の開口部の寸法A(図3参照)が2.54mm、平面視におけるY方向の開口部の寸法B(図3参照)が1.27mmとなるように形成される。
導電性接合材15は、たとえば接合前の厚みが20μm、導波管3,4と重なる領域での開口の寸法がX方向(図3参照)に関して2.74mm、Y方向(図3参照)に関して1.47mmであることが好ましく、嵌合部7と重なる領域での開口部は平面視において凹部6と同じ寸法であることが好ましい。このように導電性接合材15の開口を導波管3,4よりも大きく形成するのは、導電性接合材15が加熱硬化時に軟化して寸法精度が劣化することを考慮するためである。
導電性接合材15が配置され、凸部5と凹部6とが互いに嵌合され嵌合部7が形成された状態で、以下の手法により導電性接合材15は誘電体基板1と誘電体基板2とを接着固定する。
具体的には、導電性接合材15により接合された誘電体基板1,2のセットが、加熱硬化が実施可能な貼り合わせ用の治工具に挟み込まれ、位置合わせおよび押圧の後に加熱乾燥炉に投入される。上記誘電体基板1,2のセットが加熱プレスが実施可能な貼り合わせ装置に投入されてもよい。次に誘電体基板1,2のセットが125℃で3時間、または180℃で5分間、加熱される。
この加熱により、誘電体基板1,2のセットはたとえば主表面2Bの上方からプレスされる荷重に応じて図2に示す寸法Gが100μm以下になるよう制御されながら、導電性接合材15により接続固定される。また図2に示す寸法αが70μm程度になるように制御されることが好ましい。
図示されないが、最後に上記接着固定された誘電体基板1,2のセットの特に誘電体基板1の(たとえば主表面1B側の)表面には高周波の送受信回路およびその制御回路などが実装されることにより、FM/CWレーダ装置の要部としての導波管接続構造100が完成する。
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。
本実施の形態においては、誘電体基板1と誘電体基板2との接続により導波管3と導波管4とを接続する際に、誘電体基板1に形成された凸部5と、誘電体基板2に形成された凹部6とが利用される。すなわち凹部6に凸部5が挿入され両者が嵌合部7を形成することにより、誘電体基板1と誘電体基板2との平面視における(上記X方向およびY方向の)位置ずれの量を低減することができる。このため嵌合部7により、導波管3と導波管4との中空構造の平面視における中心軸の位置が互いにずれることなく所望の位置に対向するように位置決め調整することができる。従って導電性接合材15による加熱硬化による接着後においても、導波管3と導波管4との位置ずれが少ない状態で接合することができる。
嵌合部7により導波管3と導波管4との仮の位置合わせがなされた上で導電性接合材15により誘電体基板1と誘電体基板2とが接続され、導波管3と導波管4とが正式に接続される。このようにすれば、導波管3と導波管4との接続部において、位置ずれなどに起因する過大な隙間が形成される可能性が低減される。このことから導波管3と導波管4との接続部において、導波管3,4内を伝送する高周波の電磁波が高い割合で伝送損失を起こし伝送特性が劣化する可能性が低減される(伝送特性が向上する)。
凸部5および凹部6は各誘電体基板1,2の主表面上に互いに間隔をあけて複数形成されることにより、誘電体基板1,2のX方向、Y方向のみならず、それらの回転方向においても誘電体基板1,2の角度がずれないように重ね合わせ接続することができる。
なお凹部6の内部の少なくとも一部に空隙8が存在する。この部分には導電層および誘電層のいずれも存在しないが、凹部6と凸部5とが互いに嵌合した嵌合部7はその周囲が導電性接合材15で囲まれた閉鎖空間である。このため導波管3,4内を伝送する電磁波と上記空隙8とが干渉することはなく、その影響は無視することができる。
さらに凹部6の内部に空隙8が存在することにより、たとえばその周囲の導電性接合材15が行き場を失い接合部からはみ出し漏えいする不具合の発生を抑制することができる。
本実施の形態においては、誘電体基板1の主表面1A,1Bは導電層12を含み、誘電体基板2の主表面2A,2Bは導電層14を含んでいる。つまり凸部5は導電層12に(導電層12の一部として)形成されており、凹部6は導電層14に形成されている。凹部6は導電層14のハーフエッチングにより形成されるため、凹部6の側部および底部は導電層14が露出した状態となっている。
このため導電層12と導電層14とが導電性接合材15を介して互いに電気的に接続される。従って導電層12と導電層14とは同電位(ここでは接地電位)となる。同電位となった導電層12,14に囲まれるように導波管3,4が形成され、かつ導波管3,4の接続部の周囲は導電性の接合材15に囲まれる。このため接続された導波管3,4はその延在する方向(Z方向)に関する全体が導電性材料で囲まれることになる。このように導電性材料の壁で囲まれた導波管3,4がZ方向に関して連続的に提供される。したがって、当該導波管3,4内における高周波の電磁波は、導電層12,14により、外部に漏えいしないように遮蔽され、損失なく高い伝送特性により伝送される。
凹部6がハーフエッチングによりその側部および底部の双方において導電層14が露出するように形成されることにより、主表面1Aにおける導電層12と主表面2Aにおける導電層14とをすべて同電位(ここでは接地電位)とすることができる。このため、導電性接合材15が一部の領域において濡れないことにより、主表面1Aと主表面2Aとの間の領域の一部に意図せず隙間が形成された場合においても、その隙間からたとえば誘電体基板2の内部側に意図せず電磁波が漏えいする可能性を低減することができる。
凸部5を導電層12のハーフエッチングにより形成すれば、通常の写真製版技術を用いて極めて簡単に導電性を有する凸部5を形成することができる。
また導電性接合材15も導波管3,4と平面的に重なる位置ならびに嵌合部7において開口を有することにより、たとえば凸部5を導電性接合材15の嵌合部7における開口に挿入させた上で導電性接合材15を誘電体基板1,2に対して位置合わせすることができる。このため導電性接合材15の位置決め精度を向上させることができる。導電性接合材15の位置決め精度を向上することにより、上記の寸法αおよびGの値(図2参照)を所望の範囲内に制御することができる。
αおよびGの値が所望の値に制御できれば、導波管3と導波管4との接続部に不本意な隙間などが形成される可能性が低減されるため、電磁波の伝送損失を抑制することができる。さらにたとえば導電性接合材15は導波管3,4と重なる位置にも開口が形成されるため、誘電体基板1,2の貼り合わせ時に導電性接合材15が導波管3,4の接続部内に侵入する不具合の発生を抑制することができる。
次に図20を用いて、本実施の形態における76.5GHz用のFM/CWレーダ装置の導波管接続構造100の、図1および図3におけるX方向およびY方向に関する位置ずれの量を計測した結果について説明する。
図20を参照して、このグラフは、上記の導波管接続構造100を6台試作し、それぞれの試作品の導波管3と導波管4との接合箇所を2か所選んで、導波管3に対する導波管4の、図1および図3におけるX方向およびY方向に関する位置ずれの量をプロットしたものである。図20の横軸は、導波管3と導波管4とがまったく位置ずれせず重なった場合におけるX軸方向のずれ量を0としたときの、実際の各試作品における導波管3に対する導波管4のX方向に関する位置ずれの量を示している。同様に図20の縦軸は、導波管3と導波管4とがまったく位置ずれせず重なった場合におけるY軸方向のずれ量を0としたときの、実際の各試作品における導波管3に対する導波管4のY方向に関する位置ずれの量を示している。
図20より、それぞれの試作品の導波管3に対する導波管4の、図1および図3におけるX方向に関する位置ずれの量のばらつきは0.02mm程度であり、Y方向に関する位置ずれの量のばらつきは0.04mm程度となっていることがわかる。
たとえば凸部5の平面視における寸法(たとえば円形の直径)が0.65mmであり、凹部6の平面視における寸法(たとえば円形の直径)が0.70mmであれば、これらを嵌合することにより形成された導波管接続構造100の位置ずれP(図5、図6参照)を上記の100μm以下とすることができる。
上記のように、凸部5の位置に対する凹部6の形成される位置のずれが発生する可能性があるが、このずれを考慮しなければ、凹部6と凸部5との平面視における寸法の差以上の位置ずれが発生することはない。このため、上記のように凸部5の寸法が0.65mm、凹部6の寸法が0.70mmであれば、X方向およびY方向に関する誘電体基板1,2の位置ずれの量を50μm以下にすることができる。このことから、本実施の形態における嵌合部7を用いることによる位置ずれを抑制する効果の有効性が実証されている。
次に、本実施の形態の応用例について説明する。
以上の実施の形態1において、第1および第2の誘電体基板1,2の接続には、上記のようにいわゆるBステージ化したエポキシ樹脂ベースの導電性接合材15が用いられてもよい。しかし導電性接合材15としてはたとえば導電性の粘着シート(粘着材)が用いられてもよい。このような導電性の粘着シートを用いれば、上記の加熱硬化を行なうべき導電性接合材15よりも低温で、あるいは室温で、誘電体基板1,2を接続することができる。このため導電性の粘着シートを用いれば、上記の加熱硬化を行なうべき導電性接合材15を用いるよりも作業効率が大幅に改善される。室温で接続可能な粘着シートを用いる場合には、たとえば室温下で押圧されてもよい。
あるいは導電性接合材15として、室温硬化または加熱硬化の、常温において液状の接合材が用いられてもよい。常温において液状の接合材は、たとえば誘電体基板1の主表面1A上に供給する際には、スクリーン印刷、ディスペンサ供給、ピン転写、スタンプ、スプレー塗布などの方法を用いることが好ましい。
たとえば上記のシート状の接着剤または粘着材としての導電性接合材15を用いた場合は、誘電体基板1,2を貼り合わせる際に必要な導電性接合材15のZ方向の厚みの選択肢が限られる。これは現有するシート状の導電性接合材15の厚みの種類に限りがあるためである。しかし液状の接合材を用いる場合には、任意の量の接合材を塗布供給することができるため、導電性接合材15の供給量の選択肢が広げられる。
上記においては誘電体基板1に凸部5が、誘電体基板2に凹部6が形成された構成が示される。しかし図21を参照して、逆に誘電体基板1に凹部6が、誘電体基板2に凸部5が形成された構成が用いられてもよい。この場合においてもこれらの嵌合部7は上記と同様の作用効果を奏する。
(実施の形態2)
図22を参照して、本実施の形態の導波管接続構造200は、基本的に実施の形態1の導波管接続構造100と同様の構成を有している。ただし本実施の形態においては、凹部6が導電層14に形成されその側部(図22の左右端の面)は導電層14が露出しているが、凹部6の底部(図22のZ方向最上部の面)は誘電層13が露出している。
この点において本実施の形態は、凹部6の底部も導電層14が露出している実施の形態1と異なっているが、これ以外の本実施の形態の構成は、実施の形態1の構成とほぼ同じであるため同一の要素については同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。
次に図23〜図24を用いて、本実施の形態の特に誘電体基板2の凹部6の製造工程の一部について概略的に説明する。
図23を参照して、図13〜図15の工程と同様の処理がなされた後、図16の工程と同様に、導電層14上のフォトレジスト20が図16の左右方向に関する中央部において除去されるようにパターニングされる。次にフォトレジスト20をマスクとして通常の写真製版技術およびエッチングがなされることにより、図23の中央部において導電層14がZ方向に関して導電層14の下の誘電層13が露出するまで完全に除去される、いわゆるフルエッチングがなされる。
図24を参照して、図17と同様にフォトレジスト20が除去され、導電層14のエッチングがされた領域は凹部6として形成される。凹部6の側部には実施の形態1と同様にたとえば厚みが20μmの銅が露出するが、凹部6の底部は誘電層13が露出する。したがって、本実施の形態における凹部6のZ方向の寸法d2(図22参照)は20μmである。
なお製造方法に関して、上記以外については本実施の形態においても実施の形態1と同様の手法により同様のものが形成されるため、同一の要素については同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。
本実施の形態のように誘電層13が露出するまで導電層14をフルエッチングすれば、導電層14のエッチング量を微調整する必要がなくなる。このため、たとえば実施の形態1のように凹部6を形成するために導電層14のエッチング量を制御しながらハーフエッチングする場合に比べて、製造コストを低減することができる。導電層14は厚みが20μmと薄いため、凹部6を形成する際にこれをフルエッチングすれば、製造の負荷を軽減する効果が大きくなる。
一方、誘電体基板1の導電層12は誘電体基板2の導電層14より厚いため、凸部5をハーフエッチングにより容易に形成することができる。
なお本実施の形態においても、実施の形態1と同様の導電性接合材15を用いて導電層12と導電層14とが電気的に接続されるため、導電層12と導電層14とは同電位に保たれる。このため導波管3,4内の電磁波が外部に漏えいしないよう遮蔽し、導波管3,4内の電磁波を損失なく伝送する効果は十分に確保できる。
ただし導波管3と導波管4の接続部における隙間などにより電磁波が漏えいすることを抑制する観点からは、本実施の形態においても上記のαおよびGの値(図3参照)を厳密に制御することが好ましい。
(実施の形態3)
図25を参照して、本実施の形態の導波管接続構造300は、基本的に実施の形態1の導波管接続構造100と同様の構成を有している。ただし本実施の形態においては、凸部5がその周囲の主表面1Aに対してZ方向に突出する寸法d1と、凹部6がその周囲の主表面2Aに対してZ方向に凹む寸法d2と、主表面1Aと主表面2AとのギャップGとの間に、d1=d2+Gの関係が成り立っている。すなわち寸法d1(第1の長さ)は寸法d2(第2の長さ)よりも長くなっている。
このため凸部5のZ方向最上部の面5A(凸部5が主表面1AからZ方向に最も離れた面5A)が、凹部6のZ方向最上部の面6A(凹部6の底部に相当し、凹部6内にて主表面2AからZ方向に最も離れた面6A)と接触している。本実施の形態において凸部5は導電層12により形成され、凹部6はその側部および底部に導電層14が露出するように形成されている。このため面5Aと面6Aとの接触により導電層12と導電層14とが互いに接触し、凸部5と凹部6とからなる嵌合部7を介して導電層12と導電層14とが電気的に接続されている。一方、凸部5および凹部6以外の領域において、誘電体基板1の主表面1Aと誘電体基板2の主表面2Aとは絶縁性を有する接合材としての誘電性接合材25により接続されている。
すなわち本実施の形態においては嵌合部7において誘電体基板1と誘電体基板2とが電気的に接続され同電位に保たれる。この点において本実施の形態は、導電性接合材15により誘電体基板1と誘電体基板2とが電気的に接続され同電位に保たれる実施の形態1と異なっている。誘電体基板1と誘電体基板2とを電気的に接続し、電磁波を遮蔽可能な嵌合部7(凸部5および凹部6)を以下においてシールドピラーと称する場合がある。
図26を参照して、本実施の形態においては図3に示す嵌合部7よりも多数(たとえば8つ)の嵌合部7(シールドピラー)が導波管3,4を平面視において取り囲むように配置されている。嵌合部7がシールドピラーとして形成される場合には、導波管3,4の外縁に沿う方向に関して隣り合う複数(2つ)の嵌合部7の凸部5同士の最短距離S1は、導波管3,4を伝送する電磁波の波長をλとすればS1=λ/4であることが好ましく、なかでもS1≦λ/8であることがより好ましい。また導波管3,4の接合部端面すなわち外縁と嵌合部7の凸部5との最短距離S2は、実施の形態1における当該距離より短いことが好ましい。
76.5GHzで使用されるFM/CWレーダにおいて、シールドピラーの配置条件としてのS1=λ/4は以下のように求められる。
空気中を伝搬する電磁波(光)の波長をλとすれば、光速Cは波長λと周波数f0との積であることから、
Figure 0006278850
となる。したがってS1=λ/4=3.92/4=0.98mmとなる。加工精度等を加味して少し寸法誤差を厳しく見積もれば、図26におけるシールドピラーの凸部5同士の最短距離S1は約0.9mmとなる。
導波管3,4の接合部端面(外縁)から誘電体基板1,2の嵌合部7の凸部5までの最短距離S2は、誘電性接合材25の接合材外周端26が導波管3,4の外縁の外側にはみ出る量α(図25参照)を考慮して接合材外周端26よりも導波管3,4から見て外側に凸部5が配置されるよう、S2>αとすることが好ましい。たとえばS2は100μm、αは50μmとなるように設計することができる。
実施の形態1と同様に、凸部5のZ方向の寸法d1(図25参照)はたとえば30μmであり、凹部6のZ方向の寸法d2(図25参照)はたとえば15μmである。また本実施の形態においてはd1=d2+G(図25参照)の関係が成り立つためG=d1−d2となるが、誘電性接合材25として当初の厚みが20μmのシート状の絶縁性の接着剤が用いられ、接着時の押圧力によって接着剤中の樹脂の流動を生じさせ、硬化後のGの値が約15μmとなるように制御されることが好ましい。
なお誘電性接合材25は、実施の形態1の導電性接合材15のシート状の導電性の接着剤から導電性の充填剤を除いて非導電性にすることにより形成されてもよい。すなわち誘電性接合材25は、実施の形態1の導電性接合材15と同様に、シート状の絶縁性の接着剤または粘着材がその接続時に硬化されたものである。
図27を参照して、本実施の形態においても実施の形態1の図4と同様に、誘電体基板1,2のそれぞれに平面視において互いに間隔をあけて並ぶように複数(たとえば2つ)の導波管3,4が形成され、これらのそれぞれの周囲に複数の嵌合部7が互いに間隔をあけて形成されていてもよい。この場合、第1および第2の誘電体基板1,2は、高周波の送受信回路(導波管3,4)を複数チャンネル有することになり、それぞれの導波管3,4の周囲に多数の嵌合部7(シールドピラー)が導波管3,4を平面詩において取り囲むように点列状に配置されている。
これ以外の本実施の形態の構成は、実施の形態1の構成とほぼ同じであるため同一の要素については同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。
たとえば実施の形態1のように誘電体基板1,2の接続が導電性接合材15によりなされた場合、誘電体基板1の主表面1Aと誘電体基板2の主表面2Aとは導電性接合材15が存在しない部位を除いて全面が導通状態となる。
誘電体基板1に高周波の送受信回路の一部としての導波管3,4とは異なるデジタル制御用信号の伝送などに使用するスルーホールなどが形成されている場合がある。また上記デジタル制御用信号の線路がスルーホールなどを通じて誘電体基板1の表面に露出するように形成されている場合がある。このような場合、誘電体基板1と誘電体基板2との間に電気絶縁用のフィルム材などを挿入したり、誘電体基板1と誘電体基板2との間に絶縁膜をコーティングしたりする必要が生じ、その分だけ生産コストが高騰する可能性がある。
そこで本実施の形態においては、誘電体基板1と誘電体基板2との接続が導電性接合材15の代わりに誘電性接合材25によりなされ、かつ誘電体基板1と誘電体基板2との導通を、導電性接合材15の代わりに嵌合部7のシールドピラーを用いることにより実現している。
シールドピラーを用いれば、誘電体基板1の導電層12と誘電体基板2の導電層14とはシールドピラーの嵌合部7で電気的に接続される。このため複数の嵌合部7はたとえばこれらが囲む導波管3,4内を伝送する電磁波を遮蔽して嵌合部7に囲まれる領域の外側に漏えいすることを抑制することができる。したがって本実施の形態においてはシールドピラー以外の領域において誘電体基板1と誘電体基板2とが互いに導通する必要がなくなる。このため誘電体基板1と誘電体基板2とは誘電性接合材25により接続することができる。
誘電体基板1と誘電体基板2とが誘電性接合材25により接続されれば、上記の電気絶縁用のフィルム材などを挿入する加工などが不要になるため、生産コストが高騰する可能性を排除することができる。したがって上記のスルーホールなどを導入するなど導波管接続構造300の設計の自由度を高めることができる。
導波管3と導波管4との接続部の周辺における誘電体基板1の導電層12と誘電体基板2の導電層14とは、上記の導波管3,4とは異なるデジタル制御用信号の伝送用のスルーホールなどおよびデジタル制御用信号の線路の露出配線されてる部分を除けば、基本的に接地電位である。導電性の凸部5と凹部6とが電気的に接続された嵌合部7が導波管3,4を平面視において取り囲むことにより、嵌合部7がシールドピラーとして導波管3,4の接続部の隙間から導波管3,4内の電磁波が漏えいする不具合の発生を抑制することができる。
嵌合部7にて誘電体基板1と誘電体基板2とが電気的に接続される場合、導波管3,4の外縁に沿う方向に関して隣り合う凸部5の間隔S1(図26参照)をλ/4以下にすることにより、隣り合う嵌合部7に挟まれた隙間から導波管3,4内の電磁波が漏えいして伝送損失を起こす可能性を低減することができる。
導波管3,4の接合部端面(外縁)から誘電体基板1,2の嵌合部7の凸部5までの最短距離S2は、寸法α(図25参照)より長いが基本的に極力短くする(導波管3,4に極力近づける)ことが好ましい。具体的には凸部5などの加工技術を考慮すれば、上記の距離S2は具体的には75μm以上100μm以下であることがより好ましい。このようにすれば導波管3,4の接続部を通過する電磁波を最低限の損失で伝送することができ、優れた電気特性を有する導波管接続構造300を提供することができる。
さらに、上記の距離S2を極力短くすることにより、導波管接続構造300において実装面積をより節約し、実装可能な領域のスペースをより有効に活用することができる。すなわち導波管3,4の外縁に近い位置に凸部5などを形成することにより、導波管3,4を伝送する高周波の電気特性を向上させるとともに、導波管3,4と嵌合部7とを合わせた領域が必要とする実装面積を極力小さくすることができる。
次に、本実施の形態の応用例について説明する。
図28および図29を参照して、以上の実施の形態3において、誘電性接合材25の接合材外周端26が複数のシールドピラーの外側を向く部分同士をつなぐことによる1つの大きな小判型の平面形状を有するように形成されてもよい。このような小判型の打ち抜き加工により誘電性接合材25のシートの開口が形成される。このような誘電性接合材25を用いる場合、誘電性接合材25を誘電体基板1と誘電体基板2との間にセットするときの位置合わせは、凸部5の外周部と、誘電性接合材25のシートに設けた小判型の開口とによりなされる。このようにすれば、誘電性接合材25のセット時に要求される位置的な加工精度を緩和することができる。
図30を参照して、嵌合部7の凸部5の、主表面1Aから最も離れたZ方向最上部の面5A上に、接合材としての凸部上接合材27が配置されてもよい。この凸部上接合材27は導電性ペーストまたははんだなどの導電性材料により形成されてもよく、いわゆる異方性導電フィルム(ACF:anisotropic conductive film)またはいわゆる異方性導電ペースト(ACP:anisotropic conductive paste)などの導電性材料が凸部上接合材27として用いられてもよい。この場合は嵌合部7を介して導電層12および導電層14が凸部上接合材27により互いに電気的に接続される。
図30の凸部上接合材27は凸部5の面5A上に限定して供給されることが好ましい。凸部上接合材27を凸部5の面5A上に限定して供給する方法としては、スクリーン印刷、ディスペンサ供給、ピン転写、スタンプなどの方法を用いることが好ましい。このようにすれば図30の凹部6内においても他の実施の形態と同様に空隙8を確保することができる。
このように凸部上接合材27を用いれば、嵌合部7における導電層12と導電層14との電気的な接続をより確実なものとすることができ、電気的接続の信頼性を向上することができる。
なお本実施の形態の誘電性接合材25の開口を形成する際に、図25の寸法αおよび図26の寸法S2の精度を高める観点から、レーザ加工機などを用いることがより好ましい。
なお本実施の形態の上記各例においても、たとえば図21と同様に、誘電体基板1に凹部6が、誘電体基板2に凸部5が形成されてもよい。
(実施の形態4)
図31を参照して、本実施の形態の第1例の導波管接続構造400においては、凸部5はZ方向に関して図の左右方向すなわち主表面1Aに沿う方向に関する寸法が変化する錘状部である。より具体的には、凸部5の主表面1Aに沿う方向の寸法は、主表面1AからZ方向上方に離れるにつれて小さくなり、主表面1AからZ方向に最も離れた最上面5Aにおける寸法5AAは、凸部5のうち主表面1Aに最も近い、Z方向に関する最下部における寸法5Bよりも小さくなっている。
一方、凹部6は上記の他の実施の形態と同様に、主表面2Aに沿う方向に関する寸法はその全体において変化せずほぼ一定である筒状部である。筒状部である凹部6の任意の箇所(たとえば底部)の主表面2Aに沿う方向に関する寸法6Aは、錘状部である凸部5の主表面1Aに沿う方向に関する最小の寸法すなわち最上面5Aの寸法5AAより大きく、凸部5の主表面1Aに沿う方向に関する最大の寸法すなわち最下部の寸法5Bより小さくなっている。具体的には、たとえば上記の寸法5AAを0.60mm、寸法6Aを0.65mm、寸法5Bを0.70mmとすることができる。なおここでは一例として凸部5および凹部6の平面形状は円形または正方形と考えており、たとえば主表面1A,2Aに沿う紙面に垂直な方向の寸法についても上記の各寸法に等しくなる。
なお図31においては凹部6の底部は誘電層13が露出しているが、凹部6の側面6Cは導電層14が露出している。また凸部5は導電層12に形成されるため、その側面5Cには導電層12が露出している。
図32を参照して、本実施の形態の第2例の導波管接続構造400においては、図31と逆に、凹部6が錘状部に、凸部5が筒状部になっている。
凹部6の主表面2Aに沿う方向の寸法は、主表面2Aから図32のZ方向上方に離れるにつれて小さくなり、主表面2AからZ方向に最も離れた部分、すなわち凹部6の底部6Aにおける寸法6AAは、凹部6のうち主表面2Aに最も近い部分における寸法6Bよりも小さくなっている。
また筒状部である凸部5の任意の箇所(たとえば最上面5A)の主表面1Aに沿う方向に関する寸法5AAは、凹部6の最小の寸法6AAよりも大きく、凹部6の最大の寸法6Bよりも小さくなっている。
本実施の形態においても誘電性接合材25により、誘電体基板1と誘電体基板2とが互いに接続されている。また本実施の形態においても実施の形態3と同様に、凸部5がその周囲に対してZ方向に突出する長さが、凹部6がその周囲に対してZ方向に凹む長さより長くなっていてもよいが、そのようになっていなくてもよい。また本実施の形態においても実施の形態3と同様に、多数の嵌合部7が1つの導波管3,4を平面視において取り囲むように配置されてもよいし、嵌合部7の凸部5に配置された凸部上接合材27により凹部6と電気的に接続可能な構成を併せ持っていてもよい。
これ以外の本実施の形態の構成は、実施の形態1および実施の形態3の構成とほぼ同じであるため同一の要素については同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。
たとえば図31の構成により、たとえば凸部5のZ方向に延びる側面5Cは、少なくともその一部において凹部6のZ方向に延びる側面6Cの一部と接触することになる。このため導電層が露出する側面5Cと側面6Cとの接触により、凸部5と凹部6とが電気的に接続される。これにより本実施の形態においても実施の形態3と同様に嵌合部7がシールドピラーとして機能する。図32の構成においても同様に、導電層が露出する側面5Cと側面6Cとが接触することにより、凸部5と凹部6とが電気的に接続される。
このように凸部5と凹部6とがそれぞれの側面において噛み合うことにより両者の電気的導通が取れる。この場合、たとえば実施の形態3のように凸部5の最上面5Aが凹部6の底部と接触する場合に比べて凸部5と凹部6とをより確実に接触させることができる。このためより確実に凸部5と凹部6とが導通されたシールドピラーを有する導波管接続構造400を提供することができる。
本実施の形態においては側面5Cおよび側面6Cにより凸部5と凹部6とが電気的に接続されるため、凹部6の底部の面6Aはたとえば実施の形態3のように導電層14が露出した構成である必要はなく、図31および図32に示すように誘電層13が露出していてもよい。図31および図32に示すように誘電層13が露出した凹部6は、実施の形態2に述べたように導電層14をいわゆるフルエッチングすることにより形成することができる。このため凹部6がハーフエッチングにより形成される場合に比べてエッチング工程を簡素化し、そのコストを低減することができる。ただし図33を参照して、凹部6が導電層14をいわゆるハーフエッチングすることにより形成されてもよい。この場合は凹部5の底部の面6Aは実施の形態3のように導電層14が露出した構成となる。
本実施の形態における主表面1A,2Aに対して垂直な方向から傾いた方向に延びる側面5C,6Cは、導電層12,14のエッチングを通常通りに行なうことにより形成することができる。
なおここで凹部6は筒状部であり、側面6Cは基本的に主表面2Aに対してほぼ垂直である。このため側面6Cを外縁とする平面形状のサイズは基本的にZ方向に関する任意の位置において変化しないとしている。しかしながら実際には、凹部6の側面6Cは主表面2Aに対して完全に垂直でなく、主表面2Aに対してやや傾いていてもよい。このように凹部6の側面6Cが主表面2Aに対してやや傾いていても、少なくともその傾きの角度が凸部5の側面5Cの主表面2Aに対する傾きの角度と異なっていれば、側面5Cと側面6Cとが接触して嵌合部7において凸部5と凹部6とが導通することが可能である。
次に、本実施の形態の応用例として、実施の形態3の応用例と同様に誘電性接合材25の開口が小判型の平面形状を有するように打ち抜き加工により形成されてもよい。あるいは誘電性接合材25の開口を形成する際にレーザ加工機などが用いられてもよい。
(実施の形態5)
図34を参照して、本実施の形態の導波管接続構造500は、誘電体基板1と誘電体基板2とが誘電性接合材25により接続されており、かつ嵌合部7において凸部5は凹部6の底部に露出する誘電層13と接続されている。すなわち本実施の形態の導波管接続構造500は誘電体基板1と誘電体基板2とが電気的に接続されていない。
代わりに導波管接続構造500の誘電体基板1にはチョーク溝31(チョーク溝構造)が形成されている。チョーク溝31は誘電体基板1の主表面1Aに形成された導電層12およびその下層の誘電層11の凹部である。チョーク溝31は導波管3,4の近く、具体的には導波管3,4の外縁から主表面1A,2Aに沿う方向に関する距離L1が、導波管3,4を伝送する電磁波の波長λの1/4である位置から、それよりもさらに導波管3,4に対して離れる外側の方向に幅を有するように形成される。またチョーク溝31はその深さL2が導波管3,4を伝送する電磁波の波長λの1/4であるように形成される。
チョーク溝31の主表面1A,2Aに沿う方向に関する幅はWであり、誘電性接合材25の接合材外周端26は、チョーク溝31の導波管3,4から遠い側の端部から距離αだけ離れた位置に存在する。つまり誘電性接合材25は、接合材外周端26よりも導波管3,4から離れた領域(導波管3,4から見て接合材外周端26の外側の領域)に配置される。
図35を参照して、チョーク溝31は、たとえば平面視において導波管3,4の平面形状のうち長手側(図35のX方向)の寸法よりもさらに長く、平面視において導波管3,4の短手側(図35のY方向)の寸法よりもさらに短い寸法を有している。また図36は本実施の形態においてたとえば図4と同様に、導波管3,4が複数並ぶように形成された場合の態様を示している。
チョーク溝31は、たとえばレーザ穴加工用の装置を用いて、図34に示すように誘電体基板1を貫通せず主表面1Aから深さL2の領域が除去された凹部として形成される。凹部の壁面にはたとえば導電層12が形成されてもよい。あるいは凹部の壁面はたとえばブラインドビアめっき膜で形成されてもよい。
導波管3,4から見てチョーク溝31の、主表面1A,2Aに沿う方向に関する外側の領域に、嵌合部7(凸部5および凹部6)が形成されている。本実施の形態においても、たとえば実施の形態3と同じようにd1=d2+Gの関係が成り立ってもよいが、これに限られない。
ただし誘電体基板1の主表面1Aと誘電体基板2の主表面2AとのギャップGは、図34に示す左右方向の全体においてほぼ一定値を確保することが好ましい。また導波管3,4の接続部とチョーク溝31との間における上記ギャップG内には空気が満たされていることが好ましい。ただし上記ギャップG内の一部は空気以外の誘電体材料に覆われていてもよい。
ギャップGの存在により、嵌合部7および誘電性接合材25の形成される領域を除き、主表面1Aと主表面2Aとは直接接触していない。しかし主表面1Aと主表面2Aとに挟まれる直接接触していない領域に誘電性接合材25が存在しなくても、誘電体基板1と誘電体基板2との密着性は確保され、機械的に十分強固な構造とすることができる。これは
誘電体基板1と誘電体基板2とを接合する領域の面積は、上記の主表面1A,2Aが直接接触しない領域よりも十分に大きな面積を有しているためである。
ただしギャップGが過剰に大きければ、導波管3,4内を伝送する電磁波の伝送損失が増加する。このため76.5GHzで使用されるFM/CWレーダ装置の場合、ギャップGは100μm以下であることが好ましい。
図34においては誘電体基板2の導電層14はフルエッチングされているため、実施の形態2と同様の寸法の条件であれば、凸部5のZ方向の寸法d1は30μmであり、凹部6のZ方向の寸法d2は20μmである。このためGの値は10μmとなり、上記のギャップGは100μm以下との条件を満たす。
次に、チョーク溝31の機能について説明する。
チョーク溝31は、誘電体基板1と誘電体基板2とを導電性接合材15または嵌合部7により導通させることが困難な場合に、誘電体基板1と誘電体基板2とを導通させたり同電位の遮蔽構造を形成したりすることなく、電磁波の漏えいを抑制することを可能とする構造である。導通が困難な場合とは、たとえば誘電体基板1と誘電体基板2とをネジ等で着脱する作業が必要な場合などである。
たとえば図34に示す距離L1およびチョーク溝31の深さL2がλ/4である場合に、主表面1A上のチョーク溝31の入り口部分において、チョーク溝31内に入射する入射波とチョーク溝31内を深さ方向に進行し、その最下部で反射した反射波とが出会うが、このときの上記入射波と反射波とは位相がちょうど逆転しているため互いに打ち消しあい、導波管3,4から見てチョーク溝31よりも外側の領域には電磁波が進行しなくなる。すなわち電磁波が導波管3,4の接続部分から漏れ出して誘電体基板1と誘電体基板2との間の領域に侵入したとしても、その電磁波は誘電体基板1,2の外側の領域へ漏えいしなくなる。このため本実施の形態においては誘電体基板1と誘電体基板2とが導通されなくても、電磁波の漏えいを抑制することができる。
本実施の形態においては導波管3,4から図34の領域L1およびチョーク溝31の形成された領域においては、誘電体基板1と誘電体基板2とは導通していないことが前提である。仮にこの領域にて誘電体基板1と誘電体基板2とが導通すれば、この領域における電磁波の入射波と反射波との打ち消しあいにより電磁波がチョーク溝31の外側の領域に進入しなくなるという効果が損なわれるためである。
しかしチョーク溝31より外側の領域においては誘電体基板1と誘電体基板2とが導通してもよい。これは上記のようにチョーク溝31より外側の領域には電磁波が進入しないため、電磁波が誘電体基板1と誘電体基板2との導通の影響を受ける可能性が排除されるためである。たとえばチョーク溝31の外側に形成された嵌合部7を構成する凹部6が導電層14のハーフエッチングにより形成され、導電層14が露出した凹部6の底部に凸部5が接触していてもよい。なお図34の領域L1とチョーク溝31の幅Wと、さらにその外側の寸法αで示す領域とを合わせた、導波管3,4の外縁から主表面1A,2Aに沿う寸法がL1+W+αの領域については誘電体基板1と誘電体基板2とが導通しないことがより好ましい。
これ以外の本実施の形態の構成は、実施の形態1および実施の形態3の構成とほぼ同じであるため同一の要素については同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。
本実施の形態においては、寸法L1およびL2が電磁波の波長λの1/4の寸法を有するように制御されたチョーク溝31が形成されることにより、導波管3,4から見てチョーク溝31より外側の領域への電磁波の進行が抑制される。このため誘電体基板1と誘電体基板2とを導電性接合材15または嵌合部7において電気的に接続する必要がなくなる。したがって導波管接続構造500の実装構造を容易にすることができる。
本実施の形態においては、導波管3,4から見てチョーク溝31の、主表面1A,2Aに沿う方向に関する外側の領域に、嵌合部7(凸部5および凹部6)が形成されている。この領域は凸部5と凹部6とが導通されていてもされていなくても問題ない。このため凹部6を図34に示すようにフルエッチングにより形成してもよいし、ハーフエッチングにより形成してもよい。つまり凹部6の形成時のエッチング方法の自由度を高めることができる。
(実施の形態6)
図37を参照して、本実施の形態の導波管接続構造600は、基本的に実施の形態5の導波管接続構造500と同様の構成を有している。ただし本実施の形態においては、主表面1Aと主表面2Aとに挟まれたギャップGを有する領域において、主表面1A,2Aに沿う方向に関するチョーク溝31と嵌合部7との間に、誘電性接合材25の代わりにスペーサ32が配置されている。スペーサ32は互いに対向する主表面1Aと主表面2Aとの双方に接するように配置されており、主表面1A,2Aに沿う方向に延在している平板形状の部材である。
スペーサ32はたとえば一般的なソルダーレジストにより形成される。特に図38を参照して、スペーサ32は、たとえば平面視においてチョーク溝31の平面形状のうち長手側(図38のX方向)の寸法と同等かそれよりもやや長く、平面視においてチョーク溝31の短手側(図38のY方向)の寸法と同等かそれよりもやや短い寸法を有している。また図39は本実施の形態においてたとえば図4と同様に、導波管3,4が複数並ぶように形成された場合の態様を示している。
チョーク溝31の外側のチョーク溝31に隣接する領域には、誘電性接合材25の代わりにスペーサ32が形成される。このため誘電性接合材25は、平面視において導波管3,4から見てチョーク溝31、スペーサ32および嵌合部7の外側の領域のみに配置されている。
次に、スペーサ32を構成するソルダーレジストについて説明する。
一般的にプリント基板の表面は、はんだ付けがなされる領域以外の領域が樹脂系の絶縁膜で覆われる。この樹脂系の絶縁膜はソルダーレジストと呼ばれ、はんだ付け工程の際に隣接する1対の電極同士がその周囲にて溶融したはんだにより互いに短絡する不具合の発生を抑制するために形成される。
一般的にはレジスト原材料である樹脂を溶剤に溶かした液状のソルダーレジストが広く使用されている。しかし近年ではレジスト材料をフィルム状に加工したものが、ドライフィルム型ソルダーレジストとして使用されている。ドライフィルム型ソルダーレジストは専用装置を用いて基板上にラミネートすることにより使用される。ドライフィルム型ソルダーレジストは塗布後の乾燥工程が不要であること、およびレジストとしての平坦性が高いことなどの点で優れている。
次に、ソルダーレジストを用いたスペーサ32の形成方法について説明する。
回路のパターン形成に用いられるエッチング用のフォトレジスト等とは異なり、ソルダーレジストははんだ付け工程が終了した後も除去されることなく最終製品に残存し長期間に渡って使用される。
未硬化状態の液状ソルダーレジストが、たとえば一般公知のスプレーコーティング法またはカーテンコータによる塗布方法を用いて、誘電体基板1または誘電体基板2の所望の領域に供給される。ソルダーレジストの供給量は、硬化後の厚みがたとえばほぼ20μmとなるように制御されることが好ましい。液状ソルダーレジストがプリント基板などの表面上に供給され乾燥させた後、露光および現像、ならびに不要なソルダーレジストを溶解除去させる処理がなされる。以上により所望のパターンが形成される。
これ以外の本実施の形態の構成は、実施の形態5の構成とほぼ同じであるため同一の要素については同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。
上記のように実施の形態5のチョーク溝31を有する導波管接続構造500においては、導波管3,4から図34の領域L1およびチョーク溝31の形成された領域においては、誘電体基板1と誘電体基板2とは導通しないことが好ましい。しかし予期しない外圧などにより、誘電体基板1の主表面1Aと誘電体基板2の主表面2Aとに挟まれた領域が変形し、導電層12と導電層14とが意図せず導通する可能性がある。
そこで主表面1Aと主表面2Aとの間の、チョーク溝31と嵌合部7との間にスペーサ32が配置される。これにより、上記の予期しない外圧が加わった場合における主表面1Aと主表面2Aとの導通を抑制し、誘電体基板1の主表面1Aと誘電体基板2の主表面2AとのギャップGを確保することができる。具体的には、たとえば76.5GHzで使用されるFM/CWレーダ装置において、スペーサ32は上記のようにギャップGが100μm以下である状態を維持することができる。
チョーク溝31の動作を阻害しない領域、導波管3,4から見てチョーク溝31よりも外側の領域に、厚みを有するスペーサ32が配置されることにより、互いに対向する主表面1Aと主表面2Aとの間隔を少なくともスペーサ32の厚み分(たとえば20μm)だけ確保することができる。このことからスペーサ32が配置された領域における主表面1Aと主表面2Aとの接触を抑制することができる。また嵌合部7より外側の領域については他の実施の形態と同様に誘電性接合材25により2つの誘電体基板1,2が接続される。このようにスペーサ32と誘電性接合材25とを組み合わせた構成とすることにより、主表面1Aと主表面2Aとに挟まれた領域のギャップGをより確実に確保することができる。
スペーサ32がソルダーレジストで形成されることにより、誘電体基板1,2の製造工程を変更することなくスペーサ32を含めた導波管接続構造600を提供することができる。このことは製品のコスト低減につながる。
(実施の形態7)
図40〜図42を参照して、本実施の形態の導波管接続構造700は、導波管接続構造500と同様に、誘電体基板1にはチョーク溝31が形成されている。ただし本実施の形態においては、チョーク溝31が上記の各実施の形態における凹部6として形成されている。また誘電体基板2には凹部6と対向するように凸部5が形成されており、この凸部5が凹部6内に挿入されることにより、凸部5と凹部6とは嵌合部7を構成している。ただしこの凸部5は導電層14の一部として構成されるものではなく、導電層14の主表面2A上に接続された、誘電体により形成された部材である。この点において本実施の形態は、凸部5が導電層14のハーフエッチングにより導電層14の一部として形成される上記の他の実施の形態と異なっている。
凸部5は、具体的にはたとえばソルダーレジストにより形成されることが好ましい。これは実施の形態6のスペーサ32を構成するソルダーレジストと同一の材料である。このため導電層14の主表面2A上へのソルダーレジストの供給による凸部5の形成方法は、基本的に実施の形態6のスペーサ32の形成方法と同様である。
導波管接続構造700においては、導波管3,4から見てチョーク溝31の外側の領域に、チョーク溝31のもっとも外側の縁から主表面1A,2Aに沿う方向に関して間隔αを隔てて誘電性接合材25の接合材外周端26が配置され、これにより誘電体基板1と誘電体基板2とが互いに接続されている。
これ以外の本実施の形態の構成は、実施の形態5の構成とほぼ同じであるため同一の要素については同一の符号を付し、その説明は繰り返さない。
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。
たとえば実施の形態5においては、チョーク溝31と嵌合部7とが主表面1A,2Aに沿う方向に関して並ぶように配置され、これらと並ぶようにさらに導波管3,4が配置される。この場合、平面視においてこれらの各部材を実装するために必要な面積が大きくなるため、導波管接続構造をよりコンパクトに形成するという要請に応えることが困難となる。
そこで本実施の形態においては誘電体基板1のチョーク溝31を嵌合部7の凹部6として利用し、凹部6がこれと対向する誘電体基板2の導電層14の主表面2A上に形成される誘電体の凸部5に嵌合され嵌合部7を構成する。これにより、実施の形態1の嵌合部7と同様に誘電体基板1と誘電体基板2とを位置ずれしないように接続可能とすることができるとともに、チョーク溝31と嵌合部7とを平面視において同じ領域に配置することにより、各部材を実装するために必要な面積を縮小させることができる。すなわち導波管接続構造700を形成するための実装に必要なスペースを削減することができる。
なお本実施の形態のようにチョーク溝31を嵌合部7の一部として利用しても、これがチョーク溝31として電磁波の進行を抑制する機能は他の実施の形態のチョーク溝31と同様に確保される。それは、たとえば実施の形態5のチョーク溝31の内部はたとえば誘電体である空気により満たされた既知の寸法の空間に過ぎないが、本実施の形態においてはそのチョーク溝31の内部の一部に誘電体からなり既知の寸法を有する凸部5が挿入されるだけであり、凸部5の挿入の有無にかかわらずチョーク溝31としての原理的な振る舞いは変わらないためである。凸部5を誘電体材料にて形成することにより、これをチョーク溝31内に挿入してもチョーク溝31はその(チョーク溝31としての)本来の機能を失わずに、位置決め用の嵌合部7としての機能と両立させることが可能となる。
凸部5が誘電体材料のうち特にソルダーレジストにより形成されれば、実施の形態6のスペーサ32と同じ方法を用いて容易に凸部5を形成することができる。このため、容易に凸部5を構成する材料の自由度を高めることができる。
なお、チョーク溝31のもっとも外側の縁から主表面1A,2Aに沿う方向に関して間隔αを隔てて誘電性接合材25の接合材外周端26が配置される。これにより、互いに異なる物性値を有する誘電性接合材25と凸部5とが混合して凸部5を構成する材質の物性値が変化し、凸部5が挿入されたチョーク溝31の電気的特性が変化する可能性を低減することができる。
本実施の形態においても実施の形態5,6と同様に、特にチョーク溝31の形成される領域およびその導波管3,4側(平面視における内側)における領域では、誘電体基板1の主表面1Aと誘電体基板2の主表面2Aとの導通を抑制するために両者間のギャップG(たとえば100μm以下)を確保することが好ましい。
なお本実施の形態においては、上記ギャップGは誘電性接合材25の厚みにより確保される。誘電性接合材25の粘度が高ければその流動性を低下させることができる。このため誘電性接合材25の硬化温度および誘電性接合材25による誘電体基板1,2の接続時の圧力を調整することにより、誘電性接合材25の硬化後の厚みを予測しつつギャップGを確保することができる。この目的を達成するためには、誘電性接合材25として、軟化時の流動性を低下させた絶縁タイプの加熱硬化型シート接着剤が用いられることが好ましい。
(実施の形態8)
実施の形態7においては実施の形態1〜6における導電層12,14をハーフエッチングすることによる凸部5の形成方法とは異なる、ソルダーレジストなどの誘電体を用いた凸部5の形成方法が用いられている。しかし凸部5の形成方法は他にも存在する。以下に凸部5の他の形成方法について説明する。
凸部5は、たとえば室温硬化または加熱硬化タイプの絶縁性を有する樹脂材料を用いて形成されてもよい。この場合、絶縁性のエポキシ樹脂またはシリコーン樹脂などを、ステンシルを用いた印刷法により誘電体基板1または誘電体基板2の表面上に一括供給し、室温または加熱条件下でこれを硬化させる。以上により凸部5が形成される。
あるいはディスペンサを用いて、絶縁性を有する樹脂材料を供給してやることにより凸部5を、誘電体基板1または誘電体基板2の表面上に形成することもできる。
あるいは自動部品実装機(いわゆるマウンタ)が利用できる場合には、あらかじめ個片化してリール供給可能な状態にしたゴムやプラスチックなどの絶縁性部品を導電性接合材などを用いて誘電体基板1または誘電体基板2の表面上に接着させることにより凸部5が形成されてもよい。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1,2 誘電体基板、1A,1B,2A,2B 主表面、3,4 導波管、5 凸部、6 凹部、7 嵌合部、8 空隙、11,13 誘電層、12,14 導電層、12p,14p めっき膜、15 導電性接合材、16,26 接合材外周端、20 感光性ドライフィルムレジスト、25 誘電性接合材、27 凸部上接合材、31 チョーク溝、32 スペーサ、100,200,300,400,500,600,700 導波管接続構造。

Claims (17)

  1. 互いに対向する1対の第1の主表面を有し、前記1対の第1の主表面のうち一方の前記第1の主表面から前記1対の第1の主表面のうち他方の前記第1の主表面に達するように中空構造の第1の導波管が形成された、第1の誘電層を含む第1の基板と、
    互いに対向する1対の第2の主表面を有し、前記1対の第2の主表面のうち一方の前記第2の主表面から前記1対の第2の主表面のうち他方の前記第2の主表面に達するように中空構造の第2の導波管が形成された、第2の誘電層を含む第2の基板とを備え、
    前記一方の第1の主表面と前記一方の第2の主表面が接合材により接続されることにより前記第1の導波管と前記第2の導波管とが接続され、
    前記一方の第1の主表面と前記一方の第2の主表面とのいずれか一方には、複数の嵌合部のそれぞれを構成する複数の凸部が形成され、
    前記一方の第1の主表面と前記一方の第2の主表面とのいずれか他方には、前記複数の嵌合部のそれぞれを構成し前記凸部と嵌合する複数の凹部が形成され、
    前記凹部の内部の少なくとも一部には空隙が存在する、導波管接続構造。
  2. 前記第1の基板には前記第1の主表面を形成する第1の導電層を含み、
    前記第2の基板には前記第2の主表面を形成する第2の導電層を含み、
    前記凸部は、前記第1または第2の導電層が前記凸部の周囲における前記第1または第2の導電層に対して突出するように形成され、
    前記凹部は、前記第1または第2の導電層に形成され、前記凹部の底部は前記第1または第2の導電層が露出している、請求項1に記載の導波管接続構造。
  3. 前記第1の基板には前記第1の主表面を形成する第1の導電層を含み、
    前記第2の基板には前記第2の主表面を形成する第2の導電層を含み、
    前記凸部は、前記第1または第2の導電層が前記凸部の周囲における前記第1または第2の導電層に対して突出するように形成され、
    前記凹部は、前記第1または第2の導電層に形成され、前記凹部の底部は前記第1または第2の誘電層が露出している、請求項1に記載の導波管接続構造。
  4. 前記接合材はシート状の導電性の接着剤または粘着材であり、
    前記接合材は少なくとも前記第1および第2の導波管と平面的に重なる位置ならびに前記嵌合部において開口を有している、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の導波管接続構造。
  5. 前記凸部が前記凸部の周囲に対して突出する第1の長さは、前記凹部が前記凹部の周囲に対して凹む第2の長さよりも長く、
    複数の前記嵌合部は1つの前記第1および第2の導波管を平面視において取り囲むように配置され、
    前記嵌合部を介して前記第1および第2の導電層が電気的に接続される、請求項2に記載の導波管接続構造。
  6. 前記凸部の前記第1または第2の主表面から最も離れた最上面の上には前記接合材としての凸部上接合材が配置され、
    前記凸部上接合材は導電性を有し、
    前記嵌合部を介して前記第1および第2の導電層が前記凸部上接合材により互いに電気的に接続される、請求項5に記載の導波管接続構造。
  7. 前記凸部または前記凹部のいずれか一方は、前記第1および第2の主表面に沿う方向に関する寸法が一定の筒状部であり、
    前記凸部または前記凹部のいずれか他方は、前記第1および第2の主表面に沿う方向に関する寸法が変化する錘状部であり、
    前記筒状部の前記第1および第2の主表面に沿う方向に関する寸法は、前記錘状部の前記第1および第2の主表面に沿う方向に関する最小の寸法より大きく、前記錘状部の前記第1および第2の主表面に沿う方向に関する最大の寸法より小さい、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の導波管接続構造。
  8. 前記一方の第1の主表面にはチョーク溝構造が形成されている、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の導波管接続構造。
  9. 前記チョーク溝構造の前記第1および第2の主表面に沿う方向に関する外側に前記嵌合部が配置される、請求項8に記載の導波管接続構造。
  10. 前記一方の第1の主表面と前記一方の第2の主表面とに挟まれた領域において、前記第1および第2の主表面に沿う方向に関する前記チョーク溝構造と前記嵌合部との間に、スペーサが配置される、請求項9に記載の導波管接続構造。
  11. 前記スペーサはソルダーレジストにより形成される、請求項10に記載の導波管接続構造。
  12. 前記チョーク溝構造は前記凹部として形成され、
    前記凸部は誘電体により形成される、請求項8に記載の導波管接続構造。
  13. 前記凸部はソルダーレジストにより形成される、請求項12に記載の導波管接続構造。
  14. 前記接合材はシート状の誘電性の接着剤または粘着材であり、
    前記接合材は少なくとも前記第1および第2の導波管と平面的に重なる位置ならびに前記嵌合部において開口を有している、請求項5〜請求項13のいずれか1項に記載の導波管接続構造。
  15. 第1の誘電層と、前記第1の誘電層の表面上に形成された第1の導電層とを含む第1の基板を準備する工程と、
    第2の誘電層と、前記第2の誘電層の表面上に形成された第2の導電層とを含む第2の基板を準備する工程と、
    前記第1の基板の互いに対向する1対の第1の主表面のうち一方の前記第1の主表面から前記1対の第1の主表面のうち他方の前記第1の主表面に達するように前記第1の基板を貫通する中空構造の第1の導波管を形成する工程と、
    前記第2の基板の互いに対向する1対の第2の主表面のうち一方の前記第2の主表面から前記1対の第2の主表面のうち他方の前記第2の主表面に達するように前記第2の基板を貫通する中空構造の第2の導波管を形成する工程と、
    前記一方の第1の主表面と前記一方の第2の主表面とのいずれか一方に、複数の嵌合部のそれぞれを構成する複数の凸部を形成する工程と、
    前記一方の第1の主表面と前記一方の第2の主表面とのいずれか他方に、前記凸部と嵌合可能であり、前記複数の嵌合部のそれぞれを構成する複数の凹部を形成する工程と、
    前記一方の第1の主表面と前記一方の第2の主表面とが接合材により接続されることにより前記第1の導波管と前記第2の導波管とを接続する工程とを備え、
    前記接続する工程においては、前記凸部と前記凹部とは互いに嵌合され、前記凹部の内部の少なくとも一部には空隙が形成される、導波管接続構造の製造方法。
  16. 前記凸部を形成する工程は、前記第1または第2の導電層の一部をハーフエッチングする工程を含み、
    前記凹部を形成する工程は、前記第1または第2の導電層の一部をハーフエッチングする工程を含む、請求項15に記載の導波管接続構造の製造方法。
  17. 前記凸部を形成する工程は、前記第1または第2の導電層の一部をハーフエッチングする工程を含み、
    前記凹部を形成する工程は、前記第1または第2の導電層の一部をフルエッチングする工程を含む、請求項15に記載の導波管接続構造の製造方法。
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