JP6254383B2 - ドレッシング装置及びそれを備えた化学的機械的研磨装置、それに用いるドレッサーディスク - Google Patents

ドレッシング装置及びそれを備えた化学的機械的研磨装置、それに用いるドレッサーディスク Download PDF

Info

Publication number
JP6254383B2
JP6254383B2 JP2013177741A JP2013177741A JP6254383B2 JP 6254383 B2 JP6254383 B2 JP 6254383B2 JP 2013177741 A JP2013177741 A JP 2013177741A JP 2013177741 A JP2013177741 A JP 2013177741A JP 6254383 B2 JP6254383 B2 JP 6254383B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dresser
disk
dresser disk
dressing
end point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013177741A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015044273A5 (ja
JP2015044273A (ja
Inventor
篠崎 弘行
弘行 篠崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Priority to JP2013177741A priority Critical patent/JP6254383B2/ja
Priority to TW103128579A priority patent/TWI638705B/zh
Priority to CN201410418002.2A priority patent/CN104416463A/zh
Priority to KR20140111554A priority patent/KR20150026887A/ko
Priority to US14/471,481 priority patent/US20150065019A1/en
Publication of JP2015044273A publication Critical patent/JP2015044273A/ja
Publication of JP2015044273A5 publication Critical patent/JP2015044273A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6254383B2 publication Critical patent/JP6254383B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B53/00Devices or means for dressing or conditioning abrasive surfaces
    • B24B53/017Devices or means for dressing, cleaning or otherwise conditioning lapping tools

Description

本発明は、半導体ウェハ等の被研磨物の研磨に使用する研磨パッドをドレッシングするドレッシング装置及びそれを備えた化学的機械的研磨装置、それに用いるドレッサーディスクに関する。
近年、半導体素子は、微細化及び複雑化が進みつつあり、半導体素子の製造工程において半導体ウェハ等の基板表面の平坦化はナノメートル単位で求められる。それを実現するため、半導体ウェハ等の表面の平坦化には、例えば、化学的機械的研磨装置(以下、CMP(Chemical Mechanical Polishing)装置という。)が用いられる。
CMP装置は、例えば、図16に示すように、上面に研磨パッド10を備えた研磨テーブル11と、半導体ウェハ等の基板を保持するトップリング12とを備えている。研磨パッド10、トップリング12をそれぞれ矢印の方向に回転させ、研磨パッド10上に研磨液を供給しながらトップリング12内に保持した基板を研磨パッド10に所定の圧力で押し付けることにより基板表面を研磨することができる。研磨液には、例えば、アルカリ溶液にシリカ等の微粒子を砥粒として懸濁したものを用いることができる。これにより、基板表面は、研磨パッドによる研磨だけでなく、研磨液のアルカリによる化学的研磨作用と、砥粒による機械的研磨作用とにより平坦化される。
このようなCMP装置において、基板の研磨を繰り返すうちに、研磨パッド10は滑らかになるとともに砥粒や研磨屑などが付着するため研磨性能が低下してしまう。そこで、研磨性能を回復させるために、ドレッシング(目立て)を行う必要がある。研磨パッド10のドレッシングを行うために、CMP装置にはドレッシング装置13が備え付けられていることがある。
ドレッシング装置13は、例えば、回転可能なホルダー部14と、ホルダー部に装着するドレッサーディスクとを備えている。ドレッサーディスクの底面はドレッシング面としてあり、ダイヤモンド粒子などが電着されている。ドレッシング面を回転させながら研磨パッド上に擦り付けることにより、研磨パッド10をドレッシングするとともに研磨パッド10に付着した砥粒や研磨屑などを取り除くことができる。
従来のドレッサーディスクとしては、下記特許文献1に、台金の表面に円環状にダイヤモンド粒子を電着し、研磨屑を十分に掻き出すことができるコンディショニングディスク(ドレッサーディスクに相当)が示されている。
従来のドレッシング装置としては、下記特許文献2に、ドレッシング部材(ドレッサーディスクに相当)をドレッサ駆動軸に対して傾動可能とする球面軸受と、ドレッシング部材の傾動に抗する力を発生するばね機構とを備え、研磨パッドを偏摩耗することのないドレッシング装置が示されている。
また、下記特許文献3には、研磨面のコンディショニング中に、研磨面の高さの測定と測定点の位置の算出を繰り返して、研磨面内における高さ分布を生成し、研磨パッドの研磨面を監視する方法が示されている。
特開2001−121417号公報 特開2010−172996号公報 特開2012−250309号公報
上記特許文献1−3などに示されるように、半導体素子の微細化及び複雑化を実現するため様々な方法により研磨パッドの平坦化が図られている。
しかし、従来のドレッシング装置においては、例えば、図17(特許文献2の図4)に示されるように、ホルダー部14とドレッサーディスク15とを固定ねじや丸棒状のピンなどの固定具16で連結して、ホルダー部14の回転トルクをドレッサーディスク15に伝達するものであった。
このように固定ねじや丸棒状のピンなどの固定具16でドレッサーディスク15に回転トルクを伝達すると固定具16付近に局所的に応力が集中し、ドレッサーディスク15の回転が微妙に揺らぎ、水平回転を保てないことがあった。そのため、研磨パッド10との接触状況がミクロに変化し、研磨パッド10のドレッシングに影響を及ぼすことがあった。
そこで、本発明は、ドレッサーディスクの回転が揺らぐことを改善できるドレッシング装置及びそれを備えたCMP装置、それに用いるドレッサーディスクを提案する。
本発明の一態様は、研磨パッドをドレッシングするドレッシング装置において、研磨パッドに擦り付けるドレッシング面を有するドレッサーディスクと、前記ドレッサーディスクを保持するホルダー部と、前記ホルダー部に固定され、トルクを前記ドレッサーディスクに伝達するドレッサー駆動軸を有し、前記ドレッサーディスクと前記ホルダー部とは、互いに装着され、かつ、前記ドレッサー駆動軸からのトルクを前記ドレッサーディスクに伝達するための接触面を有し、前記接触面は、凹状側を周囲が閉鎖された凹溝状とした凹凸状嵌合により構成されてなり、前記ドレッサーディスク平面視において、少なくとも半径方向内側と半径方向外側とに2つの端点を有し、前記ドレッサーディスクの回転中心から前記半径方向内側にある端点を通る直線を引いたときに、前記半径方向内側の端点と前記半径方向外側の端点とを結ぶ直線となす角度が13°以下である、ドレッシング装置である。
本発明の好ましい態様として、前記ドレッサーディスクの上面は、凹凸状嵌合部分を除いて平面状に形成してあり、前記ドレッサーディスクを前記ホルダー部に装着した際、前記ドレッサーディスク及び前記ホルダー部が面状に接触する構成とすることができる。
また、前記接触面は、ドレッサーディスク側の接触面を凹溝に備え、ホルダー部側の接触面を凸条に備えることができ、また、前記接触面は、ディスク平面視において、ドレッサーディスクの回転中心に対して点対称に少なくとも一対形成することができる。
さらに、本発明の好ましい態様として、前記ドレッサーディスク側の接触面は、前記ドレッサーディスク平面視において、少なくとも半径方向内側と半径方向外側とに2つの端点を有し、前記ドレッサーディスクの回転中心から前記半径方向内側にある端点を通る直線を引いたときに、前記半径方向内側の端点と前記半径方向外側の端点とを結ぶ直線と一直線上になるように形成することができる
本発明の好ましい態様として、前記ホルダー部外周に、下方に突出する周壁部を有し前記周壁部の前記ホルダー部半径方向内側にドレッサーディスクを収納できるディスク収納部を備えることができる。
本発明の好ましい態様として、前記接触面は、前記ドレッサーディスク平面視において、四角形状の前記凹凸状嵌合により構成されてなり、前記四角形状の凹凸状嵌合の前記ドレッサーディスク外縁側にある辺の幅は、前記凹凸状嵌合部の前記ドレッサーディスク内側にある辺から回転中心までの距離の1/2以下であり、また、前記接触面は、前記ドレッサーディスク平面視において、半径方向内側の端点と半径方向外側の端点を有し、前記半径方向内側の端点から前記半径方向外側の端点までの長さが、前記ドレッサーディスクの半径に対して0.4以上である。
前記凹凸状嵌合は、前記ドレッサーディスク平面視において、半円状乃至蒲鉾状に形成したり、楔形状に形成したりすることができる。
本発明の他の態様は、上記ドレッシング装置を備えた化学的機械的研磨装置である。
本発明の他の態様は、研磨パッドをドレッシングするドレッシング装置に用い、回転可能かつ上下動可能なドレッサー駆動軸に連結されたホルダー部に装着可能なドレッサーディスクにおいて、ホルダー部に装着した際に、ホルダー部側の嵌合部に凹凸状嵌合する被嵌合部を有するトルク伝達部と、トルク伝達部の周囲の一面として形成した平坦面状の接触面と、を備え、前記接触面は、前記ドレッサーディスク平面視において、少なくとも半径方向内側と半径方向外側とに2つの端点を有し、前記ドレッサーディスクの回転中心から前記半径方向内側にある端点を通る直線を引いたときに、前記半径方向内側の端点と前記半径方向外側の端点とを結ぶ直線となす角度が13°以下であり、前記嵌合部又は前記被嵌合部を周囲が閉鎖された凹状にして前記凹凸状嵌合できる、ドレッサーディスクである。
前記トルク伝達部は、前記ドレッサーディスク平面視において、半円状乃至蒲鉾状に形成したり、楔形状に形成したりすることができる。
本発明は、ホルダー部及びドッレサーディスクに、ディスク半径方向に延びる凸状又は凹状のトルク伝達部を形成し、トルク伝達部に平坦面状の接触面を形成して、この面で平面接触してドッレサ駆動軸のトルクを伝達できるようにしたため、応力を分散して応力集中を緩和でき、ドレッサーディスクが水平回転しやすくなり、研磨パッドを偏摩耗させることなくドレッシングすることができる。
本発明の一実施形態のドレッシング装置を示した概略斜視図である。 図1に示したドレッシング装置のホルダー部及びドレッサーディスク付近の断面図である。 ホルダー部及びドレッサーディスクを示した斜視図である。 ホルダー部にドレッサーディスクを装着した状態を示した底面図である。 ドレッサーディスクの各変形例を示した平面図である。 ドレッサーディスクの被嵌合部付近を示した拡大斜視図である。 トルク伝達部付近を示した拡大断面図である。 トルク伝達部の角度を説明するための図である。 トルク伝達部の幅と位置との関係を説明するための図である。 トルク伝達部の接触面の長さとディスク半径との関係を説明するための図である。 従来のCMP装置の一例を示す概略斜視図である。 従来のドレッシング装置の一例を示す断面図である。
以下、本発明のドレッシング装置の好適な実施形態について説明する。
本発明の一実施形態のドレッシング装置1は、図1に示すように、半導体基板などを研磨する研磨パッド8bをドレッシングするために用いることができ、図2などに示すように、ドレッサ駆動軸2と、ホルダー部3と、ドレッサーディスク4と、を備える。
ドレッシング装置1は、図1に示すように、ドレッサ駆動軸2の下端部にホルダー部3を連結してある。ホルダー部3はドレッサーディスク4を装着してある。回転する研磨テーブル8a上に設けた研磨パッド8bにドレッサーディスク4を水平回転させながら擦り付けることにより、研磨パッド8bをドレッシングすることができる。ドレッサ駆動軸2は、支持アーム1aにより支持され、適宜位置に移動可能にしてある。
ドレッシング装置1は、図1に示すように、CMP装置8に備えてあり、CMP装置8は半導体ウェハ等の基板を保持するトップリング9なども備えている。CMP装置8は、トップリング9、研磨パッド8bをそれぞれ矢印の方向に回転させ、研磨パッド8b上に研磨液を供給しながらトップリング9内に保持した基板を研磨パッド8bに所定の圧力で押し付けることにより基板表面を研磨することができる。研磨液には、例えば、アルカリ溶液にシリカ等の微粒子を砥粒として懸濁したものを用いることができる。これにより、基板表面は、研磨パッド8bによる研磨だけでなく、研磨液のアルカリによる化学的研磨作用と、砥粒による機械的研磨作用とにより平坦化することができる。
ドレッサ駆動軸2は、図1又は図2などに示すように、回転可能かつ上下動可能に形成してあり、下端にホルダー部3を固定できる。ドレッサ駆動軸2を上下動させることにより、ホルダー部4に装着したドレッサーディスク4を昇降させて研磨パッドに対する荷重を調整することができ、また、回転させることにより、ホルダー部3に装着したドレッサーディスク4が回転し、研磨パッドをドレッシングすることができる。
ホルダー部3は、図2又は図3などに示すように、円盤状に形成してあり、上面側はドレッサ駆動軸2の下端部に連結でき、底面側はドレッサーディスク4を装着できるように形成してある。ホルダー部3の材質は、特に限定するものではないが、合成樹脂などから選択することができる。
ホルダー部3の中心には円形状の開口部3aが形成してあり、ドレッサ駆動軸2に嵌め合せて連結できるようにしてある。ドレッサ駆動軸2に連結する方法は、これに限定されるものではなく、従来公知の連結方法を用いることができるが、例えば、球面軸受などを介して固定し、駆動軸2に対して傾動可能に連結することができる。
ホルダー部3の底面3bは、水平面状に形成し、外周に、全周に渡り下方に突出する周壁部3cが設けてある。周壁部3cの内側は、ドレッサーディスク4を装着できるディスク収納部3dとしてある。
周壁部3cは、断面矩形状に形成し、その内側面は装着したドレッサーディスク4の外縁に沿うように形成してある。周壁部3cを設けることにより、ドレッサーディスク4の位置決めをし、回転時にドレッサーディスク4が遠心力によりずれることを防止できる。
ホルダー部3の底面3bには、半径方向に延びる凸状の嵌合部5aが形成してあり、ドレッサーディスク4に形成した被嵌合部5bに嵌め合せてトルク伝達部6を形成できるようにしてある。嵌合部5aは、凹状に形成することもでき、詳しくは後述する。
ドレッサーディスク4は、図3などに示すように、中心に円形開口部を有する円盤板状に形成してあり、底面には、研磨パッドに擦り付けるドレッシング面4aを形成し、上面側は、ホルダー部3に装着できるように形成してある。円形開口部は設けなくてもよい。
ドレッシング面4aは、図4などに示すように、一定幅の円環状に形成してあり、ダイヤモンドなどの硬度のある粒子を電着などさせて形成してある。ドレッシング面4aの形状は、これに限定されるものではなく、従来公知の形状にすることができ、例えば、外周を一定幅で下方に突出させた凸部を形成し、この凸部の先端面にドレッシング面4aを形成してもよい。
ホルダー部3にドレッサーディスク4を装着するには、従来公知の方法を用いることができるが、ホルダー部3内に磁石などを埋設させ、ドレッサーディスク4を磁力により装着できるようにすることが好ましい。この際、ドレッサーディスク4は、磁性を有する金属、例えば、ステンレス鋼などで形成することが好ましい。これ以外にも、例えば、ピン、ねじ、ボルトなどを用いて装着することもでき、また、ホルダー部3の上面に貫通する孔を設けておき、吸引によりドレッサーディスク4を装着できるようにしてもよい。
ドレッサーディスク4の上面には、図2又は図3などに示すように、ディスク半径方向に延びる凹状の被嵌合部5bが形成してあり、被嵌合部5bは、嵌合部5aに嵌め合せ可能な形状に形成し、嵌合部5aとともにトルク伝達部6を形成する。
トルク伝達部6は、互いに嵌り合う嵌合部5aと被嵌合部5bとで形成され、レッサ駆動軸2のトルクを、ホルダー部3からドレッサーディスク4に効率良く伝達することができる。被嵌合部5bは、凸状に形成することもでき、嵌合部5aに嵌り合うようにそれぞれ対応した凹凸状として形成することができる。嵌合部5a及び被嵌合部5bは、嵌合した際、略隙間なく嵌め合せできることが好ましく、また、周囲の各面は、略垂直な面とするのが好ましい。
図2又は図3などに示す形態では、ドレッサーディスク4に凹溝状の被嵌合部5bを設け、ホルダー部3に凸条状の嵌合部5aを設けてある。ドレッサーディスク4に凸条状の被嵌合部5bを設け、ホルダー部3に凹溝状の嵌合部5aを設けてもよいが、このようにすると、例えば、ドレッサーディスク4の上面が平面状であれば装着できてしまうことがある。そのため、誤装着を防ぐために被嵌合部5bを凹溝状に、嵌合部5aを凸条状に形成した方が好ましい。
被嵌合部5b(又は嵌合部5a)は、ディスク平面視において、ディスク半径方向に延びる形状に形成してある。例えば、図5〜図8には、ドレッサーディスク4の被嵌合部5bの変形例を示してあるが、図5に示すような楔形状、図6に示すような半円状乃至蒲鉾状、図7に示すような長方形状、図8に示すような長円状などに形成することができる。ディスク半径方向に延びる形状とすることにより、ディスク半径方向に力が働きにくくなり、ドレッサーディスク4の回転が安定する。図6に示すような半円状乃至蒲鉾状に形成した場合は、ドレッサーディスクが回転した際に特に位置ずれがしにくいものである。なお、図5〜図8に示した被嵌合部5bは凹溝状に形成した場合を示してある。
被嵌合部5b(又は嵌合部5a)の深さ(又は出代幅)は、特に限定するものではないが、トルクを伝達する際にお互いが掛り合う深さ(又は出代幅)に形成することができ、ドレッサーディスク4の外縁の厚みに対して20%〜80%、特に40%〜60%が好ましい。
トルク伝達部6は、少なくとも一つ形成してあればよいが、ドレッサーディスク4の回転中心に対して点対称に少なくとも一対形成することが好ましく、特に一対〜四対形成することが好ましい。これにより、応力集中がより緩和できる。図8に示すように、レッサーディスク4の回転中心に対して点対称に四対形成してもよい。
トルク伝達部6には、図9又は図10などに示すように、ドレッサ駆動軸2が回転した際に、嵌合部5aと被嵌合部5bとが平面接触するように平坦面状の接触面7を形成してある。接触面7を有することにより、応力が適度に分散するとともにドレッサーディスク4に損失を少なくして伝達できる。図10に示すように、ホルダー部3が矢印の方向に回転する際は、図10において、嵌合部5a及び被嵌合部5bの左側の面が接触面7となる。
接触面7は、効率良くトルクを伝達するため、略垂直な面とするのが好ましい。また、接触面7は平坦面として形成してあるため、ドッレサーディスク4の上面において接触面7の縁部が直線状に表れる。
トルク伝達部6を、平面視において、楔形状、長円状、長方形状などに形成した場合は、接触面7に対向する面も接触面7’にすることができ、どちら向きに回転しても対応できるドレッサーディスク4になる。
接触面7は、図11又は図12に示すように、ディスク平面視において、ドレッサーディスク4の回転中心及び接触面7の内側端点Iを通る直線に対する角度θが、13°以下、特に5°以下に形成することが好ましい。この値が13°を超えると、トルクがディスク半径方向に逃げやすくなり、ドレッサーディスク4の回転が安定しにくくなる。
特に、図13に示すように、ドレッサーディスク4の回転中心及び接触面7の内側端点Iを通る直線上(つまりθ=0)になるように形成することが好ましい。図11又は図12に示すように、接触面7はディスク半径方向に対して斜めでもよいが、図13に示すよう接触面7がディスク半径方向になることにより、トルクの損失が減少し、トルクをドレッサーディスク4に確実に伝達できる。
トルク伝達部6は、図14に示すように、ディスク平面視において、ディスク外縁側の幅Wが、接触面7の内側端点Iから回転中心までの距離Rの1/2以下、特に1/4以下に形成することが好ましい。これにより、応力がディスク半径方向に逃れにくくなり、トルクの損失が減少する。図14は、被嵌合部5bを、ディスク平面視において、長方形状の凹溝状に形成した場合を示してあるが、これに限定されるものではない。
接触面7は、図15に示すように、ディスク平面視において、ドッレサーディスク4の上面に表れる縁部の長さLがディスク半径rに対して0.4以上、特に0.7以上に形成することが好ましい。これにより、接触面7において応力が適度に分散されるため、ドレッサーディスク4が回転する際に揺らぐことを防止できる。
ドレッシング装置1は、ホルダー部3及びドッレサーディスク4に、ディスク半径方向に延びる凸状又は凹状のトルク伝達部6を形成し、トルク伝達部6に平坦面状の接触面7を形成して、この面で平面接触してドッレサ駆動軸2のトルクを伝達できるようにしたため、応力集中を緩和し、ドレッサーディスク4が回転する際の揺らぎが減少し、研磨パッド8bを偏摩耗させることなくドレッシングすることができる。
ドレッシング装置1は、CMP装置8に備えることができ、半導体ウェハ等の被研磨物の研磨に使用する研磨パッドをドレッシングすることができる。
上記実施形態の構成態様は、本発明を限定するものとして挙げたものではなく、技術目的を共通にするかぎり変更は可能であり、本発明はそのような変更を含むものである。
1ドレッシング装置
1a支持アーム
2ドレッサ駆動軸
3ホルダー部
3a開口部
3b底面
3c周壁部
3dディスク収納部
4ドレッサーディスク
4aドレッシング面
5a嵌合部
5b被嵌合部
6トルク伝達部
7接触面
8CMP装置
8a研磨テーブル
8b研磨パッド
9トップリング

Claims (14)

  1. 研磨パッドをドレッシングするドレッシング装置において、
    研磨パッドに擦り付けるドレッシング面を有するドレッサーディスクと、
    前記ドレッサーディスクを保持するホルダー部と、
    前記ホルダー部に固定され、トルクを前記ドレッサーディスクに伝達するドレッサー駆動軸を有し、
    前記ドレッサーディスクと前記ホルダー部とは、互いに装着され、かつ、前記ドレッサー駆動軸からのトルクを前記ドレッサーディスクに伝達するための接触面を有し、
    前記接触面は、凹状側を周囲が閉鎖された凹溝状とした凹凸状嵌合により構成されてなり、前記ドレッサーディスク平面視において、少なくとも半径方向内側と半径方向外側とに2つの端点を有し、前記ドレッサーディスクの回転中心から前記半径方向内側にある端点を通る直線を引いたときに、前記半径方向内側の端点と前記半径方向外側の端点とを結ぶ直線となす角度が13°以下である、
    ドレッシング装置。
  2. 前記ドレッサーディスクの上面は、凹凸状嵌合部分を除いて平面状に形成してあり、前記ドレッサーディスクを前記ホルダー部に装着した際、前記ドレッサーディスク及び前記ホルダー部が面状に接触する構成とした請求項1に記載のドレッシング装置。
  3. 前記接触面は、ドレッサーディスク側の接触面を凹溝に備え、ホルダー部側の接触面を凸条に備えた請求項1又は2に記載のドレッシング装置。
  4. 前記接触面は、ディスク平面視において、ドレッサーディスクの回転中心に対して点対称に少なくとも一対形成した請求項1〜3のいずれかに記載のドレッシング装置。
  5. 前記ドレッサーディスク側の接触面は、前記ドレッサーディスク平面視において、少なくとも半径方向内側と半径方向外側とに2つの端点を有し、前記ドレッサーディスクの回転中心から前記半径方向内側にある端点を通る直線を引いたときに、前記半径方向内側の端点と前記半径方向外側の端点とを結ぶ直線と一直線上になる請求項1〜4のいずれかに記載のドレッシング装置。
  6. 前記ホルダー部の外周部に、下方に突出する周壁部を有し、前記周壁部の前記ホルダー部半径方向内側にドレッサーディスクを収納できるディスク収納部を備えた請求項1〜5のいずれかに記載のドレッシング装置。
  7. 前記接触面は、前記ドレッサーディスク平面視において、四角形状の前記凹凸状嵌合により構成されてなり、前記四角形状の凹凸状嵌合の前記ドレッサーディスク外縁側にある辺の幅は、前記凹凸状嵌合部の前記ドレッサーディスク内側にある辺から回転中心までの距離の1/2以下である請求項1〜6のいずれかに記載のドレッシング装置。
  8. 前記接触面は、前記ドレッサーディスク平面視において、半径方向内側の端点と半径方向外側の端点を有し、前記半径方向内側の端点から前記半径方向外側の端点までの長さが、前記ドレッサーディスクの半径に対して0.4以上である請求項1〜7のいずれかに記載のドレッシング装置。
  9. 前記凹凸状嵌合は、前記ドレッサーディスク平面視において、半円状乃至蒲鉾状に形成した請求項1〜8のいずれかに記載のドレッシング装置。
  10. 前記凹凸状嵌合は、前記ドレッサーディスク平面視において、楔形状に形成した請求項1〜8のいずれかに記載のドレッシング装置。
  11. 請求項1〜10のいずれかに記載のドレッシング装置を備えた化学的機械的研磨装置。
  12. 研磨パッドをドレッシングするドレッシング装置に用い、回転可能かつ上下動可能なドレッサー駆動軸に連結されたホルダー部に装着可能なドレッサーディスクにおいて、
    ホルダー部に装着した際に、ホルダー部側の嵌合部に凹凸状嵌合する被嵌合部を有するトルク伝達部と、
    トルク伝達部の周囲の一面として形成した平坦面状の接触面と、を備え、
    前記接触面は、前記ドレッサーディスク平面視において、少なくとも半径方向内側と半径方向外側とに2つの端点を有し、前記ドレッサーディスクの回転中心から前記半径方向内側にある端点を通る直線を引いたときに、前記半径方向内側の端点と前記半径方向外側の端点とを結ぶ直線となす角度が13°以下であり、
    前記嵌合部又は前記被嵌合部を周囲が閉鎖された凹状にして前記凹凸状嵌合できる、
    ドレッサーディスク。
  13. 前記トルク伝達部は、前記ドレッサーディスク平面視において、半円状乃至蒲鉾状に形成した請求項12に記載のドレッサーディスク。
  14. 前記トルク伝達部は、前記ドレッサーディスク平面視において、楔形状に形成した請求項12に記載のドレッサーディスク。
JP2013177741A 2013-08-29 2013-08-29 ドレッシング装置及びそれを備えた化学的機械的研磨装置、それに用いるドレッサーディスク Active JP6254383B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013177741A JP6254383B2 (ja) 2013-08-29 2013-08-29 ドレッシング装置及びそれを備えた化学的機械的研磨装置、それに用いるドレッサーディスク
TW103128579A TWI638705B (zh) 2013-08-29 2014-08-20 Dressing device, chemical mechanical polishing device with dressing device, and dresser plate for dressing device
CN201410418002.2A CN104416463A (zh) 2013-08-29 2014-08-22 修整装置及具有它的化学机械研磨装置、用于它的修整器盘
KR20140111554A KR20150026887A (ko) 2013-08-29 2014-08-26 드레싱 장치 및 그것을 구비한 화학적 기계적 연마 장치, 그것에 사용하는 드레서 디스크
US14/471,481 US20150065019A1 (en) 2013-08-29 2014-08-28 Dressing device, chemical mechanical polishing apparatus including the same, and dresser disc used in the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013177741A JP6254383B2 (ja) 2013-08-29 2013-08-29 ドレッシング装置及びそれを備えた化学的機械的研磨装置、それに用いるドレッサーディスク

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015044273A JP2015044273A (ja) 2015-03-12
JP2015044273A5 JP2015044273A5 (ja) 2016-06-16
JP6254383B2 true JP6254383B2 (ja) 2017-12-27

Family

ID=52583891

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013177741A Active JP6254383B2 (ja) 2013-08-29 2013-08-29 ドレッシング装置及びそれを備えた化学的機械的研磨装置、それに用いるドレッサーディスク

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20150065019A1 (ja)
JP (1) JP6254383B2 (ja)
KR (1) KR20150026887A (ja)
CN (1) CN104416463A (ja)
TW (1) TWI638705B (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6842859B2 (ja) 2016-08-12 2021-03-17 株式会社荏原製作所 ドレッシング装置、研磨装置、ホルダー、ハウジング及びドレッシング方法
JP6357260B2 (ja) * 2016-09-30 2018-07-11 株式会社荏原製作所 研磨装置、及び研磨方法
CN107553330B (zh) * 2017-10-20 2019-07-12 德淮半导体有限公司 修整盘系统、化学机械研磨装置及修整盘脱落侦测方法
JP7308074B2 (ja) * 2019-05-14 2023-07-13 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び基板処理方法
JP2020192627A (ja) * 2019-05-27 2020-12-03 株式会社ディスコ 加工装置
KR102108155B1 (ko) 2020-02-04 2020-05-08 주식회사 이노프 경사면에 의한 잠금 여부가 결정되는 높이 조절형 책걸상

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5667433A (en) * 1995-06-07 1997-09-16 Lsi Logic Corporation Keyed end effector for CMP pad conditioner
US6200199B1 (en) * 1998-03-31 2001-03-13 Applied Materials, Inc. Chemical mechanical polishing conditioner
JP3295888B2 (ja) * 1998-04-22 2002-06-24 株式会社藤森技術研究所 ケミカルマシンポリッシャの研磨盤用研磨ドレッサ
US6217429B1 (en) * 1999-07-09 2001-04-17 Applied Materials, Inc. Polishing pad conditioner
JP2001121417A (ja) * 1999-10-29 2001-05-08 Applied Materials Inc コンディショニングディスク
US6386963B1 (en) * 1999-10-29 2002-05-14 Applied Materials, Inc. Conditioning disk for conditioning a polishing pad
US7201645B2 (en) * 1999-11-22 2007-04-10 Chien-Min Sung Contoured CMP pad dresser and associated methods
US6523215B2 (en) * 2001-04-04 2003-02-25 Saint-Gobain Abrasives Technology Company Polishing pad and system
US6887138B2 (en) * 2003-06-20 2005-05-03 Freescale Semiconductor, Inc. Chemical mechanical polish (CMP) conditioning-disk holder
JP4775881B2 (ja) * 2004-12-10 2011-09-21 東洋ゴム工業株式会社 研磨パッド
JP4999337B2 (ja) * 2006-03-14 2012-08-15 株式会社ノリタケカンパニーリミテド Cmpパッドコンディショナー
US8517844B2 (en) * 2008-11-26 2013-08-27 Sgf Sueddeutsche Gelenkscheibenfabrik Gmbh & Co. Kg Torque transmitting device
JP5236515B2 (ja) * 2009-01-28 2013-07-17 株式会社荏原製作所 ドレッシング装置、化学的機械的研磨装置及び方法
JP5896625B2 (ja) * 2011-06-02 2016-03-30 株式会社荏原製作所 研磨装置に使用される研磨パッドの研磨面を監視する方法および装置
TW201350267A (zh) * 2012-05-04 2013-12-16 Saint Gobain Abrasives Inc 用於同雙側化學機械平坦化墊修整器一起使用之工具
USD743456S1 (en) * 2012-09-26 2015-11-17 Ebara Corporation Dresser disk
JP5919157B2 (ja) * 2012-10-01 2016-05-18 株式会社荏原製作所 ドレッサー
US9308623B2 (en) * 2013-04-19 2016-04-12 Applied Materials, Inc. Multi-disk chemical mechanical polishing pad conditioners and methods

Also Published As

Publication number Publication date
US20150065019A1 (en) 2015-03-05
CN104416463A (zh) 2015-03-18
KR20150026887A (ko) 2015-03-11
JP2015044273A (ja) 2015-03-12
TWI638705B (zh) 2018-10-21
TW201509600A (zh) 2015-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6254383B2 (ja) ドレッシング装置及びそれを備えた化学的機械的研磨装置、それに用いるドレッサーディスク
JP5236515B2 (ja) ドレッシング装置、化学的機械的研磨装置及び方法
JP5677929B2 (ja) 少なくとも3枚の半導体ウェハの両面の同時材料除去処理のための方法
JP5919157B2 (ja) ドレッサー
JP2000094307A (ja) ポリッシング装置
JP2002539962A (ja) 研磨パッドを再状態調整する装置および方法
JP6829467B2 (ja) 両面研磨装置
JP2007268666A (ja) Cmpパッドコンディショナー
JP2015196224A (ja) 研磨方法、及び保持具
JP2015069671A (ja) 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法
WO2015015706A1 (ja) ドレッシング方法及びドレッシング装置
JP7287761B2 (ja) 球面軸受の軸受半径決定方法
KR100661730B1 (ko) 화학 기계적 연마(cmp) 패드 드레서 및 화학 기계적연마(cmp) 장치
JP2009142944A (ja) 回転研磨機用研磨盤に使用されるバフ盤
JP4194563B2 (ja) Cmpパッドコンディショナー
US6893331B2 (en) Gimbal assembly for semiconductor fabrication and other tools
JP2010264567A (ja) パッドコンディショナ
KR100962090B1 (ko) 연마패드용 드레싱 유닛
JP2010173049A (ja) 研磨機、研磨機用キャリア及び研磨方法
JP2008168402A (ja) 光学素子の研削装置及び研削方法
KR20110027982A (ko) 다이아몬드 연마구
KR20030020149A (ko) 씨엠피 장비의 컨디셔너
CN103331692B (zh) 一种基于永磁环的悬浮抛光装置
JP2004181536A (ja) グラビア製版ロール研磨用砥石及び該砥石を用いた研磨方法
KR20070025565A (ko) Cmp장비의 컨디셔너

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160420

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160420

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170228

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170418

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170912

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171106

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20171121

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20171130

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6254383

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250