JP6254015B2 - 導電性ペースト、電気・電子部品及びその製造方法 - Google Patents
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Description
ここで、(A)成分と(B)成分とは、その合量[(A)成分+(B)成分]に対して、(A)成分を50〜95質量%、(B)成分を5〜50質量%含有することが低抵抗化の観点から好ましく、(A)成分を55〜90質量%、(B)成分を10〜45質量%含有することがより好ましい。
本発明の電気・電子部品は、上記した本発明の導電性ペーストを貴金属と接触させた状態で焼結させて得られ、焼結後の体積抵抗率が1×10−5Ω・cm以下である外部電極又は内部電極を有するものである。体積抵抗率が1×10−5Ω・cm超では焼結性が十分に得られていないために、信頼性の悪化を招くおそれがある。
表1の配合に従って各成分を混合し、ロールで混練し、樹脂ペーストを得た。得られた樹脂ペーストを以下の方法で評価した。その結果を表1に示す。なお、実施例及び比較例で用いた材料は、下記の通りの特性を有するものを使用した。
フレーク状銀粉A(平均粒径:4.0μm、Tap密度:5.5g/cm3、炭素含有化合物の含有量:0.3質量%)
フレーク状銀粉B(平均粒径:3.0μm、Tap密度:3.8g/cm3、炭素含有化合物の含有量:0.4質量%)
フレーク状銀粉C(平均粒径:1.5μm、Tap密度:1.5g/cm3、炭素含有化合物の含有量:0.3質量%)
フレーク状銀粉D(平均粒径:25μm、Tap密度:1.5g/cm3、炭素含有化合物の含有量:0.3質量%)
フレーク状銀粉E(平均粒径:4.0μm、Tap密度:5.5g/cm3、炭素含有化合物の含有量:1.2質量%)
銀ナノ粒子A(DOWAエレクトロニクス(株)製、商品名:Ag nano powder−1;平均粒径:20nm)
銀ナノ粒子B(DOWAエレクトロニクス(株)製、商品名:Ag nano powder−2;平均粒径:60nm)
アクリル樹脂:ヒドロキシルエチルアクリルアミド((株)興人製、HEAA)
エポキシ樹脂:ビスフェノールF型液状エポキシ樹脂(三菱化学(株)製、商品名:YL983U)
フェノール樹脂:ビスフェノールF(本州化学工業(株)製、商品名:ビスフェノールF)
重合開始剤:ジクミルパーオキサイド(日本油脂(株)製、商品名:パークミルD ;急速加熱試験における分解温度:126℃)
溶剤:ブチルカルビトール(東京化成工業(株)製)
硬化促進剤:1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール(四国化成工業(株)製、商品名:1B2PZ)
[粘度]
E型粘度計(3°コーン)を用いて、25℃、0.5rpmでの値を測定した。
E型粘度計(3°コーン)を用いて、25℃で、0.5rpm及び5rpmでの粘度を測定し、5rpmに対する0.5rpmの粘度の比(0.5rpmの粘度/5rpmの粘度)をチクソ比とした。
示差熱天秤−ガスクロマトグラフィ質量分析同時測定装置(TG−DTA/GC−MS)(リガク製)を用いて、フレーク状銀粉の長鎖脂肪酸由来の質量減少量を測定した。
導電ペーストを、ガラス基板(厚み1mm)にスクリーン印刷法により厚み30μmに塗布し、200℃、60分で硬化した。得られた配線を製品名「MCP−T600」(三菱化学(株)製)を用い4端子法にて電気抵抗を測定した。
メタルスキージを使用して、500回連続でスキージした後の導電性ペーストの粘度を測定し、増粘率を次の式により算出した。粘度の測定条件は、E型粘度計(3°コーン)を用いて25℃、0.5rpmの値とした。
スキージ後の増粘率(%)=スキージ試験後の導電ペースト粘度/導電性ペースト初期粘度×100
導電性ペーストを、ディップ塗布により、電子部品の両端に成膜し、200℃、60分の加熱硬化を行った。この際の電子部品で導電性ペーストの角立ちなどにより寸法安定性の得られないものをNGとした。寸法安定性が得られるか否かの判断は、0.1mm長以上の角立ちが発生するか否かを光学顕微鏡により観察し、判定した。
導電性ペーストを、ディップ塗布により、電子部品の両端に成膜し、200℃、60分の加熱硬化を行った。これにNiおよびSnメッキを施し、半田により基板に実装し、電子部品を作成した。この電子部品を20mm/分で横押しでせん断強度を測定し、破壊したときの荷重を固着強度(N)とした。
導電性ペーストを、ディップ塗布により、電子部品の両端に成膜し、200℃、60分の加熱硬化を行った。これにNiおよびSnメッキを施し、半田により基板に実装し、電子部品を作成した。
当該電子部品を恒温恒湿槽(温度85℃、湿度85%)に入れ、この状態で通電試験(1A)を実施し、500時間経過後、1000時間経過後、2000時間経過後の初期値に対する相対値を算出した。
Claims (7)
- (A)平均粒径が2〜20μm、タップ密度(TD)が2.0〜7.0g/cm3、かつ、炭素含有化合物として炭素数8以上の脂肪酸またはその誘導体を含有し、その含有割合が0.5質量%以下であるフレーク状銀粉と、
(B)平均粒径が10〜60nmである銀ナノ粒子と、
(C)熱硬化性樹脂と、
を含有することを特徴とする導電性ペースト。 - 前記(A)成分のフレーク状銀粉と前記(B)成分の銀ナノ粒子の合量に対する各成分の比率が、(A)成分のフレーク状銀粉 50〜95質量%、(B)成分の銀ナノ粒子 5〜50質量%であることを特徴とする請求項1に記載の導電性ペースト。
- 前記(A)成分の炭素含有化合物が、長鎖脂肪酸又は長鎖脂肪酸誘導体であることを特徴とする請求項1又は2に記載の導電性ペースト。
- チクソ比(25℃における、0.5rpmの粘度と5rpmの粘度の比率)が1.5〜4.5であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 前記(A)成分のフレーク状銀粉が40〜94.5質量%、前記(B)成分の銀ナノ粒子を5〜50質量%、前記(C)成分の熱硬化性樹脂を0.5〜20質量%、含有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の導電性ペースト。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の導電性ペーストを貴金属と接触させた後、100〜300℃で低温焼結して外部電極又は内部電極を形成することを特徴とする電気・電子部品の製造方法。
- 請求項1〜5のいずれか1項に記載の導電性ペーストを貴金属と接触させた状態で焼結させて得られる、焼結後の体積抵抗率が1×10−5Ω・cm以下である外部電極又は内部電極を有することを特徴とする電気・電子部品。
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