JP6247285B2 - 少なくとも2つのシンチレータアレイ層間に配置される少なくとも1つの薄型フォトセンサを有する多層型水平コンピュータ断層撮影システム及び方法 - Google Patents

少なくとも2つのシンチレータアレイ層間に配置される少なくとも1つの薄型フォトセンサを有する多層型水平コンピュータ断層撮影システム及び方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6247285B2
JP6247285B2 JP2015510918A JP2015510918A JP6247285B2 JP 6247285 B2 JP6247285 B2 JP 6247285B2 JP 2015510918 A JP2015510918 A JP 2015510918A JP 2015510918 A JP2015510918 A JP 2015510918A JP 6247285 B2 JP6247285 B2 JP 6247285B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
array layer
photosensor
scintillator
photosensor array
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2015510918A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015521283A (ja
Inventor
レフェネ,シムハ
フェーン,ニコラース ヨハネス アントニウス ファン
フェーン,ニコラース ヨハネス アントニウス ファン
アルトマン,アミアズ
ウマン,イゴール
ゴシェン,ラファエル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Koninklijke Philips NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koninklijke Philips NV filed Critical Koninklijke Philips NV
Publication of JP2015521283A publication Critical patent/JP2015521283A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6247285B2 publication Critical patent/JP6247285B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018Scintillation-photodiode combinations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/20Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/36Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
    • G01T1/362Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry with scintillation detectors
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03Computed tomography [CT]
    • A61B6/032Transmission computed tomography [CT]
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/482Diagnostic techniques involving multiple energy imaging

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

以下の説明は、一般に、多層型CT検出器アレイに関し、より具体的には、少なくとも2つのシンチレータアレイ層(scintillator array layer)間に配置される少なくとも1つの薄型フォトセンサアレイ層(thin photosensor array layer)を有する多層型水平(multi-layer horizontal)CT検出器アレイに関する。
典型的なCTスキャナは、周囲を回転して検査部をトラバースする放射線を放出する放射源と、検査部をトラバースする放射線を検出する放射線感受性検出器アレイとを含む。検出器アレイは、フォトセンサアレイに結合されるシンチレータアレイに含まれている。シンチレータアレイが、放射線を受け取って光に変換し、フォトセンサアレイは、光を受け取ってこれを示す電気信号を生成する。信号を再構築して、体積画像データを生成することができる。
デュアルエネルギ(2層構造としても知られる)検出器アレイは、シンチレータ/フォトセンサアレイの2つの対を含む。一般に、シンチレータ/光アレイの対のうちの一方が、主に低エネルギの放射線を検出し、シンチレータ/フォトセンサアレイの対の他方の対は、主に高エネルギの放射線を検出する。「水平」の構成では、フォトセンサアレイは、入射放射線(incoming radiation)の方向に対して直角の横軸方向に伸びる。「垂直」の構成では、フォトセンサアレイは、入射放射線の方向に伸びる。
米国特許第7,968,853号明細書(特許文献1)は、垂直2層構造の検出器を説明している。この検出器は、z軸に沿って伸び、横軸方向に沿って配置される複数のモジュールを含む。各モジュールは、フォトダイオードアレイストライプに取り付けられる2本のシンチレータの列を含む。1本目は、低いZの材料を有し、入射放射線により近くなるよう第1のフォトダイオードアレイ列に関連してストライプ上に配置される。2本目は、より高いZの材料を有し、入射放射線から遠くなるよう第2のフォトダイオードアレイ列に関連して配置される。
これらのストライプのいくつかは、モジュールの基板に上手く取り付けられて、基板の反対側にある読み出し電子装置(readout electronics)に上手く結合される。残念なことに、ストライプの構造及び単一のモジュールは、退屈で時間のかかる様々なオペレーションを必要とする。「水平」のジオメトリは、2つの2次元シンチレータアレイのみを使用し、この2つの2次元シンチレータアレイは、それぞれ、2つの2次元フォトダイオードアレイに結合される。したがって、水平検出器の構造は、垂直検出器の構造よりも必要なオペレーションが少なく、コストが少なく、より正確である。
しかしながら、「水平」ジオメトリでは、2次元のフォトダイオードアレイの一方又は双方が、約50%のx線のビーム光束を浴び、その一部を吸収する。残念ながら、吸収された光束は、直接変換電流を生じる直接変換を受けることがあり、この変換は、直接変換ノイズを測定データに導入することがある。これは、画像品質の低下、例えばスペクトルの解像度の低下につながる可能がある。
米国特許第7,968,853号明細書
本明細書で説明される態様は、上記の問題及び/又は他の問題に対処する。
一態様において、画像化システムは、放射線感受性検出器アレイを含む。当該検出器アレイは、少なくとも2つのシンチレータアレイ層を含む。検出器アレイは更に、少なくとも2つの対応するフォトセンサアレイ層を含む。少なくとも2つのフォトセンサアレイ層のうちの少なくとも1つは、少なくとも2つのシンチレータアレイ層の間に、入射放射線の方向に配置される。少なくとも2つのフォトセンサアレイ層のうちの少なくとも1つは、30マイクロ未満の厚さを有する。
別の態様において、方法は、画像化システムのマルチスペクトル水平検出器アレイを用いて放射線を検出するステップと、検出器アレイを介して、検出された放射線を示す信号を生成するステップと、該信号を処理して1つ又は複数の画像を生成するステップとを含む。検出器アレイは、少なくとも2つのシンチレータアレイ層と、少なくとも2つの対応するフォトセンサアレイ層とを含む。少なくとも2つのフォトセンサアレイ層のうちの少なくとも1つは、30マイクロ未満の厚さを有する。
別の態様において、放射線感受性検出器アレイは、少なくとも2つのシンチレータアレイ層と、少なくとも2つの対応するフォトセンサアレイ層とを含む。少なくとも2つのフォトセンサアレイ層のうちの少なくとも1つは、少なくとも2つのシンチレータアレイ層の間に、入射放射線に沿った方向に配置される。少なくとも2つのフォトセンサアレイ層のうちの少なくとも1つは、30マイクロ未満の厚さを有する。
本発明は、様々な構成要素及び構成要素の編成、並びに様々なステップ及びステップの編成の形式をとることがある。図面は、単に好ましい実施形態を例示する目的のためだけのものであり、本発明を限定するものとして解釈されるべきではない。
マルチスペクトル画像化検出器を含む、例示の画像化システムを概略的に示す図である。 シンチレータ/フォトセンサの対が同じ空間方向に配置されるマルチスペクトル画像化検出器の例を示す図である。 シンチレータ/フォトセンサの対が反対の空間方向に配置されるマルチスペクトル画像化検出器の例を示す図である。 マルチスペクトル画像化検出器と関連して電気信号をルーティングするための代替的なアプローチを概略的に示す図である。 マルチスペクトル画像化検出器と関連して電気信号をルーティングするための別の代替的なアプローチを概略的に示す図である。 読み出し電子装置を取り付けるための代替的なアプローチを概略的に示す図である。 マルチスペクトル画像化検出器を使用する方法を示す図である。
最初に図1を参照すると、コンピュータ断層撮影(CT)スキャナのような画像化システム100が図示されている。画像化システム100は、一般に固定のガントリ102と、該固定のガントリ102によって回転可能にサポートされる回転ガントリ104とを含む。回転ガントリ104は、検査部106の周囲を縦方向すなわちz軸の周りに回転する。x線チューブのような放射源108は、回転ガントリ104によって支えられ、回転ガントリ104とともに回転し、検査部106をトラバースする放射線(例えばx線光子)を放出する。
放射線感受性検出器アレイ110は、回転ガントリ104に装着されて、放射源108の真向かいにあり、検査部106の反対の角度の弧(angular arc)に対する。図示される検出器アレイ110は、多層型水平検出器アレイ110であり、N個のシンチレータアレイ層116(Nは1より大きい整数である)と、M個のフォトセンサアレイ層114(Mは1より大きい整数である)と、読み出し電子装置118とを有する。以下で更に説明されるように、一例において、フォトセンサアレイ層114の少なくとも1つは、シンチレータアレイ層116の少なくとも2つの間に配置される。
図示される実施形態において、フォトセンサアレイ層114の少なくとも1つは、以下のx線減衰特性を有する:入射するほぼ全てのx線光子は、フォトセンサアレイ層114の少なくとも1つをトラバースし、直接変換により所定の閾値より多くの直接変換電流を生成するフォトセンサアレイ層114の少なくとも1つとは対話しないことになる。例えば所定の閾値は、10パーセント未満、5パーセント未満、1パーセント未満、0.5パーセント未満及び/又は別のパーセントとすることができる。
フォトセンサアレイ層114の少なくとも1つの例は、薄い材料の層であり、例えば30マイクロ(30μ)又はそれ未満の薄さのレイヤである。フォトセンサアレイ層114の少なくとも1つの別の例は、低原子番号(Z)の材料の層であり、Zは35以下である。フォトセンサアレイ層114の少なくとも1つの別の例は、有機フォトセンサの層であり、これらは非常に低いZを有し、これに応じてx線の吸収性が低い。そのようなフォトセンサアレイ層は、例えばより大きな表面積を有するために、垂直検出器アレイと比べて、より高い検出量子効率(DQE:detection quantum efficiency)を有することがあり、これは、より低い線量スキャン及び/又は向上した画像品質を可能にする。
x線光子を検出したことに応答して、放射線感受性検出器アレイ110は、検出された放射線を示す信号を生成する。読み出し電子装置118は、信号を処理して処理された信号を出力する。異なるフォトセンサアレイ層によって出力される信号を処理することにより、スペクトル情報を取得することができ、同じ光線経路に対応する異なるフォトセンサアレイ層の出力信号を合計することにより、従来の(スペクトル以外の)情報を取得することができる。
再構築器120は、スペクトル又は従来の再構築アルゴリズムを使用して信号を再構築し、体積画像データを生成する。1つ又は複数のスペクトルあるいは従来の画像を、体積画像データから生成することができる。カウチのような対象サポート122は、検査部106内において物体又は対象物を支える。サポート122は、x軸、y軸及びz軸に沿って回転ガントリ104の回転と協調して動くことが可能であり、らせん形や軸状又は他の所望のスキャンの軌跡を容易にすることができる。
汎用コンピューティングデバイスは、オペレータコンソール124として機能し、当該オペレータコンソール124は、ディスプレイ及び/又はプリンタのように人間が読取可能な出力デバイスと、キーボード及び/又はマウスのような入力デバイスとを含む。コンソール124は、例えばオペレータがスペクトル又は従来のスキャンプロトコル、スペクトル及び/又は従来の再構築アルゴリズムを選択して、スキャンを開始すること等を可能にすることにより、オペレータがシステム100のオペレーションを制御するのを可能にする。
図2は、検出器アレイ110の一部の例を図示している。明確性及び説明の目的で、N=M=2とする。この例では、フォトセンサアレイ層114の双方が、2つのシンチレータアレイ層116の間に配置されている。
第1のシンチレータアレイ層116は、第1のシンチレータディクセル(dixel)202(シンチレータピクセルとも呼ばれる)の2次元(2D)アレイを含む(図2ではz軸に沿った次元は見えない)。第1のシンチレータディクセル202は、チタン添加セレン化亜鉛(ZnSe:Ti)、セリウム添加イットリウム−ガドリニウム−アルミニウム−ガーネット(YGAG:Ce)及び/又は低エネルギの「ソフト」x線光子を吸収して、このx線光子を示す光を放出する他の材料のような低原子番号Z材料を含む。
第1のフォトセンサアレイ層114は、オプションの第1の基板208上に取り付けられる第1のフォトダイオード206の2次元(2D)アレイを含む(図2ではz軸に沿った次元は見えない)。第1の基板208が省略される構成では、第1のフォトダイオード206の2次元(2D)アレイが、以下で詳述される第1の回路201上に直接取り付けられてもよい。適切な材料の例は、第1のフォトセンサアレイ層114へ入射する放射線からの直接変換電流が、シンチレータから放出された光によりフォトセンサ層において生成される信号電流のわずか0.1%に過ぎないものである。そのような材料は、30マイクロ(30μm)又はそれ未満の厚さを有するか、及び/又は有機材料若しくはZ<35の材料を含み得る。
例として、一例において、第1のフォトセンサアレイ114は、プラスチック又はポリイミド(PI)シートのようなフィルムに直接取り付けられるシリコン(Si)、ガリウムヒ素(GaAs)等のダイオードを用いる薄型の半導体オン・インシュレータ(SOI:semiconductor-on-insulator)フォトダイオードアレイである。別の実施形態において、第1のフォトセンサアレイ層114は、フレキシブルなプラスチックシート上にプリントされる薄いフォトダイオードアレイ(例えば(ニ)セレン化銅インシジウムガリリウム(CIGS)又は有機)である。低Z要素(例えばH、C、O等)のみを用いる有機フォトダイオード(OPD)は、低x線吸収の1μほどの厚さの可能性がある。
第1のシンチレータアレイ層116及び第1のフォトセンサアレイ層114は一緒に、第1のフォトダイオード206のうちの対応するフォトダイオードに光学的に結合される各第1のシンチレータディクセル202に結合される。第1のシンチレータディクセル202の各々は、第1の反射材204により6面のうちの5面が覆われ、第1の反射材204は、第1のフォトダイオード206から離れてトラバースする光を、第1のフォトダイオード206へとリダイレクトする。
第1の回路210は、第1の面211及び第2の面211を含み、第1の面211の一部は、電気的に第1のフォトダイオード206に結合される。一例において、第1の回路210は、薄いプラスチックのフレキシブルな回路であり、第1のフォトダイオード206によって出力される信号は、個々の第1のフォトダイオード206から第1のフォトセンサアレイ層114の外にルーティングされる。
第1のシンチレータアレイ層116、第1のフォトセンサアレイ層114及び第1の回路210は、第1のアセンブリ212を形成する。
第2のシンチレータアレイ層116は、第2のシンチレータディクセル202の2次元(2D)アレイを含む(図2ではz軸に沿った次元は見えない)。第2のシンチレータディクセル202は、ガドリニウム酸硫化物(GOS)、ルテニウム−アルミニウム−ガーネット(LuAG)及び/又は高エネルギの「ハード」x線光子を吸収して、このx線光子を表す光を放出する他の材料のような高原子番号Z材料を含む。第2のフォトセンサアレイ層114は、オプションの第2の基板208に取り付けられる第2のフォトダイオード206の2次元(2D)アレイを含む(図2ではz軸に沿った次元は見えない)。第2の基板208が省略される構成では、第2のフォトダイオード206の2次元(2D)アレイは、以下で詳述される第2の回路210に直接取り付けられてもよい。
第2のフォトセンサアレイ層114は、該第2のフォトセンサアレイ層114が、フォトセンサアレイヤにおいて生成される信号電流のわずか0.1%に過ぎない信号電流が、シンチレータから放出された光からのものである材料を含むという点において、第1のフォトセンサアレイ層114と同様であり得る。しかしながら、第2のフォトセンサアレイ層114の厚さ及び/又は材料は、第1のフォトセンサアレイ層114の厚さ及び/又は材料と同じである必要はない。第1のフォトセンサアレイ層114と第2のフォトセンサアレイ層114の双方に同じ厚さ及び/又は材料を使用することにより、第1のフォトセンサアレイ層114と第2のフォトセンサアレイ層114の挙動及び応答は、おおよそ同じものとなるであろう。これは、例えば信号を減算するか及び/又はそうでなくとも組み合わせる場合に、信号を処理するのを容易にし得る。
第2のシンチレータアレイ層116及び第2のフォトセンサアレイ層114は一緒に、第2のフォトダイオード206のうちの異なるフォトダイオードに光学的に結合される各第2のシンチレータディクセル202にそれぞれ結合される。第2のシンチレータディクセル202の各々は、第2の反射材204により6面のうちの5面が覆われ、第2の反射材204は、第2のフォトダイオード206から離れてトラバースする光を、第2のフォトダイオード206へとリダイレクトする。
第2の回路210は、第1の面213及び第2の面213を含み、第1の面213の一部は、電気的に第2のフォトダイオード206に結合される。同様に、一例において、第2の回路210は、薄いプラスチックのフレキシブルな回路であり、個々の第2のフォトダイオード206によって出力される信号は、個々の第2のフォトダイオード206から第2のフォトセンサアレイ層114の外にルーティングされる。
第2のシンチレータアレイ層116、第2のフォトセンサアレイ層114及び第2の回路210は、第2のアセンブリ212を形成する。
第1の回路210の第2の面211と、第2の回路210の第1の面213とが一緒に結合されて、第1のアセンブリ212と第2のアセンブリ212を一緒に結合する。
第1の回路210及び第2の回路210の第1の導電性末端部(end)214及び214は、第2のシンチレータアレイ層116の第1の面216の周囲を覆い、第1の読み出し集積回路218及び218に電気的に結合され、ここで、第1の読み出し集積回路218及び218は、第2の反射材204に装着される第1の放射線シールド220に取り付けられる。第1の放射線シールド220は、第1の読み出し集積回路218及び218を、第2のシンチレータアレイ層116をトラバースした残留放射線から遮断する。
第1の回路210及び第2の回路210の第2の導電性末端部222及び222は、第2のシンチレータアレイ層116の反対の第2の面224の周囲を覆い、第2の読み出し集積回路226及び226に電気的に結合され、ここで、第2の読み出し集積回路226及び226は、第2の反射材204に装着される第2の放射線シールド228に取り付けられる。第2の放射線シールド228は、第2の読み出し集積回路226及び226を、第2のシンチレータアレイ層116をトラバースした残留放射線から遮断する。
放射線シールド220及び228は、タングステン、酸化ビスマス複合レジン及び/又はx線光子が回路218及び218と回路226及び226に到達するのを防ぐx線減衰特性を有する他の材料を含み得る。変形形態において、読み出し集積回路218及び218と回路226及び226のうちの少なくとも1つは、放射線硬化性構成要素(radiation-hardened component)を含む。この変形では、放射線硬化性構成要素を有する読み出し集積回路に対応する放射線シールド220及び228を省略することができる。
上記の変形形態では、単一の読み出し集積回路(例えば218、226又はその他)のみを第1のフォトセンサアレイ層114とともに使用し、そして第1又は第2の導電性末端部214及び222のいずれか又は双方を使用して、第2のフォトセンサアレイ層114からの信号を、その単一の読み出し集積回路にルーティングする。第1又は第2の導電性末端部214及び222の一方のみが使用される場合、第1又は第2の導電性末端部214及び222の他方を省略することができる。
同様に、単一の読み出し集積回路(例えば218、226又はその他)のみを第2のフォトセンサアレイ層114とともに使用し、そして第1又は第2の導電性末端部214及び222のいずれか又は双方を使用して、第2のフォトセンサアレイ層114からの信号を、その単一の読み出し集積回路にルーティングする。第1又は第2の導電性末端部214及び222の一方のみが使用される場合、第1又は第2の導電性末端部214及び222の他方を省略することができる。
更に別の変形形態では、単一の読み出し集積回路(例えば218、226、218、226又はその他)が、第1のフォトセンサアレイ層114と第2のフォトセンサアレイ層114の双方に使用される。更に別の変形形態では、2つより多くの読み出し集積回路を、第1のフォトセンサアレイ層114と第2のフォトセンサアレイ層114の一方又は双方とともに使用することができる。
図示された構成では、第1のフォトセンサアレイ層114と第2のフォトセンサアレイ層114の双方が、第1のシンチレータアレイ層116と第2のシンチレータアレイ層116との間に配置されており、第1のシンチレータアレイ層116が入射放射線を受け取り、第2のシンチレータアレイ層116が、第1のシンチレータアレイ層116をトラバースした放射線を受け取るように、検出器アレイ110がシステム100内にインストールされている。
図3は、構造的に図2と類似しているが、図3は、第2のアセンブリ212が180度フリップされ、第1の回路210の第2の面211が第2のシンチレータアレイ層116と結合され、第1及び第2の末端部214及び222が第2のシンチレータアレイ層116の第1及び第2の面216及び224の周囲を覆っておらず、代わりに第1及び第2の末端部214及び222は、中央領域300内に収まっており、この中央領域300内の背面の周囲を覆い、読み出し集積回路218及び226の後ろへとつながる点において相違する。
図4及び図5は、構造的に図2と類似しているが、第1のフォトセンサアレイ層114が、第1のフォトダイオード206によって生成された信号を、第1の基板208の1つ又は複数のエッジ400にルーティングする導電性の経路(図示せず)を含む点で異なる。加えて、第2のフォトセンサアレイ層114は、バックイルミネート型のフォトダイオード(BIP:back-illuminated photodiode)である。さらに、第1のアセンブリ212と第2のアセンブリ212は、直接フリップチップによる接着又ははんだにより結合される。さらに、第1の210及び第2の回路210が省略され、第2のアセンブリ212が基板400に結合される。
図4では、電気相互接続402が、第1のシンチレータアレイ層116に面している基板208の面404から導電性経路に結合され、第1のシンチレータアレイ層116の周囲を覆い、基板400に電気的に接続される。図5では、電気相互接続402が、第2のシンチレータアレイ層116に面している基板208の反対の面500から導電性経路に結合され、第1のシンチレータアレイ層114の周囲を覆い、基板400に電気的に接続される。
図4及び図5の双方において、個々の第2のフォトダイオード206の出力は、第2のフォトセンサアレイ層114内の導電性のビア(図示せず)及び導電性の接触408を通して電気的に基板400に結合される。フォトダイオード206及び206の双方のセットからの出力は更に、基板400内の導電性のビア(図示せず)を通して、並びに基板400及び読み出し集積回路406の導電性パッド(図示せず)を通して、読み出し電子装置406にルーティングされる。
この実施形態において、読み出し集積回路406は、放射線硬化性構成要素を含む。代替的な実施形態では、図2の放射線シールド220又は228と同様の放射線シールドが、基板400と読み出し集積回路406との間に配置される。そのような実施形態において、読み出し集積回路406は、放射線硬化性構成要素を含んでいても、含まなくてもよい。
図6は、読み出し集積回路に関する図5の変形形態を示す。この変形形態を、図2〜図4において議論した実施形態の1つ又は複数とともに用いることができることが認識されよう。この変形形態では、第1の放射線シールド600が、第2のアセンブリ212の基板400と第1の読み出し集積回路602との間に配置される。第1の導電性接続604が、第2のアセンブリ212からの信号を第1の読み出し集積回路602へルーティングする。
導電性接続604は、第2の基板606のためのサポートも提供し、このサポートは、第1のアセンブリ212の第2の基板606と第2の読み出し集積回路610との間に配置される第2の放射線シールド608を支える。電気相互接続402は、第1のアセンブリ212からの信号を第2の基板606へルーティングし、第2の導電性接続612は、第2の基板606からの信号を第2の読み出し集積回路610へルーティングする。
図7は、図1〜図6と関連して議論された実施形態及び/又はその変形形態を用いる方法を図示している。
702において、放射源108から放出される放射線が、検査部106に最も近いシンチレータアレイ層116の第1のシンチレータアレイ層を照射する。
704において、第1のシンチレータアレイ層は、放射線の第1の部分を吸収し、これに応答して第2の光を放出する。
706において、対応する第1のフォトセンサアレイ層が、第1の光を受け取り、第1の出力信号を生成する。
708において、シンチレータアレイ層のうち、第1のシンチレータアレイ層に比して検査部106から遠い第2のシンチレータアレイ層は、第1のシンチレータアレイ層及び第1のフォトセンサアレイ層をトラバースする放射線の第2の部分を吸収し、これに応答して第2の光を放出する。
710において、対応する第2のフォトセンサアレイ層が、第2の光を受け取り、第2の出力信号を生成する。
712において、第1及び第2の出力信号は、対応する読み出し電子装置にルーティングされて、該対応する読み出し電子装置は、第1及び第2の出力信号を処理するためにルーティングする。
上記の動作の順序は限定ではないことが認識されよう。したがって、他の順序も本明細書において考慮される。加えて、1つ又は複数の動作を省略してもよく、並びに/あるいは1つ又は複数の追加の動作を含んでもよい。
本発明は、好ましい実施形態との関連で説明されている。上記の詳細な説明を読み、理解することで、修正及び変更を思い付く可能性があるであろう。本発明は、そのような修正及び変更が添付の特許請求の範囲又はその均等物の範囲内にある限りにおいて、そのような修正及び変更の全てを含むものとして解釈されるように意図されている。

Claims (15)

  1. 画像化システムにおいて
    第1のシンチレータアレイ層と、前記第1のシンチレータアレイ層に光学的に結合される第1のフォトセンサアレイ層と、該第1のフォトセンサアレイ層に電気的に接続される第1の回路とを含む、第1のアセンブリ;
    第2のシンチレータアレイ層と、前記第2のシンチレータアレイ層に光学的に結合される第2のフォトセンサアレイ層と、該第2のフォトセンサアレイ層に電気的に接続される第2の回路とを含む、第2のアセンブリ;及び
    前記第2のシンチレータアレイ層に固定される読み出し集積回路;
    を含む放射線感受性検出器アレイを備え、
    前記第1のアセンブリ及び前記第2のアセンブリは、反対方向にスタックされ、前記第1の回路は前記第2の回路に固定され、前記第2の回路は、前記第2のシンチレータアレイ層の輪郭に沿って伸びる第1のフレキシブル電気接続によって、前記読み出し集積回路に電気的に接続され、前記第1の回路は、前記輪郭に沿って伸びる第2のフレキシブル電気接続によって、前記読み出し集積回路に電気的に接続される、画像化システム。
  2. 前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層、前記第1及び第2のシンチレータアレイ層の間に配置される、請求項1に記載の画像化システム。
  3. 前記第1のフォトセンサアレイ層又は前記第2のフォトセンサアレイ層は、直接変換によって、前記第1のシンチレータアレイ層又は前記第2のシンチレータアレイ層からの光により前記第1のフォトセンサアレイ層又は前記第2のフォトセンサアレイ層で生じる第2の電流の10パーセント未満の第1の電流を生じる、請求項1又は2のいずれかに記載の画像化システム。
  4. 前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層は、原子番号が35未満の材料を含む、
    請求項3に記載の画像化システム。
  5. 前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層は、シリコン又はガリウムヒ素のうちの少なくとも一方を備える、請求項3又は4のいずれかに記載の画像化システム。
  6. 前記第1のシンチレータアレイ層前記第2のシンチレータアレイ層よりも入射放射線に近く、前記第1のシンチレータアレイ層は、第1の原子番号の第1の材料を含み、前記第1のシンチレータアレイ層よりも前記入射放射線から遠い前記第2のシンチレータアレイ層は、第2の原子番号の第2の材料を含み、前記第1の原子番号は、前記第2の原子番号より小さい、請求項1乃至5のいずれかに記載の画像化システム。
  7. 前記第1のシンチレータアレイ層は、添加型セレン化亜鉛又は添加型イットリウム−ガドリニウム−アルミニウム−ガーネットのうちの少なくとも1つを含む、請求項6に記載の画像化システム。
  8. 前記第2のシンチレータアレイ層は、ガドリニウム酸硫化物又はルテニウム−アルミニウム−ガーネットのうちの少なくとも1つを含む、請求項6又は7のいずれかに記載の画像化システム。
  9. 前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層は、個々のフォトダイオードを備える、
    請求項1乃至8のいずれかに記載の画像化システム。
  10. 画像化システムのマルチスペクトルの水平検出器アレイを用いて放射線を検出する検出ステップであって、
    前記検出器アレイが、
    第1のシンチレータアレイ層と、前記第1のシンチレータアレイ層に光学的に結合される第1のフォトセンサアレイ層と、該第1のフォトセンサアレイ層に電気的に接続される第1の回路とを含む、第1のアセンブリ;
    第2のシンチレータアレイ層と、前記第2のシンチレータアレイ層に光学的に結合される第2のフォトセンサアレイ層と、該第2のフォトセンサアレイ層に電気的に接続される第2の回路とを含む、第2のアセンブリ;及び
    前記第2のシンチレータアレイ層に固定される読み出し集積回路;
    を備え、
    前記第1のアセンブリ及び前記第2のアセンブリが、反対方向にスタックされ、前記第1の回路が前記第2の回路に固定され、前記第2の回路が、前記第2のシンチレータアレイ層の輪郭に沿って伸びる第1のフレキシブル電気接続によって、前記読み出し集積回路に電気的に接続され、前記第1の回路が、前記輪郭に沿って伸びる第2のフレキシブル電気接続によって、前記読み出し集積回路に電気的に接続される検出ステップと;
    前記検出器アレイを介して、前記検出された放射線を示す信号を生成するステップと;
    前記信号を処理して1つ又は複数の画像を生成するステップと;
    を含む、方法。
  11. 前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層、入射する放射線のうちの1パーセント未満を直接変換電流へ変換する、請求項10に記載の方法。
  12. 前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層は、原子番号が35未満の材料を含む、請求項11に記載の方法。
  13. フレキシブルな電気回路を使用して、前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層の個々のフォトダイオードからの信号を読み出し電子装置にルーティングするステップを更に備える、請求項10に記載の方法。
  14. フレキシブルな電気回路を使用して、前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層のうちの少なくとも1つのエッジから、前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層の個々のフォトダイオードによって生じる信号を読み出し電子装置にルーティングするステップと、
    相互に対して入射放射線の第1の方向に沿って配置される読み出し電子装置の少なくとも2つの集積回路に前記信号をルーティングするステップと、
    相互に対して入射放射線の第2の方向に沿って配置される読み出し電子装置の少なくとも2つの集積回路に前記信号をルーティングするステップと、
    放射線硬化性構成要素を含む読み出し電子装置に、前記信号をルーティングするステップと、
    前記読み出し電子装置と放射線との間に配置される放射線シールドを用いて、前記第1のシンチレータアレイ層、前記第2のシンチレータアレイ層、前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層をトラバースする放射線をシールドするステップと、
    のうちの、少なくとも1つを備える、請求項10に記載の方法。
  15. 前記第1のフォトセンサアレイ層及び前記第2のフォトセンサアレイ層のうちの少なくとも1つは、添加型セレン化亜鉛又は添加型イットリウム−ガドリニウム−アルミニウム−ガーネットのうちの少なくとも1つを含み、前記少なくとも2つのフォトセンサアレイ層のうちの第2のシンチレータアレイ層は、ガドリニウム酸硫化物又はルテニウム−アルミニウム−ガーネットのうちの少なくとも1つを含む、請求項10に記載の方法。
JP2015510918A 2012-05-07 2013-05-03 少なくとも2つのシンチレータアレイ層間に配置される少なくとも1つの薄型フォトセンサを有する多層型水平コンピュータ断層撮影システム及び方法 Active JP6247285B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/465,560 2012-05-07
US13/465,560 US9012857B2 (en) 2012-05-07 2012-05-07 Multi-layer horizontal computed tomography (CT) detector array with at least one thin photosensor array layer disposed between at least two scintillator array layers
PCT/IB2013/053539 WO2013168067A2 (en) 2012-05-07 2013-05-03 Multi-layer horizontal computed tomography (ct) detector array with at least one thin photosensor array layer disposed between at least two scintillator array layers

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015521283A JP2015521283A (ja) 2015-07-27
JP6247285B2 true JP6247285B2 (ja) 2017-12-13

Family

ID=48771659

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015510918A Active JP6247285B2 (ja) 2012-05-07 2013-05-03 少なくとも2つのシンチレータアレイ層間に配置される少なくとも1つの薄型フォトセンサを有する多層型水平コンピュータ断層撮影システム及び方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9012857B2 (ja)
EP (1) EP2847619B1 (ja)
JP (1) JP6247285B2 (ja)
CN (1) CN104285162B (ja)
BR (1) BR112014027512A2 (ja)
RU (1) RU2014149203A (ja)
WO (1) WO2013168067A2 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105723243B (zh) * 2013-11-15 2019-07-09 皇家飞利浦有限公司 柔性基底上的双面有机光探测器
JP6739423B2 (ja) 2014-09-25 2020-08-12 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. 光を発生させるセラミック材料
WO2016066850A1 (en) * 2014-10-31 2016-05-06 Koninklijke Philips N.V. Sensor device and imaging system for detecting radiation signals
US9482630B2 (en) 2015-01-21 2016-11-01 Toshiba Medical Systems Corporation Multiple-layered energy-integrating detector in a hybrid computed tomography scanner
JP6384588B2 (ja) * 2015-03-10 2018-09-05 株式会社島津製作所 X線検出器
JP6460226B2 (ja) * 2015-04-09 2019-01-30 株式会社島津製作所 X線撮影装置
EP3320375B1 (en) * 2015-07-09 2019-02-06 Koninklijke Philips N.V. Direct conversion radiation detector
EP3226038B1 (en) * 2016-03-28 2020-05-06 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detection apparatus and radiation imaging system
WO2017196713A1 (en) * 2016-05-10 2017-11-16 Carestream Health, Inc. Flexible substrate chip-on flex repair
US10641912B1 (en) 2016-06-15 2020-05-05 Triad National Security, Llc “4H” X-ray camera
EP3532872B1 (en) 2016-10-26 2024-05-01 Koninklijke Philips N.V. Radiation detector scintillator with an integral through-hole interconnect
GB2560552B (en) * 2017-03-15 2020-09-09 Smiths Heimann Sas Method and apparatus
EP3619553A1 (en) * 2017-05-01 2020-03-11 Koninklijke Philips N.V. Multi-layer radiation detector
EP3399344B1 (en) 2017-05-03 2021-06-30 ams International AG Semiconductor device for indirect detection of electromagnetic radiation and method of production
CN108863340B (zh) * 2017-05-16 2020-10-23 中国科学院上海硅酸盐研究所 一种复合结构透明闪烁陶瓷及其制备方法
US11000701B2 (en) * 2017-08-01 2021-05-11 Varex Imaging Corporation Dual-layer detector for soft tissue motion tracking
JP2020529607A (ja) * 2017-08-03 2020-10-08 ザ・リサーチ・ファウンデーション・フォー・ザ・ステイト・ユニヴァーシティ・オブ・ニューヨーク 非対称反射スクリーンによるデュアルスクリーンデジタル放射線撮像
CN111133338A (zh) * 2017-08-31 2020-05-08 皇家飞利浦有限公司 具有单片闪烁体的多层探测器
CN108132266B (zh) * 2017-12-07 2021-01-26 东南大学 一种x线光路级联显微成像系统
US10267931B1 (en) * 2018-02-06 2019-04-23 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Radiation detector capable of measuring depth-of-interaction
EP3553568A1 (en) * 2018-04-12 2019-10-16 Koninklijke Philips N.V. X-ray detector with focused scintillator structure for uniform imaging
US11802979B2 (en) 2018-05-23 2023-10-31 The Research Foundation For The State University Of New York Flat panel x-ray imager with scintillating glass substrate
WO2020082171A1 (en) 2018-10-22 2020-04-30 Voti Inc. Tray insert for screening tray
CN112068178B (zh) * 2019-06-10 2023-08-29 睿生光电股份有限公司 放射线感测装置
EP3835829A1 (en) * 2019-12-09 2021-06-16 Koninklijke Philips N.V. X-ray detector
CN112834530A (zh) * 2020-12-31 2021-05-25 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 双面x射线探测器及成像方法
CN112987073A (zh) * 2021-02-10 2021-06-18 奕瑞影像科技(太仓)有限公司 双能探测器
US20230017006A1 (en) * 2021-07-16 2023-01-19 Voti Inc. Material detection in x-ray security screening

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2627923B1 (fr) 1988-02-26 1990-06-22 Thomson Csf Matrice d'elements photosensibles et detecteur de radiations comportant une telle matrice, notamment detecteur de rayons x a double energie
US5138167A (en) * 1991-01-23 1992-08-11 University Of Alabama - Birmingham Split energy radiation detection
JP3717530B2 (ja) * 1993-07-14 2005-11-16 富士写真フイルム株式会社 放射線画像検出器
JP3513884B2 (ja) * 1993-09-20 2004-03-31 富士写真フイルム株式会社 放射線検出器
JP3461236B2 (ja) * 1996-01-19 2003-10-27 キヤノン株式会社 放射線撮影装置並びに画像処理方法及び装置
JP3957803B2 (ja) * 1996-02-22 2007-08-15 キヤノン株式会社 光電変換装置
JP4408593B2 (ja) * 2001-06-27 2010-02-03 キヤノン株式会社 放射線検出装置及びシステム
JP2003130961A (ja) * 2001-07-19 2003-05-08 Siemens Ag 検出器モジュール、x線コンピュータトモグラフ用の検出器およびx線コンピュータトモグラフによる断層像の作成方法
DE10244176A1 (de) * 2002-09-23 2004-04-08 Siemens Ag Bilddetektor für Röntgenstrahlung
DE10330595A1 (de) * 2003-07-07 2005-02-17 Siemens Ag Röntgendetektor und Verfahren zur Herstellung von Röntgenbildern mit spektraler Auflösung
US6898265B1 (en) 2003-11-20 2005-05-24 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scintillator arrays for radiation detectors and methods of manufacture
US7308074B2 (en) 2003-12-11 2007-12-11 General Electric Company Multi-layer reflector for CT detector
US7606347B2 (en) * 2004-09-13 2009-10-20 General Electric Company Photon counting x-ray detector with overrange logic control
JP4509806B2 (ja) * 2005-01-18 2010-07-21 株式会社日立メディコ Icパッケージ及びそれを用いたx線ct装置
US7968853B2 (en) * 2005-04-26 2011-06-28 Koninklijke Philips Electronics N.V. Double decker detector for spectral CT
US7567646B2 (en) * 2005-10-05 2009-07-28 Koninklijke Philips Electronics N.V. Multiple layer detector for spectral computed tomography imaging
US7388208B2 (en) * 2006-01-11 2008-06-17 Ruvin Deych Dual energy x-ray detector
US8710448B2 (en) * 2006-03-30 2014-04-29 Koninklijke Philips N.V. Radiation detector array
US7834321B2 (en) * 2006-07-14 2010-11-16 Carestream Health, Inc. Apparatus for asymmetric dual-screen digital radiography
US7450683B2 (en) * 2006-09-07 2008-11-11 General Electric Company Tileable multi-layer detector
WO2008093252A1 (en) * 2007-01-31 2008-08-07 Koninklijke Philips Electronics N.V. Radiation sensitive detector
CN101622552B (zh) * 2007-03-05 2016-04-20 皇家飞利浦电子股份有限公司 像素化pet检测器中改进的光检测
US8586933B2 (en) * 2007-04-25 2013-11-19 Koninklijke Philips N.V. Radiation detector having a split laminate optical coupling
US7956332B2 (en) 2008-10-29 2011-06-07 General Electric Company Multi-layer radiation detector assembly
US20100108893A1 (en) * 2008-11-04 2010-05-06 Array Optronix, Inc. Devices and Methods for Ultra Thin Photodiode Arrays on Bonded Supports
US8373132B2 (en) * 2009-02-06 2013-02-12 Koninklijke Philips Electronics N. V. Radiation detector with a stack of scintillator elements and photodiode arrays
WO2010109347A1 (en) * 2009-03-25 2010-09-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. Apparatus and method for data acquisition using an imaging apparatus
JP2011022132A (ja) * 2009-06-17 2011-02-03 Fujifilm Corp 放射線検出装置及び放射線画像検出システム
WO2011006257A1 (en) * 2009-07-16 2011-01-20 Karim Karim S Multi-layer flat panel x-ray detector
JP2011019891A (ja) 2009-07-20 2011-02-03 Katsuhisa Hosono X線用多スペクトル型検出器
US9075150B2 (en) * 2009-07-30 2015-07-07 Carestream Health, Inc. Radiographic detector formed on scintillator
DE102010011582B4 (de) * 2010-03-16 2011-12-01 Siemens Aktiengesellschaft Detektormodul für einen Strahlendetektor und Strahlendetektor
JP2012013682A (ja) * 2010-05-31 2012-01-19 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置
JP2012026932A (ja) * 2010-07-26 2012-02-09 Fujifilm Corp 放射線検出器
JP5604326B2 (ja) * 2011-02-14 2014-10-08 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及びその製造方法
TWI452688B (zh) * 2011-12-27 2014-09-11 Ind Tech Res Inst 可撓式輻射感測器

Also Published As

Publication number Publication date
WO2013168067A3 (en) 2014-03-06
RU2014149203A (ru) 2016-06-27
CN104285162B (zh) 2017-08-08
CN104285162A (zh) 2015-01-14
US20130292574A1 (en) 2013-11-07
WO2013168067A2 (en) 2013-11-14
US9012857B2 (en) 2015-04-21
BR112014027512A2 (pt) 2017-06-27
EP2847619B1 (en) 2018-09-12
EP2847619A2 (en) 2015-03-18
JP2015521283A (ja) 2015-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6247285B2 (ja) 少なくとも2つのシンチレータアレイ層間に配置される少なくとも1つの薄型フォトセンサを有する多層型水平コンピュータ断層撮影システム及び方法
JP6010051B2 (ja) シングル又はマルチエネルギー縦型感放射線検出器アレイおよび放射線検出方法
US9599725B2 (en) Spectral imaging detector
US11041966B2 (en) Radiation detector scintillator with an integral through-hole interconnect
CN102216806B (zh) 光谱成像检测器
US11275187B2 (en) Detector array for a radiation system, and related system
JP2014510902A5 (ja)
US20080253507A1 (en) Computed Tomography Detector Using Thin Circuits
JP2010513908A (ja) エネルギー分解検出システム及び撮像システム
US20120193545A1 (en) Detector systems with anode incidence face and methods of fabricating the same
RU2647206C1 (ru) Сенсорное устройство и система визуализации для обнаружения сигналов излучения
US8610079B2 (en) Robust radiation detector and method of forming the same
JP7167060B2 (ja) 多層検出器
US10119924B2 (en) Computed tomography with detector wobble
US20220187479A1 (en) Radiation detector and x-ray ct apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160502

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170203

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170214

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170509

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20171024

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20171116

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6247285

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250