JP6242291B2 - 相分析装置、相分析方法、および表面分析装置 - Google Patents
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Description
元素ごとの強度または濃度の分布を示すN個の元素マップデータに対して主成分分析を行いN組の主成分の情報を取得し、得られた前記主成分の情報から前記元素マップデータのピクセルごとに主成分得点を求める主成分分析部と、
前記N組の主成分の中から、固有値の大きい方から少なくとも二つの主成分を選択し、選択した複数の前記主成分の前記主成分得点の各々を軸とした座標上に、前記ピクセルに対応する点をプロットして、前記主成分得点の散布図を作成する散布図作成部と、
前記散布図を複数の領域に区分けし、前記領域内のデータ点数をカウントして点密度を求め、前記点密度に基づいてピーク位置を検出するピーク位置検出部と、
前記散布図上の各点と各前記ピーク位置との間の距離を求め、当該距離に基づいて前記散布図上の各点を複数のグループに分類するクラスタリング部と、
前記クラスタリング部で分類された結果に基づいて、相マップを作成する相マップ作成部と、
を含む。
前記ピーク位置検出部は、隣接する前記領域のうち前記点密度が大きい前記領域を前記ピーク位置の候補とし、前記ピーク位置の候補から前記点密度が閾値以上である前記ピーク位置の候補を選択して前記ピーク位置としてもよい。
前記クラスタリング部は、前記散布図上の各点を、最も距離が小さい前記ピーク位置の前記グループに属するように分類してもよい。
前記相マップ作成部は、前記散布図上の各点に対して前記グループごとに異なる色を付与し、前記散布図上の各点に対して付与された前記色を、前記散布図上の各点に対応する前記元素マップデータの前記ピクセルの色に反映させて、前記相マップを作成してもよい。
元素ごとの強度または濃度の分布を示すN個の元素マップデータに対して主成分分析を行いN組の主成分の情報を取得し、得られた前記主成分の情報から前記元素マップデータのピクセルごとに主成分得点を求める主成分分析工程と、
前記N組の主成分の中から、固有値の大きい方から少なくとも二つの主成分を選択し、選択した複数の前記主成分の前記主成分得点の各々を軸とした座標上に、前記ピクセルに対応する点をプロットして、前記主成分得点の散布図を作成する散布図作成工程と、
前記散布図を複数の領域に区分けし、前記領域内のデータ点数をカウントして点密度を求め、前記点密度に基づいてピーク位置を検出するピーク位置検出工程と、
前記散布図上の各点と各前記ピーク位置との間の距離を求め、当該距離に基づいて前記散布図上の各点を複数のグループに分類するクラスタリング工程と、
前記クラスタリング工程で分類された結果に基づいて、相マップを作成する相マップ作成工程と、
を含む。
前記ピーク位置検出工程では、隣接する前記領域のうち前記点密度が大きい前記領域を前記ピーク位置の候補とし、前記ピーク位置の候補から前記点密度が閾値以上である前記ピーク位置の候補を選択して前記ピーク位置としてもよい。
前記クラスタリング工程では、前記散布図上の各点を、最も距離が小さい前記ピーク位置の前記グループに属するように分類してもよい。
前記相マップ作成工程では、前記散布図上の各点に対して前記グループごとに異なる色を付与し、前記散布図上の各点に対して付与された前記色を、前記散布図上の各点に対応する前記元素マップデータの前記ピクセルの色に反映させて、前記相マップを作成してもよい。
本発明に係る相分析装置を含む。
ない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
まず、本実施形態に係る相分析装置について、図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る相分析装置100を含む表面分析装置1000の構成を模式的に示す図である。ここでは、相分析装置100が表面分析装置に含まれている例について説明する。
EBを試料Sに照射した際に発生する特性X線を検出する。
0の各部としてコンピューターを機能させるためのプログラムを記憶することができる。
る。また、得られる主成分はN組(もとデータ群の個数と同じ)であり、固有値の大きいものから第1主成分、第2主成分、・・・、第N主成分と呼ばれる。
る。図8は、第5主成分得点についての主成分得点マップデータを示す図である。図9は、第6主成分得点についての主成分得点マップデータを示す図である。図10は、第7主成分得点についての主成分得点マップデータを示す図である。図11は、第8主成分得点についての主成分得点マップデータを示す図である。図12は、第9主成分得点についての主成分得点マップデータを示す図である。図13は、第10主成分得点についての主成分得点マップデータを示す図である。
4は、横軸方向のサーチでピーク位置とみなされた領域を通るように散布図を縦軸方向にサーチしピーク位置を探す。ピーク位置検出部114は、縦軸方向にサーチする際には上下の領域に比べてデータ点数が多い領域をピーク位置とみなす。ピーク位置検出部114は、横軸方向のサーチでピーク位置とみなされた領域と、縦軸方向のサーチでピーク位置とみなされた領域とが重なった場合に、その領域(図17の左下斜線でハッチングされた領域)をピーク位置の候補とする。
最も距離が小さいピーク位置のグループに属するように分類する。これにより、主成分得点の散布図上の各点を組成に応じて分類することができる。
次に、本実施形態に係る相分析方法について、図面を参照しながら説明する。図20は、本実施形態に係る相分析方法の一例を示すフローチャートである。ここでは、本実施形態に係る相分析方法の一例として、相分析装置100を用いた相分析方法について説明する。
オージェ電子分光装置(Auger Electron Spectroscope)、X線光電子分光装置(X−ray Photoelectron Spectroscope;XPS)、エネルギー分散型X線分光器(energy dispersive X−ray spectrometer;EDS)が搭載された走査電子顕微鏡(scanning transmission electron microscope;SEM)などであってもよい。
Claims (9)
- 元素ごとの強度または濃度の分布を示すN個の元素マップデータに対して主成分分析を行いN組の主成分の情報を取得し、得られた前記主成分の情報から前記元素マップデータのピクセルごとに主成分得点を求める主成分分析部と、
前記N組の主成分の中から、固有値の大きい方から少なくとも二つの主成分を選択し、選択した複数の前記主成分の前記主成分得点の各々を軸とした座標上に、前記ピクセルに対応する点をプロットして、前記主成分得点の散布図を作成する散布図作成部と、
前記散布図を複数の領域に区分けし、前記領域内のデータ点数をカウントして点密度を求め、前記点密度に基づいてピーク位置を検出するピーク位置検出部と、
前記散布図上の各点と各前記ピーク位置との間の距離を求め、当該距離に基づいて前記散布図上の各点を複数のグループに分類するクラスタリング部と、
前記クラスタリング部で分類された結果に基づいて、相マップを作成する相マップ作成部と、
を含む、相分析装置。 - 請求項1において、
前記ピーク位置検出部は、隣接する前記領域のうち前記点密度が大きい前記領域を前記ピーク位置の候補とし、前記ピーク位置の候補から前記点密度が閾値以上である前記ピーク位置の候補を選択して前記ピーク位置とする、相分析装置。 - 請求項1または2において、
前記クラスタリング部は、前記散布図上の各点を、最も距離が小さい前記ピーク位置の前記グループに属するように分類する、相分析装置。 - 請求項1ないし3のいずれか1項において、
前記相マップ作成部は、前記散布図上の各点に対して前記グループごとに異なる色を付与し、前記散布図上の各点に対して付与された前記色を、前記散布図上の各点に対応する前記元素マップデータの前記ピクセルの色に反映させて、前記相マップを作成する、相分析装置。 - 元素ごとの強度または濃度の分布を示すN個の元素マップデータに対して主成分分析を行いN組の主成分の情報を取得し、得られた前記主成分の情報から前記元素マップデータのピクセルごとに主成分得点を求める主成分分析工程と、
前記N組の主成分の中から、固有値の大きい方から少なくとも二つの主成分を選択し、選択した複数の前記主成分の前記主成分得点の各々を軸とした座標上に、前記ピクセルに対応する点をプロットして、前記主成分得点の散布図を作成する散布図作成工程と、
前記散布図を複数の領域に区分けし、前記領域内のデータ点数をカウントして点密度を求め、前記点密度に基づいてピーク位置を検出するピーク位置検出工程と、
前記散布図上の各点と各前記ピーク位置との間の距離を求め、当該距離に基づいて前記散布図上の各点を複数のグループに分類するクラスタリング工程と、
前記クラスタリング工程で分類された結果に基づいて、相マップを作成する相マップ作成工程と、
を含む、相分析方法。 - 請求項5において、
前記ピーク位置検出工程では、隣接する前記領域のうち前記点密度が大きい前記領域を前記ピーク位置の候補とし、前記ピーク位置の候補から前記点密度が閾値以上である前記ピーク位置の候補を選択して前記ピーク位置とする、相分析方法。 - 請求項5または6において、
前記クラスタリング工程では、前記散布図上の各点を、最も距離が小さい前記ピーク位置の前記グループに属するように分類する、相分析方法。 - 請求項5ないし7のいずれか1項において、
前記相マップ作成工程では、前記散布図上の各点に対して前記グループごとに異なる色を付与し、前記散布図上の各点に対して付与された前記色を、前記散布図上の各点に対応する前記元素マップデータの前記ピクセルの色に反映させて、前記相マップを作成する、相分析方法。 - 請求項1ないし4のいずれか1項に記載の相分析装置を含む、表面分析装置。
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