JP6209903B2 - 検査方法、ナノインプリント用モールド製造方法、ナノインプリント方法、および、検査装置 - Google Patents
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Description
(第1実施形態)
まず、本発明の第1実施形態に係る検査装置の構成等について、図1から図5を用いて説明する。
次に、本発明の1実施形態に係る検査装置1の動作について図6を用いて説明する。
次に、本発明の第2実施形態に係る検査システムについて図を用いて説明する。なお、前記第1実施形態と同一または対応する部分には、同一の符号を用いて異なる構成および作用のみを説明する。その他の実施形態および変形例も同様とする。
まず、本発明の第2実施形態に係る検査システムの構成等について、図7を用いて説明する。
次に、本発明の1実施形態に係る検査装置システムS1の動作について図8を用いて説明する。
次に、本発明の第3実施形態に係る検査システムについて図を用いて説明する。
まず、本発明の第3実施形態に係る検査システムの構成等について、図9を用いて説明する。
次に、本発明の1実施形態に係る検査装置システムS2の動作について図10を用いて説明する。
次に、検査装置の変形例について図11および図12を用いて説明する。
5:ナノインプリント用構造体
10:照射部
20:受光部
21:受光素子(受光面、感光性樹脂層)
22:レンズ
30:制御部
S1、S2:検査システム
P:基板部
P1:第1面
P2:第2面
R:保持部
Claims (11)
- 対をなす第1面および第2面を有する基板部と、前記基板部の前記第1面側に形成された保持部とを備えたナノインプリント用構造体において、前記基板部に存在している異物を検査する検査方法であって、
前記基板部と前記保持部とから形成される空間に、前記基板部を透過可能な検査光を照射する照射部を設定する照射部設定工程と、
前記第2面側に設置され、レンズと、当該レンズを通して前記基板部を透過した検査光を受光する受光面とを有する受光部を設定する受光部設定工程と、
前記基板部を透過した検査光によって前記受光部の受光面に投影される像が、前記第1面に合うように前記レンズの焦点を調整する第1焦点調整工程と、
前記受光部の受光面に投影される像に基づき、前記第1面に異物があるか否かを判定して検査する検査工程と、
を含むことを特徴とする検査方法。 - 請求項1に記載の検査方法において、
前記受光部が、感光性樹脂層であることを特徴とする検査方法。 - 請求項1または請求項2に記載の検査方法において、
前記基板部を透過した検査光によって前記受光部の受光面に投影される像が、前記第2面に合うように、前記レンズの焦点を調整する第2焦点調節工程を更に含み、
前記第1焦点調整工程において、前記第2焦点調節工程の後に、前記第1面と第2面との距離の情報に基づき、前記第1面に合うように前記レンズの焦点を調整することを特徴とする検査方法。 - 請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の検査方法において、
前記第1面と第2面との距離が0.1mmから5mmの範囲にあることを特徴とする検査方法。 - 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の検査方法において、
前記基板部の第1面の垂直方向において、前記第1面からの前記保持部の長さが、5mm以上であることを特徴とする検査方法。 - 請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の検査方法において、
前記第1焦点調整工程の前に、前記基板部の撓みを補正する補正工程を更に含むことを特徴とする検査方法。 - 請求項6に記載の検査方法において、
前記補正工程において、前記保持部を外側に広げる力を加えることにより前記基板部の撓みを補正することを特徴とする検査方法。 - 請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の検査方法において、
前記照射部が、前記第1面側に配置されたことを特徴とする検査方法。 - 対をなす第1面および第2面を有する基板部と、前記基板部を保持するために前記第1面側に形成された保持部とを備えたナノインプリント用基板からナノインプリント用モールドを製造するナノインプリント用モールド製造方法であって、
前記基板部と前記保持部とから形成される空間に、前記ナノインプリント用基板の基板部を透過可能な検査光を照射する照射部を設定する照射部設定工程と、
前記第2面側に設置され、レンズと、当該レンズを通して前記基板部を透過した検査光を受光する受光面とを有する受光部を設定する受光部設定工程と、
前記基板部を透過した検査光によって前記受光部の受光面に投影される像が、前記第1面に合うように前記レンズの焦点を調整する第1焦点調整工程と、
前記受光部の受光面に投影される像に基づき、前記第1面に異物が存在しているか否かを判定して検査する検査工程と、
前記検査工程において、前記第1面に異物が存在していないと判定された場合に、前記基板部の第2面側にナノインプリント面を形成して、前記ナノインプリント用基板から前記ナノインプリント用モールドを製造する製造工程と、
を含むことを特徴とするナノインプリント用モールド製造方法。 - 対をなす第1面および第2面を有する基板部と、前記基板部を保持するために前記第1面側に形成された保持部とを備え、前記第2面にナノインプリント面が形成されたナノインプリント用モールドを使用してインプリントを行うナノインプリント方法であって、
前記基板部と前記保持部とから形成される空間に、前記ナノインプリント用モールドの基板部を透過可能な検査光を照射する照射部を設定する照射部設定工程と、
前記基板部の第2面側に設置され、レンズと、当該レンズを通して前記基板部を透過した検査光を受光する受光面とを有する受光部を設定する受光部設定工程と、
前記基板部を透過した検査光によって前記受光部の受光面に投影される像が、前記第1面に合うように前記レンズの焦点を調整する第1焦点調整工程と、
前記受光部の受光面に投影される像に基づき、前記第1面に異物が存在しているか否かを判定して検査する検査工程と、
前記検査工程において、前記第1面に異物が存在していないと判定された場合に、前記検査後のナノインプリント用モールドを使用して、ナノインプリントを行うインプリント工程と、
を含むことを特徴とするナノインプリント方法。 - 対をなす第1面および第2面を有する基板部と、前記基板部を保持するために前記第1面側に形成された保持部とを備えたナノインプリント用構造体において、前記基板部に存在している異物を検査する検査装置であって、
前記基板部と前記保持部とから形成される空間に、前記基板部を透過可能な検査光を照射する照射部と、
前記第2面側に配置され、レンズと、当該レンズを通して前記基板部を透過した検査光を受光する受光面とを有する受光部と、
前記基板部を透過した検査光によって前記受光部の受光面に投影される像が、前記第1面に合うように前記レンズの焦点を調整する第1焦点調整手段と、
前記基板部の撓みを補正する補正手段と、
前記受光部の受光面に投影される像に基づき、前記第1面に異物が存在しているか否かを判定して検査する検査手段と、
を備えたことを特徴とする検査装置。
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JP2013176874A JP6209903B2 (ja) | 2013-08-28 | 2013-08-28 | 検査方法、ナノインプリント用モールド製造方法、ナノインプリント方法、および、検査装置 |
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JP2013176874A JP6209903B2 (ja) | 2013-08-28 | 2013-08-28 | 検査方法、ナノインプリント用モールド製造方法、ナノインプリント方法、および、検査装置 |
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JP2015046490A JP2015046490A (ja) | 2015-03-12 |
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