JP6181013B2 - 光干渉断層画像生成装置及び光干渉断層画像生成方法 - Google Patents
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Description
また、歯科用のために、前記したTD−OCTが試されていたが、SS−OCTはTD−OCTに比べて、高感度かつ高速にデータを取得できることから、モーションアーチファクト(体動によるゴースト)に強いという特徴がある。
そして、測定時には、光干渉断層画像生成装置において、光源から照射されたレーザ光は、光分割器によって、被写体に照射する計測光と参照ミラーとに照射する参照光に分配される。そして、被写体から反射した散乱光をプローブで受光し、光合波器にて、散乱光と参照ミラーから反射して戻って来た反射光とを合成して生成された干渉光の信号をディテクタで検出する。この干渉光の信号は、被写体の内部情報を表すアナログ信号であるがAD変換回路でデジタル信号に変換される。
一方で、光源外部の周波数変換回路は、光源から出力される第2周波数のクロック信号を電気的に高周波変換して第1周波数よりも高い第3周波数のクロック信号を生成し、生成したクロック信号をAD変換回路に入力する。したがって、本来の撮影可能距離である第1深さに応じた第1周波数よりも周波数が高い3周波数のクロック信号がAD変換回路へ入力する。そして、AD変換回路は、この入力したクロック信号をサンプリングクロックとして、ディテクタで検出された信号をデジタル信号に変換して干渉光の波数が等間隔となるように抽出する。したがって、AD変換回路は、被写体から検出された干渉光の時系列の信号から、干渉光の波数が等間隔となるように抽出する各データの波数間隔を従来よりも小さくすることができる。これにより、制御装置が、このデジタル信号を画像処理して被写体の光干渉断層画像を表示装置に出力すると、光源メーカ規定の本来の撮影可能距離である第1深さよりも深い部位までの見易い断層画像が得られる。
また、本発明に係る光干渉断層画像生成装置において、前記光源は、当該光源規定の撮影可能距離が4mmであり、当該深さの光干渉断層画像の測定に用いるクロック信号のために規定された前記第2周波数が200MHzのものであることとしてもよい。この場合、光干渉断層画像生成装置は、逓倍器により周波数変換した400MHzのクロック信号を用いて干渉光信号をサンプリングできるので、8mmの深さまでの光干渉断層画像を表示することができる。
OCT装置1の構成の概要について、OCT装置1によって撮影する被写体(サンプルS)を、歯科の患者の診断対象の歯牙(前歯)である場合を例に挙げて説明する。図1に示すように、OCT装置1は、光学ユニット部10(光学ユニット)と、診断プローブ部30(プローブ)と、制御ユニット部50(制御ユニット)と、を主に備える。
OCT装置1は、光源11から照射されたレーザ光をサンプルS(被写体)に照射する計測光と、参照ミラー21とに照射する参照光にカップラ12(光分割器)で分配し、診断プローブ部30で、前記計測光をサンプルSに照射しサンプルSの内部から散乱して戻って来た散乱光と、参照ミラー21からの反射光と、をカップラ16(光合波器)で合成させた干渉光を解析して、光干渉断層画像を生成する光干渉断層画像生成装置である。
光学ユニット部(光学ユニット)10は、一般的な光コヒーレンストモグラフィの各方式が適用可能な光源、光学系、検出部を備えている。図1に示すように、光学ユニット部10は、サンプル(被写体)Sに高帯域な波長のレーザ光を続けて(周期的に)照射する光源11と、レーザ光をサンプルSに照射する計測光と参照ミラー21に照射する参照光に分配するカップラ12(光分割器)と、計測光をサンプルSに照射しこのサンプルSの内部で散乱して戻って来た散乱光を受光する診断プローブ部30(プローブ)と、参照光が参照ミラー21から反射して戻って来た反射光と散乱光とを合成させて干渉光を生成するカップラ16(光合波器)と、その干渉光からサンプルSの内部情報を検出するディテクタ(検出器)23と、光源11とディテクタ23との間の光路中に設けられた光ファイバ19b、ケーブル60やその他光学部品等を備えている。
光源11から射出された光は、光分割器であるカップラ12により、計測光と参照光とに分けられる。計測光は、サンプルアーム13のサーキュレータ14から診断プローブ部30に入射する。この計測光は、診断プローブ部30のシャッタ機構31のシャッタが開状態において、受光レンズ32(コリメータレンズ)、走査手段33(ガルバノミラー)を経て集光レンズ34によってサンプルSに集光され、そこで散乱、反射した後に再び集光レンズ34、走査手段33、受光レンズ32を経てサンプルアーム13のサーキュレータ14に戻る。戻ってきた計測光の偏光成分は、偏光コントローラ15によってより偏光の少ない状態に戻され、光合波器としてのカップラ16を介してディテクタ23に入力される。
本実施形態のOCT装置1(光干渉断層画像生成装置)において、光源11は光源メーカで注文製造されたものを用いる。
光源11としては、例えばSS−OCT方式用のレーザ光源を用いることができる。光源11は、レーザ光を出力すると共に、レーザ光から所定周波数範囲で調整可能なクロック信号を生成及び出力するクロック用光干渉計を有している。
光源11の性能としては、例えば、中心波長1310nm、掃引波長幅140nm、掃引速度50kHz、撮影可能距離=5mm、K-Clock周波数=250MHzのものを挙げることができる。
光源11は、図2に示すように、例えば、レーザ光装置110と、コントローラ111と、カップラ112と、クロック用光干渉計113と、レーザ光端子114と、トリガ端子115と、クロック端子116と、を備えている。
コントローラ111は、レーザ光装置110を制御するものであり、所定の掃引波長幅及び所定の掃引速度のレーザ光(掃引光信号)をレーザ光装置110が生成できるように制御する。コントローラ111は、所定の掃引速度(例えば50kHz)に対応した電気信号をトリガ(trigger)としてトリガ端子115に供給する。
クロック用光干渉計113は、例えばマッハツェンダー型の干渉計であって、カップラ131と、光路調整部132と、カップラ133と、検出器134と、増幅器135と、を備えている。
カップラ131は、カップラ112で分割されたレーザ光(光信号)を、光ファイバFで光路調整部132を介してカップラ133に伝送される光信号と、光ファイバFでカップラ133に直接伝送される光信号とに分配するものである。つまり、カップラ131とカップラ133との間には、光ファイバFによる異なる2つの光路が配されており、一方の光路にだけ光路調整部132が設けられている。
本実施形態では、光路調整部132は、光源メーカ規定の設定値(例えば10mm)よりも短い光路長(例えば8mm)が設定されている。仮に光路長を8mmに設定する場合、クロック端子116から出力されるクロック信号をサンプリングクロックとして用いて干渉光の信号を画像処理すると、深さ4mmまでの光干渉断層画像を表示可能である。つまり、本OCT装置1では、光源11の性能を敢えて落として用いている。
検出器134は、カップラ133で合波されて光ファイバFから出射したレーザ光(光信号)を検出し、対応した電気信号を出力するものであり、例えばフォトダイオード等からなる。
増幅器135は、検出器134で検出された電気信号の振幅を増幅した信号(K-Clock)をクロック端子116に供給する。
トリガ端子115は、トリガケーブルによって制御ユニット部50(図1参照)のAD変換回路51(ADボード)の入力端と接続される。トリガ信号の周波数は例えば50kHz(周期20μs)とすることができる。
クロック端子116は、クロックケーブルによって制御ユニット部50(図1参照)の逓倍器90の入力端に接続されている。この逓倍器90の出力端は、AD変換回路51(ADボード)の入力端と接続される。
参照光のコリメータレンズ19は、カップラ12(光分割器)で分割された参照光を平行光に収束させるレンズであり、コリメータ19dの略円筒状のレンズホルダ19a内に収容されている。
図1に示すように、診断プローブ部30(プローブ)は、レーザ光を2次元走査する走査手段33(ガルバノミラー)を含み、光学ユニット部10からのレーザ光をサンプルSに導くと共に、サンプルS内で散乱して反射した散乱光を受光して光学ユニット部10に導くものである。この診断プローブ部30は、それぞれ後記するケーブル60と、ハウジング3と、シャッタ機構31と、受光レンズ32と、走査手段33(ガルバノミラー)と、集光レンズ34と、集光点調整機構35と、を備えている。
集光点調整機構35は、集光レンズ34と、診断プローブ部30のノズル先端に当接されたサンプルS(被写体)との間の距離を調整して集光点を調整する装置である。
集光点調整機構35は、集光レンズ34が光軸方向に進退して、集光点を調整できるようになっている。
制御ユニット部50(制御ユニット)は、逓倍器90と、AD変換回路51と、DA変換回路52と、ガルバノミラー制御回路53と、表示装置54と、OCT制御装置100とを備える。
本実施形態では、逓倍器90は、入力信号の周波数(例えば200MHz)を例えば2倍にした第3周波数(例えば400MHz)の信号を出力することとした。
逓倍器90で周波数変換された電気信号は、AD変換回路51に入力される。
また、AD変換回路51には、光源11のトリガ端子115から出力されるトリガ(trigger)と、逓倍器90で周波数変換された第3周波数(例えば400MHz)の電気信号(サンプリングクロック信号)とが入力される。
本実施形態では、AD変換回路51は、光源11から出力されるトリガ(trigger)に同期してディテクタ23(検出器)のアナログ出力信号の収得を開始し、逓倍器90から出力される周波数変換されたサンプリングクロック信号のタイミングに合わせて、ディテクタ(検出器)23のアナログ出力信号を収得し、デジタル信号に変換する。このデジタル信号は、OCT制御装置100に入力する。
次に、本OCT装置1において、測定可能距離を伸長させる原理について図面及び数式を参照して説明する。ここで、測定可能距離とは、画質の良好な光干渉断層画像の深さ方向の距離を表す。
例えば信号波形の立ち上がりのゼロ点だけでサンプリングする場合、図6(b)に示すように、k空間において次の式(1)を満たすような各位置が波数等間隔の位置となる。
Δk=kn−kn-1=π/(2L) … 式(2)
L=π/(2Δk) … 式(3)
8Lkn=((3/2)+2n)π (n=0,1,2,…) … 式(4)
Δk´=kn−kn-1=(π/(2L))/2=Δk/2 … 式(5)
L´=2×(π/(2Δk))=2L … 式(6)
次に、OCT装置1(光干渉断層画像生成装置)を使用してサンプルS(前歯)を撮影する場合を説明する。
不図示の電源スイッチをONした後、不図示の操作ボタンを操作して、シャッタ機構31を駆動させてシャッタを開放状態にする。
3 ハウジング
10 光学ユニット部
11 光源
12 カップラ(光分割器)
13 サンプルアーム
14 サーキュレータ
15 偏光コントローラ
16 カップラ(光合波器)
17 レファレンスアーム
18 サーキュレータ
19 コリメータレンズ
19a レンズホルダ
19b 光ファイバ
19c コネクタ
19d コリメータ
20 参照光集光レンズ
21 参照ミラー
22 偏光コントローラ
23 ディテクタ
24 光路長変更手段
30 診断プローブ部(プローブ)
31 シャッタ機構
32 受光レンズ
33 走査手段
34 集光レンズ
35 集光点調整機構
50 制御ユニット部
51 AD変換回路
52 DA変換回路
53 ガルバノミラー制御回路
54 表示装置
90 逓倍器(周波数変換回路)
100 OCT制御装置
110 レーザ光装置
111 コントローラ
112 カップラ
113 クロック用光干渉計
114 レーザ光端子
115 トリガ端子
116 クロック端子
131 カップラ
132 光路調整部
133 カップラ
134 検出器
135 増幅器
322 受光レンズユニット
322b コネクタ
F 光ファイバ
S サンプル(被写体)
Claims (5)
- レーザ光を出力するレーザ光装置と、前記レーザ光から光源メーカ規定の撮影可能距離である第1深さの光干渉断層画像の測定に用いるクロック信号のために規定された第1周波数と前記第1周波数よりも小さな第2周波数とを含む所定周波数範囲で調整可能なクロック信号を生成及び出力するクロック用光干渉計と、を有した光源と、
前記レーザ光を被写体に照射する計測光と参照ミラーに照射する参照光に分配する光分割器と、
前記計測光を前記被写体に照射し当該被写体の内部で散乱して戻って来た散乱光を受光するプローブと、
前記参照光が前記参照ミラーから反射して戻って来た反射光と前記散乱光とを合成させて干渉光を生成する光合波器と、
前記干渉光の信号を前記被写体の内部情報として検出するディテクタと、
前記光源から出力される前記第2周波数のクロック信号を電気的に高周波変換して前記第1周波数よりも高い第3周波数のクロック信号を生成する周波数変換回路と、
前記第3周波数のクロック信号をサンプリングの基準として、前記ディテクタで検出された信号をデジタル信号に変換して前記干渉光の波数が等間隔となるように抽出するAD変換回路と、
前記抽出されたデジタル信号を画像処理して前記被写体の光干渉断層画像を表示装置に出力する制御装置と、
を備え、
前記クロック用光干渉計は、
前記レーザ光装置から出力されるレーザ光を分岐するカップラと、
前記カップラにより分岐されたレーザ光をそれぞれ伝送する光ファイバで構成された異なる2つの光路と、
前記光路の一方に設けられて前記異なる2つの光路に所定の光路長差を発生させる光路調整部と、
前記異なる2つの光路を伝送される光信号が合波された光信号を検出し、対応した電気信号を前記第2周波数のクロック信号として出力する検出器と、を備え、
前記光路調整部は、
前記第1周波数のクロック信号が出力可能な光路長よりも短い光路長に設定されており、
前記制御装置は、前記光路調整部を、前記第1周波数のクロック信号が出力可能な光路長よりも短い光路長に設定することで、前記クロック用光干渉計から前記第2周波数のクロック信号が出力できるように調整された状態で抽出されたデジタル信号を画像処理して前記被写体の光干渉断層画像を前記表示装置に出力することを特徴とする光干渉断層画像生成装置。 - 前記光源は、前記第1周波数のクロック信号を出力するときの前記クロック用光干渉計の光路長が変更されて前記第2周波数のクロック信号を出力するように調整されており、前記第2周波数が前記第1周波数の半値よりも大きいことを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層画像生成装置。
- 前記周波数変換回路は、入力信号の周波数を2倍にして出力する逓倍器であることを特徴とする請求項2に記載の光干渉断層画像生成装置。
- 前記光源は、当該光源規定の撮影可能距離が4mmであり、当該深さの光干渉断層画像の測定に用いるクロック信号のために規定された前記第2周波数が200MHzのものであることを特徴とする請求項3に記載の光干渉断層画像生成装置。
- 光源から照射されたレーザ光を被写体に照射する計測光と参照ミラーとに照射する参照光に分配し、前記被写体から反射した散乱光と前記参照ミラーから反射して戻って来た反射光とを合成させた干渉光の信号をディテクタで前記被写体の内部情報として検出して光干渉断層画像を生成する光干渉断層画像生成方法であって、
前記光源は、
レーザ光を出力するレーザ光装置と、前記レーザ光から光源メーカ規定の撮影可能距離である第1深さの光干渉断層画像の測定に用いるクロック信号のために規定された第1周波数と前記第1周波数よりも小さな第2周波数とを含む所定周波数範囲で調整可能なクロック信号を生成及び出力するクロック用光干渉計と、を有し、
前記クロック用光干渉計は、
前記レーザ光装置から出力されるレーザ光を分岐するカップラと、
前記カップラにより分岐されたレーザ光をそれぞれ伝送する光ファイバで構成された異なる2つの光路と、
前記光路の一方に設けられて前記異なる2つの光路に所定の光路長差を発生させる光路調整部と、
前記異なる2つの光路を伝送される光信号が合波された光信号を検出し、対応した電気信号を前記第2周波数のクロック信号として出力する検出器と、を備え、
前記光路調整部を、前記第1周波数のクロック信号が出力可能な光路長よりも短い光路長に設定することで、前記クロック用光干渉計から前記第2周波数のクロック信号が出力できるように調整する工程と、
調整された前記光源を準備する工程と、
前記光源から出力される前記第2周波数のクロック信号を電気的に高周波変換して前記第1周波数よりも高い第3周波数のクロック信号を生成する工程と、
前記ディテクタで検出された信号及び前記第3周波数のクロック信号をAD変換回路に入力して、入力されたクロック信号をサンプリングの基準として、前記ディテクタで検出された信号をデジタル信号に変換して前記干渉光の波数が等間隔となるように抽出する工程と、
前記抽出されたデジタル信号を画像処理して前記被写体の断層画像を表示装置に出力する工程、
を有することを特徴とする光干渉断層画像生成方法。
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Cited By (1)
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Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7146911B2 (ja) * | 2017-11-02 | 2022-10-04 | アルコン インコーポレイティド | 光コヒーレンストモグラフィにおけるエイリアシングを回避するためのkクロックによるデュアルエッジサンプリング |
DE102018211371A1 (de) * | 2018-07-10 | 2020-01-16 | Sirona Dental Systems Gmbh | Optisches Messverfahren sowie optische Messvorrichtung |
JP7363369B2 (ja) * | 2019-10-28 | 2023-10-18 | 株式会社リコー | 測定装置、吸光度測定装置、生体情報測定装置、及び測定方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
ES2534572T3 (es) * | 2007-01-10 | 2015-04-24 | Lightlab Imaging, Inc. | Métodos y aparato para tomografía de coherencia óptica de fuente de barrido |
US8564783B2 (en) * | 2008-05-15 | 2013-10-22 | Axsun Technologies, Inc. | Optical coherence tomography laser with integrated clock |
US9279659B2 (en) * | 2011-01-21 | 2016-03-08 | Duke University | Systems and methods for complex conjugate artifact resolved optical coherence tomography |
US9243885B2 (en) * | 2012-04-12 | 2016-01-26 | Axsun Technologies, LLC | Multi-speed OCT swept source with optimized k-clock |
CN104755908B (zh) * | 2012-07-27 | 2017-12-12 | 统雷有限公司 | 敏捷成像系统 |
-
2014
- 2014-08-08 JP JP2014162708A patent/JP6181013B2/ja active Active
-
2015
- 2015-07-16 WO PCT/JP2015/070445 patent/WO2016021388A1/ja active Application Filing
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10613022B2 (en) | 2018-03-07 | 2020-04-07 | Korea University Research And Business Foundation | Method for focusing light to target object within scattering medium |
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