JP6169451B2 - 荷電粒子線装置および荷電粒子線の計測方法 - Google Patents
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Description
Ne=T×Ip/e …(1)
ここで、Ipは1次荷電粒子の電流、eは素電荷である。
コントラスト=(S1‐S2)/(σ1+σ2)/2 …(2)
ここで、S1およびσ1はそれぞれ、下層なし領域の画像明度と標準偏差、S2およびσ2はそれぞれ、下層あり領域の画像明度と標準偏差である。1.28μsのSEM画像34と、2.56μsのSEM画像35と、10.24μsのSEM画像36と、20.48μsのSEM画像37のコントラスト値はそれぞれ、0.1、1.0、2.3、1.7であり、10.24μsのSEM画像36が最も下層パターンのコントラストが高く、下層パターンに対する感度が高い条件である。一方、1.28μsのSEM画像34が最も下層パターンのコントラストが低く、表面の形状に対する感度が高い条件である。このように、本実施例によれば、時間基準を定めた照射、検出、偏向の検出制御により、電子線の照射帯電を制御した荷電粒子線画像が形成できる。
Claims (14)
- 一次荷電粒子線を発生する荷電粒子源と、
試料を設置するステージと、
前記一次荷電粒子線の加速電圧を設定する加速電圧設定部と、
前記一次荷電粒子線を前記試料へ集束させる対物レンズと、
前記試料から放出される二次荷電粒子を検出する検出器と、
前記検出器で得られる検出信号を抽出する検出制御部と、
前記検出制御部へトリガ信号を送信するトリガ信号制御部と、を有し、
前記検出制御部は、
前記トリガ信号制御部が生成する第1のトリガ信号により、前記検出信号の抽出を開始する制御と、
前記トリガ信号制御部が生成する第2のトリガ信号により、前記検出信号の抽出を終了する制御と、
前記トリガ信号制御部が生成し、前記第1のトリガ信号と前記第2のトリガ信号の間隔時間Tを等分割するN回(Nは自然数)の第3のトリガ信号により、前記検出信号のサンプリングを前記N回行う制御と、
前記間隔時間Tを等分割した分割時間ΔTのそれぞれにおいて、前記サンプリングされた信号を積分して平均化することによって、前記二次荷電粒子を計測する制御と、を行い、
前記分割時間ΔTは、前記分割時間ΔTに含まれる一次荷電粒子数が、エルゴード性が満たされる最小の荷電粒子数より多くなるように制御され、
前記エルゴード性が満たされる最小の荷電粒子数とは、前記計測において、前記検出信号の時間平均と前記検出信号の集合平均とが等しい値となるか、または、前記等しい値から、前記分割時間ΔTの範囲内で前記サンプリングした信号数の平方根の範囲にある値となる粒子数であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 一次荷電粒子線を発生する荷電粒子源と、
試料を設置するステージと、
前記一次荷電粒子線の加速電圧を設定する加速電圧設定部と、
前記一次荷電粒子線を前記試料へ集束させる対物レンズと、
前記試料から放出される二次荷電粒子を検出する検出器と、
前記検出器で得られる検出信号を抽出する検出制御部と、
前記検出制御部へトリガ信号を送信するトリガ信号制御部と、を有し、
前記検出制御部は、
前記トリガ信号制御部が生成する第1のトリガ信号により、前記検出信号の抽出を開始する制御と、
前記トリガ信号制御部が生成する第2のトリガ信号により、前記検出信号の抽出を終了する制御と、
前記トリガ信号制御部が生成し、前記第1のトリガ信号と前記第2のトリガ信号の間隔時間Tを等分割するN回(Nは自然数)の第3のトリガ信号により、前記検出信号のサンプリングを前記N回行う制御と、
前記間隔時間Tを等分割した分割時間ΔTのそれぞれにおいて、前記サンプリングされた信号を積分して平均化することによって、前記二次荷電粒子を計測する制御と、を行い、
前記分割時間ΔTは、前記分割時間ΔTに含まれる一次荷電粒子数が、エルゴード性が満たされる最小の荷電粒子数より多くなるように制御され、
前記Nは、前記間隔時間Tの間に前記一次荷電粒子線に含まれる荷電粒子数以上であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1において、
前記Nは、前記間隔時間Tの間に前記一次荷電粒子線に含まれる荷電粒子数以上であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1から3のいずれか1つにおいて、
前記一次荷電粒子線を遮断するブランカをさらに有し、
前記ブランカは、前記第1のトリガ信号により前記一次粒子線の遮断を解除し、前記第2のトリガ信号により前記一次粒子線を遮断することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1から3のいずれか1つにおいて、
前記一次荷電粒子線に前記試料上を走査させる偏向器をさらに有し、
前記偏向器は、前記第1のトリガ信号により、前記走査を開始することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1から3のいずれか1つにおいて、
前記一次荷電粒子線を遮断するブランカと、
前記一次荷電粒子線に前記試料上を走査させる偏向器と、をさらに有し、
前記検出制御部における前記検出信号の抽出の開始と、前記ブランカによる前記一次粒子線の遮断の解除と、前記偏向器による前記走査の開始とは、前記第1のトリガ信号により同期していることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1から6のいずれか1つにおいて、
前記一次荷電粒子線は、電子線であることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 一次荷電粒子線を発生する荷電粒子源と、試料を設置するステージと、前記一次荷電粒子線の加速電圧を設定する加速電圧設定部と、前記一次荷電粒子線を前記試料へ集束させる対物レンズと、前記試料から放出される二次荷電粒子を検出する検出器と、前記検出器で得られる検出信号を抽出する検出制御部と、前記検出制御部へトリガ信号を送信するトリガ信号制御部と、を有する荷電粒子線装置における荷電粒子線の計測方法であって、
前記トリガ信号制御部が生成する第1のトリガ信号により、前記検出信号の抽出を開始するステップと、
前記トリガ信号制御部が生成する第2のトリガ信号により、前記検出信号の抽出を終了するステップと、
前記トリガ信号制御部が生成し、前記第1のトリガ信号と前記第2のトリガ信号の間隔時間Tを等分割するN回(Nは自然数)の第3のトリガ信号により、前記検出信号のサンプリングを前記N回行うステップと、
前記間隔時間Tを等分割した分割時間ΔTのそれぞれにおいて、前記サンプリングされた信号を積分して平均化することによって、前記二次荷電粒子を計測するステップと、を有し、
前記分割時間ΔTは、前記計測された前記二次荷電粒子の数が、エルゴード性が満たされる最小の荷電粒子数より多くなるように制御され、
前記エルゴード性が満たされる最小の荷電粒子数とは、前記計測において、前記検出信号の時間平均と前記検出信号の集合平均とが等しい値となるか、または、前記等しい値から、前記分割時間ΔTの範囲内で前記サンプリングした信号数の平方根の範囲にある値となる粒子数であることを特徴とする荷電粒子線の計測方法。 - 一次荷電粒子線を発生する荷電粒子源と、試料を設置するステージと、前記一次荷電粒子線の加速電圧を設定する加速電圧設定部と、前記一次荷電粒子線を前記試料へ集束させる対物レンズと、前記試料から放出される二次荷電粒子を検出する検出器と、前記検出器で得られる検出信号を抽出する検出制御部と、前記検出制御部へトリガ信号を送信するトリガ信号制御部と、を有する荷電粒子線装置における荷電粒子線の計測方法であって、
前記トリガ信号制御部が生成する第1のトリガ信号により、前記検出信号の抽出を開始するステップと、
前記トリガ信号制御部が生成する第2のトリガ信号により、前記検出信号の抽出を終了するステップと、
前記トリガ信号制御部が生成し、前記第1のトリガ信号と前記第2のトリガ信号の間隔時間Tを等分割するN回(Nは自然数)の第3のトリガ信号により、前記検出信号のサンプリングを前記N回行うステップと、
前記間隔時間Tを等分割した分割時間ΔTのそれぞれにおいて、前記サンプリングされた信号を積分して平均化することによって、前記二次荷電粒子を計測するステップと、を有し、
前記分割時間ΔTは、前記計測された前記二次荷電粒子の数が、エルゴード性が満たされる最小の荷電粒子数より多くなるように制御され、
前記Nは、前記間隔時間Tの間に前記一次荷電粒子線に含まれる荷電粒子数以上であることを特徴とする荷電粒子線の計測方法。 - 請求項8において、
前記Nは、前記間隔時間Tの間に前記一次荷電粒子線に含まれる荷電粒子数以上であることを特徴とする荷電粒子線の計測方法。 - 請求項8から10のいずれか1つにおいて、
前記荷電粒子線装置は、一次荷電粒子線を遮断するブランカをさらに有し、
前記第1のトリガ信号により、前記ブランカに前記一次粒子線の遮断を解除させるステップと、
前記第2のトリガ信号により、前記ブランカに前記一次粒子線を遮断させるステップと、をさらに有することを特徴とする荷電粒子線の計測方法。 - 請求項8から10のいずれか1つにおいて、
前記前記荷電粒子線装置は、一次荷電粒子線に前記試料上を走査させる偏向器をさらに有し、
前記第1のトリガ信号により、前記偏向器に前記走査を開始させるステップをさらに有することを特徴とする荷電粒子線の計測方法。 - 請求項8から10のいずれか1つにおいて、
前記荷電粒子線装置は、前記一次荷電粒子線を遮断するブランカと、前記一次荷電粒子線に前記試料上を走査させる偏向器と、をさらに有し、
前記第1のトリガ信号により、前記検出信号の抽出の開始と、前記ブランカによる前記一次粒子線の遮断の解除と、前記偏向器による前記走査の開始とを同期して行わせるステップをさらに有することを特徴とする荷電粒子線の計測方法。 - 請求項8から13のいずれか1つにおいて、
前記一次荷電粒子線は、電子線であることを特徴とする荷電粒子線の計測方法。
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