JP6166190B2 - 弾性波素子および弾性波装置 - Google Patents

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本発明は、弾性波素子および弾性波装置に関するものである。
近年、移動体端末等の通信装置において、アンテナから送信・受信される信号をフィルタリングする分波器として弾性波素子が用いられている。弾性波素子は、圧電基板と、圧電基板の主面に形成された励振電極によって構成されている。弾性波素子は、励振電極と圧電基板との関係で機能する電気信号と弾性表面波との相互作用を利用するものである。
このような弾性波素子は、外部と電気的接続をとる電極パッドと、電極パッドと励振電極と電気的接続をとる接続配線が、圧電基板に設けられる。ここで、電極パッドおよび接続配線は、工程を削減するために、励振電極を形成する際に同じ工程でパターニングされることにより形成されることがある。
特開平10−322159号公報
ところで、このように電極パッドおよび接続配線を同じ工程で形成した場合、電極パッドおよび接続配線の一部を構成する材料が励振電極と同じ材料で形成されることになるため、電極パッドにおいて電気特性を向上させることが課題の一つとなっている。
そこで、本発明は、上述の事情のもとで考え出されたものであって、電極パッドの電気特性を向上させることが可能な弾性波素子または弾性波装置を提供することを目的とする。
本発明の弾性波素子は、圧電基板と、該圧電基板上に設けられた、励振電極部と、端部を含むパッド領域とを有する第1導電膜と、該第1導電膜の前記パッド領域に配置された第2導電膜と、該第2導電膜の上面に設けられるとともに、前記第2導電膜の側面および前記第1導電膜の前記端部が覆われている、前記第2導電膜を構成する材料の電気抵抗率よりも小さい電気抵抗率を持つ材料からなる第3導電膜とを有する。
本発明の弾性波装置は、上述の弾性波素子と、前記第1導電膜に電気的に接続される電極パッドを備えた回路基板とを備え、前記弾性波素子がバンプを介して前記パッドに実装されている。
本発明によれば、電極パッドの電気特性を向上させることが可能な弾性波素子および弾性波装置を提供することができる。
本発明の一実施形態にかかる弾性波素子において、カバー体を取り外したときの平面図である。 図1の弾性波素子の一部を拡大した平面図である。 図1の弾性波素子をI−I線で切断したときの断面の一部に相当する。 本発明の変形例にかかる弾性波素子の断面の一部に相当し、図1の弾性波素子をI−I線で切断したときに相当する。 本発明の変形例にかかる弾性波素子の断面の一部に相当し、図1の弾性波素子をI−I線で切断したときに相当する。 本発明の変形例にかかる弾性波素子の断面の一部に相当し、図1の弾性波素子をI−I線で切断したときに相当する。 本発明の変形例にかかる弾性波素子の断面の一部に相当し、図1の弾性波素子をI−I線で切断したときに相当する。 本発明の変形例にかかる弾性波素子の断面の一部に相当し、図1の弾性波素子をI−I線で切断したときに相当する。 本発明の一実施形態にかかる弾性波装置の断面に相当し、図1の弾性波素子をI−I線で切断したときの断面に相当する。
以下、本発明の一実施形態に係る弾性波素子および弾性波装置について、図面を参照して説明する。なお、以下の説明で用いられる図は模式的なものであり、図面上の寸法比率等は現実のものとは必ずしも一致していない。
<弾性波素子>
本発明の一実施形態に係る弾性波素子について以下説明する。本実施形態に係る弾性波(Surface Acoustic Wave:SAW)素子1は、図1または図2に示すように、圧電基板
2、励振電極部3aおよびパッド領域3bを有する第1導電膜、第2導電膜および第3導電膜を備えている。
SAW素子1は、それぞれの構成をウェハーレベルで形成することができる。SAW素子1は、移動体端末において、アンテナと信号演算回路(例えば、ICなど)がやり取りする電気信号をフィルタリングする機能を有する。
SAW素子1は、電極パッド6を複数有しており、そのうちのいずれかの電極パッド6を介して信号の入力がなされる。入力された信号は、励振電極3等によってフィルタリングされる。そして、SAW素子1は、フィルタリングした信号を、複数の電極パッド6のうち入力信号が入った電極パッド6以外の電極パッド6を介して出力する。
圧電基板2は、タンタル酸リチウム単結晶、二オブ酸リチウム単結晶、四ホウ酸リチウム単結晶など圧電性を有する単結晶の基板によって構成されている。圧電基板2は、例えば、直方体状に形成されており、矩形状で互いに平行かつ平坦な上面2Aを有している。圧電基板2は、厚さが、例えば、0.2mm以上0.5mm以下に設定されている。圧電基板2は、一辺の長さが、例えば、0.6mm以上3mm以下に設定されている。
圧電基板2上には、第1導電膜3が設けられている。第1導電膜3は、励振電極部3aと、電極パッド6の一部であるパッド領域3bとが設けられている。また、パッド領域3bは、第1導電膜3の端部3Aを含む領域に設定されている。ここで、パッド領域3bの端部3Aは、第1導電膜3を平面視したときの外周の一部を指すものである。パッド領域3bの平面視形状は、概ね、後述する電極パッド6の平面視形状となるように設定される。励振電極部3aとパッド領域3bとは、接続配線部3cによって電気的に接続されている。
励振電極部3aは、図2に示すように、櫛歯状電極で構成されている。励振電極3は、少なくとも2本のバスバー電極部3aaが対向するように配置されるとともに、互いの方
向に延びるとともに、両者が交差する電極指部3abとを有している。複数の励振電極部3は、直接接続または並列接続などにより接続されたラダー型SAWフィルタを構成していてもよい。また、励振電極部3は、複数の励振電極部3が一方向に配列された2重モードSAW共振器フィルタであってもよい。さらに、励振電極部3は、図1または図2に示すように、反射器部3acを有していてもよい。
励振電極部3a、パッド領域3bおよび接続配線部3cは、同じ製造プロセスで形成することができる。具体的には、第1導電膜3となる第1金属膜を圧電基板2上に成膜した後、第1金属膜をフォトリソグラフィ−法等を用いてパターニングすることにより、励振電極部3a、パッド領域3bおよび接続配線部3cを有する第1導電膜3を形成することができる。なお、励振電極部3aとしては、上述した通り、バスバー電極部3aa、電極指部3abおよび反射器部3acがパターニングされる。
第1金属膜を成膜する方法としては、スパッタリング法、蒸着法またはCVD(Chemical Vapor Deposition)法等を用いることができる。第1金属膜をパターニングするフォトリソグラフィ−法は、例えば、縮小投影露光機(ステッパー)およびRIE(Reactive Ion Etching)装置等を用いて行うことができる。
第1金属膜の材料としては、励振電極部3aで好適な導電材料を考慮して、例えばAl−Cu合金等を用いることができる。また、第1金属膜の厚みは、励振電極部3aの厚みを考慮して、例えば100nm以上500nm以下となるように設定することができる。本実施形態は、圧電基板2側からTiとAl−Cu合金とを積層した第1導電膜3の場合である。
第1導電膜3の上には、パッド領域3bに第2導電膜4が設けられている。第2導電膜4は、第1導電膜3との電気特性等を考慮して、導電性材料を適宜選択することができる。具体的に、第1導電膜3としてTiおよびAl−Cu合金の積層体を用いている場合には、例えばクロムおよびニッケルを用いることができる。第2導電膜4は、第1導電膜3からの厚みが、例えば500nm以上1000nm以下となるように設定することができる。本実施形態は、第2導電膜4として、第1導電層4aおよび第2導電層4bを順次積層したものである。なお、第1導電層4aとしてはクロムを、第2導電層4bとしてはニッケルをそれぞれ用いた場合である。
第2導電膜4は、パッド領域3bの外周よりも内側に配置されていても良いし、パッド領域3bの外周と重なるように配置されていても良い。本実施形態は、図3に示すように、第2導電膜4がパッド領域3bの外周と重なるように配置されていた場合である。
第2導電膜4はリフトオフ法を用いて形成することができる。具体的には、まず、第1導電膜3が形成された圧電基板2の上面2A側に、パッド領域3bが露出するレジストパターンを形成する。そして、第2導電膜4となる第2金属膜を、パッド領域3bおよびレジストパターン上に成膜した後、レジストパターンを除去することでレジストパターン上の第2金属膜も併せて除去することができ、パッド領域3b上に第2導電膜4を形成することができる。
第3導電膜5は、図3に示すように、第2導電膜4の上面4Aに設けられているとともに、第2導電膜4の側面4Bおよび第1導電膜3bの端部3Aが覆われるように形成されている。第3導電膜5の厚みは、第3導電膜5の材料によって適宜設定すれば良いが、例えば、10nm以上100nm以下となるように設定することができる。本実施形態は、第2導電膜4がパッド領域3bの外周と重なるように配置されているため、第3導電膜5
は第1導電膜3bの端部(端面)3Aを覆うように形成されている。
また、第3導電膜5は、第2導電膜4を構成する材料の電気抵抗率よりも小さい電気抵抗率を持つ材料で構成されている。第2導電膜4が複数の材料で構成されている場合には、いずれかの材料の電気抵抗率よりも小さい電気抵抗率を持つ材料を用いることができる。本実施形態では、上述のように、第2導電膜4がクロムとニッケルで形成されている場合であるから、ニッケルの電気抵抗率よりも小さい電気抵抗率を持つ金を用いることができる。表1は、本実施形態の第1導電膜3、第2導電膜4および第3導電膜5の構成である。
Figure 0006166190
このような第1導電膜3、第2導電膜4および第3導電膜5が積層されて電極パッド6が構成されている。電極パッド6は、第1導電膜3の接続配線部3cを介して励振電極部3aに電気的に接続されている。電極パッド6の平面視形状は適宜設定すればよいが、本実施形態では、電極パッド6は、概ね、円形状に形成されている。電極パッド6の数および配置位置は、複数の励振電極3によって構成されるフィルタの構成に応じて適宜設定すればよい。電極パッド6の幅は、例えば60μm以上100μm以下となるように設定することができる。
第1導電膜3上には、図8に示すような、保護膜9を形成してもよい。保護膜9は、絶縁性材料によって構成されており、例えば、酸化ケイ素(SiO)、窒化ケイ素(Si)またはシリコン(Si)等を用いることができる。保護膜9の厚みは、例えば5nm以上50nm以下に設定することができる。保護膜9は、電極パッド6の上面が露出するよう配置されている。具体的には、第3導電膜5の上面が露出するように形成されている。
このような保護膜9を形成することにより、励振電極部3aおよび接続配線部3cを保護し、酸化されにくくすることができたり、後の工程中のダメージを防止したりすることができる。保護膜9はカバー体7と同じ材料で構成してもよく、その場合は両者の密着性を向上させることができる。
カバー体7は、圧電基板2上に配置されている。カバー体7は、例えば、シリコンからなる基板、セラミック材料からなるセラミック基板、または有機材料からなる有機基板、または感光性材料からなるフィルム状の部材などで構成することができる。カバー体7は、圧電基板2の熱伝導率よりも大きい熱伝導率の材料を用いることができる。
カバー体7は、枠部7aおよび蓋部7bにより構成されている。蓋部7bが枠部7a上に配置されることにより、励振電極3とカバー体7との間に振動空間Spが形成される。枠部7aは複数の励振電極3の周りを囲むように配置されており、枠部7aの厚みによって振動空間Spの高さが概ね決定される。なお、カバー体7を枠部7aおよび蓋部7bと一体的に形成した場合には、枠部7aと圧電基板2との間に別の枠部材を介在させてもよい。
蓋部7bは、枠部7aと異なる材料からなる板状部材を複数積層してもよいし、振動空間Spと重なるように金属層を積層させて、蓋部7bの強度を向上させてもよい。このように蓋部7bの強度を向上させることにより、SAW素子1の実装時における耐衝撃性を向上させることができる。本実施形態のSAW素子は枠部7aおよび蓋部7bが異なる材料で形成されている場合である。枠部7aおよび蓋部7bは、エポキシ系の樹脂材料で形成されている場合である。
カバー体7の蓋部7bは、1層の厚みが例えば40μm以上60μm以下となるように設定することができる。カバー体7の全体厚みは、例えば80μm以上300μm以下となるように設定することができる。カバー体7の平面方向の幅は、例えば0.6mm以上3mm以下となるように設定することができる。
カバー体7は、貫通孔7cを有している。貫通孔7cは電極パッド6と重なる位置に配置されていることにより、電極パッド6の上面がカバー体7から露出している。貫通孔7cは、平面視において、電極パッド6の外周よりも小さくなるように配置されている。貫通孔7cは、電極パッド6に対して、垂直となっていてもよいし、蓋部7bの上面側に拡径するように傾斜していてもよい。貫通孔7cが傾斜していた場合、後述する外部端子電極10との密着性を向上させることができる。貫通孔7cは、蓋部7bとなる部材を枠部7aに載置した後、レーザーで打ち抜くことにより電極パッド6を露出させて、形成することができる。
本実施形態の弾性波素子は、電極パッド6において、第2導電膜4の電気抵抗率よりも小さい電気抵抗率を持つ第3導電膜5が、第2導電膜4の上面4Aに設けられているとともに、第2導電膜4の側面4Bおよび第1導電膜3の端部(端面)3Aを覆うように形成されている。そのため、第3導電膜5が第2導電膜4および第1導電膜3と接触する表面積を大きくすることができ、第3導電膜5から第2導電膜4および第1導電膜3に流れる電流の密度を小さくすることができる。その結果、第2導電膜4および第1導電膜3と第3導電膜5との間で発生するエレクトロマイグレーションを低減することができる。
また、第2導電膜4が複数の導電性材料で積層されて構成されている場合には、第3導電膜5が各層と接触することになるため、各層の電位差を低減することができる。その結果、第3導電膜5が接触する層間の電位差腐食を低減することができ、電極パッド6がエレクトロマイグレーションで破壊されにくくすることができたり、SAW素子1をダイシ
ングする際に使用する潤滑水等による局部電池腐食で電極パッド6が劣化したりすることを低減することができる。
さらに、第3導電膜5が、第2導電膜4の電気抵抗率よりも小さい電気抵抗率を持つ材料で構成されていることから、本実施形態のように、上側に位置する第2導電層4bの導電材料よりも下側に位置する第1導電層4aの導電材料の方が電気抵抗率の小さい材料を用いている場合、第3導電膜5から第2導電膜4(第1導電層4a)に電流が流れやすくすることができる。
(SAW素子の変形例1)
第2導電膜4は、図4に示すように、第1導電膜3の端部3Aよりも内側に形成されていてもよい。具体的に、第2導電膜4が端部3Aよりも内側に形成されていることにより、第1導電膜3の上面の一部が第2導電膜4から露出することになり、第2導電膜4と第1導電膜3との側面に段差を有することになる。
このように第1導電膜3および第2導電膜4の側面4Bが段差を有している場合には、第3導電膜4はこの段差を覆うように配置される。このように段差を設けることによって、第3導電膜5は、第1導電膜3および第2導電膜4との接触面積をさらに大きくすることができる。その結果、第2導電膜4および第1導電膜3と第3導電膜5との間で発生するエレクトロマイグレーションをさらに低減することができる。
また、第3導電膜5は、図5に示すように、第2導電膜4の上面4Aと側面4Bの外周全体とを覆うように配置してもよい。このように側面4Bの外周全体を覆うことによって、電極パッド6の電気特性(エレクトロマイグレーションの低減、電位差腐食の低減、局部電池腐食の低減)をさらに向上させることができる。
また、第2導電膜4が複数の層で構成されている場合は、上方の層ほど径を小さく形成して、複数の段差を形成してもよい。具体的に、図5に示すように、第2導電層4として、第1導電層4a、第1導電層4aよりも径が小さい第2導電層4bを順次積層してもよい。このように複数の段差を作ることによって、第3導電膜5と第2導電膜4および第1導電膜3との接触面積をさらに大きくすることができる。
さらに、図6に示す通り、第2導電膜4を傾斜するように形成してもよい。このように第2導電膜4を第1導電膜3側が拡径するように傾斜させて形成することによって、第3導電膜5の被覆性を向上させることができる。また、第2導電膜4の側面4Bが第1導電膜3の上面に対して鈍角となることで、第3導電膜5の被覆性を向上させることができるとともに、角部に応力が集中しにくくなることからクラックが発生しにくくすることができる。その結果、電極パッド6の信頼性を向上させることができる。
(SAW素子の変形例2)
接続配線部3cは、図7に示すように、第4導電膜8が積層されていてもよい。第4導電膜8としては、例えば、クロムまたはアルミニウムを用いることができる。本実施形態は、第4導電膜8として、第1導体層8aおよび第2導体層8bを接続配線部3c上に順次積層したものである。本実施形態は、第1導体層8aはクロムで構成されており、第2導体層8bはアルミニウムで構成されている場合である。第1導体層8aおよび第2導体層8bは、例えば、第2導電膜4を構成する第1導電層4aおよび第2導電層4bと同じ工程で作製することができる。このように第4導電膜8が設けられていることによって、接続配線部3cを通過する電流の抵抗を低減することができる。
また第3導電膜5は、図7に示すように、第2導電膜4の上面4Aおよび側面4Bを覆
うとともに、第4導電膜8を覆うことによって、第4導電膜8においてもマイグレーション、電位差腐食および局部電池腐食などを低減することができる。
(SAW素子の変形例3)
上述の実施形態では、枠部7aが、励振電極部3aおよび電極パッド6等を囲むように配置されていたが、図8に示すように、電極パッド6を枠部7a内に設けてもよい。このように電極パッド6を枠部7a内に配置することによって、平面(x、y)方向に小型化することができる。
枠部7aは、電極パッド6の上面が露出するように設けられている。また、本実施形態は、圧電基板2および第1導電膜3を覆うように保護膜9が設けられている場合である。また、本実施形態は、蓋部7bとして第1蓋部7baおよび第2蓋部7bbが枠部7aに載置されている場合であり、貫通孔7c内に外部端子電極10としてポスト電極10aおよびバンプ10bが配置されている。このように蓋部7bを、第1蓋部7baおよび第2蓋部7bbで構成することにより耐衝撃性を向上させることができる。
第1導電膜3および第2導電膜4の側面に段差を設けて電極パッド6を構成している構成において、枠部7a内に電極パッド6を配置することにより、枠部7aが段差を覆うような形状となるため、外部から水分などが侵入しにくくすることができる。その結果、SAW素子1の耐湿性等を向上させることができる。
<SAW装置>
このようなSAW素子1は、図9に示すように、第1導電膜3に電気的に接続されるパッド電極11aを有する回路基板11に実装されてSAW装置100が構成される。具体的に、SAW装置100は、パッド電極11aが形成された回路基板11にSAW素子1がバンプ10bを介して実装される。本実施形態は、外部端子電極10として、ポスト電極10aを設けずに、電極パッド6に直接バンプ10bでSAW素子1を実装した場合である。
1 弾性波素子(SAW素子)
2 圧電基板
2A 上面
3 第1導電膜
3A 端部
3a 励振電極部
3aa バスバー電極部
3ab 電極指部
3ac 反射器部
3b パッド領域
3c 接続配線部
4 第2導電膜
4A 上面
4B 側面
4a 第1導電層
4b 第2導電層
5 第3導電膜
6 電極パッド
7 カバー体
7a 枠部
7b 蓋部
7ba 第1蓋部
7bb 第2蓋部
7c 貫通孔
8 第4導電膜
8a 第1導体層
8b 第2導体層
9 保護膜
10 外部端子電極
10a ポスト電極
10b バンプ
11 回路基板
11a パッド電極

Claims (7)

  1. 圧電基板と、
    該圧電基板上に設けられた、励振電極部と、端部を含むパッド領域とを有する第1導電膜と、
    該第1導電膜の前記パッド領域に配置された第2導電膜と、
    該第2導電膜の上面に設けられるとともに、前記第2導電膜の側面および前記第1導電膜の前記端部が覆われている、前記第2導電膜を構成する材料の電気抵抗率よりも小さい電気抵抗率を持つ材料からなる第3導電膜とを有する弾性波素子。
  2. 前記第2導電膜は、前記第1導電膜の前記端部よりも内側に配置されている請求項1に記載の弾性波素子。
  3. 前記第1導電膜は、前記励振電極部と前記パッド領域を繋ぐ接続配線領域を有しており、該接続配線領域には第4導電膜が積層されている請求項1または2に記載の弾性波素子。
  4. 前記第2導電膜は、前記第1導電膜上に配置された第1導電層と、該第1導電層上に配置された、前記第1導電層の電気抵抗率の小さい電気抵抗率を持つ材料からなる第2導電層とをさらに有する請求項1〜3のいずれかに記載の弾性波素子。
  5. 前記第2導電膜はクロムまたはニッケルを含んでいるとともに、前記第3導電膜は金を含んでいる請求項1〜4のいずれかに記載の弾性波素子。
  6. 前記圧電基板上に形成された枠と、該枠上に載置された蓋部とを有し、前記枠は平面視において前記端部と重なるように配置されている請求項1〜5のいずれかに記載の弾性波素子。
  7. 請求項1〜6のいずれかに記載の弾性波素子と、
    前記第1導電膜に電気的に接続される電極パッドを備えた回路基板とを備え、
    前記弾性波素子がバンプを介して前記パッドに実装されている弾性波装置。
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