JP6132086B2 - 直流電圧変換回路 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体スイッチング素子のスイッチングにより直流電圧を所定の大きさの直流電圧に変換する直流電圧変換回路に関し、詳しくは、配線の寄生インダクタンスに起因して発生するサージ電圧をスナバ回路により吸収して半導体スイッチング素子を保護するようにした過電圧保護技術に関するものである。
図7は、この種の直流電圧変換回路の第1の従来技術を示している。
図7において、直流電源1の正極にはリアクトル2の一端が接続され、リアクトル2の他端と直流電源1の負極との間には、MOSFET等の半導体スイッチング素子3が接続されている。スイッチング素子3の両端(ドレイン電極dとソース電極sとの間)には、ダイオード4とコンデンサ5とが直列に接続され、コンデンサ5の両端には負荷6が接続されている。なお、図7において、Pは直流電圧変換回路の正側端子、Nは負側端子であり、Aは、後述するように回路の配線に起因する寄生インダクタンスである。
図7に示す直流電圧変換回路は、直流入力電圧をそれより高い直流電圧に変換する、いわゆる昇圧チョッパと呼ばれている。この回路の動作を、以下に説明する。なお、以下の説明において、ダイオード等のPN接合における順電圧降下は無視するものとする。
スイッチング素子3をオンすると、直流電源1→リアクトル2→スイッチング素子3→直流電源1の経路で電流が流れ、直流電源1の電圧(入力電圧)Vがリアクトル2に加わって入力電流Iinは増加する。スイッチング素子3をオフすると、直流電源1→リアクトル2→ダイオード4→コンデンサ5→直流電源1の経路で電流が流れる。このとき、リアクトル2にはコンデンサ5の電圧(出力電圧)Vと入力電圧Vとの差電圧が印加されるが、後述するように、VはVより高く保たれているので、Iinは減少する。
スイッチング素子3のオン/オフの時間比率を制御することにより、入力電流Iinの大きさを任意に制御することができ、負荷6の消費電力に応じて入力電流Iinを制御すれば、出力電圧Vを所望の値に保つことができる。
また、スイッチング素子3がオンする時間比率を増加させれば、入力電流Iin、更には入力電力(V×Iin)を理論上、無制限に増加させることができる。このため、出力電圧Vを入力電圧Vよりも高い範囲で任意の値に制御することができ、スイッチング素子3をオンさせる時間比率が0、つまりスイッチング素子3が全くオンしない場合には、出力電圧Vがほぼ入力電圧Vと等しくなる。
一般に、電気回路では、意図しない寄生インダクタンスAが配線上に存在する。図7では、スイッチング素子3−ダイオード4−コンデンサ5−スイッチング素子3の一巡回路に存在する寄生インダクタンスAを表わしている。
図8は、スイッチング素子3を流れていた電流がダイオード4を介してコンデンサ5に転流する際の電圧、電流波形を示している。
図8において、スイッチング素子3が時刻tでターンオフを開始すると、スイッチング素子3のインピーダンスが上昇し、それにつれてドレイン−ソース間電圧Vdsが上昇する。電圧Vdsが時刻tで出力電圧Vを超えると図7のダイオード4が導通し、スイッチング素子3→ダイオード4→寄生インダクタンスA→コンデンサ5→スイッチング素子3の経路で電流iが流れ始める。
このとき、寄生インダクタンスAでは、電流iの変化率に比例した数式1の電圧(いわゆるサージ電圧)が発生する。
[数1]
ΔV=L・(di/dt)
ここで、Lは寄生インダクタンスAのインダクタンス値である。
スイッチング素子3のドレイン電流をIとすると、i=Iin−Iであり、サージ電圧ΔVが発生する短い期間ではIinが一定とみなせるので、(di/dt)は概ねIの減少率、すなわち(−dI/dt)に等しい。サージ電圧ΔVはVに加算される形でスイッチング素子3のドレイン−ソース間に印加されるため、ドレイン−ソース間電圧Vdsは、図8に示すように、時刻t以後の僅かな期間、出力電圧Vより高くなる。
サージ電圧ΔVが大きいとスイッチング素子3の耐圧を超えてしまい、スイッチング素子3が破損する危険がある。このため、従来では、配線長などの回路構成を工夫して寄生インダクタンスAのインダクタンス値Lを極力小さくする、等の対策が採られている。
一方、近年の半導体素子の性能向上により、より高速のスイッチングが可能になっている。スイッチング損失を低減するにはなるべく短い時間でスイッチングを行うことが望ましいが、いわゆる高速スイッチングは(di/dt)の増加につながる。このような高速スイッチング条件において、回路構成の工夫によりインダクタンス値Lを低減するには限度がある。
次に、図9は直流電圧変換回路の第2の従来技術を示している。図7に示した回路との相違点は、ダイオード4に並列にスナバコンデンサ7を接続した点にあり、これによってスイッチング素子3のドレイン−ソース間電圧Vdsの低減を図っている。
図9において、スイッチング素子3がオンしている期間に、スナバコンデンサ7は、その電圧Vが出力電圧Vと概ね等しくなるように充電されている。
図10は、図9において、スイッチング素子3を流れていた電流がダイオード4を介してコンデンサ5に転流する際の電圧、電流波形を示している。
スイッチング素子3が時刻tでターンオフを開始し、ドレイン−ソース間電圧Vdsが0[V]より僅かでも大きくなると、P−N間電圧VPN(=Vds+V)がVを超え、リアクトル2→コンデンサ7→寄生インダクタンスA→コンデンサ5の経路で電流が流れ始める。つまり、VdsがVを超える以前に転流が始まる。
図9に示す回路でもサージ電圧ΔVが発生するのは図7と同等であるが、図9ではVds=V+ΔV−Vであるため、図10と図8との比較から明らかなように、Vdsのピーク値は図10の方が小さくなる。
図9,図10と同様の原理によってVdsを抑制し、スイッチング素子を保護する技術は、例えば特許文献1に記載されている。
特開平10−136637号公報(段落[0014]〜[0016]、図1等)
図9の回路によれば、サージ電圧ΔVを図7の回路よりも抑制することが可能である。しかし、スイッチング素子3がオンしてスナバコンデンサ7が出力電圧Vに等しい値まで充電される際に、コンデンサ5→スナバコンデンサ7→スイッチング素子3→コンデンサ5の経路で充電電流が流れるため、スイッチング素子3において損失(充電損失)を生じる。この損失電力は、充電回路の抵抗値に無関係に(1/2)CV となり(Cはコンデンサ7のキャパシタンス値)、スナバコンデンサ7の充電回路に充電抵抗を設けた場合も、その抵抗で同様の損失を生じることになる。
また、スイッチング素子3を周波数fで動作させた場合には、数式2に示す損失電力Pが発生する。
[数2]
=(1/2)CV ・f
従って、スイッチング周波数fを高くし、すなわち、直流電圧変換回路を高周波で動作させる場合には、上記の損失電力Pが大きくなり、装置全体の効率の低下を招くという問題があった。
そこで、本発明の解決課題は、スナバコンデンサの充電に伴う損失電力を最小限にして効率の低下を防止しつつ、寄生インダクタンスに起因するサージ電圧を抑制して半導体スイッチング素子を保護するようにした直流電圧変換回路を提供することにある。
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、第1の直流電源と、前記第1の直流電源の両端にリアクトルを介して接続された第1の半導体スイッチング素子と、前記スイッチング素子に並列に接続され、かつ整流素子及び負荷からなる直列回路と、を備え、前記直流電源から供給される入力電圧を、前記スイッチング素子のスイッチング動作により所定の大きさの出力電圧に変換して前記負荷に供給する直流電圧変換回路において、前記整流素子の両端に接続され、かつ第1のスナバコンデンサ及び第1のスナバダイオードからなる直列回路と、前記スイッチング素子がオンしている期間に、前記第1のスナバコンデンサを前記第1の直流電源の電圧の1/2以下の一定値に充電する充電回路と、を備えたものである。
ここで、第1のスナバコンデンサに対する充電回路は、請求項2に記載するように、第2の直流電源とダイオードとの直列回路により構成するか、請求項3に記載するように、第2の直流電源とリアクトルとダイオードとの直列回路により構成することができる
また、請求項4に係る発明は、第1の直流電源と、前記第1の直流電源の両端にリアクトルを介して接続された半導体スイッチング素子と、前記スイッチング素子に並列に接続され、かつ整流素子及び負荷からなる直列回路と、を備え、前記直流電源から供給される入力電圧を、前記スイッチング素子のスイッチング動作により所定の大きさの出力電圧に変換して前記負荷に供給する直流電圧変換回路であって、前記整流素子の両端に接続され、かつ第1のスナバコンデンサ及び第1のスナバダイオードからなる直列回路と、前記スイッチング素子がオンしている期間に、前記第1のスナバコンデンサを前記入力電圧または前記出力電圧よりも低い電圧に充電する充電回路と、を備えた直流電圧変換回路において、前記リアクトルとして、直列接続された複数のリアクトルを備え、これらのリアクトル同士の接続点の一つと、前記第1のスナバコンデンサと前記第1のスナバダイオードとの接続点とをダイオードを介して接続することにより、前記充電回路を構成したものである。
更に、請求項5に記載するように、請求項1におけるリアクトルに補助巻線を設け、この補助巻線の一端と、第1のスナバコンデンサと第1のスナバダイオードとの接続点とを、ダイオードを介して接続することにより、第1のスナバコンデンサに対する充電回路を構成しても良い。
また、請求項6に記載するように、請求項1における整流素子に代えて、第1の半導体スイッチング素子に対して直列に接続される第2の半導体スイッチング素子を設け、この半導体スイッチング素子が有する整流機能によって前記整流素子を置き換えることもできる。
なお、請求項7に記載するように、請求項6における第1のスナバコンデンサの充電回路は、請求項2と同様に第2の直流電源とダイオードとの直列回路によって構成すれば良い。
更に、請求項8に係る発明は、第1の直流電源と、前記第1の直流電源の両端にリアクトルを介して接続された第1の半導体スイッチング素子と、前記第1の半導体スイッチング素子に並列に接続され、かつ整流機能を有する第2の半導体スイッチング素子及び負荷からなる直列回路と、を備え、前記直流電源から供給される入力電圧を、前記第1,第2の半導体スイッチング素子のスイッチング動作により所定の大きさの出力電圧に変換して前記負荷に供給する直流電圧変換回路であって、前記第2の半導体スイッチング素子の両端に接続され、かつ第1のスナバコンデンサ及び第1のスナバダイオードからなる直列回路と、前記第1の半導体スイッチング素子がオンしている期間に、前記第1のスナバコンデンサを前記入力電圧または前記出力電圧よりも低い電圧に充電するための第2の直流電源と第1の充電用ダイオードとの直列回路からなる充電回路と、を備えた直流電圧変換回路において、前記第1の半導体スイッチング素子に並列に、第2のスナバコンデンサと第2のスナバダイオードとの直列回路を接続し、前記第2のスナバコンデンサと前記第2のスナバダイオードとの接続点と前記負荷の一端との間に、第2のスナバコンデンサの充電回路として、第3の直流電源と第2の充電用ダイオードとの直列回路を接続したものである。
本発明によれば、スナバコンデンサの充電に伴う損失電力を最小限にして効率の低下を防止することができる。また、半導体スイッチング素子をオフする際に発生するサージ電圧を抑制し、半導体スイッチング素子を過電圧から保護することができる。
本発明の第1実施形態を示す回路図である。 図1において、半導体スイッチング素子を流れていた電流がコンデンサに転流する際の電流、電圧波形図である。 本発明の第2実施形態を示す回路図である。 本発明の第3実施形態を示す回路図である。 本発明の第4実施形態を示す回路図である。 本発明の第5実施形態を示す回路図である。 直流電圧変換回路の第1の従来技術を示す図である。 図7において、半導体スイッチング素子を流れていた電流がコンデンサに転流する際の電流、電圧波形図である。 直流電圧変換回路の第2の従来技術を示す図である 図9において、半導体スイッチング素子を流れていた電流がコンデンサに転流する際の電圧、電流波形図である。
以下、図に沿って本発明の実施形態を説明する。
図1は、本発明の第1実施形態を示す回路図であり、図7,図9における各素子と同一の素子については同一の番号を付してある。この第1実施形態も、前記同様に、半導体スイッチング素子3のスイッチング動作によって入力電圧Vを昇圧した出力電圧Vを負荷6に供給する昇圧チョッパを構成している。
図1において、第1の直流電源1、リアクトル2、MOSFET等の半導体スイッチング素子3、ダイオード4、コンデンサ5及び負荷6の接続状態は図7,図9と同一である。この実施形態の特徴は、ダイオード4に並列に、スナバ回路を構成するスナバダイオード101とスナバコンデンサ103との直列回路が接続され、スナバダイオード101とスナバコンデンサ103との接続点と負側端子Nとの間に、スナバコンデンサ103の充電回路として、ダイオード102と第2の直流電源104とが直列に接続されている点である。
以下、この実施形態の動作を説明する。
スイッチング素子3がオンしているとき、直流電源104→ダイオード102→スナバコンデンサ103→スイッチング素子3→直流電源104の経路で電流が流れるので、スナバコンデンサ103は、その電圧Vが直流電源104の電圧に等しくなるように充電される。ここで、例えば第1の直流電源1による入力電圧Vを200[V]、出力電圧Vを400[V]、第2の直流電源104の電圧を100[V]に設定するものとする。
図2は、図1において、スイッチング素子3を流れていた電流がコンデンサ5に転流する際の電流、電圧波形図である。
スイッチング素子3が時刻tでターンオフを開始し、スイッチング素子3のインピーダンスが上昇すると、スイッチング素子3のドレイン−ソース間電圧Vdsが上昇を始める。しかしながら、この実施形態では、図9と異なって(Vds+V)の値がV(=400[V])を超えるまで、すなわち、Vdsが(V−V)=300[V]を超えるまではスナバダイオード101及びスナバコンデンサ103には電流が流れない。なお、前述したようにVは直流電圧源104の電圧に等しいため、100[V]である。
(Vds+V)の値がVを超えると、リアクトル2→スナバコンデンサ103→スナバダイオード101→寄生リアクトルA→コンデンサ5の経路でスナバコンデンサ103の放電電流が流れる。このとき、寄生リアクトルAにはサージ電圧ΔVが発生するが、図1から明らかなように、Vds=ΔV+V−Vであるため、スナバコンデンサ103が放電を終了するまでの間、VdsはΔV+Vより低く保たれる。
つまり、スナバダイオード101及びスナバコンデンサ103からなるスナバ回路は、サージ電圧ΔVが発生するタイミング付近でのみ動作し、それ以前の期間では不要な放電を行わない。このため、スナバコンデンサ103の充電電圧Vが低い場合にもサージ電圧ΔVを効果的に抑制することができる。
前述した図9の回路において、スナバコンデンサ7は、その電圧Vが出力電圧Vと概ね等しくなるように充電されるので、V=400[V]となるが、図1の回路によれば、スナバコンデンサ103の電圧Vは第2の直流電源104の電圧に等しく、100[V]である。すなわち、図1における電圧Vは図9の1/4になるため、スナバコンデンサ103のキャパシタンス値Cが図9のスナバコンデンサ7と同じ場合、充電損失としての(1/2)CV は1/4の二乗、すなわち1/16となる。スナバコンデンサ103のキャパシタンス値を図9のスナバコンデンサ7の数倍にしても、充電損失は図9の回路より小さくなるので、従来よりもサージ抑制効果を向上させることが可能である。
次に、図3は本発明の第2実施形態を示す回路図である。この実施形態は、図1におけるダイオード102と第2の直流電源104との間にリアクトル105を挿入したものであり、スナバコンデンサ103の充電損失を更に低減するためのものである。
図1の回路では、スナバコンデンサ103の電圧V自体が小さくなるが、充電損失としての(1/2)CV は、原理的に依然として発生する。
これに対し、図3の回路によれば、ダイオード102、リアクトル105及びスイッチング素子3において若干の損失が発生するものの、その値は(1/2)CV よりも小さくなり、理想的には0に近づけることが可能である。なお、図3の回路では、スイッチング素子3がオンした際にスナバコンデンサ103とリアクトル105とがLC共振を起こし、スナバコンデンサ103の電圧Vは結果として直流電源104の電圧の約2倍に充電される。このため、直流電源104の電圧を図1の1/2(コンデンサ103を100[V]に充電したい場合には、直流電源104の電圧を50[V])に設定することが望ましい。
なお、上述した第1,第2実施形態において、スナバコンデンサ103の充電回路を構成する第2の直流電源104としては、専用電源を設ける、制御電源の一部を流用する、負荷6がマルチレベルコンバータである場合に直列コンデンサの一部を利用する等の方法が考えられる。しかしながら、適当な電源を用意できない場合には、図4の第3実施形態に示すような方法を採っても良い。
すなわち、図4に示すごとく、第1の直流電源1とは反対側の第1のリアクトル2の一端とダイオード4のアノードとの間に第2のリアクトル106を接続し、リアクトル2,106同士の接続点と、スナバダイオード101のアノードとの間にダイオード102を図示の極性で接続する。
この実施形態においては、スイッチング素子3がオンした際に、直流電源1の電圧をリアクトル2,106の直列回路により分圧し、その分圧電圧を、ダイオード102を介してスナバコンデンサ103に印加してスナバコンデンサ103を充電する。ただし、図3の回路と同様に、リアクトル106とスナバコンデンサ103とによるLC共振により、スナバコンデンサ103は起電力の2倍に充電されるため、この点を予め考慮してリアクトル2,106による分圧比を設定する必要がある。
次いで、図5は本発明の第4実施形態を示す回路図である。
この実施形態は、リアクトル2に補助巻線2aを設け、リアクトル2の変圧器動作により補助巻線2aから入力電圧Vより低い電圧を発生させてダイオード102を介しスナバコンデンサ103を充電するものである。この場合、リアクトル2と補助巻線2aとの間の漏れインダクタンスと、スナバコンデンサ103とによる直列回路がLC共振を起こすことにより、スナバコンデンサ103の電圧がリアクトル2と補助巻線2aとの巻数比による起電力よりも高くなるため、これを考慮してリアクトル2と補助巻線2aとの巻線比を設定する必要がある。
なお、直流電源1の電圧Vが出力電圧Vに比べて常に十分低い場合(昇圧チョッパとしての昇圧比が高い場合)には、第1の直流電源1自体を図1または図3における第2の直流電源104として利用可能なことは言うまでもない。
次に、図6は本発明の第5実施形態を示す回路図である。
この実施形態では、図1におけるダイオード4をMOSFET等の第2の半導体スイッチング素子4aの整流機能によって置き換えている。更に、第1の半導体スイッチング素子3のドレイン電極dとソース電極sとの間に第2のスナバコンデンサ203と第2のスナバダイオード201とを直列に接続し、スナバコンデンサ203とスナバダイオード201との接続点と正側端子Pとの間に、ダイオード202と第3の直流電源204とを直列に接続する。
なお、図6において、ダイオード102,202は、請求項8における第1の充電用ダイオード,第2の充電用ダイオードにそれぞれ相当する。
通常、MOSFETは出力電流の通流方向とは逆方向(ソース電極sからドレイン電極dに向かう方向)に導通する性質をもつので、図6における第2の半導体スイッチング素子4aは、図1のダイオード4と同様の整流機能を備えている。また、第2のスイッチング素子4aをスイッチングさせることで、負荷6から直流電源1への電力回生動作を行わせることも可能である。
図6において、第2のスイッチング素子4aをオンすると負荷6→スイッチング素子4a→リアクトル2→直流電源1→負荷6の経路で電流が流れ、リアクトル2の電流が増加する。スイッチング素子4aをオフすると、リアクトル2→直流電源1→第1のスイッチング素子3の経路で電流が流れ、リアクトル2の電流は減少する。このため、第2のスイッチング素子4aがオンする時間比率を制御すれば、リアクトル2の電流を任意に制御することができる。この回路動作は、降圧チョッパとしてよく知られている。
上記の動作において、スイッチング素子4aのオフにより寄生インダクタンスAを流れる電流が減少するので、サージ電圧ΔVが発生する。
図6では、上記のサージ電圧ΔVを抑制するスナバ回路として、スナバダイオード201とスナバコンデンサ203との直列回路を設け、スナバコンデンサ203の充電回路としてダイオード202と第3の直流電源204との直列回路を設けている。
スイッチング素子4aがオンしている期間には直流電源204→スイッチング素子4a→スナバコンデンサ203→ダイオード202→直流電源204の経路で電流が流れ、スナバコンデンサ203の電圧Vは直流電源204の電圧まで充電される。スイッチング素子4aがオフして、そのドレイン−ソース間電圧Vdsが(V−V)に達するとスナバダイオード201がオンするので、スイッチング素子4aのVdsはP−N間電圧、すなわち(V+ΔV)からVを差し引いた値となり、P−N間電圧より低く保たれる。このため、スイッチング素子4aのドレイン−ソース間に過電圧が印加されることはない。
なお、図6に示した回路は、第1,第2のスイッチング素子3,4aの直列回路の構成、動作原理がブリッジインバータの1相分と同じであるため、単相インバータや三相インバータにも、スナバダイオード101,201、スナバコンデンサ103,203等からなるスナバ回路を適用することができる。
1:直流電源
2:リアクトル
2a:補助巻線
3,4a:半導体スイッチング素子
4:ダイオード
5:コンデンサ
6:負荷
101:スナバダイオード
102:ダイオード
103:スナバコンデンサ
104:直流電源
105,106:リアクトル
201:スナバダイオード
202:ダイオード
203:スナバコンデンサ
204:直流電源
A:寄生インダクタンス

Claims (8)

  1. 第1の直流電源と、前記第1の直流電源の両端にリアクトルを介して接続された第1の半導体スイッチング素子と、前記スイッチング素子に並列に接続され、かつ整流素子及び負荷からなる直列回路と、を備え、
    前記直流電源から供給される入力電圧を、前記スイッチング素子のスイッチング動作により所定の大きさの出力電圧に変換して前記負荷に供給する直流電圧変換回路において、
    前記整流素子の両端に接続され、かつ第1のスナバコンデンサ及び第1のスナバダイオードからなる直列回路と、
    前記スイッチング素子がオンしている期間に、前記第1のスナバコンデンサを前記第1の直流電源の電圧の1/2以下の一定値に充電する充電回路と、
    を備えたことを特徴とする直流電圧変換回路。
  2. 請求項1に記載した直流電圧変換回路において、
    前記充電回路を、第2の直流電源とダイオードとの直列回路により構成したことを特徴とする直流電圧変換回路。
  3. 請求項1に記載した直流電圧変換回路において、
    前記充電回路を、第2の直流電源とリアクトルとダイオードとの直列回路により構成したことを特徴とする直流電圧変換回路。
  4. 第1の直流電源と、前記第1の直流電源の両端にリアクトルを介して接続された半導体スイッチング素子と、前記スイッチング素子に並列に接続され、かつ整流素子及び負荷からなる直列回路と、を備え、
    前記直流電源から供給される入力電圧を、前記スイッチング素子のスイッチング動作により所定の大きさの出力電圧に変換して前記負荷に供給する直流電圧変換回路であって、
    前記整流素子の両端に接続され、かつ第1のスナバコンデンサ及び第1のスナバダイオードからなる直列回路と、
    前記スイッチング素子がオンしている期間に、前記第1のスナバコンデンサを前記入力電圧または前記出力電圧よりも低い電圧に充電する充電回路と、
    を備えた直流電圧変換回路において、
    前記リアクトルとして、直列接続された複数のリアクトルを備え、これらのリアクトル同士の接続点の一つと、前記第1のスナバコンデンサと前記第1のスナバダイオードとの接続点とをダイオードを介して接続することにより、前記充電回路を構成したことを特徴とする直流電圧変換回路。
  5. 請求項1に記載した直流電圧変換回路において、
    前記リアクトルに補助巻線を設け、この補助巻線の一端と、前記第1のスナバコンデンサと前記第1のスナバダイオードとの接続点とをダイオードを介して接続することにより、前記充電回路を構成したことを特徴とする直流電圧変換回路。
  6. 請求項1に記載した直流電圧変換回路において、
    前記整流素子に代えて、前記第1の半導体スイッチング素子に対して直列に接続される第2の半導体スイッチング素子を設け、前記第2の半導体スイッチング素子が有する整流機能によって前記整流素子を置き換えたことを特徴とする直流電圧変換回路。
  7. 請求項6に記載した直流電圧変換回路において、
    前記充電回路を、第2の直流電源とダイオードとの直列回路により構成したことを特徴とする直流電圧変換回路。
  8. 第1の直流電源と、前記第1の直流電源の両端にリアクトルを介して接続された第1の半導体スイッチング素子と、前記第1の半導体スイッチング素子に並列に接続され、かつ整流機能を有する第2の半導体スイッチング素子及び負荷からなる直列回路と、を備え、前記直流電源から供給される入力電圧を、前記第1,第2の半導体スイッチング素子のスイッチング動作により所定の大きさの出力電圧に変換して前記負荷に供給する直流電圧変換回路であって、
    前記第2の半導体スイッチング素子の両端に接続され、かつ第1のスナバコンデンサ及び第1のスナバダイオードからなる直列回路と、
    前記第1の半導体スイッチング素子がオンしている期間に、前記第1のスナバコンデンサを前記入力電圧または前記出力電圧よりも低い電圧に充電するための第2の直流電源と第1の充電用ダイオードとの直列回路からなる充電回路と、
    を備えた直流電圧変換回路において、
    前記第1の半導体スイッチング素子に並列に、第2のスナバコンデンサと第2のスナバダイオードとの直列回路を接続し、前記第2のスナバコンデンサと前記第2のスナバダイオードとの接続点と前記負荷の一端との間に、第2のスナバコンデンサの充電回路として、第3の直流電源と第2の充電用ダイオードとの直列回路を接続したことを特徴とする直流電圧変換回路。
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