JP6130628B2 - 反射型フォトセンサを用いたカメラのレンズ位置検出装置 - Google Patents

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本発明は反射型フォトセンサを用いたカメラのレンズ位置検出装置、特にデジタルスチールカメラ、レンズ交換型カメラ、カムコーダ、監視カメラ等の装置内の可動体の位置や移動量の検出を行うための装置に関する。
従来から、例えばデジタルスチールカメラ、レンズ交換型カメラ、カムコーダ、監視カメラ等では、各種のアクチュエータを使用してレンズを駆動しており、この可動レンズ等のポジションセンシングを行うために位置検出装置(センサ)が用いられる。
例えば、フォーカスやズームのための可動レンズの位置及び移動量の検出装置としては、ステッピングモータ方式のようにパルス発生器を用いるタイプや、ピエゾモータ方式において光センサ或いは磁気センサを用いてアナログ的に変化量を検出するタイプがあり、前者の例としては特開平04−9712号公報(文献1)等が挙げられ、後者の例として特開平05−45179号公報(文献2)、特開2002−357762号公報(文献3)、特開2009−38321(文献6)等が挙げられる。
例えば、デジタルスチールカメラ等では、これまでステッピングモータ方式が主流であったが、動画撮影時の音声ノイズの発生回避やオートフォーカスの高速化等を重視するため、近年ではピエゾモータ方式やVCM(ボイスコイルモータ)方式が利用されるようになっている。このような方式で要求される位置検出の範囲は、アプリケーションの仕様により異なるが、デジタルスチールカメラのハイエンドモデル、一眼レフカメラ、カムコーダや監視カメラ等では、一般に、10mm以上の長距離検出が必要とされる。
そして、上記のピエゾモータ方式やVCM方式のカメラ等での移動物(可動体)の位置検出には、下記特許文献4に示されるように、一般に磁気センサが使用されている。
図9には、従来のデジタルスチールカメラ等の位置検出の構成が示されており、このカメラ等では、図示のように、レンズ1を保持するレンズ筒(鏡胴)2が本体3に対し前後に進退自在に配置される。そして、上記レンズ筒2の側面にマグネット(磁気発生部材)4が取り付けられると共に、上記本体3側に、マグネット4の磁界を感知する磁気センサ(MR素子又はホール素子)5が配置されており、この磁気センサ5によってマグネット4からの磁界の変化を検出・演算することで、移動するレンズ筒2(マグネット4)の位置が検出される。
特開平04−9712号公報 特開平05−45179号公報 特開2002−357762号公報 特開2006−292396号公報 特開2006−173306号公報 特開2009−38321号公報
ところで、上記デジタルスチールカメラ等のレンズ位置の検出において、移動物の位置を正確に把握し利用するためには、原点(基準)位置を正確に把握することが重要であるが、図9の磁気センサを用いた位置検出では、原点位置を把握することはできない。そこで、上記原点位置、この例では、レンズ可動域の両端位置を検出するため、図9に示されるように、本体3側におけるレンズ筒2の可動域の基部に反射型フォトセンサ6a、先端部に同様の反射型フォトセンサ6bを配置している。これら反射型フォトセンサ6a,6bは、レンズ筒2の後端位置を検知することができ、フォトセンサ6bによれば、図9(B)の状態でレンズ筒2の最大繰出し位置(前進端)が検出され、フォトセンサ6aによれば、図9(C)の状態でレンズ筒2の原点(基準)位置(収納端)が検出される。なお、上記の反射型フォトセンサとしては、特開2006−173306号公報(文献5)、特開2009−38321号公報(文献6)に示されるものがある。
しかしながら、位置検出のためのマグネット4及び磁気センサ5に加えて、原点位置等の特定位置を検出するために、上記フォトセンサ6a,6bを配置するのは、位置検出の構成が複雑になり、コスト高になるという問題がある。また、磁気センサを使用する場合は、磁場検知のため、信号の直線性の改善が難しく、磁気かぶり等の影響で誤動作が生じる等の問題もある。
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、原点位置等の特定位置の検出を簡単な構成で低コストにて達成することができる反射型フォトセンサを用いたカメラのレンズ位置検出装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、請求項1の発明に係る反射型フォトセンサを用いたカメラのレンズ位置検出装置は、反射面と非反射面を移動物の移動方向に交互に並べた交互パターン(ストライプパターン)を設けると共に、上記反射面のみ又は非反射面のみからなり特異に変化する特異パターンを持たせた反射部と、この反射部に対し発光する1つの発光素子、及び上記反射部の移動方向でそれぞれ異なる受光領域を持ち、出力位相が90度ずつ進むように設定された3つの受光部を有し、この3つの受光部で上記反射部からの反射光を受光する受光素子が設けられた反射型フォトセンサと、を備え、上記3つの受光部から90度位相差のある2つの信号を出力し、この出力をA,Bとすると、(A−B)/(A+B)及び(A+B)/(A−B)の演算を行うことにより、上記移動物の位置を検出すると共に、上記3つの受光部から180度位相差のある2つの信号を出力し、この出力をA,Cとすると、(A+C)/2の演算を行うことにより中点電位を求め、この中点電位に上記出力A〜Cの基準点が一致するように補正し、かつ上記中点電位を基準にして予め設定した判定レベルを上記受光部からの上記特異パターンの出力が超えるとき又は下回るとき、特定位置にあることを検出することを特徴とする。
上記請求項1の構成によれば、カメラの可動レンズ等の移動物に反射面と非反射面が交互に形成された反射部(板)を取り付け、この反射部からの光反射の状態を、3つの受光部(それぞれ異なる受光領域)で受光することにより、位相差の異なる複数の信号が出力され、これら複数の信号から移動物の位置や移動量を検出することができる。また、上記反射部には、片方の端部、両端部、中央部等に特異パターンが形成されており、この特異パターンからの反射光を受光することで、反射部の特定位置、即ち片方端部(原点)、両端部(エンド点、広角端、望遠端)、中央点等の位置が検出される。
えば、3分割した受光素子により3つの信号(出力A〜C)が出力され、90度位相差のある信号出力AとBにより移動位置検出のための演算(リニア値演算)が行われ、180度位相差のある信号出力AとCにより中点(中心)電位が算出される。即ち、中点電位が検出の際に同時に得られる。そして、この中点電位から予め決められた判定レベル(閾値)が設定され、この判定レベルを受光部の出力(値)が超えるとき又は下回るとき、上記特定位置が検出されることになり、温度変化等で出力信号が変動した場合でも、中点電圧を一定に保った状態で移動物の位置や移動量が正確に検出される。
本発明の位置検出装置によれば、原点等の特定位置の検出を簡単な構成で低コストにて達成することができ、従来の位置検出装置において原点位置等の検出のために追加されるフォトセンサ等が不要になるという利点がある。
また、位置検出の距離を複数に分離したい用途がある場合にも、反射板の任意の場所に特異パターンを設けることで所望の位置の検出が可能である。
しかも、従来の磁気センサを用いる場合の不都合が解消される。即ち、磁気かぶり等の影響を受けることもなく、検出出力をオペアンプによって増幅する必要もなく、マグネットにおけるS極、N極の着磁のバラツキや磁場強度の不均一によって検出誤差が生じたり、マグネットの酸化により性能が劣化したりすることも防止されるという利点もある。
また、中点電位を一定に保つことができるので、フォトセンサが温度依存性を持つ場合や、温度変化によりフォトセンサからの出力信号に変動が生じるような場合で、中点電圧レベルが変化しても、演算式から得られる結果(リニア特性)に影響を与えなくなり、長距離位置検出を良好に行うことができる。また、リニア特性を得るための中点電位を、検出の際に同時に取り出すことができるという効果もある。
本発明の第1実施例に係る反射型フォトセンサを用いたカメラのレンズ位置検出装置の構成を示し、図(A)は主に反射部(反射板)の第1例の構成図、図(B)は反射型フォトセンサを含む検出演算回路の全体図である。 第1実施例の受光素子からの出力波形を示す図である。 第1実施例の位置検出装置をカメラ用レンズモジュールに適用したときの構成を示し、図(A)は通常の動作時の図、図(B)はレンズ筒を先端まで移動させた時の図、図(C)はレンズ筒を後端まで移動させたときの図、図(D)は図(A)のD部分の検出部の拡大図である。 実施例における反射板の第2例の構成[図(A)]と、そのときの受光素子からの出力波形[図(B)]を示す図である。 実施例における反射板の第3例の構成[図(A)]と、そのときの受光素子からの出力波形[図(B)]を示す図である。 第2実施例の位置検出装置(検出演算回路)の構成を示す図である。 第1,第2実施例におけるセンサ位置(移動位置)の演算値を示す波形図である。 第1,第2実施例において算出される中点電位と判定レベルを示す図である。 従来の磁気センサを用いた位置検出装置をカメラ用レンズモジュールに適用したときの構成を示す図である。
図1乃至図3には、本発明の第1実施例に係る反射型フォトセンサを用いたカメラのレンズ位置検出装置の構成(デジタルスチールカメラのレンズ駆動部等に適用したもの)が示されており、図1(A)に示されるように、反射板(光学反射部)10と、この反射板10に対し発光し、その反射光を受光する反射型フォトセンサ12が設けられる。上記反射板10は、例えば数百μm程度の極細短冊形状の反射面(ミラー面)saと非反射面sbが交互に(縦縞状に)並べられたストライプパターンが形成されたものとされる。そして、実施例では、この反射板10の両端部に、特異パターンとして、反射面saの幅よりも広い幅の幅広反射面Tsaを設けており、この幅広反射面Tsaの存在によって、反射板10、即ち移動物(可動体)の端部位置(エンド点)が検出される。なお、上記非反射面sbは、スリット空間で構成してもよい。
図1(B)に示されるように、反射型フォトセンサ12は、発光素子13と3つの受光部14a,14b,14cを持つ受光素子14を備えており、このフォトセンサ12の発光/受光面側に、この発光/受光面に平行でかつ発光素子13と受光素子14の配列方向(図の縦方向)に略垂直な方向100に移動するように、上記反射板10が配置される。この反射板10は、レンズ筒等の移動物(可動体)と一体に移動するように取り付けられる。即ち、上記受光素子14の受光部14a〜14cは、受光領域を移動方向100においてそれぞれ異なる領域となるように分割したものであり、上記反射板10の反射面sa、非反射面sbの各幅と、3つの受光部14a〜14cの大きさ、形状や配置を調整することで、フォトセンサ12からの3つの出力が所望の位相ずれるように設計される。実施例では、例えば受光部14aからの出力Aを基準(0度)とすると、受光部14bからの出力Bが90度、受光部14cからの出力Cが180度の位相角が進む関係となるように設計している。
また、上記受光素子14が接続される検出制御回路(LSI)15には、上記3つの受光部14a〜14cからの出力を受けるバッファアンプ16a〜16c、このアンプ16a〜16cの出力をアナログデジタル変換するA/D変換器17、このA/D変換器17の出力に基づきリニアな検出のため演算等を行うことで移動位置を求めるプロセッサ(演算回路)18、このプロセッサ18から出力されたオフセット補正信号や制御用信号をデジタルアナログ変換するD/A変換器19、アクチュエータドライバ20が設けられる。このアクチュエータドライバ20は、カメラ等において、レンズ筒を駆動するためのアクチュエータ21に対し駆動信号を出力する。なお、上記D/A変換器19は、出力A〜Cの振幅や基準レベルを補正するためのオフセット補正信号をバッファアンプ16a〜16cへ供給する。
図3には、デジタルスチールカメラ用レンズモジュール等に適用する場合の構成が示されており、実施例では、レンズ1を保持するレンズ筒2の側に反射板10が設けられ、レンズ筒2が前後移動可能となる本体3の側に反射型フォトセンサ12が取り付けられる。
第1実施例は以上の構成からなり、実施例では、反射型フォトセンサ12の発光素子13からの発光に基づき、反射面saから周期的に光が反射されることで、受光素子14を3分割した受光部14a〜14cにて出力A,B,Cが得られる。この出力A,B,Cは、図2に示されるように、正弦波(sin)又は余弦波(cos)状の信号で、出力Aに対し出力Bは位相角が90度ずれ、出力Bに対し出力Cは位相角が90度ずれたものとなる。
上記出力A〜Cの信号は、バッファアンプ16a〜16c、A/D変換器17を介してプロセッサ18へ供給され、このプロセッサ18にてエンド点(原点等)と移動位置の検出、演算、判定が行われる。例えば、図2に示されるように、電位判定レベル(閾値)をEaに設定した場合は、出力AとC(BとC等でもよい)の両方がこのEaレベルを超えたとき[ハイ(High)レベルになったとき]、反射板10の両端のエンド点、即ち移動動作の始点と終点が判定される。図3の構成の場合、図3(B)に示されるように、レンズ筒2が最大まで繰り出された状態の位置(例えば望遠端)や図3(C)に示されるように、レンズ筒2が原点(基準)位置まで戻された状態の位置(例えば広角端)が検出される。
また、詳細は後述するが、出力AとBの信号に基づいて、プロセッサ18では、位置検出のための演算等が行われ、これによって、反射板10及びレンズ筒2の移動位置が検出される。そして、プロセッサ18は、検出されたエンド点信号及び移動位置信号に基づき、レンズ筒2を駆動のための制御信号をアクチュエータドライバ20へ供給することで、アクチュエータ21によるレンズ筒2の駆動が実行される。
図4には、反射板の第2例を用いたときの構成及び出力波形が示されており、図4(A)に示されるように、この例では、反射面saと非反射面sbの配置位置を図1の場合とは逆にし、反射板24の両端部に、特異パターンとして、非反射面sbの幅よりも広い幅の幅広非反射面Tsbを設けたものである。
この第2例の反射板24によれば、反射型フォトセンサ12の受光部14a〜14cからの出力A〜Cは、図4(B)に示されるようになり、判定レベルをEbに設定した場合、例えばA,B,Cの中のいずれか2つの信号がこのEbレベルを下回ったとき[ロウ(Low)レベルになったとき]、反射板24の両端のエンド点(移動動作の始点と終点)が判定される。
図5には、反射板の第3例を用いたときの構成及び出力波形が示されており、図5(A)に示されるように、この例では、特異パターンとして、反射板26の中央部に反射面saの幅よりも広い幅の幅広反射面Csaを設けたものである。なお、上記反射板26の反射面saと非反射面sbを逆にし、中央部に非反射面sbの幅よりも広い幅の幅広非反射面を設けてもよい。
この第3例の反射板26によれば、反射型フォトセンサ12の受光部14a〜14cからの出力A〜Cは、図5(B)に示されるようになり、中央部に信号レベルが最大となる状態の検出領域が現れることになる。この場合は、例えばA,B,Cの中のいずれか2つの信号が判定レベルEcを超えたとき(ハイレベルになったとき)、反射板26の中央点(移動範囲の中央点)が判定される。なお、中央部に幅広非反射面を設けた場合は、中央部に信号レベルが最小となる状態の検出領域が現れる。
上記反射板の第3例では、反射板26(或いは移動物)の中央点だけでなく、任意に設定した特定点を検出する場合に用いることができ、また位置検出の距離を複数に分離した場合の分離点を検出する場合、或いは単一の移動物に対し2つの駆動系を接続し、この2つの駆動系の切換え点等を検出する場合等に適用することが可能である。
図6には、第2実施例の位置検出装置の回路構成が示されており、この第2実施例はエンド点を検出する場合(第1例と第2例の反射板)の構成で、その検出速度が図1の構成よりも速くなるようにしたものである。
図6に示されるように、受光部14aからの出力Aを入力するコンパレータ31、受光部14cからの出力Cを入力するコンパレータ32、アンド回路33、エンド点制御回路(又はシャットダウン回路)34を設けると共に、プロセッサ35では、上記コンパレータ31,32の判定(基準)レベル信号をD/A変換器19を介して出力する。
この第2実施例によれば、コンパレータ31と32により出力AとCが判定レベル以上であるか否かが判定され、両方の出力A,Cが判定レベル以上となり、アンド回路33からハイレベルが出力されることで、反射板10,24(レンズ筒2等の移動物)がエンド点にあることが検出される。このエンド点の検出信号は、エンド点制御回路(又はシャットダウン回路)34へ供給され、このエンド点に基づいたレンズ筒2等のアクチュエータ制御等が行われる。また、34をシャットダウン回路とした場合は、このエンド点信号をフェィルセーフのシステムのトリガー信号として用いることができ、これによって、電源制御、異常表示等が行われる。
このような検出処理によれば、図1のようにLSIからなる制御回路によらないので、検出・判定にかかる時間が速くなるという利点がある。なお、この第2実施例の構成は、反射板26を用いて中央点を検出する場合にも適用できる。
図1及び図6において、プロセッサ18,35では、位置検出のための演算が行われるが、この演算として、2つの受光部14a,14bから出力された90度の位相差のある出力(値)A,Bを用い、図7に示されるように、(A−B)/(A+B)及び(A+B)/(A−B)の演算が行われる。
図7には、第1,第2実施例でのセンサ位置(移動位置)の演算値が示されており、プロセッサ18,35では、(A−B)/(A+B)[=b]及び(A+B)/(A−B)[=a]の演算を行うことで、図7に示されるように、反射板座標に対し上り傾斜部aと下り傾斜部bを繰り返す三角波形が求められる。この演算によって、フォトセンサ12の検出出力の直線性(リニアリティ)を向上させた上で、移動位置の検出が可能となる。
上記の演算式によれば、反射型フォトセンサ12の温度特性も完全にキャンセルすることができる。例えば、温度の影響がなく、A=0.4(V)、B=0.1(V)であるとき、上記演算式(A−B)/(A+B)による値は0.6となり、これに対し、温度の影響により1割の変動があったとすると、A=0.44、B=0.11となるが、この場合も、演算値は0.6となり、変動分がキャンセルされる。従って、装置内温度をサーミスタでモニタしフィードバックをかける回路や、特別な温度特性キャンセル回路を設ける必要がない。
また、第1,第2実施例では、180度位相差のある出力(値)AとCに基づき、図8に示されるように、中点電位を(A+C)/2により算出し、中点電位(電圧)を補正するようにしている。即ち、上記の位置検出演算では、受光素子14からの出力信号の中点電位を基準とした演算処理が必要であるが、反射型フォトセンサ12の温度依存性により、中点電位のレベルが変化した場合には、演算結果のリニアリティが崩れてしまう。そこで、実施例では、出力AとCから中点電位を求め、それぞれの中点電位を補正することで、センサ位置及び特定位置の検出が確実に行われる。
図8には、第1例の反射板10,第3例の反射板26に対応する中点電位及び判定レベル(閾値)が示されており(出力についてはAのみを表示)、図示されるように、(A+C)/2によって中点電位が算出されると、この中点電位に出力A〜Cの中点(基準点)が一致するように補正されると共に、この算出された中点電位に基づいて判定レベル(中点電位+予め決められた所定電位)Ea,Ecが設定される。そして、反射板10の場合は、判定レベルEaを出力A〜C(この中の少なくとも1つ)が超えたとき、両端のエンド点にあることが判定され、反射板26の場合は、移動範囲の中央点が検出される。なお、第2例の反射板24の場合は、算出された中点電位に基づいて判定レベル(中点電位−予め決められた所定電位)Ebが設定され、この判定レベルEbを下回ったとき、両端のエンド点が検出される。
本発明は、長距離検出を高分解能で行う位置検出装置等として、例えば高倍率ズームが必要なデジタルスチールカメラ、一眼レフ、カムコーダ、CCTV等の長距離検出用アクチュエータ等に適用することができる。
2…レンズ筒、 6a,6b,12…反射型フォトセンサ、
10,24,26…反射板(反射部)、
13…発光素子、 14…受光素子、
14a〜14c…受光部、 15…検出制御回路(LSI)、
16a〜16c…バッファアンプ、
18,35…プロセッサ、 31,32…コンパレータ、
33…アンド回路、 34…エンド点制御回路、
sa…反射面、 sb…非反射面、
sa,Csa…幅広反射面、 Tsb…幅広非反射面。

Claims (1)

  1. 反射面と非反射面を移動物の移動方向に交互に並べた交互パターンを設けると共に、上記反射面のみ又は非反射面のみからなり特異に変化する特異パターンを持たせた反射部と、
    この反射部に対し発光する1つの発光素子、及び上記反射部の移動方向でそれぞれ異なる受光領域を持ち、出力位相が90度ずつ進むように設定された3つの受光部を有し、この3つの受光部で上記反射部からの反射光を受光する受光素子が設けられた反射型フォトセンサと、を備え、
    上記3つの受光部から90度位相差のある2つの信号を出力し、この出力をA,Bとすると、(A−B)/(A+B)及び(A+B)/(A−B)の演算を行うことにより、上記移動物の位置を検出すると共に、
    上記3つの受光部から180度位相差のある2つの信号を出力し、この出力をA,Cとすると、(A+C)/2の演算を行うことにより中点電位を求め、この中点電位に上記出力A〜Cの基準点が一致するように補正し、かつ
    上記中点電位を基準にして予め設定した判定レベルを上記受光部からの上記特異パターンの出力が超えるとき又は下回るとき、特定位置にあることを検出する反射型フォトセンサを用いたカメラのレンズ位置検出装置。
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