JP6130174B2 - 質量分析装置 - Google Patents
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メソッドファイルは、たとえばガスクロマトグラフ質量分析装置(GC−MS)の場合には、図1(b)に示すように「カラム流量」、「オーブン温度」、「伝送路温度」などのGCパラメータと、「測定モード」、「検出器電圧」、「掃引速度」、「掃引範囲」などのMSパラメータとから構成される。
(1)試料をイオン化するイオン源、
(2)得られた試料イオンをその質量電荷比に応じて分析する質量分析系、
(3)前記イオン源及び/又は質量分析系における少なくとも1つの部位の温度制御情報を含む複数の測定情報を、複数の測定に対応させて設定する測定情報設定手段、
(4)前記イオン源及び/又は前記質量分析系の所定の温度制御対象部位の温度を、前記測定情報設定手段によって設定された所望の温度値に制御しつつ、前記複数の測定を順次自動的に実行させる制御装置、
を備えた質量分析装置であって、
前記制御装置は、前記複数の測定情報に含まれる前記温度制御対象部位の制御温度値に基づき、前記複数の測定の実行順序を決定する測定実行順序決定手段を備え、
該測定実行順序決定手段は、前記測定情報の中で設定された前記温度制御対象部位の制御温度値が昇順または降順になるよう、前記複数の測定の実行順序を決定することを特徴としている。
(1)試料をイオン化するイオン源、
(2)得られた試料イオンをその質量電荷比に応じて分析する質量分析系、
(3)前記イオン源及び/又は質量分析系における少なくとも1つの部位の温度制御情報を含む複数の測定情報を、複数の測定に対応させて設定する測定情報設定手段、
(4)前記イオン源及び/又は前記質量分析系の所定の温度制御対象部位の温度を、前記測定情報設定手段によって設定された所望の温度値に制御しつつ、前記複数の測定を順次自動的に実行させる制御装置、
を備えた質量分析装置であって、
前記制御装置は、前記複数の測定情報に含まれる前記温度制御対象部位の制御温度値に基づき、前記複数の測定の実行順序を決定する測定実行順序決定手段を備え、
該測定実行順序決定手段は、前記測定情報の中で設定された前記温度制御対象部位の制御温度値が昇順または降順になるよう、前記複数の測定の実行順序を決定することを特徴としているので、
シーケンス法において測定実行時間の短縮を実現させることのできる質量分析装置を提供することが可能になった。
Claims (6)
- (1)試料をイオン化するイオン源、
(2)得られた試料イオンをその質量電荷比に応じて分析する質量分析系、
(3)前記イオン源及び/又は質量分析系における少なくとも1つの部位の温度制御情報を含む複数の測定情報を、複数の測定に対応させて設定する測定情報設定手段、
(4)前記イオン源及び/又は前記質量分析系の所定の温度制御対象部位の温度を、前記測定情報設定手段によって設定された所望の温度値に制御しつつ、前記複数の測定を順次自動的に実行させる制御装置、
を備えた質量分析装置であって、
前記制御装置は、前記複数の測定情報に含まれる前記温度制御対象部位の制御温度値に基づき、前記複数の測定の実行順序を決定する測定実行順序決定手段を備え、
該測定実行順序決定手段は、前記測定情報の中で設定された前記温度制御対象部位の制御温度値が昇順または降順になるよう、前記複数の測定の実行順序を決定することを特徴とする質量分析装置。 - 前記測定実行順序決定手段は、1つの測定で温度制御が予定されている複数の前記温度制御対象部位の設定温度値を平均した平均値を求め、求めた平均値に基づいて複数の測定の実行順序を決定することを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記平均値には、前記温度制御対象部位ごとに、その部位の昇温または降温速度を考慮して重み付けされた加重平均値が用いられることを特徴とする請求項2記載の質量分析装置。
- 前記制御温度値には、複数の前記温度制御対象部位のうち、予め決められた所定の部位の制御温度値が優先的に採用されることを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記温度制御対象部位は、イオン源、ガスクロマトグラフ装置(GC)とイオン源とを結ぶGCインターフェイス部、およびQポールの中の少なくとも1つであることを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 前記測定実行順序決定手段により決定された測定順序を表示する手段を備えたことを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の質量分析装置。
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JP2013051668A JP6130174B2 (ja) | 2013-03-14 | 2013-03-14 | 質量分析装置 |
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JP2014179200A JP2014179200A (ja) | 2014-09-25 |
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Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2501334B2 (ja) * | 1987-06-19 | 1996-05-29 | 松下電工株式会社 | リフロ−炉 |
JP2926773B2 (ja) * | 1989-08-22 | 1999-07-28 | 株式会社島津製作所 | 液体クロマトグラフ/質量分析法及びその装置 |
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2013
- 2013-03-14 JP JP2013051668A patent/JP6130174B2/ja active Active
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