JP2926773B2 - 液体クロマトグラフ／質量分析法及びその装置 - Google Patents
液体クロマトグラフ／質量分析法及びその装置Info
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- JP2926773B2 JP2926773B2 JP21672789A JP21672789A JP2926773B2 JP 2926773 B2 JP2926773 B2 JP 2926773B2 JP 21672789 A JP21672789 A JP 21672789A JP 21672789 A JP21672789 A JP 21672789A JP 2926773 B2 JP2926773 B2 JP 2926773B2
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- ionization
- liquid chromatograph
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Description
【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 この発明は液体クロマトグラフ／質量分析法及びその
装置に関する。さらに詳しくは、天然物化学、生化学、
医学、薬学、バイオテクロノジ、環境分析、工業化学等
の各分野での分析に好適な液体クロマトグラフ／質量分
析法及びその装置に関する。
装置に関する。さらに詳しくは、天然物化学、生化学、
医学、薬学、バイオテクロノジ、環境分析、工業化学等
の各分野での分析に好適な液体クロマトグラフ／質量分
析法及びその装置に関する。
（ロ）従来の技術及び課題 液体クロマトグラフ（以下LCと略す）と質量分析計
（MS）とをリンクした液体クロマトグラフ／質量分析計
（LC/MS）は、天然物化学、生化学、医学、薬学、バイ
オテクノロジ、環境分析、工業化学等の各分野でのオン
ライン分析に汎用されている。
（MS）とをリンクした液体クロマトグラフ／質量分析計
（LC/MS）は、天然物化学、生化学、医学、薬学、バイ
オテクノロジ、環境分析、工業化学等の各分野でのオン
ライン分析に汎用されている。
上記LC/MSにおいて、LCとMSとのリンクはLCでの溶出
成分をイオン化するインターフェースを介して行われて
いる。このインターフェースとしては、例えば、LCの移
動相流路に接続され該流路で分離・溶出されるピーク成
分を含有する移動相を気化しかつ噴霧するベーパライザ
プローブと、該プローブから噴霧される気化物を加熱下
でイオン化しかつ得られるピーク成分イオンを選択的に
排出するイオン源とから構成されるものがあり、サーモ
スプレイイオン源（TSP）が汎用されている。
成分をイオン化するインターフェースを介して行われて
いる。このインターフェースとしては、例えば、LCの移
動相流路に接続され該流路で分離・溶出されるピーク成
分を含有する移動相を気化しかつ噴霧するベーパライザ
プローブと、該プローブから噴霧される気化物を加熱下
でイオン化しかつ得られるピーク成分イオンを選択的に
排出するイオン源とから構成されるものがあり、サーモ
スプレイイオン源（TSP）が汎用されている。
上記インターフェースを用いるLC/MSにおける分析条
件は、移動相、ベーパライザコントロール温度、イオン
源温度等がパラメータとなる。これらのパラメータのう
ち、従来から化合物の感度はベーパライザコントロール
温度に依存することが知られており、注意が払われてき
ている。しかしながら、化合物の感度とイオン源温度と
の相関についてはあまり検討されていない。このためイ
オン源はカートリッジヒートを用いて設定した温度で一
定に加熱する構成とされている。その具体的な構成を第
16図に示すと、イオン源（10）のプローブ（11）接続側
にチップヒータ（12）を、その後段に本体部にイオン源
ブロック（13）を有し、これらそれぞれにカートリッジ
ヒータ（14）埋設されている。上記チップヒータ温度
（以下TH温度という）はイオン源ブロック温度（以下Ｂ
温度という）よりも若干、例えば20℃程度、高く設定さ
れる。このようにカートリッジヒータを用いた構成では
イオン源の温度は測定前に一定設定されたものがそのま
ま一定に保たれ、測定中に温度を可変制御できる構成の
ものではなかった。
件は、移動相、ベーパライザコントロール温度、イオン
源温度等がパラメータとなる。これらのパラメータのう
ち、従来から化合物の感度はベーパライザコントロール
温度に依存することが知られており、注意が払われてき
ている。しかしながら、化合物の感度とイオン源温度と
の相関についてはあまり検討されていない。このためイ
オン源はカートリッジヒートを用いて設定した温度で一
定に加熱する構成とされている。その具体的な構成を第
16図に示すと、イオン源（10）のプローブ（11）接続側
にチップヒータ（12）を、その後段に本体部にイオン源
ブロック（13）を有し、これらそれぞれにカートリッジ
ヒータ（14）埋設されている。上記チップヒータ温度
（以下TH温度という）はイオン源ブロック温度（以下Ｂ
温度という）よりも若干、例えば20℃程度、高く設定さ
れる。このようにカートリッジヒータを用いた構成では
イオン源の温度は測定前に一定設定されたものがそのま
ま一定に保たれ、測定中に温度を可変制御できる構成の
ものではなかった。
ところで、天然物化学の分野では配糖体をオンライン
分析することが望まれているが、今までのところ上記汎
用のTSP−LC/MSを応用した報告例はなく、現在のところ
LC/MSの利用としては、インターフェースとしてスプリ
ッタ、コネクションパイプ及びフリット（FRIT）プロー
ブから構成され、高速の原子の衝撃によってイオン化す
るFRT−FABを用いかつ磁場型の質量分析計を用いる報告
例が１例あるのみである。しかしながらこの分析法では
スプリット（スプリット比100:1程度）を行うので感度
におけるロスが大きくピークが非常にブロードとなり、
また汎用性に欠けるものである。
分析することが望まれているが、今までのところ上記汎
用のTSP−LC/MSを応用した報告例はなく、現在のところ
LC/MSの利用としては、インターフェースとしてスプリ
ッタ、コネクションパイプ及びフリット（FRIT）プロー
ブから構成され、高速の原子の衝撃によってイオン化す
るFRT−FABを用いかつ磁場型の質量分析計を用いる報告
例が１例あるのみである。しかしながらこの分析法では
スプリット（スプリット比100:1程度）を行うので感度
におけるロスが大きくピークが非常にブロードとなり、
また汎用性に欠けるものである。
（ハ）課題を解決するための手段 この発明の発明者らは、汎用性のあるLC/MSでのオン
ライン分析を高感度に行うべく鋭意研究した結果、ベー
パライザコントロール温度、移動相等の分析条件は従来
と同じに設定した下で、化合物の感度がイオン源の温度
によって大きく変化する、換言すれば化合物に応じて最
適イオン化温度が存在することを見いだした。
ライン分析を高感度に行うべく鋭意研究した結果、ベー
パライザコントロール温度、移動相等の分析条件は従来
と同じに設定した下で、化合物の感度がイオン源の温度
によって大きく変化する、換言すれば化合物に応じて最
適イオン化温度が存在することを見いだした。
またさらにこれに関連して分析対象化合物が配糖体で
あるとき、この配糖体のアグリコンと称される非糖部分
よりも糖部分が最適イオン化温度を支配的に決める事実
を見いだした。
あるとき、この配糖体のアグリコンと称される非糖部分
よりも糖部分が最適イオン化温度を支配的に決める事実
を見いだした。
かくしてこの発明によれば、試料を液体クロマトグラ
フィの手法により各測定対象ピーク成分に分離し、分離
された各ピーク成分を含有する移動相を順次気化した
後、得られる各気化ピーク成分を移動相流路で溶出され
る各ピーク成分の溶出順に、それぞれ全イオン強度又は
凝分子イオンの相対強度が最大になるイオン化温度でイ
オン化し、、得られた各イオンのマススペクトルを測定
することを特徴とする液体クロマトグラフィ／質量分析
法が提供される。
フィの手法により各測定対象ピーク成分に分離し、分離
された各ピーク成分を含有する移動相を順次気化した
後、得られる各気化ピーク成分を移動相流路で溶出され
る各ピーク成分の溶出順に、それぞれ全イオン強度又は
凝分子イオンの相対強度が最大になるイオン化温度でイ
オン化し、、得られた各イオンのマススペクトルを測定
することを特徴とする液体クロマトグラフィ／質量分析
法が提供される。
この発明の方法において、最適イオン化温度とは、分
析対象成分である化合物がイオン化された際得られる全
イオン強度又は擬分子イオンの相対強度が最大になるイ
オン化温度を意味する。上記分析対象成分の最適イオン
化温度は、予め種々の温度の下での全イオン化強度又は
凝分子イオンの相対強度を測定して決められる。これに
ついては後述する実施例の記載が参照される。またこの
発明において、分析対象成分が配糖体であるときは、上
記最適イオン化温度は、該当糖体の非糖部（アグリコ
ン）の構造によらず糖部の構造に基づいて設定すること
ができる。例えばアグリコンがそれぞれ、テルペンであ
るイリドイド配糖体、フラボノイドであるフラボノイド
配糖体、ステロイドであるサポニンにおいて、糖部が単
糖類であれば最適イオン化温度は約220℃程度、二等類
であれば約300℃程度、三糖類であれば約330〜340℃程
度に設定すればよいことになる。これらはこの発明の発
明者らによって見いだされた知見である。これについて
も後述する実施例の記載が参照される。
析対象成分である化合物がイオン化された際得られる全
イオン強度又は擬分子イオンの相対強度が最大になるイ
オン化温度を意味する。上記分析対象成分の最適イオン
化温度は、予め種々の温度の下での全イオン化強度又は
凝分子イオンの相対強度を測定して決められる。これに
ついては後述する実施例の記載が参照される。またこの
発明において、分析対象成分が配糖体であるときは、上
記最適イオン化温度は、該当糖体の非糖部（アグリコ
ン）の構造によらず糖部の構造に基づいて設定すること
ができる。例えばアグリコンがそれぞれ、テルペンであ
るイリドイド配糖体、フラボノイドであるフラボノイド
配糖体、ステロイドであるサポニンにおいて、糖部が単
糖類であれば最適イオン化温度は約220℃程度、二等類
であれば約300℃程度、三糖類であれば約330〜340℃程
度に設定すればよいことになる。これらはこの発明の発
明者らによって見いだされた知見である。これについて
も後述する実施例の記載が参照される。
この発明の方法において、得られる各気化ピーク成分
をそれぞれ最適イオン化温度でイオン化するとは、例え
ば液体クロマトグラフィの手法で分離されかつ溶出され
る各ピーク成分を、例えばそれぞれの保持時間、溶出位
置等を識別の手段としてこれに基づいて、イオン源での
イオン化温度を可変制御することをいう。従ってこの発
明の方法に実施においては、イオン源は上記識別手段に
基づいて加熱温度を追従性良く変更できる構成とされ
る。この構成例としては以下の記載及び実施例の記載が
参照される。
をそれぞれ最適イオン化温度でイオン化するとは、例え
ば液体クロマトグラフィの手法で分離されかつ溶出され
る各ピーク成分を、例えばそれぞれの保持時間、溶出位
置等を識別の手段としてこれに基づいて、イオン源での
イオン化温度を可変制御することをいう。従ってこの発
明の方法に実施においては、イオン源は上記識別手段に
基づいて加熱温度を追従性良く変更できる構成とされ
る。この構成例としては以下の記載及び実施例の記載が
参照される。
この発明の方法において、液体クロマトグラフィの手
法及びマススペクトルの測定には、当該分野における通
常の方法がそのまま用いられる。
法及びマススペクトルの測定には、当該分野における通
常の方法がそのまま用いられる。
この発明はまた上記方法を実施する装置として、液体
クロマトグラフと質量分析計との間に、液体クロマトグ
ラフの移動相流路で分離された溶出されるピーク成分含
有移動相を気化する気化部、該気化部で得られた気化ピ
ーク成分を加熱下でイオン化するイオン源をこの順に接
続してなる液体クロマトグラフ／質量分析計であって、
上記イオン源が、（ａ）予め各測定対象ピーク成分の全
イオン強度又は凝分子イオンの相対強度が最大になるイ
オン化温度を記憶する記憶部、（ｂ）移動相流路で溶出
される各試料の保持時間に基づいて、各イオン化温度を
記憶部から読み出しかつこれらを溶出順に設定する温度
プログラム部、及び（ｃ）上記プログラム部で設定され
た順序でイオン源を加熱する加熱作動部からなるイオン
源温度制御部を具備してなる液体クロマトグラフ／質量
分析系をも提供するものである。
クロマトグラフと質量分析計との間に、液体クロマトグ
ラフの移動相流路で分離された溶出されるピーク成分含
有移動相を気化する気化部、該気化部で得られた気化ピ
ーク成分を加熱下でイオン化するイオン源をこの順に接
続してなる液体クロマトグラフ／質量分析計であって、
上記イオン源が、（ａ）予め各測定対象ピーク成分の全
イオン強度又は凝分子イオンの相対強度が最大になるイ
オン化温度を記憶する記憶部、（ｂ）移動相流路で溶出
される各試料の保持時間に基づいて、各イオン化温度を
記憶部から読み出しかつこれらを溶出順に設定する温度
プログラム部、及び（ｃ）上記プログラム部で設定され
た順序でイオン源を加熱する加熱作動部からなるイオン
源温度制御部を具備してなる液体クロマトグラフ／質量
分析系をも提供するものである。
この発明の装置（以下分析系という）は、イオン源に
イオン源温度制御部を具備する以外は当該分野で公知の
構成とすることができる。
イオン源温度制御部を具備する以外は当該分野で公知の
構成とすることができる。
この発明の分析計において、液体クロマトグラフ（以
下LCという）と質量分析計（以下MSという）とを接続す
る気化部及びイオン源には、ベーパライザプローブと該
プローブから噴霧される気化物を加熱下でイオン化しか
つ得られるピーク成分イオンを選択的に排出する構成の
イオン源とからなる公知のインターフェースをその基本
構成として用いることができる。該インターフェースに
は例えばサーモスプレイイオン源（TSP）が挙げられ
る。
下LCという）と質量分析計（以下MSという）とを接続す
る気化部及びイオン源には、ベーパライザプローブと該
プローブから噴霧される気化物を加熱下でイオン化しか
つ得られるピーク成分イオンを選択的に排出する構成の
イオン源とからなる公知のインターフェースをその基本
構成として用いることができる。該インターフェースに
は例えばサーモスプレイイオン源（TSP）が挙げられ
る。
この発明の分析計のイオン源に具備されるイオン源温
度制御部は、記憶部、温度プログラム部及び加熱作動部
から構成される。上記記憶部には、予め測定対象のピー
ク成分の最適イオン化温度が記憶される。該最適イオン
化温度は、前述したごとき方法で予め測定されて決定さ
れる。また上記温度プログラム部は、LCから分離・溶出
される各ピーク成分について各最適イオン化温度を上記
記憶部から読みだし、かつこれらを溶出順に従って設定
できるように構成される。上記溶出順に設定するには、
ピーク成分の保持時間（又は溶出位置）に基づいて行わ
れる。この場合も予め目的成分の保持時間（又溶出位
置）が同条件のLCで測定されて決定される。また前記加
熱作動部は、上記温度プログラムで設定されたプログラ
ムに従ってイオン源の温度を所定温度に可変制御する構
成とされる。この一例としては、イオン源を熱容量の小
さい抵抗体で構成して温度追従性を良好にし、これに直
流電流を流して加熱制御する構成が挙げられる。上記材
質としてはステンレスが挙げられる。
度制御部は、記憶部、温度プログラム部及び加熱作動部
から構成される。上記記憶部には、予め測定対象のピー
ク成分の最適イオン化温度が記憶される。該最適イオン
化温度は、前述したごとき方法で予め測定されて決定さ
れる。また上記温度プログラム部は、LCから分離・溶出
される各ピーク成分について各最適イオン化温度を上記
記憶部から読みだし、かつこれらを溶出順に従って設定
できるように構成される。上記溶出順に設定するには、
ピーク成分の保持時間（又は溶出位置）に基づいて行わ
れる。この場合も予め目的成分の保持時間（又溶出位
置）が同条件のLCで測定されて決定される。また前記加
熱作動部は、上記温度プログラムで設定されたプログラ
ムに従ってイオン源の温度を所定温度に可変制御する構
成とされる。この一例としては、イオン源を熱容量の小
さい抵抗体で構成して温度追従性を良好にし、これに直
流電流を流して加熱制御する構成が挙げられる。上記材
質としてはステンレスが挙げられる。
この発明の分析計において、イオン源はその気化部接
続側端部及びその後段の本体部がそれぞれ独立して加熱
制御される構成ものが好ましい。この構成は例えばそれ
ぞれの加熱対象部分を互いに絶縁して熱容量の小さい抵
抗体で構成し、各部位に独立して直流電流を流して加熱
制御する等が挙げられる。この場合において、前記最適
イオン化温度のプログラムは本体部に設定され、端部側
はこれに対して一定の高温（例えば20℃程度）で加熱制
御されることが好ましい。
続側端部及びその後段の本体部がそれぞれ独立して加熱
制御される構成ものが好ましい。この構成は例えばそれ
ぞれの加熱対象部分を互いに絶縁して熱容量の小さい抵
抗体で構成し、各部位に独立して直流電流を流して加熱
制御する等が挙げられる。この場合において、前記最適
イオン化温度のプログラムは本体部に設定され、端部側
はこれに対して一定の高温（例えば20℃程度）で加熱制
御されることが好ましい。
（ニ）作用 この発明によれば、液体クロマトグラフで分離された
各ピーク成分はその溶出順に従って移動相流路を移送さ
れ気化部にい導入される。該気化部で順次各ピーク成分
は移動相と共に気化され続いてイオン源に順次導入され
る。このイオン源において、各ピーク成分はそれぞれ最
適のイオン化温度の下でイオン化され、質量分析に付さ
れ順次マススペクトルが測定されることとなる。
各ピーク成分はその溶出順に従って移動相流路を移送さ
れ気化部にい導入される。該気化部で順次各ピーク成分
は移動相と共に気化され続いてイオン源に順次導入され
る。このイオン源において、各ピーク成分はそれぞれ最
適のイオン化温度の下でイオン化され、質量分析に付さ
れ順次マススペクトルが測定されることとなる。
以下実施例によりこの発明を詳細に説明するが、これ
によりこの発明は限定されるものではない。
によりこの発明は限定されるものではない。
（ホ）実施例 実施例１ 第１図は、この発明の液体クロマトグラフ／質量分析
計（LC/MS）の一例におけるインターフェース部の一実
施例の構成説明図である。
計（LC/MS）の一例におけるインターフェース部の一実
施例の構成説明図である。
該図において、インターフェース（１）はベーパライ
ザプローブ（２）とイオン源（３）とから主として構成
されている。ベーパライザプローブ（２）は図示しない
液体クロマトグラフ（LC）の移動相流路に接続されてお
り、通常のサーモスプレイイオン源（TSP）に用いられ
るものがそのまま使用されており、図示しない加熱手段
により150〜400℃の範囲で加熱調節されている。
ザプローブ（２）とイオン源（３）とから主として構成
されている。ベーパライザプローブ（２）は図示しない
液体クロマトグラフ（LC）の移動相流路に接続されてお
り、通常のサーモスプレイイオン源（TSP）に用いられ
るものがそのまま使用されており、図示しない加熱手段
により150〜400℃の範囲で加熱調節されている。
イオン源（３）はその一端が上記プローブ（２）に接
続され、他端が図示しないロータリポンプ（RP）に連通
されるステンレス製の管路体（31）で構成されている。
（32）はフィラメント、（33）は放電電極、（34）はリ
ペラ、（35）は質量分析計（MS）に連通するイオン排出
孔である。上記ステンレス製管路体（31）はプローブ
（２）接続側端部と本体部とが絶縁ガイシ（36）で、ま
た本体部とRPへの連通部は絶縁スペーサ（37）でそれぞ
れ絶縁されている。そして端部及び本体部にはそれぞれ
直流電源が接続されて、チップヒータ（TH）部及びブロ
ックヒータ部（Ｂ）が構成されている。
続され、他端が図示しないロータリポンプ（RP）に連通
されるステンレス製の管路体（31）で構成されている。
（32）はフィラメント、（33）は放電電極、（34）はリ
ペラ、（35）は質量分析計（MS）に連通するイオン排出
孔である。上記ステンレス製管路体（31）はプローブ
（２）接続側端部と本体部とが絶縁ガイシ（36）で、ま
た本体部とRPへの連通部は絶縁スペーサ（37）でそれぞ
れ絶縁されている。そして端部及び本体部にはそれぞれ
直流電源が接続されて、チップヒータ（TH）部及びブロ
ックヒータ部（Ｂ）が構成されている。
上記イオン源（３）にはさらにイオン源温度制御部
（４）が具備されている。該イオン源温度制御部（４）
は、記憶部（41）、温度プログラム部（42）、加熱制御
部（43）及びCPUから構成されている。記憶部（41）に
は最適イオン化温度が記憶される。温度プログラム部
（42）は、２つのプログラムが設定でき、そのうち一方
はブロックヒータ温度（以下Ｂ温度という）のプログラ
ムであり、分析対象成分の各最適イオン化温度を上記記
憶部（41）からCPUを介して読みだしかつこれらを保持
時間に基づいて溶出順に所定時間間隔で設定できるもの
である。また他方はチップヒータ温度（以下TH温度とい
う）のプログラムであり、これは上記Ｂ温度プログラム
に対して常に一定の高温側（例えば約20℃）となるよう
に設定されるものである。上記加熱制御部（43）はCPU
を介して温度プログラム部（42）から出力される温度プ
ログラムに従って、上記各直流電源の供給電気量を調節
するよう構成されている。
（４）が具備されている。該イオン源温度制御部（４）
は、記憶部（41）、温度プログラム部（42）、加熱制御
部（43）及びCPUから構成されている。記憶部（41）に
は最適イオン化温度が記憶される。温度プログラム部
（42）は、２つのプログラムが設定でき、そのうち一方
はブロックヒータ温度（以下Ｂ温度という）のプログラ
ムであり、分析対象成分の各最適イオン化温度を上記記
憶部（41）からCPUを介して読みだしかつこれらを保持
時間に基づいて溶出順に所定時間間隔で設定できるもの
である。また他方はチップヒータ温度（以下TH温度とい
う）のプログラムであり、これは上記Ｂ温度プログラム
に対して常に一定の高温側（例えば約20℃）となるよう
に設定されるものである。上記加熱制御部（43）はCPU
を介して温度プログラム部（42）から出力される温度プ
ログラムに従って、上記各直流電源の供給電気量を調節
するよう構成されている。
（試験例１） ジェニポサイド（geniposide）（以下イ成分という）
及びジェニピン ゲンチオビオサイド（genipin gentio
bioside）（以下ロ成分という）それぞれについて、Ｂ
温度依存性を調べた。結果を第２図及び第３図に示す。
第２図からイ成分の場合は220℃で感度が最大であり、
第３図からロ成分の場合は300℃で感度が最大であるこ
とがわかる。
及びジェニピン ゲンチオビオサイド（genipin gentio
bioside）（以下ロ成分という）それぞれについて、Ｂ
温度依存性を調べた。結果を第２図及び第３図に示す。
第２図からイ成分の場合は220℃で感度が最大であり、
第３図からロ成分の場合は300℃で感度が最大であるこ
とがわかる。
（試験例２） 上記試験例１の結果に基づき、イ成分及びロ成分が両
方含有されている植物の実メタノール抽出液を試料とし
て、上記LC/MSによる分析を試みた。
方含有されている植物の実メタノール抽出液を試料とし
て、上記LC/MSによる分析を試みた。
この抽出液については、保持時間（TR）10分まではＢ
温度220℃がほぼ最適イオン化温度である化合物群が溶
出し、TR15分にＢ温度300℃が最適イオン化温度である
ロ成分が溶出し、TR21.5分にＢ温度220℃が最適イオン
化温度であるイ成分が抽出することがわかっている。
温度220℃がほぼ最適イオン化温度である化合物群が溶
出し、TR15分にＢ温度300℃が最適イオン化温度である
ロ成分が溶出し、TR21.5分にＢ温度220℃が最適イオン
化温度であるイ成分が抽出することがわかっている。
この抽出液について、 ｉ） まずイオン源の温度をＢ温度220℃,TH温度240℃
に固定して全イオン強度クロマトグラムを測定したとこ
ろ、第４図に示す結果を得た。
に固定して全イオン強度クロマトグラムを測定したとこ
ろ、第４図に示す結果を得た。
ii） 次にイオン源のＢ温度及びTH温度を、第６図に示
す温度プログラムに従ってステップワイズに変化させて
全イオン強度クロマトグラムを測定したところ、第５図
に示す結果を得た。
す温度プログラムに従ってステップワイズに変化させて
全イオン強度クロマトグラムを測定したところ、第５図
に示す結果を得た。
上記第４図では、イ成分には良い感度が得られている
が、ロ成分は検出されていない。これに反し、第５図で
は、イ成分及びロ成分のいずれにも最高感度が得られて
いる。
が、ロ成分は検出されていない。これに反し、第５図で
は、イ成分及びロ成分のいずれにも最高感度が得られて
いる。
上記のことから、成分イ及びロにそれぞれに応じた最
適イオン化温度で切換えて測定することにより、それぞ
れが高感度で分析できることがわかった。
適イオン化温度で切換えて測定することにより、それぞ
れが高感度で分析できることがわかった。
実施例２ 分析対象試料がすべて配糖体である場合に、上記実施
例１のLC/MSで分析可能かどうかを検討した。
例１のLC/MSで分析可能かどうかを検討した。
まず各種配糖体において、感度に対する最適イオン化
温度の有無を検討した。
温度の有無を検討した。
下記に、検討した５種（イ〜ホ）の配糖体の分類と具
体名を示す。
体名を示す。
上記５種の配糖体のＢ温度依存性の有無について調べ
たところ、第７〜11図に示す結果を得た。これらの結果
から、まず配糖体にはＢ温度依存性のあることがわか
る。従って上記各配糖体には前記インタフェースを用い
るLC/MSで分析する場合最適イオン化温度が依存し、こ
れは具体的にはイは220℃程度、ロ，ハ，ニはいずれも3
00℃程度、ホは330〜340℃を選択すればよいことがわか
る。
たところ、第７〜11図に示す結果を得た。これらの結果
から、まず配糖体にはＢ温度依存性のあることがわか
る。従って上記各配糖体には前記インタフェースを用い
るLC/MSで分析する場合最適イオン化温度が依存し、こ
れは具体的にはイは220℃程度、ロ，ハ，ニはいずれも3
00℃程度、ホは330〜340℃を選択すればよいことがわか
る。
またさらに、上記ロ，ハ及びニについて得られた結果
を考察すると、アグリコンが異なる配糖体であっても糖
部の構造が同様であると、その最適イオン化温度も同様
になることがかった。すなわち配糖体の糖部の構造とそ
の最適イオン化温度との間には規則性があることが見い
だされた。これは新しい知見である。
を考察すると、アグリコンが異なる配糖体であっても糖
部の構造が同様であると、その最適イオン化温度も同様
になることがかった。すなわち配糖体の糖部の構造とそ
の最適イオン化温度との間には規則性があることが見い
だされた。これは新しい知見である。
上記のことから、糖部が単糖類である配糖体の最適イ
オン化温度は220℃程度、糖部が二糖類である配糖体の
最適イオン化温度は300℃程度、糖部が三糖類である配
糖体の最適イオン化温度は330〜340℃程度と類別でき
る。さらには、四糖類、五糖類との糖の数が増えると、
最適イオン化温度は上昇すると考えられる。
オン化温度は220℃程度、糖部が二糖類である配糖体の
最適イオン化温度は300℃程度、糖部が三糖類である配
糖体の最適イオン化温度は330〜340℃程度と類別でき
る。さらには、四糖類、五糖類との糖の数が増えると、
最適イオン化温度は上昇すると考えられる。
従って、配糖体を加熱下でイオン化して質量分析する
イオン源を有する上記のごときLC/MSの場合、配糖体の
糖部の構造に基づいて最適イオン化温度を設定すること
により、高感度で分析することができる。この例の１つ
として、上記ロについてイオン化温度を220℃及び300℃
にそれぞれ設定して測定したときの全イオン強度クロマ
トグラムを調べたところ、第12図及び第13図に示す結果
を得た。
イオン源を有する上記のごときLC/MSの場合、配糖体の
糖部の構造に基づいて最適イオン化温度を設定すること
により、高感度で分析することができる。この例の１つ
として、上記ロについてイオン化温度を220℃及び300℃
にそれぞれ設定して測定したときの全イオン強度クロマ
トグラムを調べたところ、第12図及び第13図に示す結果
を得た。
この結果からイオン化温度を選択することにより、配
糖体を感度良好に分析することができる。このことは、
従来配糖体がTSP−LC/MSで分析できなかったことに対し
て、適切なイオン化温度を設定することによりこの従来
の装置を用いても感度良好に分析できることを示してい
る。
糖体を感度良好に分析することができる。このことは、
従来配糖体がTSP−LC/MSで分析できなかったことに対し
て、適切なイオン化温度を設定することによりこの従来
の装置を用いても感度良好に分析できることを示してい
る。
次に、上記ロ成分（構造式を第14図に示す）について
その最適イオン化温度（＝300℃）でイオン化して得ら
れたマススペクトルを第15図に示す。該スペクトルと上
記構造式とを対比することにより、上記スペクトルには
分子量を与える擬分子イオンだけでなく、アグリコンや
糖についての構造情報を与えるフラグメントが観察され
る。
その最適イオン化温度（＝300℃）でイオン化して得ら
れたマススペクトルを第15図に示す。該スペクトルと上
記構造式とを対比することにより、上記スペクトルには
分子量を与える擬分子イオンだけでなく、アグリコンや
糖についての構造情報を与えるフラグメントが観察され
る。
以上のことから、試料が配糖体である場合でも、この
発明の装置や従来のTSP−LC/MSを、そのイオン源に最適
イオン温度を設定することにより感度良好に分析でき、
分子量の決定や構造解析に利用することができる。
発明の装置や従来のTSP−LC/MSを、そのイオン源に最適
イオン温度を設定することにより感度良好に分析でき、
分子量の決定や構造解析に利用することができる。
（ヘ）発明の効果 この発明によれば、加熱下でイオン化してマスペクト
ルを測定する際、感度の点から最適イオン化温度が存在
することが分かる。従って、この最適イオン化温度がそ
れぞれ異なる複数の化合物を含む試料を、各化合物につ
いての最適イオン化温度となるようにイオン源の温度を
可変制御することにより、１つの分析でこれらの化合物
を高感度で分析することができる。
ルを測定する際、感度の点から最適イオン化温度が存在
することが分かる。従って、この最適イオン化温度がそ
れぞれ異なる複数の化合物を含む試料を、各化合物につ
いての最適イオン化温度となるようにイオン源の温度を
可変制御することにより、１つの分析でこれらの化合物
を高感度で分析することができる。
またこの発明によれば、液体クロマトグラフで分離・
溶出される複数の化合物を、その溶出順に従ってそれぞ
れの最適イオン化温度でイオン化させて質量分析するこ
とができる。
溶出される複数の化合物を、その溶出順に従ってそれぞ
れの最適イオン化温度でイオン化させて質量分析するこ
とができる。
イオン源温度をプログラムで変えられるので、オート
サンプラと組み合わせることにより、多様な試料の高感
度LC/MS分析の自動化を図ることができる。
サンプラと組み合わせることにより、多様な試料の高感
度LC/MS分析の自動化を図ることができる。
またさらにこの発明によれば、試料が配糖体である場
合にも、その最適イオン化温度を設定することで、この
発明の分析計のみならず従来のTSP−LC/MSでも高感度に
分析することができる。またこの発明の分析法やLC/MS
により配糖体の構造情報を得ることができるので、構造
解析に多大の寄与をすることができる。
合にも、その最適イオン化温度を設定することで、この
発明の分析計のみならず従来のTSP−LC/MSでも高感度に
分析することができる。またこの発明の分析法やLC/MS
により配糖体の構造情報を得ることができるので、構造
解析に多大の寄与をすることができる。
第１図はこの発明のLC/MSの一例におけるインターフェ
ース部の一実施例の構成説明図、第２図はジェニポサイ
ドのイオン源温度依存性を示すグラフ図、第３図はジェ
ニピン ゲンチオビオサイドの第２図相当図、第４図は
植物の実のメタノール抽出液についてイオン源温度を固
定したときに得られる全イオン強度クロマトグラム図、
第５図は植物の実のメタノール抽出液についてイオン源
温度を変化させたときに得られる全イオン強度クロマト
グラム図、第６図は第５図の温度変化の一例の温度プロ
グラム図、第７〜11図はそれぞれ、ジェニポサイド、ジ
ェニピン ゲンチオビオサイド、ルチン、サイコサポニ
ンＡ及びサイコサポニンＣの第２図相当図、第12図はジ
ェニピン ゲンチオビオサイドのイオン化温度が220℃
のときの全イオン強度クロマトグラム図、第13図はイオ
ン化温度が300℃のときの第12図相当図、第14図はジェ
ニピン ゲンチオビオサイドの構造式を表す図、第15図
はジェニピン ゲンチオビオサイドのイオン化温度300
℃のときのマススペクトル図、第16図は従来例の第１図
相当図である。 １……インターフェース、 ２……ベーパライザプローブ、 ３……イオン源、 ４……イオン源温度制御部、 31……管路体、32……フィラメント、 33……放電電極、34……リペラ、 35……イオン排出孔、36……絶縁ガイシ、 37……絶縁スペーサ、 41……記憶部、 42……温度プログラム部、 43……加熱制御部。
ース部の一実施例の構成説明図、第２図はジェニポサイ
ドのイオン源温度依存性を示すグラフ図、第３図はジェ
ニピン ゲンチオビオサイドの第２図相当図、第４図は
植物の実のメタノール抽出液についてイオン源温度を固
定したときに得られる全イオン強度クロマトグラム図、
第５図は植物の実のメタノール抽出液についてイオン源
温度を変化させたときに得られる全イオン強度クロマト
グラム図、第６図は第５図の温度変化の一例の温度プロ
グラム図、第７〜11図はそれぞれ、ジェニポサイド、ジ
ェニピン ゲンチオビオサイド、ルチン、サイコサポニ
ンＡ及びサイコサポニンＣの第２図相当図、第12図はジ
ェニピン ゲンチオビオサイドのイオン化温度が220℃
のときの全イオン強度クロマトグラム図、第13図はイオ
ン化温度が300℃のときの第12図相当図、第14図はジェ
ニピン ゲンチオビオサイドの構造式を表す図、第15図
はジェニピン ゲンチオビオサイドのイオン化温度300
℃のときのマススペクトル図、第16図は従来例の第１図
相当図である。 １……インターフェース、 ２……ベーパライザプローブ、 ３……イオン源、 ４……イオン源温度制御部、 31……管路体、32……フィラメント、 33……放電電極、34……リペラ、 35……イオン排出孔、36……絶縁ガイシ、 37……絶縁スペーサ、 41……記憶部、 42……温度プログラム部、 43……加熱制御部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 27/62 G01N 30/72 H01J 49/00 - 49/48
Claims (5)
- 【請求項１】試料を液体クロマトグラフィの手法により
各測定対象ピーク成分に分離し、分離された各ピーク成
分を含有する移動相を順次気化した後、得られる各気化
ピーク成分を移動相流路で溶出される各ピーク成分の溶
出順に、それぞれ全イオン強度又は擬分子イオンの相対
強度が最大になるイオン化温度でイオン化し、得られた
各イオンのマススペクトルを測定することを特徴とする
液体クロマトグラフィ／質量分析法。 - 【請求項２】試料が配糖体含有試料であり、イオン化温
度が配糖体糖部の構造に基づいて設定されるものである
請求項１の分析法。 - 【請求項３】液体クロマトグラフと質量分析計との間
に、液体クロマトグラフの移動相流路で分離され溶出さ
れるピーク成分含有移動相を気化する気化部、該気化部
で得られた気化ピーク成分を加熱下でイオン化するイオ
ン源とをこの順に接続してなる液体クロマトグラフ／質
量分析計であって、 上記イオン源が、 （ａ）予め各測定対象ピーク成分の全イオン強度又は擬
分子イオンの相対強度が最大になるイオン化温度を記憶
する記憶部、 （ｂ）移動相流路で溶出される各試料の保持時間に基づ
いて、各イオン化温度を記憶部から読み出しかつこれら
を溶出順に設定する温度プログラム部、及び （ｃ）上記プログラム部で設定された順序でイオン源を
加熱する加熱作動部からなるイオン源温度制御部を具備
してなる液体クロマトグラフ／質量分析計。 - 【請求項４】イオン源が、熱容量が小さい抵抗体で構成
され、この抵抗体への直流電流の供給量によりイオン源
温度が制御される請求項３の液体クロマトグラフ／質量
分析計。 - 【請求項５】イオン源が、その気化部接続側端部及びそ
の後段の本体部とで独立して温度制御されるように構成
され、上記本体部をイオン化温度でかつ上記端部をイオ
ン化温度より一定の高温でそれぞれ加熱制御する請求項
３の液体クロマトグラフ／質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21672789A JP2926773B2 (ja) | 1989-08-22 | 1989-08-22 | 液体クロマトグラフ／質量分析法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21672789A JP2926773B2 (ja) | 1989-08-22 | 1989-08-22 | 液体クロマトグラフ／質量分析法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0378652A JPH0378652A (ja) | 1991-04-03 |
| JP2926773B2 true JP2926773B2 (ja) | 1999-07-28 |
Family
ID=16692979
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21672789A Expired - Lifetime JP2926773B2 (ja) | 1989-08-22 | 1989-08-22 | 液体クロマトグラフ／質量分析法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2926773B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014014279A1 (ko) * | 2012-07-17 | 2014-01-23 | 서울대학교 산학협력단 | 질량 스펙트럼의 재현성 향상 방법 및 이를 이용한 정량 분석 방법 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2790927B2 (ja) * | 1991-10-03 | 1998-08-27 | 株式会社日立製作所 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
| JP3694598B2 (ja) * | 1998-10-14 | 2005-09-14 | 株式会社日立製作所 | 大気圧イオン化質量分析装置 |
| JP6130174B2 (ja) * | 2013-03-14 | 2017-05-17 | 日本電子株式会社 | 質量分析装置 |
| JP7131699B2 (ja) * | 2019-05-08 | 2022-09-06 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置及び質量分析方法 |
-
1989
- 1989-08-22 JP JP21672789A patent/JP2926773B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2014014279A1 (ko) * | 2012-07-17 | 2014-01-23 | 서울대학교 산학협력단 | 질량 스펙트럼의 재현성 향상 방법 및 이를 이용한 정량 분석 방법 |
| US20150221488A1 (en) * | 2012-07-17 | 2015-08-06 | Snu R&Db Foundation | Method for improving mass spectrum reproducibility and quantitative analysis method using same |
| JP2015528116A (ja) * | 2012-07-17 | 2015-09-24 | ソウル大学校産学協力団Ｓｎｕ Ｒ＆Ｄｂ Ｆｏｕｎｄａｔｉｏｎ | 質量スペクトルの再現性向上方法およびこれを用いた定量分析方法 |
| EP2876434A4 (en) * | 2012-07-17 | 2016-05-04 | Snu R&Db Foundation | METHOD FOR IMPROVING THE REPRODUCIBILITY OF MASS SPECTRA AND QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD USING THE SAME |
| US9646810B2 (en) * | 2012-07-17 | 2017-05-09 | Snu R&Db Foundation | Method for improving mass spectrum reproducibility and quantitative analysis method using same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0378652A (ja) | 1991-04-03 |
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