JP6115423B2 - 基板の分割方法 - Google Patents

基板の分割方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6115423B2
JP6115423B2 JP2013193165A JP2013193165A JP6115423B2 JP 6115423 B2 JP6115423 B2 JP 6115423B2 JP 2013193165 A JP2013193165 A JP 2013193165A JP 2013193165 A JP2013193165 A JP 2013193165A JP 6115423 B2 JP6115423 B2 JP 6115423B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
piece
sides
individual
parallel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2013193165A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015060927A (ja
Inventor
田中 寛之
寛之 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2013193165A priority Critical patent/JP6115423B2/ja
Publication of JP2015060927A publication Critical patent/JP2015060927A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6115423B2 publication Critical patent/JP6115423B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Dicing (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Description

本発明は、基板の分割方法に関し、詳しくは、樹脂層を備えた基板を複数個の個片に分割する方法に関する。
従来、基板から複数個の個片を分割する方法として、ダイシング方法が知られている(例えば、特許文献1〜4参照)。
特開2012−43889号公報 特開2002−75919号公報 特開平5−90406号公報 特開平9−1542号公報
例えば、CSP(chip size package)構造の電子部品を製造する場合、部品が実装された基板に封止樹脂を形成すると、図9の写真に示すように、封止樹脂が部品の実装されていない周辺領域29の方向へと流れ込むため、封止樹脂は傾斜の付いた形状となることがある。図9の基板側面の写真に示すように、傾斜は、周辺領域29の外周付近のA部と、最も外側の列の個片部分27kのB部とで、顕著に見られる。
このように傾斜した封止樹脂が形成された基板をダイシングするため、封止樹脂にダイシングテープを貼り付けて固定すると、図10の密着状態を示す写真に示すように、封止樹脂の傾斜のためにダイシングテープと封止樹脂との密着状態の悪い箇所が発生する。図10の写真において、黒い部分はダイシングテープが密着し貼り付いている部分である。周辺領域29及び最も外側の列の個片部分27kは、ダイシングテープが貼り付いている面積比率が小さく、密着強度が悪い。
密着状態が悪い周辺領域と最も外側の列の個片部分とがつながった状態で切断すると、切断対象が回転し、図11の個片の写真に示すように、最も外側の列の個片部分が台形形状に分割され、正規の矩形形状と異なる形状に切断されるカットずれ不良が発生することがある。
これに対する対策として、ダイシングテープとの密着状態の悪い周辺領域を最初に分割し、周辺領域と最も外側の列の個片部分とがつながった状態をなくす方法が考えられる。
しかしながら、この方法では、周辺領域の短冊状の部分(例えば、後述する図8の斜線を付した部分84,86)が、ダイシング中に切削水や切削抵抗によって剥がれて飛ぶ場合がある。飛んだ部分がダイシングブレードの側面に当たったり、ダイシングブレードと基板との間に噛み込んだりすると、ダイシングブレードへの負荷が大きくなりダイシングブレードの破損やカットずれ不良が発生することがある。
本発明は、かかる実情に鑑み、ダイシングブレードの破損とカットずれ不良の発生を抑制することができる基板の分割方法を提供しようとするものである。
本発明は、上記課題を解決するために、以下のように構成した基板の分割方法を提供する。
基板の分割方法は、(i)基板本体と前記基板本体の主面を覆う樹脂層とを備え、前記主面に垂直な方向から見ると、境界線に沿って格子状に分割される予定の複数個の個片部分を含む矩形の個片領域と、前記個片領域に隣接する周辺領域とに区画される基板を準備する第1の工程と、(ii)前記基板の前記樹脂層にダイシングテープを貼り付けて前記基板を密着固定した状態で、前記基板から前記個片部分を分割する第2の工程とを備える。前記第2の工程は、(a)前記個片領域の互いに平行な一対の辺にそれぞれ隣接する2列ずつの前記個片部分の境界線以外の前記境界線のうち前記一対の辺と平行な前記境界線及びその延長線と、前記個片領域の互いに平行な他の一対の辺にそれぞれ隣接する2列ずつの前記個片部分の前記境界線以外の前記境界線のうち前記他の一対の辺と平行な前記境界線及びその延長線とに沿って前記基板を切断する第1のステップと、(b)前記第1のステップの後に、前記個片領域の互いに平行な一対の辺にそれぞれ隣接する前記2列ずつの前記個片部分の前記境界線のうち前記一対の辺と平行な前記境界線及びその延長線と、前記個片領域の互いに平行な他の一対の辺にそれぞれ隣接する前記2列ずつの前記個片部分の前記境界線のうち前記他の一対の辺と平行な前記境界線及びその延長線とに沿って前記基板を切断する第2のステップとを含む。
上記方法によれば、第2の工程において、第1のステップで、個片領域の辺にそれぞれ隣接する3列ずつの個片部分以外の個片部分を分割し、次いで、第2のステップで、個片領域の辺にそれぞれ隣接する3列ずつの個片部分を分割する。
上記方法によれば、第2の工程の第1のステップにおいて、剥がれやすい周辺領域及び個片領域の辺に隣接する1列目の個片部分は、個片領域の辺から基板の内側に向かって並ぶ2列目及び3列目の個片部分とつながった状態で切断されるため、基板を切断するときに剥がれることがない。第2の工程の第2のステップにおいて、周辺領域の大部分は、周辺領域を切断したときの最小単位と、基板の内側に向かって並ぶ3個の個片部分とがつながっている状態で切断され、基板を切断するときに剥がれる可能性がある部分は小さくされているため、例え剥がれてもダイシングブレード等に与える悪影響は小さい。したがって、ダイシングブレードの破損とカットずれ不良の発生を抑制することができる。
好ましくは、前記第2のステップにおいて、前記個片領域の前記辺に隣接する前記2列の個片部分の前記境界線のうち前記辺と平行な前記境界線及びその延長線とに沿って、前記辺側から前記基板の内側へと順に、前記基板を切断する。
この場合、外周領域側から先に切断することによって、剥がれる可能性のある部分を、より小さくすることができる。その結果、ダイシングブレードの破損とカットずれ不良の発生を、より抑制することができる。
好ましくは、前記第1のステップにおいて、最初に、前記個片領域の中央を通る前記個片領域の前記一対の辺と平行な1本の前記境界線及びその延長線と、前記個片領域の中央を通る前記個片領域の前記他の一対の辺と平行な1本の前記境界線及びその延長線とに沿って、前記基板を十字状に切断する。
この場合、第1のステップにおいて、まず、基板を十字状に切断することによって、基板の反り応力を緩和して、基板の4分割された部分の密着固定を強化し、切断された部分が剥がれる可能性を小さくすることができる。その結果、ダイシングブレードの破損とカットずれ不良の発生を、さらに抑制することができる。
本発明の基板分割方法によれば、基板分割時に剥がれる可能性のある部分を小さくして、ダイシングブレードの破損とカットずれ不良の発生を抑制することができる。
基板の(a)要部断面図、(b)平面図である。(実施例1) 基板を分割する手順を示す説明図である。(実施例1) 基板を分割する手順を示す説明図である。(実施例1) 切断するときの状態を示す説明図である。(説明例1、2、実施例1) カットずれの説明図である。(説明例1) 基板分割手順を示す説明図である。(実施例2) 基板分割手順を示す説明図である。(実施例3) 基板分割手順を示す説明図である。(比較例1) 基板側面の写真である。(説明例3) 密着状態を示す写真である。(説明例3) 個片の写真である。(説明例3)
以下、本発明の実施の形態について、図1〜図8を参照しながら説明する。
<実施例1> 実施例1の基板20の分割方法について、図1〜図5を参照しながら説明する。
図1(a)は、基板20の要部断面図である。図1(b)は、基板20の平面図である。図1(a)に示すように、基板20は、主面22aに部品24が実装された基板本体22と、部品24及び基板本体22の主面22aを覆う樹脂層26とを備える。図1(b)に示すように、基板20は、矩形の個片領域28と、個片領域28に隣接する周辺領域29とに区画される。個片領域28は、格子状の境界線28x,28yにそれぞれ取り囲まれた個片部分27を含む。基板20が境界線28x,28yに沿って切断されると、個片部分27が分割される。個片部分27には、図1(a)の基板本体22の主面22aに実装された部品24が含まれている。
基板20の樹脂層26にダイシングテープを貼り付けて密着固定した状態で、基板20から個片部分27を分割する。例えば、基板20の樹脂層26を治具(図示せず)に密着固定し、基板20の樹脂層26が密着固定された治具を、ダイシング装置のステージに取り付けた状態で、あるいは、基板20の樹脂層26をダイシング装置のステージに、直接、密着固定した状態で、ダイシング装置を用いて、基板20を切断(ダイシング)し、基板20から個片部分27を分割する。
次に、基板20を分割する手順について、図2及び図3を参照しながら説明する。図2及び図3は、基板を分割する手順を示す説明図であり、破線は切断される予定の境界線及びその延長線を示し、太い実線は既に切断された部分を示している。
(手順1) 図2(a)に示す番号1、2の順に、矢印で示すように、基板20を十字状に切断する。すなわち、番号1を付した矢印のように、個片領域28の中央を通り個片領域28の互いに平行な一対の辺である短辺28a,28bと平行な1本の境界線及びその延長線に沿って、基板20を切断する。次いで、番号2を付した矢印のように、個片領域28の中央を通り他の一対の辺である長辺28c,28dと平行な1本の境界線及びその延長線に沿って、基板20を切断する。
(手順2) 次いで、図2(b)において番号3、4に対応する実線の矢印のように、個片領域の短辺28a,28bにそれぞれ隣接する3列の個片部分28p,28qを除く他の個片部分について、互いに隣接する他の個片部分の間を、短辺28a,28bと平行な境界線及びその延長線に沿って、番号3、4に対応する破線の矢印の順に基板20を切断する。
(手順3) 次いで、図2(c)において番号5、6に対応する実線の矢印のように、個片領域の長辺28c,28dにそれぞれ隣接する3列の個片部分28r,28sを除く他の個片部分について、互いに隣接する他の個片部分の間を、長辺28c,28dと平行な境界線及びその延長線に沿って、番号5、6に対応する破線の矢印の順に、基板20を切断する。
(手順4) 次いで、図2(d)において番号7、8に対応する実線の矢印のように、個片領域の長辺28c,28dにそれぞれ隣接する3列の個片部分28r,28s及び周辺領域29について、長辺28c,28dと平行な境界線及びその延長線に沿って、番号7、8に対応する破線の矢印の順序で、基板20を切断する。
すなわち、番号7に対応する破線の矢印のように、辺28cに隣接する3列の個片部分28rの境界線のうち長辺28cと平行な境界線及びその延長線に沿って、長辺28c側から基板20の内側へと順に切断する。次いで、番号8に対応する破線の矢印のように、長辺28dに隣接する3列の個片部分の境界線のうち長辺28dと平行な境界線及びその延長線に沿って、長辺28d側から基板20の内側へと順に切断する。
図2(d)において斜線を付したように、手順4で剥がれる可能性がある部分80は、周辺領域29が切断されたときの最小単位のみからなるため、例えば剥がれても、ダイシングブレード等に与える悪影響は小さい。
(手順5) 次いで、図3(e)において番号9、10に対応する実線の矢印のように、個片領域の短辺28a,28bにそれぞれ隣接する3列の個片部分28p,28q及び周辺領域29について、短辺28a,28bと平行な境界線及びその延長線に沿って、番号9、10に対応する破線の矢印の順序で、基板20を切断する。
すなわち、番号9に対応する破線の矢印のように、短辺28aに隣接する3列の個片部分28pの境界線のうち短辺28aと平行な境界線及びその延長線に沿って0短辺28a側から基板20の内側へと順に切断する。次いで、番号10に対応する破線の矢印のように、短辺28bに隣接する3列の個片部分の境界線のうち短辺28bと平行な境界線及びその延長線に沿って、短辺28b側から基板20の内側へと順に切断する。
図3(e)において斜線を付したように、手順5で剥がれる可能性がある部分82は、周辺領域29が切断されたときの最小単位のみからなるため、例え剥がれても、ダイシングブレード等に与える悪影響は小さい。
以上の手順1〜5に従って基板20を分割することによって、手順1〜3(すなわち、第2の工程の第1のステップ)において、治具から剥がれやすい周辺領域29及び個片領域28の辺に隣接する1列目の個片部分は、個片領域28の辺28a〜28dから基板20の内側に向かって並ぶ2列目及び3列目の個片部分とつながった状態で切断されるため、治具から剥がれない。手順4、5(すなわち、第2の工程の第2のステップ)において、周辺領域29の大部分は、周辺領域29を切断したときの最小単位と、基板20の内側に向かって並ぶ3個の個片部分28p〜28sとがつながっている状態で切断され、剥がれる可能性がある部分は小さくされているため、例え剥がれてもダイシングブレード等に与える悪影響は小さい。したがって、ダイシングブレードの破損とカットずれ不良の発生を抑制することができる。
また、手順1において、まず、基板20を十字状に切断することによって、基板20の反り応力を緩和して、基板20の4分割された部分の密着固定を強化し、切断された部分が剥がれる可能性を小さくすることができる。その結果、ダイシングブレードの破損とカットずれ不良の発生を、さらに抑制することができる。
次に、個片領域の辺に隣接する3列の個片部分を後から切断する理由について、図4及び図5の説明図を参照しながら説明する。
図4は、切断するときの状態を示す説明図である。周辺領域に含まれる周辺領域側部分29pと、個片領域の辺に隣接する1列目の個片部分28uとは、密着強度が低下しやすい。斜線を付した個片領域の辺に隣接する2列目の個片部分28v及び3列目の個片部分28wは、密着強度が十分である。図5は、カットずれの説明図である。
図4(a)に示すように、周辺領域側部分29pと、個片領域の辺に隣接する1列目の個片部分28uとがつながっている状態まで切断された切断対象27aが、矢印90で示すように切断される場合、ダイシングブレードに当たって姿勢が傾き、1列目の個片部分28uが台形形状に切断されやすい。
すなわち、図5(a−1)及び(b−1)に示すように、周辺領域側部分29pと個片領域の辺に隣接する1列目の個片部分28uとがつながっている切断対象27aに、矢印90で示すようにダイシングブレードが当たると、密着強度不足のため、図5(a−2)及び(b−2)に示すように、切断対象27aは矢印90a,90bの方向に回転して姿勢が傾く。そのため、図5(a−2)及び(b−2)に示すように、切断対象27aは、矢印91の方向に進むダイシングブレードによって斜めに切断され、1列目の個片部分側28m,28nと周辺領域側29m,29nとが、台形形状に分割される。
図4(b)に示すように、周辺領域側部分29pと、個片領域の辺に隣接する1列目の個片部分28uと2列目の個片部分28vとがつながっている切断対象27bについて、1本目を矢印90で示すように切断した後、2本目を矢印92で示すように切断する。この場合、2本目の切断時に、1列目の個片部分28uは2列目の部分28vの1つのみで支えられているため、1列目の個片部分28uが台形形状に切断される懸念が残る。
図4(c)に示すように、周辺領域側部分29pと、個片領域の辺に隣接する1列目の個片部分28uと2列目の個片部分28vと3列目の個片部分28wとがつながっている切断対象27cについて、1本目を矢印90で示すように切断した後、2本目を矢印92で示すように切断する。この場合、2本目の切断時に、1列目の個片部分28uは、2列目の個片部分28vと3列目の個片部分28wの2つで支えられているため、1列目の個片部分28uが台形形状に切断される懸念は解消される。したがって、後から個片に切断する個片部分は、個片領域の辺に隣接する3列分とすることが好ましい。
<実施例2> 図6は、実施例2の基板20の分割手順を示す説明図である。図6に示すように、実施例2は、実施例1と略同様である。以下では、実施例1と同じ部分には同じ符号を用い、実施例1との相違点を中心に説明する。
実施例1では、実施例1の手順1〜5のうち、最初に基板を十字に分割する手順1を省略している。
すなわち、図6(a)において番号1に対応する実線の矢印のように、個片領域の短辺28a,28bにそれぞれ隣接する3列の個片部分28p,28qを除く他の個片部分について、互いに隣接する他の個片部分の間を、短辺28a,28bと平行な境界線及びその延長線に沿って、番号1に対応する破線の矢印の順に基板20を切断する。
次いで、図6(b)において番号2に対応する実線の矢印のように、個片領域の長辺28c,28dにそれぞれ隣接する3列の個片部分28r,28sを除く他の個片部分について、互いに隣接する他の個片部分の間を、長辺28c,28dと平行な境界線及びその延長線に沿って、番号2に対応する破線の矢印の順に、基板20を切断する。
次いで、図6(c)において番号3、4に対応する実線の矢印のように、個片領域の長辺28c,28dにそれぞれ隣接する3列の個片部分28r,28s及び周辺領域29について、長辺28c,28dと平行な境界線及びその延長線に沿って、番号3、4に対応する破線の矢印の順序で、基板20を切断する。
このとき、図6(c)において斜線を付したように、剥がれる可能性がある部分80は、周辺領域29が切断されたときの最小単位のみからなるため、例えば剥がれても、ダイシングブレード等に与える悪影響は小さい。
次いで、図6(d)において番号5、6に対応する実線の矢印のように、個片領域の短辺28a,28bにそれぞれ隣接する3列の個片部分28p,28q及び周辺領域29について、短辺28a,28bと平行な境界線及びその延長線に沿って、番号5、6に対応する破線の矢印の順序で、基板20を切断する。
このとき、図6(d)において斜線を付したように、剥がれる可能性がある部分82は、周辺領域29が切断されたときの最小単位のみからなるため、例え剥がれても、ダイシングブレード等に与える悪影響は小さい。
実施例2においても、個片領域の辺にそれぞれ隣接する3列の個片部分を後から分割する。個片領域の辺にそれぞれ隣接する3列の個片部分を分割するとき、実施例1と同じように、個片領域の辺側から基板内側へと順に切断を行なう。そのため、剥がれる可能性がある部分を最も小さくすることができるので、ブレードの破損とカットずれ不良の発生を抑制することができる。
<実施例3> 図7は、実施例3の基板の分割手順を示す説明図である。図7に示すように、実施例3は、実施例2と略同じであるが、個片領域の辺にそれぞれ隣接する3列の個片部分を分割する手順が、実施例2とは異なる。
すなわち、図7(c)に示すように、個片領域の長辺28c,28dにそれぞれ隣接する3列の個片部分28r,28s及び周辺領域について切断するとき、長辺28c,28dに平行な境界線及びその延長線に沿って、一方の長辺28c側から他方の長辺28d側へと、順に切断する。
次いで、図7(d)に示すように、個片領域の短辺28a,28bにそれぞれ隣接する3列の個片部分28p,28q及び周辺領域について切断するとき、短辺28a,28bに平行な境界線及びその延長線に沿って、一方の短辺28a側から他方の短辺28b側へと、順に切断する。
この場合、番号3;5を付した矢印で示すように切断することによって、斜線を付した部分80,82は、周辺領域を切断するときの最小単位のみとなるため、例え剥がれても、ブレードの破損とカットずれ不良の発生を抑制することができる。また、番号4;6を付した矢印で示すように切断するときに剥がれる可能性がある部分は、ある程度まで小さくされているため、例え剥がれても、ブレードの破損とカットずれ不良の発生を、ある程度まで抑制することができる。
<比較例1> 図8は、比較例1の基板の分割手順を示す説明図である。
まず、図8(a)に示すように、番号1、2の順に、矢印の方向に基板20を十字状に切断する。
次いで、図8(b)に示すように、番号3〜6の順に、周辺領域29と個片領域28との境界線及びその延長線に沿って矢印の方向に、基板20を切断する。
次いで、図8(c)に示すように、番号7、8の順に、個片領域28の短辺28a,28bと平行な境界線及びその延長線に沿って矢印の方向に、個片領域28を切断する。治具から剥がれやすい周辺領域29は、例えば斜線を付したように複数個の最小単位同士がつながった短冊状の部分84が、ダイシング中に切削水や切削抵抗によって剥がれて飛び、ダイシンググレードへの大きな負荷を与えることがある。
次いで、図8(d)に示すように、番号9、10の順に、周辺領域の長辺28c,28dと平行な境界線及びその延長線に沿って矢印の方向に、個片領域28を切断する。治具から剥がれやすい周辺領域29では、例えば斜線を付したように複数個の最小単位同士がつながった短冊状の部分86が、ダイシング中に切削水や切削抵抗によって剥がれて飛び、ダイシンググレードへの大きな負荷を与えることがある。
<実験例> 個片領域の辺にそれぞれ隣接する3列ずつの個片部分以外の個片部分を分割し、次いで、個片領域の辺にそれぞれ隣接する3列ずつの個片部分を分割する実施例1と、周辺領域を分割した後、個片領域を分割する比較例1とについて、ダイシングブレードが破損する平均枚数と、個片部分のカットずれ不良の発生率を調べた結果を、次の表1に示す。
表1から、比較例1に比べ、剥がれる可能性のある部分を小さくすることができる実施例1は、ダイシングブレードの破損やカットずれ不良を抑制できることが分かる。
<まとめ> 以上に説明したように、個片領域の辺にそれぞれ隣接する3列ずつの個片部分以外の個片部分を分割し、次いで、個片領域の辺にそれぞれ隣接する3列ずつの個片部分を分割すると、基板分割時に剥がれる可能性のある部分を小さくして、ダイシングブレードの破損とカットずれ不良の発生を抑制することができる。
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、種々変更を加えて実施することが可能である。
例えば、実施例1の手順1〜5において、短辺と長辺とを入れ替えても構わない。
また、実施例の手順2及び手順3を並列的に実行したり、手順4及び手順5を並列的に実行したりすることも可能である。例えば、個片領域の互いに平行な一対の辺に平行な複数本の切断と、個片領域の互いに平行な他の一対の辺に平行な複数本の切断とを、所定本数ごとに交互に行なっても構わない。
20 基板
22 基板本体
22a 主面
24 部品
26 樹脂層
27,27k 個片部分
27a,27b,27c 切断対象
28 個片領域
28a,28b 短辺(一対の辺)
28c,28d 長辺(他の一対の辺)
28m,28n 個片部分側
28p〜28s 3列の個片部分
28u 1列目の個片部分
28v 2列目の個片部分
28w 3列目の個片部分
28x,28y 境界線
29 周辺領域
29m,29n 周辺領域側
29p 周辺領域側部分

Claims (3)

  1. 基板本体と前記基板本体の主面を覆う樹脂層とを備え、前記主面に垂直な方向から見ると、境界線に沿って格子状に分割される予定の複数個の個片部分を含む矩形の個片領域と、前記個片領域に隣接する周辺領域とに区画される基板を準備する第1の工程と、
    前記基板の前記樹脂層にダイシングテープを貼り付けて前記基板を密着固定した状態で、前記基板から前記個片部分を分割する第2の工程と、
    を備えた基板の分割方法において、
    前記第2の工程は、
    前記個片領域の互いに平行な一対の辺にそれぞれ隣接する2列ずつの前記個片部分の境界線以外の前記境界線のうち前記一対の辺と平行な前記境界線及びその延長線と、
    前記個片領域の互いに平行な他の一対の辺にそれぞれ隣接する2列ずつの前記個片部分の前記境界線以外の前記境界線のうち前記他の一対の辺と平行な前記境界線及びその延長線と、
    に沿って前記基板を切断する第1のステップと、
    前記第1のステップの後に、
    前記個片領域の互いに平行な一対の辺にそれぞれ隣接する前記2列ずつの前記個片部分の前記境界線のうち前記一対の辺と平行な前記境界線及びその延長線と、
    前記個片領域の互いに平行な他の一対の辺にそれぞれ隣接する前記2列ずつの前記個片部分の前記境界線のうち前記他の一対の辺と平行な前記境界線及びその延長線と、
    に沿って前記基板を切断する第2のステップと、
    を含むことを特徴とする、基板の分割方法。
  2. 前記第2のステップにおいて、
    前記個片領域の前記辺に隣接する前記2列の個片部分の前記境界線のうち前記辺と平行な前記境界線及びその延長線とに沿って、前記辺側から前記基板の内側へと順に、前記基板を切断することを特徴とする、請求項1に記載の基板の切断方法。
  3. 前記第1のステップにおいて、
    最初に、前記個片領域の中央を通る前記個片領域の前記一対の辺と平行な1本の前記境界線及びその延長線と、前記個片領域の中央を通る前記個片領域の前記他の一対の辺と平行な1本の前記境界線及びその延長線とに沿って、前記基板を十字状に切断することを特徴とする、請求項1又は2に記載の基板の分割方法。
JP2013193165A 2013-09-18 2013-09-18 基板の分割方法 Active JP6115423B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013193165A JP6115423B2 (ja) 2013-09-18 2013-09-18 基板の分割方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013193165A JP6115423B2 (ja) 2013-09-18 2013-09-18 基板の分割方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015060927A JP2015060927A (ja) 2015-03-30
JP6115423B2 true JP6115423B2 (ja) 2017-04-19

Family

ID=52818225

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013193165A Active JP6115423B2 (ja) 2013-09-18 2013-09-18 基板の分割方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6115423B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7313968B2 (ja) * 2019-08-15 2023-07-25 株式会社ディスコ ウエーハの加工方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2579469B2 (ja) * 1986-09-18 1997-02-05 株式会社 東京精密 半導体ウエ−ハのダイシング方法及びその装置
JP3493282B2 (ja) * 1997-07-02 2004-02-03 株式会社ディスコ 切削方法
JP2000124161A (ja) * 1998-10-14 2000-04-28 Disco Abrasive Syst Ltd 基盤の分割方法
JP2002237472A (ja) * 2001-02-07 2002-08-23 Disco Abrasive Syst Ltd 被加工物の切削方法
JP2009260219A (ja) * 2008-03-24 2009-11-05 Hitachi Chem Co Ltd 半導体ウェハのダイシング方法及び半導体装置の製造方法
JP2011222651A (ja) * 2010-04-07 2011-11-04 Disco Abrasive Syst Ltd パッケージ基板の分割方法
JP5657302B2 (ja) * 2010-08-04 2015-01-21 株式会社ディスコ 切削方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015060927A (ja) 2015-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7405137B2 (en) Method of dicing a semiconductor substrate into a plurality of semiconductor chips by forming two cutting grooves on one substrate surface and forming one cutting groove on an opposite substrate surface that overlaps the two cutting grooves
US9349694B2 (en) Method of manufacturing a semiconductor device
JP5399648B2 (ja) 接着シート及びこれを用いた半導体ウエハの処理方法
JP2009099681A (ja) 基板の個片化方法
JP2009088252A (ja) ウエハのダイシング方法および半導体チップ
TWI820221B (zh) 半導體封裝件之製造方法
JP2004055852A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP6115423B2 (ja) 基板の分割方法
US7518240B2 (en) Deposition pattern for eliminating backside metal peeling during die separation in semiconductor device fabrication
JP2009088109A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2013197434A (ja) 半導体装置の製造方法
KR20180029931A (ko) 반도체 칩, 반도체 장치, 반도체 웨이퍼, 및 반도체 웨이퍼의 다이싱 방법
JP6210170B2 (ja) 半導体装置の製造方法
CN104851850A (zh) 集成电路的背面金属化图形
JP2011151186A (ja) 半導体ウェーハの分割方法
JP2006261447A (ja) 半導体装置、及び、半導体装置の製造方法
US7354790B2 (en) Method and apparatus for avoiding dicing chip-outs in integrated circuit die
US20080220206A1 (en) Semiconductor die for increasing yield and usable wafer area
JP7050658B2 (ja) 半導体チップの製造方法
JP2017069236A (ja) リードフレーム及びその製造方法
JP2011142115A (ja) 半導体装置の製造方法
KR100914051B1 (ko) 반도체 패키지 제조용 세라믹 기판
JP2011129612A (ja) 半導体装置の製造方法及び半導体装置
JP2021097090A (ja) 半導体装置の製造方法
JP6017800B2 (ja) 半導体ウェーハの取り扱い方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160601

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170217

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170221

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170306

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6115423

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150