JP6115073B2 - 眼科撮影装置及び眼科撮影プログラム - Google Patents
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Description
(2) (1)の眼科撮影装置において、前記制御手段は、異なる複数の横断位置にて前記干渉信号を取得する際に前記観察光学系によって取得した被検眼の第1正面像と、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記干渉信号を取得する際に前記観察光学系によって取得した第2正面像と、の位置ずれを画像処理により検出し、検出結果に基づいて前記光スキャナの駆動を制御し、該再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記干渉信号を取得することを特徴とする。
(3) (1)又は(2)の眼科撮影装置において、再撮影前に前記モニタ上の画像に対して前記操作部からの操作信号に基づいて選択された横断位置の前記干渉信号と、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記制御手段によって取得された前記干渉信号と、を置き換える、又は、再撮影前に該モニタ上の画像に対して該操作部からの操作信号に基づいて選択された横断位置の該干渉信号と、該再撮影設定手段によって設定された該再撮影用横断位置にて該制御手段によって取得された該干渉信号と、を加算平均処理することを特徴とする。
(4) 光源から発せられた光を被検眼上で走査するための光スキャナと、光源から発せられた測定光と参照光との干渉信号を検出する検出器と、を有し、被検眼の断層像を得るための干渉光学系と、被検眼の正面像を取得する観察光学系と、を備える眼科撮影装置の動作を制御する制御装置において実行される眼科撮影プログラムであって、前記制御装置のプロセッサによって実行されることで、被検眼上の異なる複数の横断位置にて、前記光スキャナを制御して、測定光を走査し、各横断位置にて前記干渉信号を取得する制御ステップと、前記干渉信号の取得を行うための撮影画面と、取得した前記干渉信号を確認するための確認画面と、を表示する表示制御手段であって、前記制御手段によって各横断位置にて前記干渉信号の取得を完了した後、取得した前記干渉信号を確認するための確認画面であって、前記干渉信号の取得を行うための撮影画面と異なる画面である確認画面において、前記制御手段によって取得された各横断位置における前記干渉信号に基づいて生成される断層像と、前記正面像と、をモニタ上に表示する表示制御ステップと、前記モニタ上の前記断層像と前記正面像との少なくとも一方に対する操作部の操作によって選択された各横断位置における一部の横断位置に対し、再撮影用横断位置を設定する再撮影設定ステップと、を備え、前記再撮影設定ステップによって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し、前記干渉信号を再取得する再撮影制御ステップと、を前記制御装置に実行させることを特徴とする。
本発明の実施形態に係る眼科撮影装置の概要について説明する。本実施形態に関わる眼科撮影装置(光コヒーレンストモグラフィーデバイス)10は、干渉光学系100、観察光学系200、表示手段(モニタ)75、操作入力手段(操作部)74、制御部(CPU)70、を備える。
制御部70は、正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置(撮影位置)にて、前光スキャナ108を制御して、測定光を走査し、各横断位置にて干渉信号を取得する。制御部70は、取得された各横断位置における干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ75上に表示する。制御部70は、モニタ75上の干渉信号に基づいて生成される画像に対して、操作部74からの操作信号に基づいて、少なくとも1つ以上の再撮影用横断位置を設定する。制御部70は、設定された再撮影用横断位置にて測定光を走査し前記干渉信号を取得する。
この場合、例えば、制御部70は、撮影画面において、正面像上において設定された被検眼上の異なる複数の横断位置にて、光スキャナ108を制御して、測定光を走査し、各横断位置にて干渉信号を取得する。制御部70は、撮影画面から確認画面に切換え、取得された各横断位置における干渉信号に基づいて生成される画像をモニタ75上に表示する。制御部70は、確認画面において、モニタ75上の画像に対して、操作部74からの操作信号に基づいて、少なくとも1つ以上の再撮影用横断位置を設定する。
以下、本実施形態に係る実施例を図面に基づいて説明する。図1は本実施例に係る眼科撮影装置の構成について説明する概略構成図である。以下の説明においては、眼科撮影装置として、被検眼の眼底撮影を行う眼底撮影装置を例に挙げて説明を行う。もちろん、眼科撮影装置としては、眼底撮影装置に限定されず、被検眼の前眼部撮影を行う前眼部撮影装置等が挙げられる。
OCT光学系100は、いわゆる眼科用光干渉断層計(OCT:Optical coherence tomography)の装置構成を持ち、眼Eの断層像を撮像する。OCT光学系100は、測定光源102から出射された光をカップラー(光分割器)104によって測定光(試料光)と参照光に分割する。そして、OCT光学系100は、測定光学系106によって測定光を眼Eの眼底Efに導き,また、参照光を参照光学系110に導く。その後、眼底Efによって反射された測定光と,参照光との合成による干渉光を検出器(受光素子)120に受光させる。
正面観察光学系(正面像観察デバイス)200は、眼底Efの正面画像を得るために設けられている。観察光学系200は、例えば、光源から発せられた測定光(例えば、赤外光)を眼底上で二次元的に走査させる光スキャナと、眼底と略共役位置に配置された共焦点開口を介して眼底反射光を受光する第2の受光素子と、を備え、いわゆる眼科用走査型レーザ検眼鏡(SLO)の装置構成を持つ。
固視標投影ユニット300は、眼Eの視線方向を誘導するための光学系を有する。投影ユニット300は、眼Eに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Eを誘導できる。
制御部70は、各構成100〜300の各部材など、装置全体を制御する。また、制御部70は、取得された画像を処理する画像処理部、取得された画像を解析する画像解析部、などを兼用する。制御部70は、一般的なCPU(Central Processing Unit)等で実現される。制御部70は、以下に示すように、断層像に基づいて眼底Efを解析する。
以上のような構成を備える装置において、その制御動作について説明する。図2は、制御動作の流れについて説明するフローチャートである。制御部70は、メモリ72に記憶された制御プログラムに従って、図2に示す処理を実行する。検者は、固視標投影ユニット300の固視標を注視するように被検者に指示した後、図示無き前眼部観察用カメラで撮影される前眼部観察像をモニタ75で見ながら、被検眼の瞳孔中心に測定光軸がくるように、操作部74(例えば、図示無きジョイスティック)を用いて、アライメント操作を行う。
すなわち、制御部70は、再撮影を行うスキャンラインとして選択したスキャンライン28の撮影位置(横断位置)での断層像を、再撮影時に取得された断層像に変更する。そして、図7に示されるように、第1断層像30aにスキャンライン28の撮影位置に対応する断層像が表示されるようになる。これによって、マルチスキャンによって取得された各スキャンラインの断層像が全て良好な断層像となる。
本実施例において、再撮影時において、検者は、撮影条件(例えば、走査条件)を変更できる。検者は、操作部74を操作することによって、撮影条件を変更することができる。以下、走査条件の変更を例に挙げて撮影条件の変更について説明する。走査条件の変更としては、スキャン長(スキャンの幅)、スキャンのパターン(走査パターン)、スキャンパターンの回転角度(走査中心を中心としてラインが回転される)、等の変更が挙げられる。走査条件が設定されると、制御部70は、予め取得された正面像(基準画像)と、現在の正面像と、を比較して、基準画像に対する現在の正面像の位置ずれ方向及び位置ずれ量を画像処理により検出(演算)する。
72 メモリ
74 操作部
74a マウス
74b、74c 操作ノブ
75 モニタ
100 干渉光学系
108 光スキャナ
200 観察光学系
300 固視標投影ユニット
Claims (4)
- 光源から発せられた光を被検眼上で走査するための光スキャナと、光源から発せられた測定光と参照光との干渉信号を検出する検出器と、を有し、被検眼の断層像を得るための干渉光学系と、
被検眼の正面像を取得する観察光学系と、
を備える眼科撮影装置であって、
被検眼上の異なる複数の横断位置にて、前記光スキャナを制御して、測定光を走査し、各横断位置にて前記干渉信号を取得する制御手段と、
前記干渉信号の取得を行うための撮影画面と、取得した前記干渉信号を確認するための確認画面であって、前記撮影画面と異なる画面である確認画面と、を表示する表示制御手段であって、前記制御手段によって各横断位置にて前記干渉信号の取得を完了した後、前記確認画面において、前記制御手段によって取得された各横断位置における前記干渉信号に基づいて生成される断層像と、前記正面像と、をモニタ上に表示する表示制御手段と、
前記モニタ上の前記断層像と前記正面像との少なくとも一方に対する操作部の操作によって選択された各横断位置における一部の横断位置に対し、再撮影用横断位置を設定する再撮影設定手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し前記干渉信号を取得することを特徴とする眼科撮影装置。 - 請求項1の眼科撮影装置において、
前記制御手段は、異なる複数の横断位置にて前記干渉信号を取得する際に前記観察光学系によって取得した被検眼の第1正面像と、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記干渉信号を取得する際に前記観察光学系によって取得した第2正面像と、の位置ずれを画像処理により検出し、検出結果に基づいて前記光スキャナの駆動を制御し、該再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記干渉信号を取得することを特徴とする眼科撮影装置。 - 請求項1又は2の眼科撮影装置において、
再撮影前に前記モニタ上の画像に対して前記操作部からの操作信号に基づいて選択された横断位置の前記干渉信号と、前記再撮影設定手段によって設定された前記再撮影用横断位置にて前記制御手段によって取得された前記干渉信号と、を置き換える、又は、再撮影前に該モニタ上の画像に対して該操作部からの操作信号に基づいて選択された横断位置の該干渉信号と、該再撮影設定手段によって設定された該再撮影用横断位置にて該制御手段によって取得された該干渉信号と、を加算平均処理することを特徴とする眼科撮影装置。 - 光源から発せられた光を被検眼上で走査するための光スキャナと、光源から発せられた測定光と参照光との干渉信号を検出する検出器と、を有し、被検眼の断層像を得るための干渉光学系と、
被検眼の正面像を取得する観察光学系と、
を備える眼科撮影装置の動作を制御する制御装置において実行される眼科撮影プログラムであって、
前記制御装置のプロセッサによって実行されることで、
被検眼上の異なる複数の横断位置にて、前記光スキャナを制御して、測定光を走査し、各横断位置にて前記干渉信号を取得する制御ステップと、
前記干渉信号の取得を行うための撮影画面と、取得した前記干渉信号を確認するための確認画面と、を表示する表示制御手段であって、前記制御手段によって各横断位置にて前記干渉信号の取得を完了した後、取得した前記干渉信号を確認するための確認画面であって、前記干渉信号の取得を行うための撮影画面と異なる画面である確認画面において、前記制御手段によって取得された各横断位置における前記干渉信号に基づいて生成される断層像と、前記正面像と、をモニタ上に表示する表示制御ステップと、
前記モニタ上の前記断層像と前記正面像との少なくとも一方に対する操作部の操作によって選択された各横断位置における一部の横断位置に対し、再撮影用横断位置を設定する再撮影設定ステップと、を備え、
前記再撮影設定ステップによって設定された前記再撮影用横断位置にて測定光を走査し、前記干渉信号を再取得する再撮影制御ステップと、
を前記制御装置に実行させることを特徴とする眼科撮影プログラム。
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