JP6085434B2 - 試料ホルダー - Google Patents
試料ホルダー Download PDFInfo
- Publication number
- JP6085434B2 JP6085434B2 JP2012186024A JP2012186024A JP6085434B2 JP 6085434 B2 JP6085434 B2 JP 6085434B2 JP 2012186024 A JP2012186024 A JP 2012186024A JP 2012186024 A JP2012186024 A JP 2012186024A JP 6085434 B2 JP6085434 B2 JP 6085434B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- control rod
- sample holder
- members
- sample
- heat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 20
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 19
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 19
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 19
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010974 bronze Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
Description
2 押し上げピストンの駆動方向(電子顕微鏡の中心部から外側へ移動)
3 試料クレードル部
4 押し上げピストン
5 制御棒
6 弾性部材
7 キ―
8 駆動伝達軸
9 スラスト機構
10 モーター
11 オルダムカップリング機構
12 押し上げピストン駆動方向(電子顕微鏡の外側から中心部へ移動)
20 真空領域に収まる部分
21 真空外領域の部分
22 基準面
23 熱膨張の影響を受ける範囲B
24 熱膨張の影響を受ける範囲C
25 制御棒の距離
30 シャフトA(制御棒)
31 弾性部材(図ではスプリング)
32 キ―
33 シャフトB(制御棒)
40 真空領域に収まる部分
41 真空外領域の部分
42 熱膨張の影響を受ける範囲A
43 制御棒の距離
Claims (8)
- 試料クレードル部と、前記試料クレードル部を傾斜させるための傾斜機構とを有する試料ホルダーであって、前記傾斜機構が、制御棒と、駆動伝達軸と、モーターとからなり、電子顕微鏡の真空外領域における前記制御棒及び/又は前記駆動伝達軸の少なくとも一部が、断熱手段からなることを特徴とする試料ホルダー。
- 前記断熱手段が、前記電子顕微鏡の真空外領域における前記制御棒が少なくとも2つの部材からなることによって、前記2つの部材からなる制御棒の前記部材同士を断熱することを特徴とする請求項1記載の試料ホルダー。
- 前記少なくとも2つの部材からなる制御棒の接続部が、断熱部材からなる請求項2記載の試料ホルダー。
- 前記少なくとも2つの部材からなる制御棒の前記部材同士を、オルダムカップリング構造により接続し、前記少なくとも2つの部材からなる制御棒のうち前記モータ―側の部材は、前記駆動伝達軸を構成する請求項2又は3に記載の試料ホルダー。
- 前記オルダムカップリング構造の内部に弾性部材を用いて、前記少なくとも2つの部材からなる制御棒の前記部材同士を非接触とする請求項4記載の試料ホルダー。
- 前記弾性部材が、スプリングである請求項5記載の試料ホルダー。
- 電子顕微鏡の真空領域側の前記制御棒に突起を設け、前記突起により前記制御棒が、試料ホルダー所定位置の内壁基準面で停止することを特徴とする請求項1〜6項のいずれか1項に記載の試料ホルダー。
- さらに、前記制御棒の動きを微調整することが可能な制御棒微調整手段を有することを特徴とする請求項1〜7項のいずれか1項に記載の試料ホルダー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012186024A JP6085434B2 (ja) | 2012-08-27 | 2012-08-27 | 試料ホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012186024A JP6085434B2 (ja) | 2012-08-27 | 2012-08-27 | 試料ホルダー |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014044842A JP2014044842A (ja) | 2014-03-13 |
JP6085434B2 true JP6085434B2 (ja) | 2017-05-31 |
Family
ID=50395985
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012186024A Active JP6085434B2 (ja) | 2012-08-27 | 2012-08-27 | 試料ホルダー |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6085434B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104916516B (zh) * | 2015-05-26 | 2017-03-22 | 兰州大学 | 一种可加电、磁场的透射电子显微镜样品杆 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59221955A (ja) * | 1983-05-31 | 1984-12-13 | Internatl Precision Inc | 迅速クライオステ−ジによる試料観察方法 |
JPH02123057U (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-09 | ||
JP2934308B2 (ja) * | 1990-11-30 | 1999-08-16 | 日本電子株式会社 | 透過電子顕微鏡用試料ホルダー |
JP3314422B2 (ja) * | 1991-10-24 | 2002-08-12 | 株式会社日立製作所 | 電子顕微鏡用試料ホルダ |
-
2012
- 2012-08-27 JP JP2012186024A patent/JP6085434B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014044842A (ja) | 2014-03-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8148700B2 (en) | Speciman holder and speciman holder movement device | |
JP6008965B2 (ja) | 改良型低温試料ホルダ | |
US20200408655A1 (en) | Testing assembly including a multiple degree of freedom stage | |
JP4866045B2 (ja) | 電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法 | |
US3896314A (en) | Specimen heating and positioning device for an electron microscope | |
JP5001741B2 (ja) | 試料用ステージ及び試料の分析方法 | |
KR101665221B1 (ko) | 시료 냉각 홀더 및 냉각원 용기 | |
US10103000B2 (en) | Double-tilt sample holder for transmission electron microscope | |
CN105990078A (zh) | 透射电子显微镜原位高低频疲劳双倾样品杆 | |
JP2007053241A (ja) | 超電導マグネット装置 | |
JP6085434B2 (ja) | 試料ホルダー | |
JP6611739B2 (ja) | 位置決めユニット | |
EP2573794B1 (en) | Scanning electron microscope | |
EP2573795B1 (en) | Scanning electron microscope | |
US8209766B2 (en) | Scanning probe microscope capable of measuring samples having overhang structure | |
JP6471254B1 (ja) | 試料ホルダー | |
CN105403541A (zh) | 样品调整控制器 | |
CA2603643C (en) | Microscope stage with flexural axis | |
JP5927235B2 (ja) | 試料ホルダー | |
CN105990079A (zh) | 透射电子显微镜用压电驱动式双轴倾转样品杆 | |
JP2019212559A (ja) | ステージ装置、及び荷電粒子線装置 | |
JP2021051896A (ja) | 試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置 | |
JP4190832B2 (ja) | 透過型電子顕微鏡 | |
Shu et al. | Design of a precision flexural linear stage system with sub-nanometer resolution and 12-mm travel range | |
WO2023127083A1 (ja) | 荷電粒子線装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150609 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160628 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160725 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170117 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170130 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6085434 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |