JP6084804B2 - 無機リガンドを有する量子ドット及びその製造方法 - Google Patents
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Description
MCCヒドラジン水和物の第2有機溶液(溶液C)に、第1有機リガンド量子ドットの第1有機溶液(溶液B)を混合し、量子ドットの第1有機リガンドを、MCCヒドラジン水和物のリガンドで交換する(S330)。溶液Cと溶液Bは、溶媒が互いに異なり、混合した溶液で相分離が発生することがある。例えば、溶液Cは、極性溶媒を使い、溶液Bは、非極性溶媒を使い、2つの溶液間に相分離が発生し得る。前記混合溶液を撹拌し、量子ドットをパッシベーションしている第1有機リガンドを、MCCヒドラジン水和物リガンドで交換させることができる。撹拌によって、第1有機溶液層内の量子ドットが、第2有機溶液層に移動しつつ、量子ドットをパッシベーションしている第1有機リガンドが、MCCヒドラジン水和物リガンドに交換される。撹拌温度は、常温乃至200℃の範囲であってもよい。このように、異種溶媒内のリガンドの交換によって、MCCヒドラジン水和物でパッシベーションされた半導体化合物の量子ドットを製造することができる。
(a)Sn2S6ヒドラジンモノ水和物溶液の製造
10mlのヒドラジンモノ水和物溶液に、0.32g(10mmol)の硫黄(S)粉末を溶かし、1Mの硫黄ヒドラジンモノ水和物溶液を製造した。前記1Mの硫黄ヒドラジンモノ水和物溶液3mlと、ヒドラジンモノ水和物溶液1mlとを混ぜた溶液に、120mg(1mmol)のスズ(Sn)粉末を添加して反応させた。反応は、常温で行われ、約1時間ほど撹拌した。遠心分離によって、前記反応溶液からの反応後に残った沈殿物を除去し、Sn2S6ヒドラジンモノ水和物溶液を製造した。Sn2S6ヒドラジンモノ水和物溶液は、溶液内に、Sn2S6と、ヒドラジンモノ水和物とが結合されたSn2S6ヒドラジンモノ水和物を含んでいる。
CdSe/CdS/ZnS量子ドットを、シクロヘキサン溶液に分散(溶解)させた5mg/ml濃度のCdSe/CdS/ZnS量子ドットシクロヘキサン溶液を準備した(準備方法は、Advanced materials,2007,19,1927−1932参照)。CdSe/CdS/ZnS量子ドットは、CdSeコア/CdS内側シェル/ZnS外側シェルの構造を有する。また、CdSe/CdS/ZnS量子ドットの表面は、オレイン酸、TOP、TOPO及びトリオクチルアミンの混合有機リガンドが配位結合している。
2mlのヒドラジンモノ水和物溶液に、(a)段階のSn2S6ヒドラジンモノ水和物溶液25μlを添加し、ここに、(b)段階のCdSe/CdS/ZnS量子ドットを含むシクロヘキサン溶液2mlを添加した。結果物である混合溶液は、上部のシクロヘキサン層と、下部のヒドラジンモノ水和物層とに相分離された。前記シクロヘキサン層は、CdSe/CdS/ZnS量子ドットを含んでおり、前記ヒドラジンモノ水和物層は、Sn2S6ヒドラジンモノ水和物リガンドを含んでいる。
(a)Sn2S6ヒドラジンモノ水和物エタノールアミン溶液の製造
実施例1と同一の方法で、Sn2S6ヒドラジンモノ水和物溶液を製造した。前記Sn2S6ヒドラジンモノ水和物溶液をN2ガスで乾燥させ、Sn2S6ヒドラジンモノ水和物だけ残してヒドラジンモノ水和物溶液を除去した。分離したSn2S6ヒドラジンモノ水和物をエタノールアミン溶液に溶かし、16mg/ml濃度のSn2S6ヒドラジンモノ水和物エタノールアミン溶液を製造した。
実施例1と同一の方法で、10mg/ml濃度のCdSe/CdS/ZnS量子ドットシクロヘキサン溶液を準備した。前記CdSe/CdS/ZnS量子ドットシクロヘキサン溶液2mlを、2Mのメルカプトプロピオン酸溶液18mlに添加した後、80℃の温度で3時間撹拌して反応させた。反応によって、CdSe/CdS/ZnS量子ドット表面の混合有機リガンドを、MPAリガンドで交換させた。次に、MPAリガンドに交換されたCdSe/CdS/ZnS量子ドットを、遠心分離を介して沈澱させた。沈澱されたCdSe/CdS/ZnS量子ドットをエタノールアミンに再分散(再溶解)させ、10mg/ml濃度のCdSe/CdS/ZnS量子ドットエタノールアミン溶液を製造した。
(a)段階で製造されたSn2S6ヒドラジンモノ水和物エタノールアミン溶液0.2mlを、(b)段階で製造された前記CdSe/CdS/ZnS量子ドットエタノールアミン溶液2mlに添加した後、常温で8時間撹拌しつつリガンド交換反応を行った。
(a)Sn2S6エタノールアミン溶液の製造
実施例2と同一の方法で、16mg/ml濃度のSn2S6ヒドラジンモノ水和物エタノールアミン溶液を製造した。
実施例1と同一の方法で、10mg/ml濃度のCdSe/CdS/ZnS量子ドットシクロヘキサン溶液を準備した。
(a)段階で製造されたSn2S6エタノールアミン溶液0.2mlを、2mlエタノールアミンに添加した。(b)段階のCdSe/CdS/ZnS量子ドットシクロヘキサン溶液0.2mlを、2mlシクロヘキサン溶液に添加した後、Sn2S6ヒドラジンモノ水和物エタノールアミン溶液と混ぜ、常温で8時間撹拌しつつ、リガンド交換反応を行った。
11 コア
12 シェル
20 有機リガンドを有する量子ドット
21 有機リガンド
23 無機リガンド
30 無機リガンドを有する量子ドット
Claims (24)
- 半導体物質を含む量子ドットと、
前記量子ドットの表面上のヒドラジン水和物を含む無機リガンドと、を含み、
前記量子ドットは、1nm以上の大きさを有する粒子からなる半導体であり、前記無機リガンドは、Sn 2 S 6 、Sn 2 Se 6 、In 2 Se 4 、In 2 Te 3 、Ga 2 Se 3 、CuInSe 2 、Cu 7 S 4 、Hg 3 Se 4 、Sb 2 Te 3 またはZnTeのヒドラジン水和物を含む金属カルコゲナイド化合物である、量子ドット。 - 前記ヒドラジン水和物は、モノ水和物、二水和物、三水和物、四水和物、五水和物、六水和物又はそれらの混合物を含む無機リガンドを有することを特徴とする、請求項1に記載の量子ドット。
- 前記量子ドットは、CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、ZnO、HgS、HgSe、HgTe、CdSeS、CdSeTe、CdSTe、ZnSeS、ZnSeTe、ZnSTe、HgSeS、HgSeTe、HgSTe、CdZnS、CdZnSe、CdZnTe、CdHgS、CdHgSe、CdHgTe、HgZnS、HgZnSe、CdHgZnTe、CdZnSeS、CdZnSeTe、CdZnSTe、CdHgSeS、CdHgSeTe、CdHgSTe、HgZnSeS、HgZnSeTe、HgZnSTe;GaN、GaP、GaAs、GaSb、AlN、AlP、AlAs、AlSb、InN、InP、InAs、InSb、GaNP、GaNAs、GaNSb、GaPAs、GaPSb、AlNP、AlNAs、AlNSb、AlPAs、AlPSb、InNP、InNAs、InNSb、InPAs、InPSb、GaAlNP、GaAlNAs、GaAlNSb、GaAlPAs、GaAlPSb、GaInNP、GaInNAs、GaInNSb、GaInPAs、GaInPSb、InAlNP、InAlNAs、InAlNSb、InAlPAs、InAlPSb;SnS、SnSe、SnTe、PbS、PbSe、PbTe、SnSeS、SnSeTe、SnSTe、PbSeS、PbSeTe、PbSTe、SnPbS、SnPbSe、SnPbTe、SnPbSSe、SnPbSeTe、SnPbSTe;Si、Ge、SiC、SiGe又はそれらの2以上の組み合わせを含む無機リガンドを有することを特徴とする、請求項1に記載の量子ドット。
- 前記量子ドットは、コア−シェル構造又はコア−シェル−シェル構造を有することを特徴とする、請求項1に記載の量子ドット。
- 請求項1乃至請求項4のいずれか1項に記載の量子ドットと、
前記量子ドットを溶解させている溶媒と、を含むが、前記溶媒は、エタノールアミン、DMSO(dimethyl sulfoxide)、DMF(dimethylformamide)又はホルムアミドを含む無機リガンドを有する、量子ドットの溶液。 - 量子ドットの製造方法であって、
金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液を製造する段階と、
第1有機リガンドを有する量子ドットの第1有機溶液を提供する段階と、
前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液と、前記第1有機リガンドを有する量子ドットの第1有機溶液とを混合し、混合溶液を形成する段階と、
前記混合溶液を撹拌し、前記第1有機リガンドを有する量子ドットの前記第1有機リガンドを、前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物のリガンドで交換する段階と、を含み、
前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液を製造する段階は、カルコゲン粉末を溶解させたカルコゲンヒドラジン水和物溶液に、金属の粉末を添加して反応させる段階を含むことを特徴とする、量子ドットの製造方法。 - 前記金属カルコゲナイド化合物は、Sn2S6、Sn2Se6、In2Se4、In2Te3、Ga2Se3、CuInSe2、Cu7S4、Hg3Se4、Sb2Te3又はZnTeを含むことを特徴とする、請求項6に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記第1有機リガンドは、TOP(trioctylphosphine)、TOPO(trioctylphosphine oxide)、オレイン酸、オレイルアミン、オクチルアミン、トリオクチルアミン、ヘキサデシルアミン、オクタンチオール、ドデカンチオール、ヘキシルホスホン酸(HPA)、テトラデシルホスホン酸(TDPA)、オクチルホスフィン酸(OPA)又はそれらの組み合わせを含むことを特徴とする、請求項6に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記第1有機溶液は、シクロヘキサン、ヘキサン、クロロホルム、トルエン、オクタン、クロロベンゼン又はそれらの混合物を含むことを特徴とする、請求項6に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記量子ドットは、CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、ZnO、HgS、HgSe、HgTe、CdSeS、CdSeTe、CdSTe、ZnSeS、ZnSeTe、ZnSTe、HgSeS、HgSeTe、HgSTe、CdZnS、CdZnSe、CdZnTe、CdHgS、CdHgSe、CdHgTe、HgZnS、HgZnSe、CdHgZnTe、CdZnSeS、CdZnSeTe、CdZnSTe、CdHgSeS、CdHgSeTe、CdHgSTe、HgZnSeS、HgZnSeTe、HgZnSTe;GaN、GaP、GaAs、GaSb、AlN、AlP、AlAs、AlSb、InN、InP、InAs、InSb、GaNP、GaNAs、GaNSb、GaPAs、GaPSb、AlNP、AlNAs、AlNSb、AlPAs、AlPSb、InNP、InNAs、InNSb、InPAs、InPSb、GaAlNP、GaAlNAs、GaAlNSb、GaAlPAs、GaAlPSb、GaInNP、GaInNAs、GaInNSb、GaInPAs、GaInPSb、InAlNP、InAlNAs、InAlNSb、InAlPAs、InAlPSb;SnS、SnSe、SnTe、PbS、PbSe、PbTe、SnSeS、SnSeTe、SnSTe、PbSeS、PbSeTe、PbSTe、SnPbS、SnPbSe、SnPbTe、SnPbSSe、SnPbSeTe、SnPbSTe;Si、Ge、SiC、SiGe又はそれらの2以上の組み合わせを含むことを特徴とする、請求項6に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記混合溶液は、前記第1有機リガンドを有する量子ドットの第1有機溶液層と、前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液層とに、相分離されることを特徴とする、請求項6に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記量子ドットは、コア−シェル構造又はコア−シェル−シェル構造を有することを特徴とする、請求項6に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記ヒドラジン水和物は、ヒドラジンモノ水和物、ヒドラジン二水和物、ヒドラジン三水和物、ヒドラジン四水和物、ヒドラジン五水和物又はヒドラジン六水和物を含むことを特徴とする、請求項6に記載の量子ドットの製造方法。
- 量子ドットの製造方法であって、
金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物の第2有機溶液を製造する段階と、
第2有機リガンドを有する量子ドットの第2有機溶液を提供する段階と、
前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物の第2有機溶液と、前記第2有機リガンドを有する量子ドットの第2有機溶液とを混合し、混合溶液を形成する段階と、
前記混合溶液を撹拌し、前記量子ドットの前記第2有機リガンドを、前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物のリガンドで交換する段階と、を含み、
前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物の第2有機溶液を製造する段階は、
金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液を製造する段階と、
前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液から、前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物を分離する段階と、
分離された前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物を、前記第2有機溶媒に分散させる段階と、を含み、
前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液から前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物が分離する段階は、前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液を遠心分離する段階を含み、
前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液を遠心分離する段階は、BuOH又はアセトニトリルを添加する段階をさらに含むことを特徴とする、量子ドットの製造方法。 - 前記金属カルコゲナイド化合物は、Sn2S6、Sn2Se6、In2Se4、In2Te3、Ga2Se3、CuInSe2、Cu7S4、Hg3Se4、Sb2Te3又はZnTeを含むことを特徴とする、請求項14に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記量子ドットは、II−VI族半導体化合物、III−V族半導体化合物、IV−VI族半導体化合物又はIV族元素又は化合物を含むことを特徴とする、請求項14に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記第2有機媒液は、エタノールアミン、ジメチルスルホキシド(DMSO)、ジメチルホルムアミド(DMF)又はホルムアミドを含むことを特徴とする、請求項14に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記第2有機リガンドは、メルカプトプロピオン酸(MPA)、システアミン又はメルカプト酢酸を含むことを特徴とする、請求項14に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記ヒドラジン水和物は、ヒドラジンモノ水和物、ヒドラジン二水和物、ヒドラジン三水和物、ヒドラジン四水和物、ヒドラジン五水和物又はヒドラジン六水和物を含むことを特徴とする、請求項14に記載の量子ドットの製造方法。
- 量子ドットの製造方法であって、
金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物の第2有機溶液を製造する段階と、
第1有機リガンドを有する量子ドットの第1有機溶液を提供する段階と、
金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物の第2有機溶液と、前記第1有機リガンドを有する量子ドットの第1有機溶液とを混合し、混合溶液を形成する段階と、
前記混合溶液を撹拌し、前記量子ドットの前記第1有機リガンドを、前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物のリガンドで交換する段階と、を含み、
前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物の第2有機溶液を製造する段階は、
金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液を製造する段階と、
前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液から、前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物を分離する段階と、
分離された前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物を、前記第2有機溶媒に分散させる段階と、を含み、
前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液から前記金属カルコゲナイド化合物ヒドラジン水和物が分離する段階は、前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液を遠心分離する段階を含み、
前記金属カルコゲナイド化合物のヒドラジン水和物溶液を遠心分離する段階は、BuOH又はアセトニトリルを添加する段階をさらに含むことを特徴とする、量子ドットの製造方法。 - 前記金属カルコゲナイド化合物は、Sn2S6、Sn2Se6、In2Se4、In2Te3、Ga2Se3、CuInSe2、Cu7S4、Hg3Se4、Sb2Te3又はZnTeを含むことを特徴とする、請求項20に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記量子ドットは、II−VI族半導体化合物、III−V族半導体化合物、IV−VI族半導体化合物又はIV族元素又は化合物を含むことを特徴とする、請求項20に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記第2有機溶液は、エタノールアミン、ジメチルスルホキシド(DMSO)、ジメチルホルムアミド(DMF)又はホルムアミドを含むことを特徴とする、請求項20に記載の量子ドットの製造方法。
- 前記第1有機溶液は、シクロヘキサン、ヘキサン、クロロホルム、トルエン、オクタン又はクロロベンゼンを含むことを特徴とする、請求項20に記載の量子ドットの製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110106637A KR101874413B1 (ko) | 2011-10-18 | 2011-10-18 | 무기 리간드를 갖는 양자점 및 그의 제조방법 |
KR10-2011-0106637 | 2011-10-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013089969A JP2013089969A (ja) | 2013-05-13 |
JP6084804B2 true JP6084804B2 (ja) | 2017-02-22 |
Family
ID=47022556
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012229160A Expired - Fee Related JP6084804B2 (ja) | 2011-10-18 | 2012-10-16 | 無機リガンドを有する量子ドット及びその製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9385194B2 (ja) |
EP (1) | EP2584608A3 (ja) |
JP (1) | JP6084804B2 (ja) |
KR (1) | KR101874413B1 (ja) |
CN (1) | CN103059868B (ja) |
Families Citing this family (50)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6007669B2 (ja) * | 2012-08-20 | 2016-10-12 | 東ソー株式会社 | 金属酸化物微粒子分散液及びこれを用いた透明導電膜 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7534488B2 (en) * | 2003-09-10 | 2009-05-19 | The Regents Of The University Of California | Graded core/shell semiconductor nanorods and nanorod barcodes |
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-
2011
- 2011-10-18 KR KR1020110106637A patent/KR101874413B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2012
- 2012-05-23 US US13/478,961 patent/US9385194B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-10-12 EP EP12188399.5A patent/EP2584608A3/en not_active Withdrawn
- 2012-10-16 JP JP2012229160A patent/JP6084804B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-10-18 CN CN201210397296.6A patent/CN103059868B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101874413B1 (ko) | 2018-07-05 |
KR20130042372A (ko) | 2013-04-26 |
JP2013089969A (ja) | 2013-05-13 |
CN103059868A (zh) | 2013-04-24 |
CN103059868B (zh) | 2016-04-13 |
EP2584608A2 (en) | 2013-04-24 |
US9385194B2 (en) | 2016-07-05 |
US20130092885A1 (en) | 2013-04-18 |
EP2584608A3 (en) | 2014-05-28 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |