JP6024413B2 - 測定装置 - Google Patents

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Description

本発明は、試験体で反射された超音波を観測することで試験体内の傷を検出する測定装置に関する。
一般的に、超音波探傷装置は、試験体に超音波を照射し、反射された超音波を超音波探触子で受信し、この反射波を解析することで試験体内の傷を検出する。超音波の照射と反射波の受信および解析とを行う検出処理は1回だけ行われるとは限らず、同じ照射位置で検出処理が繰り返される場合も、照射位置を変えて繰り返される場合もある。
このとき、超音波探傷装置は、傷からの反射波(傷エコー)だけでなく、試験体の表面および底面からの反射波(表面エコー、底面エコー)や試験体の内部で多重的に反射した残響エコー等のいわゆる不要エコーも受信するため、傷エコーが不要エコーに埋もれてしまい、測定装置が傷エコーを抽出できない場合がある。
この問題を回避する方法の一つとして、前回の検出処理の後に残響エコーのレベルが低減するまで待ってから次の検出処理を行う方法があるが、時間が掛かり傷エコーの測定効率が悪くなる。
二つめの方法として、搬送波を符号変調するものとし、検出処理ごとに符号系列を変化させる方法がある。所定の検出処理において、符号変調に用いた符号系列や符号復調された変調信号そのものを復調用レプリカとし、このレプリカによって受信信号を復調することで、当該検出処理に対応した復調信号のみを取り出すことができる。これにより、繰り返される検出処理の間隔を狭めても、別の検出処理で生じた残響エコー等から傷エコーを抽出することができ、一つめの方法の問題を解消することができる。また、符号系列により符号変調および復調を行うことでパルス圧縮処理を実現でき、受信SNR(信号対雑音比)を向上させることもできる。
なお、符号変調された信号を復調した場合、復調後の自己相関波形には、時間軸上でピーク位置の前後に広がるレンジサイドローブが発生する。特許文献1には、レンジサイドローブを抑制する方法が開示されている。
特公平7−85077
しかし、上述の通り受信信号には傷エコーと不要エコーとが混在しており、一般的に、不要エコーの受信強度の方が、傷エコー等の測定対象である所望エコーよりも大きく、それに伴い、復調後の不要エコーの自己相関レンジサイドローブも復調後の所望エコーより大きくなるため、復調信号から所望エコーを抽出することが難しい。
また、複数の符号系列を使用する場合、復調信号には、自己相関レンジサイドローブに加え、所定の符号系列とその他の符号系列との間の相互相関成分も発生し、この相互相関成分も所望エコーのピークよりも大きいために、所望エコーの抽出が困難になる。
本発明は、上述の課題を解決するものであり、送信信号を符号変調して超音波を照射する場合、不要エコーの自己相関レンジサイドローブが発生しても、所望エコーを適切に抽出する測定装置を得ることを目的とする。
本発明に係る測定装置は、送信信号を符号系列で変調することで変調信号を生成する符号変調部、変調信号に基づき超音波を発生させるための電気信号を生成する送信部、試験体からの反射波に対応する電気信号に基づき受信信号を生成する受信部、受信信号が所定の飽和閾値を超える場合は受信信号を飽和閾値に変更することで飽和処理信号を生成する飽和処理部、飽和処理信号を符号復調することで復調信号を生成する符号復調部、所定の検出閾値を用いて復調信号から所望エコーを検出する探傷処理部、を備える。
本発明によれば、超音波により試験体を測定する際に送信信号を符号変調して超音波を照射する場合、不要エコーの自己相関レンジサイドローブが発生しても、所望エコーを抽出する測定装置を得ることができる。
本発明の実施の形態1における測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態1で用いる符号変調部が変調処理に用いる一例であるOOK方式を説明する図である。 本発明の実施の形態1における飽和処理部による飽和処理を説明する図である。 本発明の実施の形態1における符号復調部による復調処理を説明する図である。 本発明の実施の形態2における測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態3における測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態3における飽和閾値変更処理を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態3における別の飽和閾値変更処理を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態3における飽和閾値選択処理を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態4における測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態5における測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態5における別の測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態5における別の測定装置の構成を示すブロック図である。 本発明の実施の形態5における別の測定装置の構成を示すブロック図である。
実施の形態1.
[全体構成]
図1は、本発明の実施の形態1における測定装置2の構成を示すブロック図である。図1に記載の測定装置2は、信号生成部3、符号変調部4、送信部5、受信部6、飽和処理部7、符号復調部8および探傷処理部9を備える。測定装置2の各構成の詳細は後述する。
また、図1において、超音波探触子10が測定装置2の送信部5および受信部6に接続している。この超音波探触子10は、送信部5から受信した電気信号を音響信号(すなわち超音波)に変換する振動子(図示せず)を内部に備えた探触子がアレー状に配置されたものであり、振動子により生成された超音波が超音波探触子10から照射される。また、この振動子は受信した超音波を電気信号に変換し、変換された電気信号が受信部6に出力される。
また、ここでは鉄鋼材の角材である角ビレットを試験体の一例とし、図1において、測定装置2に加え、角ビレット1の断面を記載する。図1において、点線1aは試験体1の表面1Aに照射されて反射する超音波の軌跡を示し、点線1bは試験体1の内部の傷1Bに到達して反射する超音波の軌跡を示し、点線1cは試験体1の底面1Cに到達して反射する超音波の軌跡を示す。
[送信処理]
次に、測定装置2による送信処理について説明する。
測定装置2を構成する信号生成部3は、正弦波やパルス波などの搬送波を送信信号として生成し、符号変調部4は、信号生成部3から取得した送信信号に対して符号系列の情報を付加するなどの符号変調を行って変調信号を生成する。
また、送信部5は、変調信号を符号変調部4から取得して、振動子を振動させて超音波を発生させるための電気信号を生成して超音波探触子10に出力する。
電気信号を受信した超音波探触子10は、この電気信号に基づき超音波を発生して角ビレット1に照射する。
特に、符号変調部4は、受信部6が生成する受信信号(変調信号)が飽和した場合にも符号系列の情報が保持される符号変調方式を使用して送信信号の変調を行う。
この符号変調方式の一例として、搬送波の有無を2値情報に対応させ、この2値情報を搬送波に付加するOOK(On−Off−Keying)方式が挙げられる。
図2はOOK方式を説明する図であり、搬送波を符号長4のOOKで変調する様子を示したものである。
図2(a)はパルス内OOK変調を示し、搬送波が一定値を示す信号や単一のパルスであって、当該信号またはパルスの有無を示す情報を搬送波に付加して符号変調を行う場合を示す。図2(b)はパルス間OOK変調を示し、搬送波が一定間隔で送信されるパルス列であって、当該パルスの有無を示す情報を搬送波に付加して符号変調を行う場合を示す。図2(a)および図2(b)のいずれの場合も実施の形態1に適用することができる。
なお、ここではパルスを用いて説明したが、これに限られず、例えば正弦波もOOK方式で使用される搬送波に適用される。
上述のOOK方式では搬送波の有無を示す情報で搬送波を変調するが、信号またはパルス等の異なる2状態(正負や位相が180度異なる状態など)に−1と1の2値を対応させた情報を搬送波に付加する方式を符号変調に用いても良い。
また、この実施の形態1で使用する符号変調方式の別の例として、時間軸上においてパルスの位置を変化させた情報を搬送波に付加して変調するPPM(Pulse Position Modification)方式もある。
[受信処理]
次に、測定装置2による受信処理について説明する。
角ビレット1に照射された超音波パルスは、角ビレット1の表面1A、探査対象である傷1B、または底面1C等の音響的不連続部で反射され、超音波探触子10で受信される。この反射波は、超音波探触子10内の振動子により電気信号に変換され、変換された電気信号が受信部6に入力される。
受信部6は、超音波探触子10から入力された電気信号を、前処理として増幅やアナログ−デジタル変換などを行ってデジタル受信信号を生成する。
飽和処理部7は、受信部6から取得した受信信号に対して、任意に設定された飽和閾値thrを用いて飽和処理を行って飽和処理信号を生成する。
図3は飽和処理部7による飽和処理を説明する図であり、図3(a)は飽和処理前の受信部6から取得した受信信号x(t)と飽和閾値thrとを示し、図3(b)は飽和処理後の飽和処理信号xcut(t)を示す。
なお、ここでは、OOK方式を用い、搬送波が符号長4のOOKで変調された変調信号を受信した場合を例として説明する。また、飽和処理の説明の簡便化のために、受信信号x(t)中に所望エコーと不要エコーとが1種類ずつ含まれているものとして説明する。図3において、所望エコーを点線で示し、不要エコーを実線で示し、飽和閾値thrを一点鎖線で示す。
飽和処理部7は、受信信号x(t)について、時間サンプルごとに、予め記憶しているか処理中に算出した飽和閾値thrと比較し、各受信信号x(t)が飽和閾値thrを超える場合には当該受信信号x(t)をthrに変更し、各受信信号x(t)が飽和閾値thrを超えなければ値を変更せずにそのままにすることで、受信信号x(t)から飽和処理信号xcut(t)を生成する。
つまり、thrが絶対値の場合、各受信信号x(t)は、+thrより大きい場合には+thrに変更され、−thrより小さい場合には−thrに変更され、−thr以上であって+thr以下である場合には値が変更されないことになる。なお、図3では受信信号x(t)と飽和閾値+thrとの比較について記載している。
このような飽和処理により、図3(b)に示すように、飽和閾値thr以下の飽和処理信号xcut(t)が生成される。
飽和閾値thrは、復調後の所望エコーのピークの最小値(想定値)が、復調後の不要エコーの自己相関レンジサイドローブの最大値よりも大きくなるように設定される。
具体的には、符号変調で用いられる符号系列の復調後のメインローブのピークと最大レンジサイドローブの比SLL(最大レンジサイドローブ/メインローブピーク)を用い、このSLLと復調前の所望エコーの最低強度xmin(想定値)とを用いた式(1)を満たすように飽和閾値thrを決定すれば良い。
Figure 0006024413
符号復調部8は、符号変調で用いた符号系列や符号変調された変調信号そのものをレプリカとして、飽和処理部7から取得した飽和処理信号とレプリカとの相関を取ることで飽和処理信号の復調処理を行い、復調信号を生成する。
図4は符号復調部8による飽和処理信号の復調処理を説明する図であり、図4(a)は、従来の測定装置の復調処理を説明するもので、受信信号xprior(t)をレプリカr(t)で復調して復調信号cprior(τ)を生成した場合を示し、図4(b)は、符号復調部8が飽和処理信号xcut(t)をレプリカr(t)で復調して復調信号c(τ)を生成した場合を示す。図3同様、所望エコーを点線で示し、不要エコーを実線で示す。
図4(a)において、従来の測定装置の場合には、受信信号xprior(t)内で所望エコーと不要エコーとが混在しており、不要エコーの方が所望エコーよりも大きい。そのため、復調後の復調信号cprior(τ)において、所望エコーのピークが不要エコーの自己相関レンジサイドローブよりも小さくなり、所望エコーが不要エコーに埋もれている。
これに対し、本発明に関する図4(b)においては、飽和処理信号xcut(t)は、飽和処理部7による飽和処理の結果、飽和閾値thrかまたはそれより小さい値になっているため、復調信号c(τ)については、所望エコーのピークが不要エコーのレンジサイドローブよりも大きくなる。
また、符号変調部4は、受信部6が生成する受信信号(変調信号)が飽和した場合にも符号系列の情報が保持される符号変調方式を使用して送信信号を変調している。従って、飽和処理部7の飽和処理によって受信信号x(t)の値の大きな部分が飽和閾値thrでカットされてthrに変更された場合でも、受信信号x(t)の強度は低減されるが、時間軸上での信号の有無は変化しないので、飽和処理後も符合系列の情報が保持され、符号復調後の波形の形状が変化しない。
探傷処理部9は、符号復調部8から取得した復調信号を解析して、傷エコーの検出や傷の深さの計測等の探傷処理を行う。
傷エコー等の所望エコーの検出は、復調信号を所望エコー検出用の検出閾値thrdetと比較し、検出閾値よりも大きな復調信号を所望エコーと判断するものであり、検出閾値thrdetは、復調信号c(τ)中の所望エコーピークより小さく、かつ復調信号c(τ)中の不要エコーの自己相関レンジサイドローブより大きくなるように設定される。具体的には、式(2)を満たすように設定される。
Figure 0006024413
式(2)において、Gpcは符号変調で使用する符号系列によるパルス圧縮利得であり、符号系列から算出できるものである。
探傷処理部9は、上述のように検出閾値thrdetを用いることで、不要エコーの自己相関レンジサイロドーブを所望エコーとして誤検出することなく、適切な所望エコーを検出することができる。また、検出した所望エコーのピークの時間軸上の位置から、角ビレット1内の傷1Bの深さも算出することができる。
上述の通り、実施の形態1によれば、受信信号x(t)について飽和閾値thrを用いた飽和処理を施すため、復調後の不要エコーの自己相関波形のレンジサイドローブを低減させ、所望エコーを容易に検出することができる。
また、受信信号が飽和した場合での符号系列の情報が保持される符号変調方式を用いて変調を行うため、飽和処理により受信信号の強度が低減するだけで、符号系列の情報が維持されたまま復調され、所望エコーを容易に検出することができる。
実施の形態2.
実施の形態1では1つの符号系列を用いて符号変調した場合について説明したが、実施の形態2では、複数の符号系列を使用した測定装置について説明する。
図5は実施の形態2における測定装置2−2の構成を示すブロック図である。実施の形態1における測定装置2と同様の構成については同一の符号を付し、以降、実施の形態1と同様の構成および処理については説明を省略し、主に実施の形態1と異なる構成および処理について説明する。
測定装置2−2は、N種類の異なる符号系列(符号番号n=1、2、3、・・・N)、さらにそれぞれの符号系列に対応した飽和閾値、復調のためのレプリカ、および検出閾値thrdetを使用する。
符号変調部4−2は、符号系列ごとに送信信号を符号変調して変調信号を生成し、送信部5は、変調信号ごとに電気信号を生成して超音波探触子10に出力する。
飽和処理部7−2は、それぞれの符号系列に対応する飽和閾値ごとに、受信部6から取得した受信信号に対して飽和処理を行って飽和処理信号を生成する。つまり、飽和処理部7−2は、N種類の符号系列に対応した複数の飽和処理信号を生成することになる。
符号系列nに対応する飽和閾値thrは、下記の式(3)および(4)を満たすように設定される。
Figure 0006024413
Figure 0006024413
式(3)および(4)において、SLLは、符号系列nの復調後のメインローブのピークと最大レンジサイドローブの比であり、Gpc、nは符号系列nによるパルス圧縮利得であり、Cm、nは、符号系列mで符号変調された受信信号を符号系列nで復調した際の利得を示す。
式(3)は、実施の形態1における式(1)と同様、復調後の所望エコーのピークの最小値(想定値)が、復調後の不要エコーの自己相関レンジサイドローブの最大値よりも大きくなるための条件である。
また、式(4)は、複数の符号系列を用いた符号変調を行う実施の形態2に特有の条件であり、復調後の所望エコーのピークの最小値が、符号変調で用いられた当該符号系列と他の符号系列との相互相関成分の最大値よりも大きくなるための条件である。
符号復調部8−2は、符号系列ごとに、当該符号系列に対応した飽和閾値で飽和処理された飽和処理信号と、当該符号系列に対応したレプリカとの相関を取ることで復調処理を行い、復調信号を生成する。つまり、符号復調部8−2は、N種類の符号系列に対応した複数の復調信号を生成することになる。
上述の通り、飽和処理部7−2において自己相関レンジサイドローブと相互相関成分とを考慮した飽和処理を行っているため、符号復調部8−2が生成したそれぞれの復調信号については、所望エコーのピークは、不要エコーの自己相関レンジサイドローブや複数の符号系列を使用するために生じる相互相関の成分よりも大きくなる。
探傷処理部9−2は、符号系列ごとに、当該符号系列に対応した復調信号と、当該符号系列に対応した検出閾値とを比較し、検出閾値よりも大きな復調信号を所望エコーと判断するものである。
符号系列nに対応する検出閾値thrdet、nは、復調信号c(τ)中の所望エコーピークより小さく、かつ復調信号c(τ)中の不要エコーの自己相関レンジサイドローブより大きく、かつ所定の符号系列と他の符号系列との相互相関成分の最大値より大きくなるように設定され、具体的には、下記の式(5)、(6)および(7)を満たすように設定される。
Figure 0006024413
Figure 0006024413
Figure 0006024413
探傷処理部9−2は、符号系列ごとに、上記式(5)、(6)および(7)に基づき検出閾値thrdet、nを決定することで、不要エコーの自己相関レンジサイロドーブや相互相関成分を所望エコーとして誤検出することなく、所望エコーを検出することができる。
上述の通り、実施の形態2によれば、複数の符号系列と、それぞれの符号系列に対応した飽和閾値、レプリカおよび検出閾値とを用いて探傷処理を行うので、傷エコーの検出精度を高めることができる。
なお、N種類の符号系列によって符号変調された変調信号は、時間軸上の異なるタイミングで送信されても良いし、同時に送信されても良い。
また、N種類の異なる符号系列、それぞれの符号系列に対応した飽和閾値thr、レプリカ、および検出閾値thrdet、nについては、関係する符号変調部4−2、飽和処理部7−2、符号復調部8−2および探傷処理部9−2のそれぞれに記憶させても良いし、記憶領域(図示せず)にまとめて記憶させておき、各処理部が参照するように構成しても良い。また、各処理部が処理を行う際に算出しても良い。
また、上記説明では、測定装置2−2が、N種類の異なる符号系列と、それぞれの符号系列に対応した飽和閾値thr、復調のためのレプリカ、および検出閾値thrdet、nとを備えた場合について説明したが、N種類の符号系列を用いる場合でも、符号系列ごとに求めた飽和閾値thrのうち、いくつかが同じ値になる可能性もある。このとき、同じ飽和閾値thrについては飽和処理をまとめて行って、N種類の符号系列に対して行う飽和処理がN回よりも少なくなっても良いし、同じ飽和閾値thrがあっても、N種類の符号系列のそれぞれに対応した飽和処理をN回行っても良い。
同様に、符号系列ごとに求めた検出閾値thrdet、nのうち、いくつかが同じ値になる可能性もある。このときも、同じ検出閾値thrdet、nについては探傷処理をまとめて行って、N種類の符号系列に対して行う探傷処理がN回よりも少なくなっても良いし、同じ検出閾値thrdet、nがあっても、N種類の符号系列のそれぞれに対応した探傷処理をN回行っても良い。
それぞれの符号系列に対応した飽和閾値や検出閾値を用いて飽和処理や探傷処理を行うのであれば、飽和処理や探傷処理の回数に関係なく実施の形態2の適用範囲に含まれる。
実施の形態3.
実施の形態1では、探傷処理部9が、符号復調部8が復調した復調信号に基づき所望エコーを検出する場合について説明したが、実施の形態3では、探傷処理部9の処理結果を飽和処理部7にフィードバックする測定装置について説明する。
図6は実施の形態3における測定装置2−3の構成を示すブロック図である。実施の形態1における測定装置2と同様の構成については同一の符号を付し、以降、実施の形態1と同様の構成および処理については説明を省略し、主に実施の形態1と異なる構成および処理について説明する。
図7は、実施の形態3における測定装置2−3の飽和閾値変更処理を示すフローチャートである。
測定装置2−3は、飽和閾値の初期値を予め設定しておき(ステップS31)、実施の形態1における測定装置2と同様に、飽和処理部7−3による飽和処理、符号処理部8による符号復調処理、および探傷処理部9−3による探傷処理が行われる(ステップS32)。探傷処理部9−3は、取得した所望エコーの飽和の有無を判断し(ステップS33)、所望エコーが飽和していると判断した場合には(ステップS33のYes)、
飽和処理部7−3が飽和閾値を変更し(ステップS34)、再度、飽和処理、符号復調処理、および探傷処理により所望エコーが取得され(ステップS32)、探傷処理部9−3が所望エコーの飽和の有無を判断する(ステップS33)。飽和閾値の変更と所望エコーの検出は、所望エコーが飽和していないと判断されるまで(ステップS33のNo)繰り返される。探傷処理部9−3が所望エコーが飽和していないと判断した場合には、このときの飽和閾値を最終的な飽和閾値とするとともに、検出した所望エコーを最終的な所望エコーと決定する(ステップS35)。
ここで、飽和閾値の初期値を小さな値に設定した上で(ステップS31)飽和閾値を段階的に大きくすることで(ステップS34)、飽和していない所望エコーを得ることができる。このとき、ステップS31で設定する飽和閾値の初期値thr’は、少なくとも実施の形態1における飽和閾値thrの設定条件と同様の条件を満たす必要があり、式(8)を満たすように設定される。
Figure 0006024413
また、探傷処理部9−3は、検出した所望エコー(ステップS32)が飽和しているか否かの判断(ステップS33)として、符号変調で使用する符号系列によるパルス圧縮利得Gpcと飽和閾値thr’との積Gpc・thr’を用いる。所望エコーの信号強度をGpc・thr’と比較し、所望エコーの信号強度がGpc・thr’以上であれば所望エコーが飽和していると判断し、Gpc・thr’より小さければ所望エコーが飽和していないと判断する。
探傷処理部9−3が所望エコーが飽和していると判断した場合には、探傷処理部9−3から飽和処理部7−3に対し、所望エコーが飽和していることを示す信号、または飽和閾値の再計算をさせるための信号が出力される。
飽和処理部7−3は、飽和閾値thr’をΔthr’だけ増加させて(ステップS33)飽和処理を再度行う。なお、飽和閾値を大きくし過ぎると、飽和処理を行っても受信信号の不要エコー部分の受信強度が低減されずに復調され、復調後の所望エコーが復調後の不要エコーに埋もれたままになってしまうが、式(9)を満たすように増加量Δthr’を設定すれば、段階的に増加して所望エコーが検出できるような適切な飽和閾値thr’を得ることができる。
Figure 0006024413
実施の形態1では、飽和閾値を用いて受信信号の飽和処理を行って受信強度を低減させることで、不要エコーの自己相関レンジサイドローブの影響も低減させたが、飽和処理によって受信信号中の所望エコーの受信強度も飽和させてしまい、その結果、復調後の所望エコーが本来の所望エコーの強度と異なってしまう可能性がある。
この実施の形態3では、検出した所望エコーの強度に基づき飽和閾値を変更するため、所望エコーの検出に加えて所望エコーの信号強度の測定も、より正確に行うことができる。
なお、図7に示す飽和閾値変更処理では、飽和閾値thr’の初期値を小さくしておき、所望エコーが飽和している場合には、所望エコーが飽和していない状態になるまで飽和閾値thr’を段階的に大きくするものであった。これとは反対に、飽和閾値thr’の初期値を大きくしておき、飽和閾値thr’を段階的に小さくするようにしても良い。
図8は、実施の形態3における測定装置2−3の別の飽和閾値変更処理を示すフローチャートである。
測定装置2−3は、飽和閾値の初期値を大きな値に予め設定しておき(ステップS31−2)、実施の形態1における測定装置2と同様に、飽和処理部7−3による飽和処理、符号処理部8による符号復調処理、および探傷処理部9−3による探傷処理が行われる(ステップS32)。探傷処理部9−3は、探傷処理の後に所望エコーの検出の有無を判断し(ステップS33−2)、所望エコーが検出されていないと判断した場合には(ステップS33−2のNo)、飽和処理部7−3が飽和閾値を変更して小さくし(ステップS34−2)、再度、飽和処理、符号復調処理および探傷処理を行い(ステップS32)、所望エコーの検出の有無を判断する(ステップS33−2)。飽和閾値の変更と所望エコーを検出するための処理(飽和処理、符号復調処理、および探傷処理)は、所望エコーが検出されていると判断されるまで(ステップS33−2のYes)繰り返される。探傷処理部9−3が所望エコーが検出されていると判断した場合には、このときの飽和閾値を最終的な飽和閾値とするとともに、検出した所望エコーを最終的な所望エコーと決定する(ステップS35)。
また、上記説明では、所望エコーの飽和あるいは検出の有無に応じて、1つの飽和閾値thr’を逐次的に変更する場合を例として説明したが、あらかじめ複数の飽和閾値を用意し、その中から適切な飽和閾値を選択しても良い。
図9は、実施の形態3における測定装置2−3による飽和閾値選択処理を示すフローチャートである。
図9において、測定装置2−3は、複数の飽和閾値を予め設定しておき(ステップS31−3)、それぞれの飽和閾値に関して、飽和処理部7−3による飽和処理、符号復調部8−3による復調処理、探傷処理部9−3による探傷処理を行って所望エコーを検出する(ステップS32−3)。探傷処理部9−3は、複数の所望エコーの中から飽和していないものを抽出し(ステップS37)、飽和していない所望エコーに関係する飽和閾値を最終的な飽和閾値として選択し(ステップS38)、最終的な飽和閾値を用いて、飽和処理、符号復調処理および探傷処理をして得られた所望エコーを最終的な所望エコーとする(ステップS35)。
なお、飽和していない所望エコーが複数ある場合には、複数の飽和閾値から最終的な飽和閾値を任意に選択しても良いが、例えば、飽和閾値の一番小さなものを選択すれば、図7で説明したように飽和閾値を段階的に増加させて飽和閾値を決定した場合や、図8で説明したように飽和閾値を段階的に減少させて飽和閾値を決定した場合と同様の結果を得ることができる。
実施の形態4.
実施の形態4では、実施の形態2と同様に複数の符号系列を使用し、さらに実施の形態3と同様に探傷処理部の処理結果を飽和処理部にフィードバックする測定装置について説明する。
図10は、実施の形態4における測定装置2−4の構成を示すブロック図である。実施の形態1−3における測定装置2、2−2、2−3と同様の構成については同一の符号を付し、以降、実施の形態1−3と同様の構成および処理については説明を省略し、主に実施の形態1−3と異なる構成および処理について説明する。
測定装置2−4は、実施の形態2における測定装置2−2と同様、N種類の異なる符号系列(符号番号n=1、2、3、・・・N)を備え、符号変調部4−2が符号系列ごとに送信信号を符号変調して変調信号を生成し、送信部5が変調信号ごとに電気信号を生成して超音波探触子10に出力する。
また、飽和処理部7−4、符号復調部8−2および探傷処理部9−4も、実施の形態2における飽和処理部7−2、符号復調部8−2および探傷処理部9−2と同様、それぞれの符号系列に対応した所望エコーを検出する。すなわち、飽和処理部7−4は、それぞれの符号系列に対応して飽和処理を行って飽和処理信号を生成し、符号復調部8−2は、符号系列に対応して生成した飽和処理信号と当該符号系列に対応したレプリカとに基づき復調信号を生成し、探傷処理部9−4は、符号系列ごとに生成された復調信号について、当該符号系列に対応する検出閾値を用いて所望エコーを検出する。
さらに実施の形態3における測定装置2−3のように、探傷処理部9−4は、符号系列ごとに検出した所望エコーについて飽和の有無を判断し、所望エコーの飽和の有無に関する情報または飽和閾値の再計算をさせる信号を飽和処理部7−4に出力する。飽和処理部7−4は、探傷処理部9−4からの入力に応じて当該符号系列に対応する飽和閾値を変更する。
ここで、実施の形態3における図7を用いて説明した飽和閾値変更処理を適用する場合は、所定の符号系列に対応する飽和閾値thr’の初期値を小さい値に設定しておき、当該符号系列に対応して検出した所望エコーが飽和している場合には、当該所望エコーが飽和していない状態になるまで当該飽和閾値thr’を段階的に大きくすれば良い。符号系列がN種類ある場合には、符号系列ごとに上記の処理を行う。
このとき、符号系列nに対応する飽和閾値の初期値thr’は、少なくとも実施の形態2における飽和閾値thrの設定条件と同様の条件を満たす必要があり、式(10)および(11)を満たすように設定される。
Figure 0006024413
Figure 0006024413
また、探傷処理部9−4は、符号系列ごとに検出した所望エコーの飽和の有無の判断について、実施の形態3と同様に、符号系列nによるパルス圧縮利得Gpc、nと、飽和閾値thr’とを用いる。すなわち、符号系列nに対応して検出した所望エコーの信号強度がGpc、n・thr’以上であれば所望エコーが飽和していると判断し、Gpc、n・thr’より小さければ所望エコーが飽和していないと判断する。
また、飽和処理部7−4が、符号系列nに対応する飽和閾値thr’をΔthr’だけ増加させて飽和処理を再度行う場合、実施の形態3と同様に、式(12)を満たすように増加量Δthr’を設定すれば、飽和閾値thr’を増加させ過ぎて復調後の所望エコーが復調後の不要エコーに埋もれさせてしまうことを回避でき、段階的に増加して所望エコーが検出できるような適切な飽和閾値飽和閾値thr’を得ることができる。
Figure 0006024413
また、実施の形態3における図8を用いて説明した飽和閾値変更処理を適用する場合は、所定の符号系列に対応する飽和閾値thr’の初期値を大きい値に設定しておき、当該符号系列ごとに飽和処理、符号復調処理および探傷処理を行い、所望エコーが検出されていない場合には、所望エコーが検出されるまで当該飽和閾値thr’を段階的に小さくし、所望エコーが検出されていると判断したときの飽和閾値thr’を当該符合系列に対応する最終的な飽和閾値とし、このときに検出した所望エコーを最終的な所望エコーとすれば良い。符号系列がN種類ある場合には、符号系列ごとに上記の処理を行う。
また、実施の形態3における図9を用いて説明した飽和閾値選択処理を適用する場合は、所定の符号系列に対応する飽和閾値thr’を予め複数設定しておき、当該符号系列に対応した受信信号について、これら複数の飽和閾値を用いて飽和処理信号を生成するとともに、符号復調部8−2により復調して探傷処理部9−4により所望エコーを検出し、探傷処理部9−4は、当該符号系列に対応した複数の所望エコーの中から飽和していないものを選択し、飽和していない所望エコーに関係する飽和閾値を、当該符号系列に対応する最終的な飽和閾値とすれば良い。
上述の通り、実施の形態4によれば、複数の符号系列と、それぞれの符号系列に対応した飽和閾値、レプリカおよび検出閾値を用いてそれぞれの所望エコーを検出するとともに、符号系列ごとに所望エコーの飽和の有無に応じて飽和閾値を変更するので、所望エコーの検出をより正確に実現することができる。
実施の形態5.
実施の形態1−4では、超音波探触子10が測定装置2、2−2、2−3、2−4の送信部5および受信部6の両方に接続して、超音波を出力するとともに反射波を受信している場合について説明したが、実施の形態5では、超音波送信用の超音波探触子と超音波受信用の超音波探触子とが個別に接続された場合について説明する。
図11は実施の形態5における測定装置2−5−1の構成を示すブロック図であり、図12は実施の形態5における別の測定装置2−5−2の構成を示すブロック図であり、図13は実施の形態5における別の測定装置2−5−3の構成を示すブロック図である。図14は実施の形態5における別の測定装置2−5−4の構成を示すブロック図である。
実施の形態1−4における測定装置2、2−2、2−3、2−4と同様の構成については同一の符号を付し、以降、実施の形態1−4と同様の構成および処理については説明を省略し、主に実施の形態1−4と異なる構成および処理について説明する。
図11、12、13、14に記載の測定装置2−5−1、2−5−2、2−5−3、2−5−4は、いずれも、超音波送信用の超音波探触子10Aを送信部5に接続させ、超音波受信器10Bを受信部6に接続させたものである。
いずれの測定装置2−5−1、2−5−2、2−5−3、2−5−4においても、送信部5は、被変調信号に基づき、振動子を振動させて超音波を発生させるための電気信号を生成し、送信用超音波探触子10Aに出力する。送信用超音波探触子10Aは、受信した電気信号に応じて超音波を送信する。
また、受信用超音波探触子10Bは、角ビレット1からの反射波を受信して超音波を電気信号に変換して受信部6に出力し、受信部6は、超音波探触子10から入力された電気信号に基づき前処理を行ってデジタル受信信号を生成する。
図11、12、13、14においては、送信用超音波探触子10Aおよび受信用超音波探触子10Bのそれぞれを、角ビレット1の隣り合う2面に配置した場合について記載したが、任意に配置しても良く、例えば、角ビレット1の向かい合う2面に配置したり、角ビレット1の同一の面において距離を離して配置しても良い。
以上のように、実施の形態5によれば、超音波探触子を送信用と受信用とに分離したので、角ビレット1の任意の箇所に配置でき、試験体の形状や反射波の方向を考慮しながら、超音波の送信位置と受信位置とを決定することができる。
ところで、上述の実施の形態1−5では、超音波探触子10、10A、10Bとして複数の探触子を並べたアレー探触子を用いて説明したが、探触子の数は限られず、単一の探触子で超音波探触子を構成しても良いし、送信用超音波探触子10Aと受信用超音波探触子10Bとで構成する探触子の数を変えても良い。
また、試験体の一例として角ビレット1を用いて説明したが、本発明に係る測定装置の測定対象は角ビレットに限らず、丸棒や平板等、超音波による探傷の対象となるものに対して広く適用が可能である。
また、各図において、超音波探触子10、10A、10Bと角ビレット1と間の空間には特に何も配置されていないが、水や油などのインピーダンス整合用の接触媒質があっても良いし、探触子を試験体に接触させても良い。
また、上述では、超音波による試験体の内部の傷を検出する超音波探傷装置について説明したが、超音波診断装置や空中超音波センサなども、反射波の解析により所望エコーを検出する点で同じであり、本発明を適用することで、復調後の不要エコーの自己相関レンジサイドローブの抑圧効果を得ることができ、検出対象を適切に検出することができる。
さらに、上述では、使用する波動が超音波である場合について説明したが、それ以外の波動である電磁波を用いるレーダ等のシステムについても、本発明を適用することができる。
1 角ビレット、2 測定装置、3 信号生成部、4符合変調部、5 送信部、6 受信部、7 飽和処理部、8 符合復調部、9 探傷処理部、10 超音波探傷子、

Claims (15)

  1. 試験体を超音波で検査する測定装置であって、
    送信信号を符号系列で変調することで変調信号を生成する符号変調部、
    前記変調信号に基づき超音波を発生させるための電気信号を生成する送信部、
    前記試験体からの反射波に対応する電気信号に基づき受信信号を生成する受信部、
    前記受信信号が所定の飽和閾値を超える場合は前記受信信号を前記飽和閾値に変更することで飽和処理信号を生成する飽和処理部、
    前記飽和処理信号を符号復調することで復調信号を生成する符号復調部、
    所定の検出閾値を用いて前記復調信号から所望エコーを検出する探傷処理部、
    を備えた測定装置。
  2. 複数の符号系列、ならびに前記符号系列のそれぞれに対応する飽和閾値、復調のためのレプリカおよび検出閾値を備え、
    前記符号変調部は、前記送信信号を複数の前記符号系列により符号変調し、
    前記飽和処理部は、前記符号系列ごとに、前記受信信号が前記符号系列に対応する前記飽和閾値を越える場合は前記受信信号を当該飽和閾値に変更することで飽和処理信号を生成し、
    前記符号復調部は、前記符号系列ごとに、前記飽和処理信号を前記符号系列に対応する前記レプリカにより符号復調することで復調信号を生成し、
    前記探傷処理部は、前記符号系列ごとに、前記符号系列に対応する前記検出閾値を用いて前記復調信号から所望エコーを検出する
    ことを特徴とする請求項に記載の測定装置。
  3. 前記飽和閾値は、復調後の前記所望エコーのピークの最小値が復調後の不要エコーの自己相関レンジサイドローブの最大値よりも大きくなるように設定される
    ことを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
  4. 前記飽和閾値のそれぞれは、復調後の前記所望エコーのピークの最小値が復調後の不要エコーの自己相関レンジサイドローブの最大値よりも大きく、かつ当該飽和閾値に対応するレプリカにより符号復調された前記復調信号と他のレプリカとの相互相関成分よりも大きくなるように設定される
    ことを特徴とする請求項2に記載の測定装置。
  5. 前記検出閾値は、復調後の前記所望エコーのピークの最小値より小さく、復調後の不要エコーの自己相関レンジサイドローブの最大値よりも大きい
    ことを特徴とする請求項1または3のいずれかに記載の測定装置。
  6. 前記検出閾値のそれぞれは、復調後の前記所望エコーのピークの最小値より小さく、復調後の不要エコーの自己相関レンジサイドローブの最大値よりも大きく、かつ当該検出閾値に対応するレプリカにより符号復調された前記復調信号と他のレプリカとの相互相関成分よりも大きくなるように設定される
    ことを特徴とする請求項2または4のいずれかに記載の測定装置。
  7. 前記探傷処理部が前記所望エコーが飽和しているか否かを判断し、
    前記所望エコーが飽和している場合には、
    前記探傷処理部が前記所望エコーが飽和していないと判断するまで、前記飽和処理部が前記飽和閾値を大きくして前記飽和処理信号を生成し、前記符号復調部が前記復調信号を生成し、前記探傷処理部が前記所望エコーを検出する処理を繰り返す
    ことを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の測定装置。
  8. 前記探傷処理部が前記所望エコーが検出されているか否かを判断し、
    前記所望エコーが検出されていない場合には、
    前記探傷処理部が前記所望エコーが検出されていると判断するまで、前記飽和処理部が前記飽和閾値を小さくして前記飽和処理信号を生成し、前記符号復調部が前記復調信号を生成し、前記探傷処理部が前記所望エコーを検出する処理を繰り返す
    ことを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の測定装置。
  9. 前記受信信号に対し、飽和処理信号を生成するために使用する複数の飽和閾値を備え、
    前記飽和処理部は、前記受信信号について前記飽和閾値ごとに飽和処理信号を生成し、
    前記探傷処理部は、前記飽和処理信号ごとに、当該飽和処理信号に基づき生成された復調信号から飽和していない所望エコーを検出する
    ことを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の測定装置。
  10. 前記符号変調部は、前記変調信号が飽和した場合にも符号の情報が保持される符号変調方式を用いて前記送信信号を符号変調する
    ことを特徴とする請求項1から9のいずれか1項に記載の測定装置。
  11. 符号の情報が保持される前記符号変調方式はOOK方式である
    ことを特徴とする請求項10に記載の測定装置。
  12. 符号の情報が保持される前記符号変調方式は振幅の正負に2値情報を割り当てる方式である
    ことを特徴とする請求項10に記載の測定装置。
  13. 符号の情報が保持される前記符号変調方式はPPM方式である
    ことを特徴とする請求項10に記載の測定装置。
  14. 前記送信部および前記受信部には、前記送信部が生成した前記電気信号を超音波に変換して出力するとともに受信した超音波を電気信号に変換して前記受信部に出力する探触子が接続される
    ことを特徴とする請求項1から13のいずれか1項に記載の測定装置。
  15. 前記送信部には、前記送信部が生成した前記電気信号を超音波に変換して出力する探触子が接続され、
    前記受信部には、受信した超音波を電気信号に変換して前記受信部に出力する探触子が接続される
    ことを特徴とする請求項1から13のいずれか1項に記載の測定装置。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7171161B2 (ja) * 2017-03-17 2022-11-15 住友電工ウインテック株式会社 銅線材の製造方法
CN109283541B (zh) * 2017-07-21 2023-10-13 比亚迪股份有限公司 车载激光雷达测距装置、方法以及汽车
JP7235645B2 (ja) * 2019-11-29 2023-03-08 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 超音波検査方法及び超音波検査装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3380038B2 (ja) * 1994-06-13 2003-02-24 積水化学工業株式会社 超音波皮脂厚測定装置
JPH10311822A (ja) * 1997-05-12 1998-11-24 Toshiba Corp 超音波探傷装置
JP2000009702A (ja) * 1998-06-24 2000-01-14 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 超音波探傷装置
JP4336009B2 (ja) * 1999-12-07 2009-09-30 古河電気工業株式会社 スペクトラム拡散変復調方法及びその装置
JP2002152802A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Oki Electric Ind Co Ltd Cdmaシステムの基地局およびその基地局の初期同期捕捉方法
JP2003190161A (ja) * 2001-12-19 2003-07-08 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc 超音波スキャン方法および超音波診断装置
JP2004113693A (ja) * 2002-09-30 2004-04-15 Fuji Photo Film Co Ltd 超音波撮像装置及び超音波撮像方法
JP2006275658A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Tdk Corp パルス波レーダー装置
JP5087909B2 (ja) * 2006-11-17 2012-12-05 富士通株式会社 無線測位システムおよび無線測位方法
JP2011013183A (ja) * 2009-07-06 2011-01-20 Furuno Electric Co Ltd 物標探知装置および物標探知方法
JP5965579B2 (ja) * 2010-12-03 2016-08-10 古野電気株式会社 探知装置、探知方法、および探知プログラム
JP5342619B2 (ja) * 2011-08-30 2013-11-13 三菱重工業株式会社 超音波探傷データを処理するためのプログラム、処理装置及び処理方法

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