JP6003281B2 - 製品に対する品質評価システム及び品質評価方法 - Google Patents

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Description

本発明は、製品の品質を評価する為の品質評価システム及び品質評価方法に関する。
従来よりソフトウェアかハードウェアかに関わらず製造された製品については、一定基準以上の品質を持たせる為に、出荷前において生産者側において製品の不具合を発見及び修正する為の検査(以下、品質検査という)を行っている。具体的には、製品に対する検査項目を複数項目設定し、設定された複数の検査項目に沿って製品の検査を実行し、不具合が発見された場合には発見された不具合を修正するものである。
ここで、上記製品の品質検査を行う場合においては、品質検査をどの程度の項目及び期間において行うかを判断することが難しかった。即ち、品質検査をより広い項目に対して長い時間をかけて行えば、製品の品質は向上させることができるが、製品の出荷時期に遅延が生じ、コストも上昇する。一方、品質検査を狭い項目に対して短い時間のみ行えば、消費者が購入した製品において不具合が生じ易くなり、製品の品質が低下することとなる。
そこで、品質検査をどの程度の項目及び期間において行うかを判断する材料として、品質検査と並行して製品の品質が現時点でどの程度のレベルにあるかを評価すること(以下、品質評価という)が行われていた。即ち、出荷に適当な品質基準を満たす品質評価を得られた時点で品質検査を終了すれば、品質検査を必要以上に行うことなく製品の品質の低下についても防止できる。
そして、従来では関数式等を用いることによって事前に品質検査で発見される不具合の数をある程度予測し、実際に発見された不具合の数と予測値との差によって製品の品質評価をすることが行われている。例えば特開2005−267489号公報には、ソフトウェアのデバッグの単位工数を横軸、検出したバグの数を縦軸にしたバグ曲線を作成し、更にバグ曲線から算出したゴンペルツ曲線に基づいて、単位工数当たりに検出されるべきバグ数の理論値を算出し、実際に検出されたバグ数とバグ数の理論値との差分のばらつきに基づいて品質評価をする技術について提案されている。
特開2005−267489号公報(第3頁〜第4頁、図3、図6)
しかしながら、上記特許文献1に記載の技術では、実際に発見された不具合の数が予測値と大きく異なる場合があり、その場合には製品の品質を正しく評価できなかった。また、品質評価をする為に複雑な計算や多数の工程が必要となり、制御部の処理負担が増加するとともに評価結果を特定するまでに長い時間が必要となっていた。
本発明は前記従来における問題点を解消するためになされたものであり、品質検査を行った検査項目の累積数と該品質検査において発見された不具合の累積数とを示す推移線が描かれた座標系を用いることによって、座標系上で容易且つ正確に製品の品質評価を行うことを可能にした品質評価システム及び品質評価方法を提供することを目的とする。
前記目的を達成するため本願の請求項1に係る品質評価システム(1)は、製品(2)の品質を評価する品質評価システムにおいて、前記製品に対する検査項目を複数項目設定する検査項目設定手段(11)と、前記製品に対して、前記検査項目設定手段により設定された複数の前記検査項目に沿って実行された品質検査の結果を前記検査項目毎に取得する品質検査結果取得手段(11)と、前記品質検査によって検査した前記検査項目の累積数である検査項目累積数と、前記品質検査によって発見された不具合の累積数である不具合累積数とをそれぞれカウントするカウント手段(11)と、前記カウント手段によりカウントされた前記検査項目累積数と前記不具合累積数の推移を、前記検査項目累積数と前記不具合累積数を軸とした座標系に示し、前記推移の起点と終点を結んだ推移線を描く推移線描画手段(11)と、前記製品に対する品質基準を設定する品質基準設定手段(11)と、前記品質基準設定手段により設定された前記品質基準に基づいて、出荷に適当な品質を満たす範囲を前記座標系上で特定する第1エリアと、出荷に不適な品質を満たす範囲を前記座標系上で特定する第2エリアと、前記第1エリア及び前記第2エリアのいずれにも含まれず、前記出荷に不適な品質を満たす範囲でなく前記出荷に適当な品質を満たす範囲でもない第3エリアとを前記座標系にそれぞれ設定するエリア設定手段(11)と、前記座標系における前記推移線と前記第1エリアと前記第2エリアと前記第3エリアの位置関係に基づいて、前記製品の品質検査の継続又は終了を判定する終了判定手段(11)と、前記終了判定手段の判定結果を案内する判定結果案内手段(11)と、を有することを特徴とする。
また、請求項2に係る品質評価システム(1)は、請求項1に記載の品質評価システムにおいて、前記エリア設定手段は、前記第1エリアと前記第3エリアの境界である第1境界線及び前記第2エリアと前記第3エリアの境界である第2境界線を、生産者が許容できる製品に不具合が含まれる確率と生産者が許容できない製品に不具合が含まれる確率とに基づいて設定することを特徴とする。
また、請求項3に係る品質評価システム(1)は、請求項1又は請求項2に記載の品質評価システムにおいて、前記推移線が前記第1境界線を越えて前記第3エリアから前記第1エリアへと進入し、前記推移の終点である前記推移線の終端が前記第1エリアに存在する場合に、更に規定数の前記評価項目に沿って実行された品質検査である最終品質検査の結果を取得する最終品質検査結果取得手段(11)を有し、前記終了判定手段は、前記最終品質検査によって不具合が発見されなかった場合に、前記製品(2)の品質検査を終了すると判定し、前記最終品質検査によって不具合が発見された場合に、前記製品の品質検査を継続すると判定することを特徴とする。
また、請求項4に係る品質評価システム(1)は、請求項3に記載の品質評価システムにおいて、前記最終品質検査によって不具合が発見された場合に、前記品質基準設定手段により設定された前記製品に対する品質基準を、より厳しい基準へと変更する第1基準変更手段(11)と、前記第1基準変更手段により変更された後の前記品質基準に基づいて、前記第1エリア、前記第2エリア及び前記第3エリアを再設定する第1エリア再設定手段(11)と、を有することを特徴とする。
また、請求項5に係る品質評価システム(1)は、請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の品質評価システムにおいて、前記終了判定手段(11)は、前記推移線の終端が前記第3エリアにある場合に、前記製品(2)の品質検査を継続すると判定することを特徴とする。
また、請求項6に係る品質評価システム(1)は、請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の品質評価システムにおいて、前記推移線が前記第2境界線を越えて前記第3エリアから前記第2エリアへと進入し、前記推移の終点である前記推移線の終端が前記第2エリアに存在する場合に、前記品質基準設定手段(11)により設定された前記製品に対する品質基準を、より厳しい基準へと変更する第2基準変更手段(11)と、前記第2基準変更手段により変更された後の前記品質基準に基づいて、前記第1エリア、前記第2エリア及び前記第3エリアを再設定する第2エリア再設定手段(11)と、を有することを特徴とする。
また、請求項7に係る品質評価システム(1)は、請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の品質評価システムにおいて、前記終了判定手段(11)は、互いに関連する複数の前記検査項目に沿った前記品質検査が終了する度に、前記製品の品質検査の継続又は終了を判定することを特徴とする。
更に、請求項8に係る品質評価方法は、製品(2)の品質を評価する品質評価方法において、前記製品に対する検査項目を複数項目設定する検査項目設定ステップと、前記製品に対して、前記検査項目設定ステップにより設定された複数の前記検査項目に沿って実行された品質検査の結果を前記検査項目毎に取得する品質検査結果取得ステップと、前記品質検査によって検査した前記検査項目の累積数である検査項目累積数と、前記品質検査によって発見された不具合の累積数である不具合累積数とをそれぞれカウントするカウントステップと、前記カウントステップによりカウントされた前記検査項目累積数と前記不具合累積数の推移を、前記検査項目累積数と前記不具合累積数を軸とした座標系に示し、前記推移の起点と終点を結んだ推移線を描く推移線描画ステップと、前記製品に対する品質基準を設定する品質基準設定ステップと、前記品質基準設定ステップにより設定された前記品質基準に基づいて、出荷に適当な品質を満たす範囲を前記座標系上で特定する第1エリアと、出荷に不適な品質を満たす範囲を前記座標系上で特定する第2エリアと、前記第1エリア及び前記第2エリアのいずれにも含まれず、前記出荷に不適な品質を満たす範囲でなく前記出荷に適当な品質を満たす範囲でもない第3エリアとを前記座標系にそれぞれ設定するエリア設定ステップと、前記座標系における前記推移線と前記第1エリアと前記第2エリアと前記第3エリアの位置関係に基づいて、前記製品の品質検査の継続又は終了を判定する終了判定ステップと、前記終了判定ステップの判定結果を案内する判定結果案内ステップと、を有することを特徴とする。
前記構成を有する請求項1に係る品質評価システムでは、品質検査を行った検査項目の累積数と該品質検査において発見された不具合の累積数とを示す推移線が描かれた座標系を用いることによって、座標系上で容易且つ正確に製品の品質評価を行うことが可能となる。そして、品質評価の評価結果を用いることによって、製品の品質検査を必要以上に継続して行うことなく、製品の品質検査を適切な項目及び期間において行うことが可能となる。
また、請求項2に係る品質評価システムでは、製品の品質評価を行う際に基準となる第1境界線及び第2境界線を、生産者と消費者の両者を考慮して座標系上において適切に設定することが可能となる。
また、請求項3に係る品質評価システムでは、出荷に適当な品質を満たす品質評価を一旦得た後に、品質検査を継続して行っても不具合が発見されないことを確認するための最終品質検査を行い、最終品質検査で不具合が発見されなかった場合に製品の品質検査を終了するので、製品が品質基準を満たしたか否かをより正確に判定することが可能となる。
また、請求項4に係る品質評価システムでは、最終品質検査で不具合が発見された場合に、製品の品質基準をより厳しい基準へと変更するので、予測できない不具合が新たに発見された場合であっても、新たに設定した品質基準に基づいて、その後に出荷に適当な品質基準を製品が満たしたか否かを正確に判定することが可能となる。
また、請求項5に係る品質評価システムでは、製品の品質を判定できない状態において製品の品質検査を継続することによって、誤った製品の品質評価が行われることを防止することが可能となる。
また、請求項6に係る品質評価システムでは、出荷に不適な品質を満たす品質評価を得た後に、製品の品質基準をより厳しい基準へと変更するので、不具合が多数発見された場合であっても、新たに設定した品質基準に基づいて、その後に出荷に適当な品質基準を製品が満たしたか否かを正確に判定することが可能となる。
また、請求項7に係る品質評価システムでは、互いに関連する複数の検査項目に沿った品質検査が終了する度に、製品の品質検査の継続又は終了を判定するので、一連の品質検査の作業工程の間にある適切なタイミングで品質検査の継続又は終了を判定することが可能となる。その結果、品質検査の作業工程を効率化することが可能となる。
更に、請求項8に係る品質評価方法では、品質検査を行った検査項目の累積数と該品質検査において発見された不具合の累積数とを示す推移線が描かれた座標系を用いることによって、座標系上で容易且つ正確に製品の品質評価を行うことが可能となる。そして、品質評価の評価結果を用いることによって、製品の品質検査を必要以上に継続して行うことなく、製品の品質検査を適切な項目及び期間において行うことが可能となる。
本実施形態に係る品質評価システムを示した概略構成図である。 本実施形態に係る品質評価システムの構成を示したブロック図である。 検査情報DBに記憶される検査結果情報の一例を示した図である。 検査情報DBに記憶される検査統計情報の一例を示した図である。 本実施形態に係る品質評価プログラムのフローチャートである 品質基準設定処理のサブ処理プログラムのフローチャートである。 製品の品質基準を設定する為に必要な各種パラメータを示した図である。 評価座標系上に設定された第1境界線及び第2境界線、第1エリア〜第3エリアの例を示した図である。 評価座標系上に再設定された第1境界線及び第2境界線、第1エリア〜第3エリアの例を示した図である。 品質検査結果取得処理のサブ処理プログラムのフローチャートである。 データ分析処理のサブ処理プログラムのフローチャートである。 描画された推移線の終端が評価座標系に設定されている第1エリアにあって、且つ前回の描画時においても推移線の終端が第1エリアにあると判定される例について示した図である。 描画された推移線の終端が評価座標系に設定されている第1エリアにあって、且つ前回の描画時においては推移線の終端が第1エリアにないと判定される例について示した図である。 描画された推移線の終端が評価座標系に設定されている第2エリアにあると判定される例について示した図である。 描画された推移線の終端が評価座標系に設定されている第3エリアにあると判定される例について示した図である。 判定結果出力処理のサブ処理プログラムのフローチャートである。
以下、本発明に係る品質評価システムについて具体化した一実施形態に基づき図面を参照しつつ詳細に説明する。先ず、本実施形態に係る品質評価システム1の概略構成について図1及び図2を用いて説明する。図1は本実施形態に係る品質評価システム1を示した概略構成図である。図2は本実施形態に係る品質評価システム1の構成を示したブロック図である。
図1に示すように、本実施形態に係る品質評価システム1は、品質検査及び品質評価を行う対象となる製品2と、製品2に対して行われた品質検査の結果を取得するとともに取得した品質検査の結果から製品2の品質評価を行う品質評価装置3と、から基本的に構成されている。
尚、品質検査は、出荷前において生産者側において製品2の不具合を発見及び修正する為の検査であり、予め設定された複数の検査項目毎に製品2において不具合が生じるか否かが確認される。また、品質評価は、品質検査をどの程度の項目及び期間において行うかを判断する材料となる評価であり、品質検査と並行して製品の品質が現時点でどの程度のレベルにあるか(より具体的には、製品2が出荷する為に満たすべき目標となる品質基準(以下、単に品質基準という)を満たしたか否か)を特定する。
ここで、製品2は、製造された後であって市場に出荷される前の製品であり、ソフトウェアであってもハードウェアであっても良い。また、完成状態にある製品のみに限られず、仕掛品や半製品であっても良い。
また、品質評価装置3は、キーボード等の操作手段やディスプレイを備え、製品2を生産した生産者4の操作によって各種情報の入力や出力が可能に構成されている。そして、品質評価装置3は、製品2に対して実行された品質検査の結果を累積して記憶するとともに、記憶された品質検査の結果に基づいて、後述のように製品2の品質評価を行う装置である。尚、品質評価では、製品2が品質基準を満たしたか否かが判定され、品質基準を満たしていないと判定された場合には品質検査を継続し、品質基準を満たしたと判定された場合には品質検査を終了するように構成する。
従って、先ず生産者4は、製品2に対する品質検査を行いつつ、その品質検査の結果を品質評価装置3に入力する。そして、一連の品質検査が終了する度に、品質評価装置3から製品2の品質評価の評価結果を取得し、品質基準を満たしていない(即ち品質検査を継続する)判定結果であった場合には、新たな検査項目を設定して製品2に対する品質検査を継続して実行する。一方、品質基準を満たす(即ち品質検査を終了する)判定結果であった場合には、製品2に対する品質検査を終了する。その結果、品質検査を必要以上に行うことなく製品の品質の低下についても防止できる。
また、生産者4を介さずに品質検査の結果を品質評価装置3に入力する構成としても良い。その場合には、製品2と品質評価装置3とを双方向通信可能に接続する。また、製品2に対する品質検査の実行主体を生産者4ではなく品質評価装置3としても良い。更に、品質評価装置3が主体として品質検査を実行する構成では、品質評価装置3が品質検査を終了すると判定した場合に、生産者4を介さずに製品2に対する品質検査を終了することも可能となる。
続いて、品質評価システム1を構成する品質評価装置3の構成について図2を用いてより詳細に説明する。品質評価装置3は、図2に示すように評価管理ECU11と、評価管理ECU11に接続された情報記録手段としての検査情報DB12と、タッチパネルやキーボード等から構成される入力操作部13と、液晶表示パネル等で構成されたディスプレイ14とを備える。
評価管理ECU(エレクトロニック・コントロール・ユニット)11は、品質評価装置3の全体の制御を行う電子制御ユニットであり、演算装置及び制御装置としてのCPU21、並びにCPU21が各種の演算処理を行うにあたってワーキングメモリとして使用されるRAM22、制御用のプログラムのほか、後述の品質評価プログラム(図5参照)等が記録されたROM23、ROM23から読み出したプログラムを記憶するフラッシュメモリ24等の内部記憶装置を備えている。尚、評価管理ECU11は、処理アルゴリズムとしての各種手段を構成する。例えば、検査項目設定手段は、製品2に対する検査項目を複数項目設定する。品質検査結果取得手段は、製品2に対して、設定された複数の検査項目に沿って実行された品質検査の結果を検査項目毎に取得する。カウント手段は、品質検査によって検査した検査項目の累積数である検査項目累積数と、品質検査によって発見された不具合の累積数である不具合累積数とをそれぞれカウントする。推移線描画手段は、カウント手段によりカウントされた検査項目累積数と不具合累積数の推移を、検査項目累積数と不具合累積数を軸とした座標系に示し、推移の起点と終点を結んだ推移線を描く。
品質基準設定手段は、製品2に対する品質基準を設定する。エリア設定手段は、設定された品質基準に基づいて、出荷に適当な品質を満たす範囲を座標系上で特定する第1エリアと、出荷に不適な品質を満たす範囲を座標系上で特定する第2エリアと、第1エリア及び第2エリアのいずれにも含まれず、出荷に不適な品質を満たす範囲でなく出荷に適当な品質を満たす範囲でもない第3エリアとを座標系にそれぞれ設定する。終了判定手段は、座標系における推移線と第1エリアと第2エリアと第3エリアの位置関係に基づいて、製品2の品質検査の継続又は終了を判定する。最終品質検査結果取得手段は、推移線が第1境界線を越えて第3エリアから第1エリアへと進入し、推移の終点である推移線の終端が第1エリアに存在する場合に、更に所定数の評価項目に沿って実行された品質検査である最終品質検査の結果を取得する。第1基準変更手段は、最終品質検査によって不具合が発見された場合に、製品2に対する品質基準を、より厳しい基準へと変更する。第1エリア再設定手段は、第1基準変更手段により変更された後の品質基準に基づいて、第1エリア、第2エリア及び第3エリアを再設定する。第2基準変更手段は、推移線が第2境界線を越えて第3エリアから第2エリアへと進入し、推移の終点である推移線の終端が第2エリアに存在する場合に、品質基準設定手段により設定された製品に対する品質基準を、より厳しい基準へと変更する。第2エリア再設定手段は、第2基準変更手段により変更された後の品質基準に基づいて、第1エリア、第2エリア及び第3エリアを再設定する。
また、検査情報DB12は、品質評価装置3において製品2の品質評価を行う為の各種情報を記憶した記憶手段であり、例えば不揮発性のメモリやHDD等によって構成される。検査情報DB12には、例えば製品2に対して行われた品質検査の検査結果に関する検査結果情報25や、検査結果情報25を統計した検査統計情報26が記憶される。
ここで、図3は検査情報DB12に記憶される検査結果情報25の一例を示した図である。図3に示すように、検査結果情報25は、現在までに製品2に対して行われた品質検査の検査項目の項目番号と、各検査項目の検査内容と、検査結果(より具体的には不具合が発見されたか否か)とから構成される。そして、評価管理ECU11は、検査結果情報25に基づいて後述のように検査統計情報26を作成する。尚、検査結果情報25は、基本的に互いに関連する複数の検査項目に沿った品質検査が終了する度に、生産者4によって入力操作部13を介して入力される。
また、図4は検査情報DB12に記憶される検査統計情報26の一例を示した図である。図4に示すように、検査統計情報26は、製品2に対して品質検査を行った日付と、その日に行われた品質検査の検査項目の数と、その日までに品質検査によって検査した検査項目の累積数である検査項目累積数と、その日に行われた品質検査によって発見された不具合の数と、その日までに品質検査によって発見された不具合の累積数である不具合累積数とから構成される。そして、評価管理ECU11は、検査統計情報26に基づいて後述のように製品2の品質評価を行う。尚、検査統計情報26は、検査結果情報25がユーザによって入力される度に、評価管理ECU11がその時点までに累積して記憶された検査結果情報25に基づいて更新する。
また、入力操作部13は、例えばキーボード、マウス、ディスプレイ14の前面に設けられたタッチパネル等によって構成され、生産者4による各種操作を受け付け可能に構成されている。そして、評価管理ECU11は、入力操作部13を介して入力された操作に基づき、対応する各種の動作を実行すべく制御を行う。また、本実施形態では、製品2に対して品質検査を行った場合に、検査結果を入力する為にも操作される。
また、ディスプレイ14は、筐体の一面に配設されており、液晶ディスプレイや有機ELディスプレイ等が用いられる。そして、入力操作部13による入力内容や検査情報DB12に記憶された検査結果情報25や検査統計情報26等の各種情報が表示される。また、製品2の品質評価を行う場合には、その評価結果についても表示される。
続いて、前記構成を有する品質評価システム1を構成する品質評価装置3において実行する品質評価プログラムについて図5に基づき説明する。図5は本実施形態に係る品質評価プログラムのフローチャートである。ここで、品質評価プログラムは、製造された製品2に対する品質検査を開始する場合に実行され、製品2に対して実行された品質検査の結果を累積して記憶するとともに、記憶された品質検査の結果に基づいて、製品2の品質評価を行うプログラムである。尚、以下の図5、図6、図10、図11、図16にフローチャートで示されるプログラムは、品質評価装置3が備えるRAM22やROM23等に記憶されており、CPU21により実行される。
先ず、ステップ(以下、Sと略記する)1において品質評価装置3のCPU21は、後述の品質基準設定処理(図6)を行う。尚、品質基準設定処理は、製品2を出荷する為に満たすべき目標となる品質基準を設定する処理であり、後述のようにCPU21は、製品2が品質基準設定処理において設定された品質基準を満たした場合に品質検査を終了すると判定される(S3、S4参照)。また、所定の条件を満たした場合には、設定されている品質基準をより厳しい基準へと変更する処理も行う。
次に、S2においてCPU21は、後述の品質検査結果取得処理(図10)を行う。尚、品質検査結果取得処理は、後述のように製品2に対して実行された品質検査の結果に関する検査結果情報25(図3)を生産者4による入力操作等を介して取得し、検査情報DB12に格納する処理である。
続いて、S3においてCPU21は、後述のデータ分析処理(図11)を行う。尚、データ分析処理は、後述のように前記S2で検査情報DB12に格納された検査結果情報25の統計及び分析を行う処理である。
その後、S4においてCPU21は、後述の判定結果出力処理(図16)を行う。尚、判定結果出力処理は、後述のように前記S3の統計及び分析結果に基づいて、製品2が前記S1の品質基準設定処理において設定された品質基準を満たしたか否か、即ち、製品2の品質検査を継続して行うか又は終了するかの最終的な判定結果を出力する処理である。
次に、前記S1において実行される品質基準設定処理のサブ処理について図6に基づき説明する。図6は品質基準設定処理のサブ処理プログラムのフローチャートである。
先ず、S11においてCPU21は、RAM22に記憶された目標設定フラグを読み出し、目標設定フラグが“0”であるか否かを判定する。尚、「目標設定フラグ」は、製品2を出荷する為に満たすべき目標となる品質基準を、設定又は変更する必要のある状態か否かを示すフラグである。そして、初期状態では品質基準が設定されていないとして“0”が設定され、既に品質基準が設定されている状態では“2”が設定され、後述のように品質基準が設定されており、且つ現在の品質基準を変更する必要があると判定された状態では“1”が設定される。
そして、目標設定フラグが“0”であると判定された場合(S11:YES)には、S12へと移行する。それに対して、目標設定フラグが“0”でないと判定された場合(S11:NO)には、S15へと移行する。
S12においてCPU21は、製品2の品質基準を設定する為に必要な各種パラメータの値を設定する。具体的には、図7に示す4種類のパラメータ(p、p、α、β)の値が設定される。ここで、pは生産者が許容できる製品2に不具合が含まれる確率(消費者が製品2を購入した場合に、購入した製品2に不具合が潜在する確率)であり、pは生産者が許容できない製品2に不具合が含まれる確率である。また、αはpを誤って棄却する確率(即ち、生産者が許容できる製品2にもかかわらず許容できないと誤認する確率)であり、βはpを誤って棄却する確率(即ち、消費者が製品2に不具合が生じているにもかかわらず不具合が生じていないと誤認する確率)である。尚、CPU21は各パラメータ(p、p、α、β)の値として固定値を設定しても良いし、生産者4によって予め入力された任意の値を設定しても良い。また、過去において他の製品の品質評価を行った際の評価結果(即ち学習結果)に基づいて設定することとしても良い。尚、設定されたパラメータの値はRAM22等に記憶される。
次に、S13においてCPU21は、現在までに製品2に対して実行した品質検査によって検査した検査項目の累積数である検査項目累積数と、現在までに製品2に対して実行した品質検査によって発見された不具合の累積数である不具合累積数とを軸とした座標系(以下、評価座標系という)において第1境界線を設定する。
更に、S14においてCPU21は、同じく評価座標系において第2境界線を設定する。その結果、第1境界線及び第2境界線を境界とする第1エリア〜第3エリアが評価座標系上に設定され、それに伴って具体的な品質基準が評価座標系上において設定されることとなる。その後、S2へと移行する。
ここで、前記S13で設定される第1境界線は第1エリアと第2エリアの境界となる線であり、前記S14で設定される第2境界線は第1エリアと第3エリアの境界となる線である。また、第1エリアは出荷に適当な品質を満たす範囲(即ち、品質基準をクリアする品質の範囲)を評価座標系上で特定したエリアであり、第2エリアは出荷に不適な品質を満たす範囲を評価座標系上で特定したエリアであり、第3エリアは第1エリア及び第2エリアのいずれにも含まれず、出荷に不適な品質を満たす範囲でなく出荷に適当な品質を満たす範囲でもない第3エリアを評価座標系上で特定したエリアである。
そして、前記S13及びS14においてCPU21は、前記S12で設定された各種パラメータ(p、p、α、β)の値と、以下の逐次確率比検定(逐次検定)による関数式(1)及び関数式(2)によって、第1境界線及び第2境界線を設定する。
第1境界線
Figure 0006003281
第2境界線
Figure 0006003281
また、図8は前記S13及び前記S14で評価座標系上に設定された第1境界線及び第2境界線、第1エリア〜第3エリアの例を示した図である。図8に示すように検査項目累積数をx軸とし、不具合累積数をy軸とした評価座標系において、第1境界線、第2境界線がそれぞれ設定される。更に、第1境界線の外側(x軸正方向側)に対して第1エリアが設定され、第2境界線の外側(y軸正方向側)に対して第2エリアが設定され、第1境界線と第2境界線の間に第3エリアが設定される。そして、設定された第1境界線、第2境界線、第1エリア〜第3エリアを用いて後述のように製品2の品質検査を継続して行うか又は終了するかの判定が行われる(図12〜図15参照)。
一方、S15においてCPU21は、RAM22に記憶された目標設定フラグを読み出し、目標設定フラグが“1”であるか否か(即ち、現在の品質基準を変更する必要があるか否か)を判定する。
そして、目標設定フラグが“1”であると判定された場合(S15:YES)には、S16へと移行する。それに対して、目標設定フラグが“1”でもないと判定された場合(S15:NO)には、S2へと移行する。
S16においてCPU21は、現在設定されている4種類のパラメータ(p、p、α、β)の内、p、pの値をRAM22から読み出し、品質基準をより厳しい基準とする為にパラメータの値を変更する。具体的には、pの値をより大きい値(例えば変更前の120%の値)やpの値をより小さい値(例えば変更前の80%の値)へと変更する。尚、pとpのいずれか一方のみを変更しても良い、また、α、βの値についても変更しても良い。
次に、S17においてCPU21は、前記S16で変更された各種パラメータ(p、p、α、β)の値と、上記関数式(1)によって、第1境界線を再設定する。
更に、S18においてCPU21は、前記S16で変更された各種パラメータ(p、p、α、β)の値と、上記関数式(2)によって、第2境界線を再設定する。その結果、第1境界線及び第2境界線を境界とする第1エリア〜第3エリアについても評価座標系上に再設定され、それに伴って品質基準についてもより厳しい基準へと再設定されることとなる。その後、S2へと移行する。
ここで、図9は前記S17及び前記S18で評価座標系上に再設定された第1境界線及び第2境界線、第1エリア〜第3エリアの例を示した図である。図9に示すように再設定後の第1境界線は外側(x軸正方向側)に移動し、再設定後の第2境界線は外側(y軸正方向側)に移動する。その結果、出荷に適当な品質を満たす範囲(即ち、品質基準をクリアする品質の範囲)を評価座標系上で特定した第1エリアが狭くなり、品質基準がより厳しい基準へと再設定されることが分かる。
次に、前記S2において実行される品質検査結果取得処理のサブ処理について図10に基づき説明する。図10は品質検査結果取得処理のサブ処理プログラムのフローチャートである。
先ず、S21においてCPU21は、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグが“0”であるか否かを判定する。尚、「品質評価フラグ」は、後述の判定結果出力処理(S4)における製品2の品質評価の評価結果を示したものである。そして、後述のように判定結果出力処理(S4)において製品2の品質検査を継続して行い、且つ最終評価も行わないと判定された場合には“0”に設定され、製品2の品質検査を継続して行い、且つ最終評価に移行すると判定された場合には“1”に設定され、製品2の品質検査を終了すると判定された場合には“2”に設定される。
そして、品質評価フラグが“0”であると判定された場合(S21:YES)には、S22へと移行する。それに対して、品質評価フラグが“0”でないと判定された場合(S21:NO)には、S23へと移行する。
S22においてCPU21は、製品2に対して行う品質検査の検査項目を生産者4の入力操作に基づいて作成する。尚、作成される検査項目の数は任意の数であり、例えば互いに関連する複数(例えば120個)の検査項目が作成される。また、検査項目は具体的に以下の点を考慮して作成される。
・不具合の発生傾向が高い項目を集中的に作成
・新規性の高い部分を集中的に作成
・製品の機能やユーザ操作を重ね合わせて作成
・組み合わせ評価を作成
・他製品との連携部分を集中的に作成
その後、S25へと移行する。
一方、S23においてCPU21は、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグが“1”であるか否かを判定する。
そして、品質評価フラグが“1”であると判定された場合(S23:YES)には、S24へと移行する。それに対して、品質評価フラグが“1”でないと判定された場合(S23:NO)には、S3へと移行する。
S24においてCPU21は、製品2に対して行う最終品質検査の検査項目を生産者4の入力操作に基づいて作成する。尚、作成される検査項目の数は規定数(例えば50個)であり、例えば品質検査を継続して行っても不具合が発見されないことを確認できる数とする。
S25においてCPU21は、前記S22又は前記S24で作成された検査項目に沿って実行された品質検査の検査結果を取得する。尚、検査結果の取得方法としては、生産者4が入力操作部13により入力することにより取得する構成としても良いし、生産者4を介さずに取得する構成としても良い。
その後、S26においてCPU21は、前記S25で取得された品質検査の検査結果を検査結果情報25(図3)として検査情報DB12に格納する。
次に、S27においてCPU21は、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグが“0”であるか否かを判定する。
そして、品質評価フラグが“0”であると判定された場合(S27:YES)には、S28へと移行する。それに対して、品質評価フラグが“0”でないと判定された場合(S27:NO)には、S30へと移行する。
S28においてCPU21は、ディスプレイ14に対して製品2の品質検査の継続又は終了を判定する為の品質評価を継続して行っていることを案内する。
続いて、S29においてCPU21は、前記S22又は前記S24で作成された全ての検査項目に対する品質検査の検査結果を取得したか否かを判定する。
そして、前記S22又は前記S24で作成された全ての検査項目に対する品質検査の検査結果を取得したと判定された場合(S29:YES)には、S3へと移行する。それに対して、前記S22又は前記S24で作成された全ての検査項目に対する品質検査の検査結果を取得していないと判定された場合(S29:NO)にはS25へと戻り、継続して検査結果の取得を行う。
一方、S30においてCPU21は、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグが“1”であるか否かを判定する。
そして、品質評価フラグが“1”であると判定された場合(S30:YES)には、S31へと移行する。それに対して、品質評価フラグが“1”でないと判定された場合(S30:NO)には、S3へと移行する。
S31においてCPU21は、ディスプレイ14に対して製品2の品質検査の継続又は終了を判定する為の最終的な品質評価(以下、最終評価という)を行っていることを案内する。その後、S29へと移行し、同様にして作成された全ての検査結果の取得が終了したか否かが判定される。
次に、前記S3において実行されるデータ分析処理のサブ処理について図11に基づき説明する。図11はデータ分析処理のサブ処理プログラムのフローチャートである。
先ず、S41においてCPU21は、前記S26において検査情報DB12に格納された検査結果情報25を統計処理することによって検査統計情報26(図4)を作成する。尚、検査統計情報26には、カウントされた検査項目累積数と不具合累積数とがそれぞれ含まれる。
次に、S42においてCPU21は、前記S41で作成された検査統計情報に基づいて、検査項目累積数と不具合累積数の推移を、検査項目累積数と不具合累積数を軸とした評価座標系に示し、推移の起点と終点を結んだ推移線を描画する。更に、評価座標系とともに描画された推移線をディスプレイ14に対して表示する。
続いて、S43においてCPU21は、前記S42で描画された推移線の終端(即ち現在の推移の終点)が評価座標系に設定されている第1エリア(図8参照)にあるか否か判定する。
そして、前記S42で描画された推移線の終端が評価座標系に設定されている第1エリアにあると判定された場合(S43:YES)には、S44へと移行する。それに対して、前記S42で描画された推移線の終端が評価座標系に設定されている第1エリアにないと判定された場合(S43:NO)には、S52へと移行する。
次に、S44においてCPU21は、前回の描画時においても推移線の終端が評価座標系に設定されている第1エリア(図8参照)にあったか否か判定する。
そして、前回の描画時においても推移線の終端が評価座標系に設定されている第1エリアにあったと判定された場合(S44:YES)、即ち、図12に示すように前回の描画処理時から継続して第1エリアに推移線の終端が位置する場合には、S47へと移行する。それに対して、前回の描画時には推移線の終端が評価座標系に設定されている第1エリアに無かったと判定された場合(S44:NO)、即ち、図13に示すように今回の描画処理によって新たに第3エリアから第1エリアに推移線の終端が進入した場合には、S45へと移行する。
S45においてCPU21は、製品2に対する最終評価に移行すると判定し、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグを“1”に設定する。尚、最終評価は、製品2の品質検査の継続又は終了を判定する為の最終的な品質評価であり、後述のように最終評価中に行われる規定数の品質検査(最終品質検査)において不具合が新たに発見されなければ、品質検査の終了が決定される。
更に、S46においてCPU21は、製品2に対する品質基準について現在の基準を維持すると判定し、RAM22に記憶された目標設定フラグを読み出し、目標設定フラグを“2”に設定する。その後、S4へと移行する。
一方、S47においてCPU21は、前回の描画時における推移線の終端と、今回の描画時における推移線の終端とを比較し、前回描画時と不具合累積数が同一数であるか否か(即ち、前回の推移線描画後から行われた一連の品質検査(具体的には最終評価における最終品質検査)において不具合が発見されなかったか否か)判定する。
そして、前回描画時と不具合累積数が同一数であると判定された場合(S47:YES)、即ち、前回の推移線描画後から行われた一連の品質検査(最終評価における最終品質検査)において不具合が発見されなかった場合には、S48へと移行する。それに対して、前回描画時と不具合累積数が同一数でないと判定された場合(S47:NO)、即ち、前回の推移線描画後から行われた一連の品質検査(最終評価における最終品質検査)において不具合が新たに発見された場合には、S50へと移行する。
S48においてCPU21は、製品2に対する最終評価中に行われる規定数の品質検査(最終品質検査)において不具合が新たに発見されなかったことにより、製品2の品質基準が出荷に適当な品質基準を満たしていると認定し、品質検査を終了すると判定する。そして、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグを“2”に設定する。
更に、S49においてCPU21は、製品2に対する品質基準について現在の基準を維持すると判定し、RAM22に記憶された目標設定フラグを読み出し、目標設定フラグを“2”に設定する。その後、S4へと移行する。
一方、S50においてCPU21は、製品2に対する最終評価中に行われる規定数の品質検査(最終品質検査)において不具合が新たに発見されたことにより、製品2の品質が出荷に適当な品質基準を満たしていないと認定し、品質検査を継続すると判定する。そして、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグを“0”に設定する。
続いて、S51においてCPU21は、製品2に対する品質基準について現在よりも厳しい基準へと変更すると判定し、RAM22に記憶された目標設定フラグを読み出し、目標設定フラグを“1”に設定する。その後、S4へと移行する。その結果、その後に実行される品質基準設定処理(図6)において、前述したように第1境界線及び第2境界線、第1エリア〜第3エリアが再設定される。
一方、S52においてCPU21は、前記S42で描画された推移線の終端(即ち現在の推移の終点)が評価座標系に設定されている第2エリア(図8参照)にあるか否か判定する。
そして、前記S42で描画された推移線の終端が評価座標系に設定されている第2エリアにあると判定された場合(S52:YES)即ち、図14に示すように今回の描画処理によって新たに第3エリアから第2エリアに推移線の終端が進入した場合には、S53へと移行する。それに対して、前記S42で描画された推移線の終端が評価座標系に設定されている第2エリアにないと判定された場合(S52:NO)、即ち、図15に示すように前記S42で描画された推移線の終端が評価座標系に設定されている第3エリアにある場合には、S55へと移行する。
S53においてCPU21は、製品2の品質が出荷に適当な品質基準を満たしていないと認定し、品質検査を継続すると判定する。そして、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグを“0”に設定する。
続いて、S54においてCPU21は、製品2の品質が出荷に不適な品質基準となったことから、製品2に対する品質基準について現在よりも厳しい基準へと変更すると判定し、RAM22に記憶された目標設定フラグを読み出し、目標設定フラグを“1”に設定する。その後、S4へと移行する。その結果、その後に実行される品質基準設定処理(図6)において、前述したように第1境界線及び第2境界線、第1エリア〜第3エリアが再設定される。
一方、S55においてCPU21は、製品2の品質が出荷に適当な品質基準を満たしていないと認定し、品質検査を継続すると判定する。そして、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグを“0”に設定する。
更に、S56においてCPU21は、製品2に対する品質基準について現在の基準を維持すると判定し、RAM22に記憶された目標設定フラグを読み出し、目標設定フラグを“2”に設定する。その後、S4へと移行する。
次に、前記S4において実行される判定結果出力処理のサブ処理について図16に基づき説明する。図16は判定結果出力処理のサブ処理プログラムのフローチャートである。
先ず、S61においてCPU21は、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグが“2”であるか否かを判定する。
そして、品質評価フラグが“2”であると判定された場合(S61:YES)には、S62へと移行する。それに対して、品質評価フラグが“2”でないと判定された場合(S61:NO)には、S63へと移行する。
S62においてCPU21は、製品2に対する品質評価の結果として、製品2の品質が出荷に適当な品質基準を満たし、品質検査を終了することをディスプレイ14等を介して案内する。その後、当該品質評価プログラムを終了する。
一方、S63においてCPU21は、RAM22に記憶された品質評価フラグを読み出し、品質評価フラグが“0”であるか否かを判定する。
そして、品質評価フラグが“0”であると判定された場合(S63:YES)には、S64へと移行する。それに対して、品質評価フラグが“0”でないと判定された場合(S63:NO)には、S65へと移行する。
S64においてCPU21は、製品2に対する品質評価の結果として、製品2の品質が出荷に適当な品質基準を満たしておらず、品質検査を継続して行うことをディスプレイ14等を介して案内する。その後、S1へと戻る。
一方、S65においてCPU21は、製品2に対する品質評価の結果として、製品2の品質が出荷に適当な品質基準を満たしているか否かを確認する為の最終評価に移行することをディスプレイ14等を介して案内する。その後、S1へと戻る。
以上詳細に説明した通り、本実施形態に係る品質評価システム1、品質評価システム1による品質評価方法では、製品2に対する検査項目を複数項目設定し(S22)、製品2に対して設定された複数の検査項目に沿って実行された品質検査の結果を検査項目毎に取得し(S25)、検査項目累積数と不具合累積数とをそれぞれカウントし(S41)、カウントされた検査項目累積数と不具合累積数の推移を、検査項目累積数と不具合累積数を軸とした座標系に示すとともに推移の起点と終点を結んだ推移線を描き(S42)、製品2に設定された品質基準に基づいて、出荷に適当な品質を満たす範囲を座標系上で特定する第1エリアと、出荷に不適な品質を満たす範囲を座標系上で特定する第2エリアと、第1エリア及び第2エリアのいずれにも含まれず、出荷に不適な品質を満たす範囲でなく出荷に適当な品質を満たす範囲でもない第3エリアとを座標系にそれぞれ設定し(S12〜S14)、座標系における推移線と第1エリアと第2エリアと第3エリアの位置関係に基づいて、製品2の品質検査の継続又は終了を判定する(S3、S4)ので、座標系上で容易且つ正確に製品2の品質評価を行うことが可能となる。そして、品質評価の評価結果を用いることによって、製品2の品質検査を必要以上に継続して行うことなく、製品2の品質検査を適切な項目及び期間において行うことが可能となる。
また、第1エリアと第3エリアの境界である第1境界線及び第2エリアと第3エリアの境界である第2境界線を、生産者が許容できる製品2に不具合が含まれる確率(p)(消費者が製品2を購入した場合に購入した製品2に不具合が潜在する確率(p))と生産者が許容できない製品2に不具合が含まれる確率(p)とに基づいて設定するので、製品2の品質評価を行う際に基準となる第1境界線及び第2境界線を、生産者と消費者の両者を考慮して座標系上において適切に設定することが可能となる。
また、出荷に適当な品質を満たす品質評価を一旦得た後に、品質検査を継続して行っても不具合が発見されないことを確認するための最終品質検査を行い、最終品質検査で不具合が発見されなかった場合に製品の品質検査を終了するので、製品2が品質基準を満たしたか否かをより正確に判定することが可能となる。
更に、最終品質検査で不具合が発見された場合に、製品2の品質基準をより厳しい基準へと変更する(S16〜S18)ので、予測できない不具合が新たに発見された場合であっても、新たに設定した品質基準に基づいて、その後に出荷に適当な品質基準を製品2が満たしたか否かを正確に判定することが可能となる。
また、推移線の終端が第3エリアにある場合に、製品2の品質検査を継続すると判定するので、製品2の品質を判定できない状態において製品2の品質検査を継続することによって、誤った製品2の品質評価が行われることを防止することが可能となる。
また、出荷に不適な品質を満たす品質評価を得た後に、製品2の品質基準をより厳しい基準へと変更する(S16〜S18)ので、不具合が多数発見された場合であっても、新たに設定した品質基準に基づいて、その後に出荷に適当な品質基準を製品が満たしたか否かを正確に判定することが可能となる。
また、互いに関連する複数の検査項目に沿った品質検査が終了する度に、製品2の品質検査の継続又は終了を判定するので、一連の品質検査の作業工程の間にある適切なタイミングで品質検査の継続又は終了を判定することが可能となる。その結果、品質検査の作業工程を効率化することが可能となる。
尚、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変形が可能であることは勿論である。
例えば、本実施形態では評価座標系上において品質基準を満たすエリアを特定する為に、第1境界線と第2境界線の2本の境界線を設定しているが、境界線の数は2本に限られることなく、1本又は3本以上であっても良い。また、評価座標系上に設定するエリアの数も同様に3箇所に限られることなく、2箇所や4箇所以上であっても良い。
また、本実施形態では、出荷に適当な品質を満たす品質評価を一旦得た後に、品質検査を継続して行っても不具合が発見されないことを確認するための最終品質検査を行う構成としているが、最終品質検査を行わずに品質検査を終了すると判定する構成としても良い。
また、本実施形態では、第1境界線及び第2境界線を上記関数式(1)及び(2)に基づいてそれぞれ算出する構成としているが、他の関数式を用いて算出しても良い。また、各種パラメータ(p、p、α、β)の定義は適宜変更することも可能である。
1 品質評価システム
2 製品
3 品質評価装置
4 生産者
11 評価管理ECU
12 検査情報DB
21 CPU
22 RAM
23 ROM

Claims (8)

  1. 製品の品質を評価する品質評価システムにおいて、
    前記製品に対する検査項目を複数項目設定する検査項目設定手段と、
    前記製品に対して、前記検査項目設定手段により設定された複数の前記検査項目に沿って実行された品質検査の結果を前記検査項目毎に取得する品質検査結果取得手段と、
    前記品質検査によって検査した前記検査項目の累積数である検査項目累積数と、前記品質検査によって発見された不具合の累積数である不具合累積数とをそれぞれカウントするカウント手段と、
    前記カウント手段によりカウントされた前記検査項目累積数と前記不具合累積数の推移を、前記検査項目累積数と前記不具合累積数を軸とした座標系に示し、前記推移の起点と終点を結んだ推移線を描く推移線描画手段と、
    前記製品に対する品質基準を設定する品質基準設定手段と、
    前記品質基準設定手段により設定された前記品質基準に基づいて、出荷に適当な品質を満たす範囲を前記座標系上で特定する第1エリアと、出荷に不適な品質を満たす範囲を前記座標系上で特定する第2エリアと、前記第1エリア及び前記第2エリアのいずれにも含まれず、前記出荷に不適な品質を満たす範囲でなく前記出荷に適当な品質を満たす範囲でもない第3エリアとを前記座標系にそれぞれ設定するエリア設定手段と、
    前記座標系における前記推移線と前記第1エリアと前記第2エリアと前記第3エリアの位置関係に基づいて、前記製品の品質検査の継続又は終了を判定する終了判定手段と、
    前記終了判定手段の判定結果を案内する判定結果案内手段と、を有することを特徴とする品質評価システム。
  2. 前記エリア設定手段は、
    前記第1エリアと前記第3エリアの境界である第1境界線及び前記第2エリアと前記第3エリアの境界である第2境界線を、生産者が許容できる製品に不具合が含まれる確率と生産者が許容できない製品に不具合が含まれる確率とに基づいて設定することを特徴とする請求項1に記載の品質評価システム。
  3. 前記推移線が前記第1境界線を越えて前記第3エリアから前記第1エリアへと進入し、前記推移の終点である前記推移線の終端が前記第1エリアに存在する場合に、更に規定数の前記評価項目に沿って実行された品質検査である最終品質検査の結果を取得する最終品質検査結果取得手段を有し、
    前記終了判定手段は、
    前記最終品質検査によって不具合が発見されなかった場合に、前記製品の品質検査を終了すると判定し、
    前記最終品質検査によって不具合が発見された場合に、前記製品の品質検査を継続すると判定することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の品質評価システム。
  4. 前記最終品質検査によって不具合が発見された場合に、前記品質基準設定手段により設定された前記製品に対する品質基準を、より厳しい基準へと変更する第1基準変更手段と、
    前記第1基準変更手段により変更された後の前記品質基準に基づいて、前記第1エリア、前記第2エリア及び前記第3エリアを再設定する第1エリア再設定手段と、を有することを特徴とする請求項3に記載の品質評価システム。
  5. 前記終了判定手段は、前記推移線の終端が前記第3エリアにある場合に、前記製品の品質検査を継続すると判定することを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の品質評価システム。
  6. 前記推移線が前記第2境界線を越えて前記第3エリアから前記第2エリアへと進入し、前記推移の終点である前記推移線の終端が前記第2エリアに存在する場合に、前記品質基準設定手段により設定された前記製品に対する品質基準を、より厳しい基準へと変更する第2基準変更手段と、
    前記第2基準変更手段により変更された後の前記品質基準に基づいて、前記第1エリア、前記第2エリア及び前記第3エリアを再設定する第2エリア再設定手段と、を有することを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれかに記載の品質評価システム。
  7. 前記終了判定手段は、互いに関連する複数の前記検査項目に沿った前記品質検査が終了する度に、前記製品の品質検査の継続又は終了を判定することを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれかに記載の品質評価システム。
  8. 製品の品質を評価する品質評価方法において、
    前記製品に対する検査項目を複数項目設定する検査項目設定ステップと、
    前記製品に対して、前記検査項目設定ステップにより設定された複数の前記検査項目に沿って実行された品質検査の結果を前記検査項目毎に取得する品質検査結果取得ステップと、
    前記品質検査によって検査した前記検査項目の累積数である検査項目累積数と、前記品質検査によって発見された不具合の累積数である不具合累積数とをそれぞれカウントするカウントステップと、
    前記カウントステップによりカウントされた前記検査項目累積数と前記不具合累積数の推移を、前記検査項目累積数と前記不具合累積数を軸とした座標系に示し、前記推移の起点と終点を結んだ推移線を描く推移線描画ステップと、
    前記製品に対する品質基準を設定する品質基準設定ステップと、
    前記品質基準設定ステップにより設定された前記品質基準に基づいて、出荷に適当な品質を満たす範囲を前記座標系上で特定する第1エリアと、出荷に不適な品質を満たす範囲を前記座標系上で特定する第2エリアと、前記第1エリア及び前記第2エリアのいずれにも含まれず、前記出荷に不適な品質を満たす範囲でなく前記出荷に適当な品質を満たす範囲でもない第3エリアとを前記座標系にそれぞれ設定するエリア設定ステップと、
    前記座標系における前記推移線と前記第1エリアと前記第2エリアと前記第3エリアの位置関係に基づいて、前記製品の品質検査の継続又は終了を判定する終了判定ステップと、
    前記終了判定ステップの判定結果を案内する判定結果案内ステップと、を有することを特徴とする品質評価方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS61170837A (ja) * 1985-01-25 1986-08-01 Fujitsu Ltd プログラムの品質予測方式
JPH0628364A (ja) * 1992-07-07 1994-02-04 Fujitsu Ltd 受入検査管理システム
JP2002211754A (ja) * 2001-01-16 2002-07-31 Kajima Corp 品質管理装置、コンピュータ読み取り可能な記録媒体、品質管理システム、品質管理方法
JP4130764B2 (ja) * 2002-11-12 2008-08-06 富士通株式会社 進捗状況に基づく品質管理処理方法
JP2004198148A (ja) * 2002-12-16 2004-07-15 Omron Corp 品質データのモニタリング方法及び装置

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