JP5976565B2 - 電子部品検査装置 - Google Patents
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Description
なお、定電流を出力する回路としては、例えば、特許文献1に記載の回路も知られている。
電子部品を検査する電子部品検査装置であって、
第1電圧が一端に供給され、制御端子と他端の間の電圧に応じた値の電流を流す第1のトランジスタと、
前記第1電圧が一端に供給され、制御端子と他端の間の電圧に応じた値の電流を流す、前記第1のトランジスタより応答速度が遅く且つ電流駆動能力が大きい少なくとも1つの第2のトランジスタと、
前記第1及び第2のトランジスタの他端に一端が接続された電流検出抵抗と、
前記電流検出抵抗の他端に接続され、前記電子部品の一端を接続可能な第1の検査端子と、
第2電圧が供給され、前記電子部品の他端を接続可能な第2の検査端子と、
前記電流検出抵抗の両端間の検出電圧に基づいて、前記電流検出抵抗に流れる出力電流が外部から設定された設定電流になるように、前記第1及び第2のトランジスタの制御端子の電圧を制御する制御回路と、を備える
ことを特徴とする。
前記設定電流が第1の電流値の場合に、前記第1のトランジスタが電流を流し、前記第2のトランジスタが電流を流さず、一方、前記設定電流が前記第1の電流値より大きい第2の電流値の場合に、前記第1及び第2のトランジスタが電流を流すように、前記第1及び第2のトランジスタの電流駆動能力は設定されていてもよい。
前記第1及び第2のトランジスタは、N型MOSFETであり、
前記第1電圧は電源電圧であり、前記第2電圧は接地電圧であり、
前記制御回路は、
前記設定電流に対応した設定電圧が一端に供給される第1の抵抗と、
前記第1の抵抗の他端に非反転入力端子が接続され、前記第1及び第2のトランジスタの制御端子に出力端子が接続された演算増幅器と、
前記非反転入力端子に一端が接続され、前記電流検出抵抗の他端に他端が接続された第2の抵抗と、
接地電圧が一端に供給され、前記演算増幅器の反転入力端子に他端が接続された第3の抵抗と、
前記反転入力端子に一端が接続され、前記電流検出抵抗の一端に他端が接続された第4の抵抗と、を有してもよい。
前記第1及び第2のトランジスタの制御端子に第1端子が接続され、前記第1及び第2のトランジスタの前記他端に第2端子が接続され、前記第1端子と前記第2端子の間の電圧を制限電圧以下に制限する少なくとも1つの電圧制限素子を備えてもよい。
前記第1のトランジスタの他端と、前記電流検出抵抗の一端及び前記電圧制限素子の他端の接続点との間に接続された第1の電流制限抵抗と、
前記第2のトランジスタの他端と、前記電流検出抵抗の一端及び前記電圧制限素子の他端の接続点との間に接続された第2の電流制限抵抗と、を備えてもよい。
前記制限電圧は、前記出力電流が前記設定電流と等しい時の前記第1及び第2のトランジスタの制御端子と前記電流検出抵抗の一端との間の電圧より高くてもよい。
第1のトランジスタは第2のトランジスタより応答速度が速いので、設定電流が小さい場合、より短時間で定電流の出力電流を得られる。即ち、設定電流が小さい場合、より矩形波に近い出力電流を得ることが可能となるので、理想的な測定を行うことができる。従って、出力電流が小さい場合の検査タクトタイムをより短くできる。
第1のトランジスタTR1のゲートは、第2のトランジスタTR2のゲートに接続されている。
電圧測定部1は、第1及び第2の検査端子T1,T2間の電圧を測定する。
演算増幅器OP1は、第1の抵抗R1の他端に非反転入力端子が接続され、第1及び第2のトランジスタTR1,TR2のゲートに出力端子が接続されている。
第3の抵抗R3は、接地電圧GNDが一端に供給され、演算増幅器OP1の反転入力端子に他端が接続されている。
第4の抵抗R4は、演算増幅器OP1の反転入力端子に一端が接続され、電流検出抵抗Riの一端に他端が接続されている。
まず、検査対象のダイオードDUTを第1及び第2の検査端子T1,T2間に接続して、接続したダイオードDUTの特性に応じた設定電流を設定電圧Vinによって設定する。そして、スイッチSW1,SW2をオンにすると、制御回路2が検出電圧Vdetに基づいて第1及び第2のトランジスタTR1,TR2のゲートの電圧Vgを制御することによって、設定電流と等しい出力電流IoutがダイオードDUTに流れる。この状態で、電圧測定部1によりダイオードDUTの順方向電圧VFを測定し、順方向電圧VFが所望の範囲内であるか否か判定することにより、ダイオードDUTを検査する。
2つ以上の第2のトランジスタTR2を備える場合、それぞれの第2のトランジスタTR2に対してツェナーダイオードZD2と第2の電流制限抵抗RL2を設けてもよい。
TR2 第2のトランジスタ
Ri 電流検出抵抗
SW1,SW2 スイッチ
T1 第1の検査端子
T2 第2の検査端子
1 電圧測定部
2 制御回路
ZD1,ZD2 ツェナーダイオード(電圧制限素子)
RL1 第1の電流制限抵抗
RL2 第2の電流制限抵抗
OP1 演算増幅器
R1 第1の抵抗
R2 第2の抵抗
R3 第3の抵抗
R4 第4の抵抗
Claims (6)
- 電子部品を検査する電子部品検査装置であって、
第1電圧が一端に供給され、制御端子と他端の間の電圧に応じた値の電流を流す第1のトランジスタと、
前記第1電圧が一端に供給され、制御端子と他端の間の電圧に応じた値の電流を流す、前記第1のトランジスタより応答速度が遅く且つ電流駆動能力が大きい少なくとも1つの第2のトランジスタと、
前記第1及び第2のトランジスタの他端に一端が接続された電流検出抵抗と、
前記電流検出抵抗の他端に接続され、前記電子部品の一端を接続可能な第1の検査端子と、
第2電圧が供給され、前記電子部品の他端を接続可能な第2の検査端子と、
前記電流検出抵抗の両端間の検出電圧に基づいて、前記電流検出抵抗に流れる出力電流が外部から設定された設定電流になるように、前記第1及び第2のトランジスタの制御端子の電圧を制御する制御回路と、を備える
ことを特徴とする電子部品検査装置。 - 前記設定電流が第1の電流値の場合に、前記第1のトランジスタが電流を流し、前記第2のトランジスタが電流を流さず、一方、前記設定電流が前記第1の電流値より大きい第2の電流値の場合に、前記第1及び第2のトランジスタが電流を流すように、前記第1及び第2のトランジスタの電流駆動能力は設定されている
ことを特徴とする請求項1に記載の電子部品検査装置。 - 前記第1及び第2のトランジスタは、N型MOSFETであり、
前記第1電圧は電源電圧であり、前記第2電圧は接地電圧であり、
前記制御回路は、
前記設定電流に対応した設定電圧が一端に供給される第1の抵抗と、
前記第1の抵抗の他端に非反転入力端子が接続され、前記第1及び第2のトランジスタの制御端子に出力端子が接続された演算増幅器と、
前記非反転入力端子に一端が接続され、前記電流検出抵抗の他端に他端が接続された第2の抵抗と、
接地電圧が一端に供給され、前記演算増幅器の反転入力端子に他端が接続された第3の抵抗と、
前記反転入力端子に一端が接続され、前記電流検出抵抗の一端に他端が接続された第4の抵抗と、を有する
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電子部品検査装置。 - 前記第1及び第2のトランジスタの制御端子に第1端子が接続され、前記第1及び第2のトランジスタの前記他端に第2端子が接続され、前記第1端子と前記第2端子の間の電圧を制限電圧以下に制限する少なくとも1つの電圧制限素子を備える
ことを特徴とする請求項1から請求項3の何れかに記載の電子部品検査装置。 - 前記第1のトランジスタの他端と、前記電流検出抵抗の一端及び前記電圧制限素子の他端の接続点との間に接続された第1の電流制限抵抗と、
前記第2のトランジスタの他端と、前記電流検出抵抗の一端及び前記電圧制限素子の他端の接続点との間に接続された第2の電流制限抵抗と、を備える
ことを特徴とする請求項4に記載の電子部品検査装置。 - 前記制限電圧は、前記出力電流が前記設定電流と等しい時の前記第1及び第2のトランジスタの制御端子と前記電流検出抵抗の一端との間の電圧より高い
ことを特徴とする請求項4または請求項5に記載の電子部品検査装置。
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JP2013026834A JP5976565B2 (ja) | 2013-02-14 | 2013-02-14 | 電子部品検査装置 |
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