JP5975155B2 - 眼科撮影装置 - Google Patents
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Description
測定光源から発せられた光を二次元的に走査する光スキャナと、測定光源から発せられた測定光と参照光との干渉状態を検出する検出器と、を有し、被検眼のOCT画像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
被検眼の正面観察像を動画像として取得する観察光学系と、
前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスによるOCT画像の取得とともに前記OCT画像に対する解析処理を開始する演算解析手段と、を備え、
前記演算解析手段は、前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスによってOCT画像が繰り返し取得されている状態において撮影スイッチからのトリガ信号を受け付け、前記トリガ信号の出力後に得られた前記OCT画像に対する解析処理を開始することを特徴とする。
(2)
(1)の眼科撮影装置において、
前記演算解析手段は、前記解析処理の結果に基づいて解析マップを取得し、前記解析マップをモニタに表示することを特徴とする。
(3)
測定光源から発せられた光を二次元的に走査する光スキャナと、測定光源から発せられた測定光と参照光との干渉状態を検出する検出器と、を有し、被検眼のOCT画像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
被検眼の正面観察像を動画像として取得する観察光学系と、
前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスによるOCT画像の取得とともに前記OCT画像に対する解析処理を開始する演算解析手段と、
を備え、
前記演算解析手段は、前記検出器から出力される干渉信号において被検眼の所望の撮影部位に対応する干渉信号が取得されたことをトリガとして、被検眼の前記OCT画像に対する解析処理を開始することを特徴とする。
OCT光学系100は、いわゆる眼科用光断層干渉計(OCT:Optical coherence tomography)の装置構成を持ち、眼Eの断層像を撮像する。OCT光学系100は、測定光源102から出射された光をカップラー(光分割器)104によって測定光(試料光)と参照光に分割する。そして、OCT光学系100は、測定光学系106によって測定光を眼Eの眼底Efに導き,また、参照光を参照光学系110に導く。その後、眼底Efによって反射された測定光と,参照光との合成による干渉光を検出器(受光素子)120に受光させる。
正面観察光学系200は、眼底Efの正面画像を得るために設けられている。観察光学系200は、例えば、光源から発せられた測定光(例えば、赤外光)を眼底上で二次元的に走査させる光スキャナと、眼底と略共役位置に配置された共焦点開口を介して眼底反射光を受光する第2の受光素子と、を備え、いわゆる眼科用走査型レーザ検眼鏡(SLO)の装置構成を持つ。
固視標投影ユニット300は、眼Eの視線方向を誘導するための光学系を有する。投影ユニット300は、眼Eに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Eを誘導できる。
制御部70は、各構成100〜300の各部材など、装置全体を制御する。また、制御部70は、取得された画像を処理する画像処理部、取得された画像を解析する画像解析部、などを兼用する。制御部70は、一般的なCPU(Central Processing Unit)等で実現される。制御部70は、以下に示すように、断層像に基づいて眼底Efを解析する。
図2に示すように、制御部70は、OCT光学系100を制御し、設定された領域に対応する三次元断層像を取得すると共に、観察光学系200を制御し、眼底正面像を取得する。そして、制御部70は、OCT光学系100によって三次元断層像、観察光学系200によって眼底正面像を随時取得する。なお、三次元断層像には、XY方向に関して二次元的にAスキャン信号を並べた画像データ、三次元グラフィック画像、などが含まれる。
図3はOCT光学系100によって得られた断層像の例を示す図である。制御部70は、画像解析部を有し、取得された断層像(例えば、三次元断層像)における眼底の層情報を画像処理により検出すると共に、所定の画像判定条件(判定基準)を基に各層の検出結果を解析し、撮影部位が正常か否かを判定する。そして、制御部70は、判定結果に基づいて断層像に対する解析結果を得る。そして、解析結果は、メモリ72、又は外部のメモリ(例えば、パーソナルコンピュータのメモリ、サーバーのメモリ)に断層像と共に記憶される。
上記のような構成を備える装置において、図5に示すフローチャートを用いて、その動作について説明する。制御部70は、正面観察光学系200によって、被検眼の正面観察像を動画像としてライブで取得し、正面観察像のライブ動画像と、三次元断層像から抽出された断層像の静止画とをモニタ75に同時に表示する(図6参照)。
ここで、検者により、図無き撮影スイッチが操作されると、解析開始信号が入力されると、制御部70は、三次元断層像に対する解析処理を開始する。制御部70は、開始信号の出力後に得られた三次元断層像を画像処理により解析することにより、異常部位の特定、計測情報の取得を行う。例えば、制御部70は、上記のような判定基準を用いて三次元断層像を画像処理により判定する。そして、制御部70は、判定結果に基づいて眼底Ef上における異常部位を特定する。
次いで、制御部70は、解析結果に基づいて解析マップを取得し、メモリ72に記憶させる。そして、随時更新される眼底正面像の動画像上に解析マップを表示させる(図6参照)。
なお、制御部70は、解析に用いた三次元断層像からOCT正面像を生成し、生成されたOCT正面像と解析マップとを関連付けさせることによって、pixel-to-pixelの関係で両データを対応付けできる。
制御部70は、断層像に基づく眼底Efの解析結果を用いて異常部位に対応する断層像をモニタ75に表示させる。典型的には、制御部70は、重畳画像SIをモニタ75に表示させるとともに、異常部位と判定されている部位に対応する断層像を表示させる。
制御部70は、断層像の表示とともに、異常部位に関する計測情報(寸法、面積、体積等)画像処理により計測し、モニタ75の同一画面上に表示する。制御部70は、眼底正面像及び断層像において、異常部位と判定された領域の計測情報を表示する。
72 メモリ
75 モニタ
76 操作部
100 干渉光学系(OCT光学系)
108 光スキャナ
200 正面観察光学系
300 固視標投影ユニット
Claims (3)
- 測定光源から発せられた光を二次元的に走査する光スキャナと、測定光源から発せられた測定光と参照光との干渉状態を検出する検出器と、を有し、被検眼のOCT画像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
被検眼の正面観察像を動画像として取得する観察光学系と、
前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスによるOCT画像の取得とともに前記OCT画像に対する解析処理を開始する演算解析手段と、を備え、
前記演算解析手段は、前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスによってOCT画像が繰り返し取得されている状態において撮影スイッチからのトリガ信号を受け付け、前記トリガ信号の出力後に得られた前記OCT画像に対する解析処理を開始することを特徴とする眼科撮影装置。 - 請求項1の眼科撮影装置において、
前記演算解析手段は、前記解析処理の結果に基づいて解析マップを取得し、前記解析マップをモニタに表示することを特徴とする眼科撮影装置。 - 測定光源から発せられた光を二次元的に走査する光スキャナと、測定光源から発せられた測定光と参照光との干渉状態を検出する検出器と、を有し、被検眼のOCT画像を得るための光コヒーレンストモグラフィーデバイスと、
被検眼の正面観察像を動画像として取得する観察光学系と、
前記光コヒーレンストモグラフィーデバイスによるOCT画像の取得とともに前記OCT画像に対する解析処理を開始する演算解析手段と、
を備え、
前記演算解析手段は、前記検出器から出力される干渉信号において被検眼の所望の撮影部位に対応する干渉信号が取得されたことをトリガとして、被検眼の前記OCT画像に対する解析処理を開始することを特徴とする眼科撮影装置。
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