JP5953512B2 - 光配向露光装置及び光配向露光方法 - Google Patents

光配向露光装置及び光配向露光方法 Download PDF

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Description

本発明は、液晶表示素子の配向膜を形成するための光配向露光装置及び光配向露光方法に関するものである。
液晶表示素子の配向膜を形成する方式として、液晶のプレチルト角の大きさと配向方向を決めるために、配向膜となる感光性高分子膜に対して紫外線を斜めに照射する光配向露光方式が知られている。
一方、液晶表示素子の一つの単位画像領域(画素又はサブ画素、或いはそれらの集合領域)を2つ若しくはそれ以上に分割して、分割した領域毎に液晶の配向方向を変えることにより、液晶パネルの視野角を改善することが行われており、この方法は、画素分割法或いはマルチドメイン法と呼ばれている。
前述した光配向露光方式をマルチドメイン法に適用する場合には、配向材料膜上の被露光面に対して異なる角度で照射する複数の紫外線露光光を形成し、マスクの一つの開口を介して単位画像領域を分割した一つの領域に一方向から紫外線を照射し、マスクの他の開口を介して単位画像領域を分割した他の領域に他方向から紫外線を照射する。これによって、単位画像領域を分割した複数の領域毎にプレチルト角と配向方向が異なる光配向処理を施すことができる。
この際、下記特許文献1に記載の従来技術では、直線状に配列された複数の単位画像領域のそれぞれをその配列方向に沿った分割線で2つの領域に分割し、被露光面を単位画像領域の配列方向に沿って移動させて複数の単位画像領域を走査露光することで、複数の単位画像領域に対して連続的に光配向処理を施している。この従来技術では、分割された一つの領域に対応する開口パターンとそれに隣接する他の領域に対応する開口パターンを有する2つのマスクパターンを用いている。そして、それぞれの開口パターンに走査方向に沿った露光光で且つ被露光面に対して異なる角度の紫外線露光光を照射し、マスクパターンを被露光面に投影露光(プロキシミティ露光)することで、分割された2つの領域に走査方向に沿った互いに異なる方向の光配向処理を施している。
特開2012−63652号公報
従来技術に用いられる露光装置は、図1(a)に示すように、紫外線を放射する光源1と、光源1から放射された紫外線の露光光を平行光にしてマスクMに照射するコンデンサレンズ2と、光源1とコンデンサレンズ2との間に配設され、マスクMに照射される光の強度分布を均一化するフライアイレンズ(複数の単位レンズをマトリクス状に配列したレンズアレイ)3とを備えており、フライアイレンズ3を被露光面Bsの走査方向Sに対して交差する方向に配列している。
このような露光装置においては、図1(b)に示すように、フライアイレンズの集光作用によってマスクMの開口Maを斜めに通過する光線L1が生じ、この光線L1はマスクMの開口Maを通過するとコリメーション半角θによって広がって被露光面Bsに照射する。これにより、被露光面Bsには、マスクMの開口パターンの直下の領域Meだけでなく、その領域Meをはみ出して露光光が照射されることになる。
このような露光装置を用いてマルチドメイン法による光配向露光を行うには、図2(a)に示すような光配向露光装置が用いられる。これによると、単位画像領域の分割された一方の領域を露光するための開口パターンを有する第1マスクM1と分割された他方の領域を露光するための開口パターンを有する第2マスクM2を被露光面Bs上に離れて配置し、それぞれのマスクM1,M2を介して被露光基板Bの被露光面Bsをそれぞれ露光する第1露光装置Ex1と第2露光装置Ex2を配備している。第1露光装置Ex1は、走査方向Sに沿った露光光で且つ被露光基板Bの被露光面Bsに対して照射角度θe(例えば40°)の紫外線露光光を照射するものであり、第2露光装置Ex2は、走査方向Sに沿った露光光で且つ被露光基板Bの被露光面Bsに対して照射角度−θe(例えば−40°)の紫外線露光光を照射するものである。
これによると、一つの単位画像領域Pa内の分割領域Da1,Da2の露光が図2(b)に示す露光強度で順次行われることになり、図1(b)に示したコリメーション半角によるはみ出し露光によって、分割領域Da1,Da2の境界付近の範囲aで二重露光がなされる。
この際、配向材料における光異性化反応の可逆性によって、範囲aの分割領域Da2側は適正な光配向が得られるが、領域aの分割領域Da1側の領域a1では所望の方向の光配向が得られない問題が生じる。領域a1における配向乱れは、前述したコリメーション半角によるはみだし露光による不十分な強度の二重露光で生じるものであり、その幅は10〜15μm程度になるが、液晶表示パネルの高精細化によってより狭い単位画像領域Paの幅が求められる状況下では、有効画像領域を十分に確保するために無視できない幅になっている。
本発明は、このような問題に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、光配向露光方式をマルチドメイン法に適用する場合に、単位画像領域を分割した分割領域における境界付近の配向乱れを解消すること、単位画像領域の狭幅化に対して十分な有効画像領域を確保すること、などが本発明の目的である。
このような目的を達成するために、本発明による光配向露光装置及び光配向露光方法は、以下の各特徴を少なくとも具備するものである。
液晶表示素子の各単位画像領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域の配向材料膜をそれぞれ異なる方向に光配向する光配向露光装置であって、前記分割領域の一つである第1分割領域を単独でプロキシミティ露光するための第1マスク及び第1露光装置と、前記分割領域の一つであり前記第1分割領域に隣接する第2分割領域を単独でプロキシミティ露光するための第2マスク及び第2露光装置と、前記第1分割領域と前記第2分割領域の境界付近における前記第1分割領域側の領域を露光するための第3マスク及び第3露光装置を備え、前記第3露光装置は、被露光面に対して前記第1露光装置と同じ光照射角度を備え、前記第3マスクのマスク開口と被露光面との間に前記境界付近における前記第1分割領域側の領域にマスク透過光を集光させる集光手段を備えたことを特徴とする光配向露光装置。
液晶表示素子の各単位画像領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域の配向材料膜をそれぞれ異なる方向に光配向する光配向露光方法であって、前記分割領域の一つである第1分割領域を、第1マスクを介して単独でプロキシミティ露光する第1露光工程と、前記分割領域の一つであり前記第1分割領域に隣接する第2分割領域を、第2マスクを介して単独でプロキシミティ露光する第2露光工程と、前記第1分割領域と前記2分割領域の境界付近における前記第1分割領域側の領域を、第3マスクを介して露光する第3露光工程とを有し、前記第3露光工程は、被露光面に対して前記第1露光工程と同じ光照射角度で露光を行い、前記第3マスクのマスク開口と被露光面との間に集光手段を配置して前記境界付近における前記第1分割領域側の領域にマスク透過光を集光させることを特徴とする光配向露光方法。
このような構成によると、第1露光装置による露光(第1露光工程での露光)と第2露光装置による露光(第2露光工程での露光)で生じる、第1分割領域と第2分割領域の境界付近の配向乱れに対して、配向乱れが生じた領域に第3露光装置による露光(第3露光工程による露光)を集光することで、配向乱れが生じた領域に光配向に十分な強度の露光を行うことができる。これによって、配向乱れが生じた領域に、第1露光装置による露光(第1露光工程での露光)と同じ方向の光配向を施すことができる。
このように本発明の光配向露光装置及び光配向露光方法によると、光配向露光方式をマルチドメイン法に適用する場合に、単位画像領域を分割した分割領域における境界付近の配向乱れを解消することができ、単位画像領域の狭幅化に対して十分な有効画像領域を確保することができる。
従来技術に用いる露光装置を示した説明図である。 従来の光配向露光装置を示した説明図である。 本発明の一実施形態に係る光配向露光装置及び光配向露光方法を示した説明図である。 本発明の実施形態に係る光配向露光装置に用いられるマスクの例を示した説明図であり、同図(a)が第1マスクの例を示し、同図(b)が第2マスクの例を示し、同図(c)が第3マスクの例と集光手段の配置例を示している。 本発明の実施形態に係る光配向露光方法による被露光面上の光配向状態を示した説明図である。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。図3は、本発明の一実施形態に係る光配向露光装置及び光配向露光方法を示した説明図である。図3(a)が光配向露光装置の構成例を示しており、図3(b)が被露光基板(被露光面)の形態例を示している。
光配向露光装置100は、図3(b)に示すように、液晶表示素子の各単位画像領域Paを複数の分割領域Da1,Da2に分割し、各分割領域Da1,Da2の配向材料膜をそれぞれ異なる方向に光配向するための装置である。ここでの配向材料膜は、可逆性の光異性化反応を示す感光性高分子膜であり、配向材料膜の表面に対して斜めに照射された紫外線に反応して、所望のプレチルト角と照射方向に沿った方向の配向が得られるものである。ここでの単位画像領域Paとは、画素或いは一画素内を複数色(R,G,B)毎に分けたサブ画素、又はこれらの集合領域を指している。
光配向露光装置100は、図3(a)に示すように、第1マスクM1及び第1露光装置11、第2マスクM2及び第2露光装置12、第3マスクM3及び第3露光装置13を備えている。第1マスクM1及び第1露光装置11は、前述した分割領域の一つである第1分割領域Da1を単独でプロキシミティ露光するためのものである。第2マスクM2及び第2露光装置12は、前述した分割領域の一つであり前述した第1分割領域Da1に隣接する第2分割領域Da2を単独でプロキシミティ露光するためのものである。第3マスクM3及び第3露光装置13は、第1分割領域Da1と第2分割領域Da2の境界付近(分割線DLの付近)の第1分割領域Da1側の領域を上書き露光するためのものである。
第1露光装置11は、紫外線を照射する光源と光源から出射した光を配向材料膜が形成された被露光基板Bの被露光面Bsに角度θ1(例えば、40°)の傾斜角で照射する光学系を備えている。第2露光装置12は、第1露光装置11と同様に、紫外線を照射する光源と光源から出射した光を被露光面Bsに角度θ2(=−θ1)の傾斜角で照射する光学系を備えている。
第3光学装置13は、第1及び第2露光装置11,12と同様に、紫外線を照射する光源と光源から出射した光を被露光面Bsに角度θ1の傾斜角で照射する光学系を備えている。第3露光装置13の角度(光照射角度)は、被露光面Bsに対して第1露光装置11と同じ光照射角度(角度θ1)を備えている。第1,第2,第3露光装置11,12,13の各光学系は、例えば、従来技術で示した露光装置と同様に、フライアイレンズとコリメートレンズを含むものである。
そして、第3マスクM3のマスク開口と被露光面Bsとの間には、第1分割領域Da1と第2分割領域Da2の境界付近(分割線DLの付近)における第1分割領域Da1側の領域にマスク透過光を集光させる集光手段(集光レンズ)20を備えている。
このような構成を備えた光配向露光装置100は、第1露光装置11による露光と第2露光装置12による露光で生じる、第1分割領域Da1と第2分割領域Da2の境界付近の配向乱れに対して、配向乱れが生じた領域に第3露光装置13による露光を集光することで、配向乱れが生じた領域に光配向に十分な強度の露光を行うことができる。これによって、配向乱れが生じた領域に、第1露光装置11による露光と同じ方向の光配向を施すことができる。
図3に示した実施形態に係る光配向露光装置100を更に詳細に説明する。この実施形態に係る光配向露光装置100は基板走査手段10を備えており、被露光面Bsを有する被露光基板Bは基板走査手段10によって走査方向Sに沿って移動している。走査方向Sは、複数の単位画像領域Paの配列方向であり且つ分割線DLに沿った方向である。
そして、第1マスクM1及び第1露光装置11、第2マスクM2及び第2露光装置12、第3マスクM3及び第3露光装置13を、順次間隔を空けて走査方向Sに沿って配置している。第1露光装置11及び第2露光装置12は、走査方向Sに沿った露光光で且つ被露光面Bsに対して異なる角度(θ1,θ2)の紫外線露光光を照射するものである。第3露光装置13は、走査方向Sに沿った露光光で且つ被露光面Bsに対して角度θ1の紫外線露光光を照射するものである。
このような構成の光配向露光装置100によると、走査方向Sに沿って移動する被露光面Bsに対しては、先ず第1の工程(第1露光工程)で、第1露光装置11によって第1マスクM1を介して第1分割領域Da1を単独でプロキシミティ露光し、その後の第2の工程(第1露光工程)では、第2露光装置12によって第2マスクM2を介して第2分割領域Da2を単独でプロキシミティ露光する。その後、第3の工程(第3露光工程)では、第3露光装置13によって第3マスクM3を介して第1分割領域Da1と第2分割領域Da2の境界付近(分割線DL付近)における第1分割領域Da1側の領域を上書き露光する。第3の工程(第3露光工程)は、被露光面Bsに対して第1露光工程と同じ光照射角度(角度θ1)で露光を行い、第3マスクM3のマスク開口と被露光面Bsとの間に配置した集光手段20によって第1分割領域Da1と第2分割領域Da2の境界付近における第1分割領域Da1側の領域にマスク透過光を集光させる。
図4は、本発明の実施形態に係る光配向露光装置に用いられるマスクの例を示した説明図であり、図4(a)が第1マスクの例を示し、図4(b)が第2マスクの例を示し、図4(c)が第3マスクの例と集光手段の配置例を示している。
図3(b)に示すように、単位画像領域Paがドットマトリクス状に配置されている場合には、これに対応する第1マスクM1は、図4(a)に示すように、複数のスリット状の開口パターンが形成されている。この例では、個々の開口Ma1は被露光面Bs上の第1分割領域Da1上に配置され、第1分割領域Da1とほぼ等しい開口幅W1を有している。そして、スリット状の開口パターンは複数の開口Ma1が互いに平行で、走査方向Sと交差する方向に並列されている。
これに対して、第2マスクM2は、図4(b)に示すように、第1マスクM1に対して開口幅W1だけスライドした位置に複数のスリット状の開口パターンが形成されている。個々の開口Ma2は被露光面Bs上の第2分割領域Da2上に配置されており、開口Ma2は第2分割領域Da2とほぼ等しい開口幅W2を有している。そして、スリット状の開口パターンは複数の開口Ma2が互いに平行で、走査方向Sと交差する方向に並列されている。
第3マスクM3は、図4(c)に示すように、第1分割領域Da1と第2分割領域Da2の境界となる分割線DLの第1分割領域Da1側に複数のスリット状の開口パターンが形成されている。開口Ma3の幅W3は集光手段20の集光機能及びマスクM3と被露光面Bsとの距離に応じて適宜に設定される。
この第3マスクM3に対して、集光手段20は、例えば、開口Ma3の光透過側にそれぞれ単レンズ20aを配置したマイクロレンズアレイとして構成することができる。単レンズ20aの集光機能は、第1露光装置11による露光(第1露光工程での露光)と第2露光装置12による露光(第2露光工程での露光)によって生じる配向乱れの生じる領域の幅にマスク透過光が集光するように設定される。集光手段20は、この例に限らず、開口Ma3毎にシリンドリカルレンズ(かまぼこ状凸レンズ)を個別に配置したものや、かまぼこ状凸レンズを複数一体にしたレンチキュラーレンズなどであってもよい。
図5は、本発明の実施形態に係る光配向露光方法による被露光面Bs上の光配向状態を示した説明図である。図5(a)は第1露光工程による光配向状態、図5(b)は第2露光工程による光配向状態、図5(c)は第3露光工程による光配向状態をそれぞれ示している。図示の例では、一つの画素P1をRGBの色毎に分けたサブ画素を単位画像領域Paとして、各サブ画素を第1分割領域Da1と第2分割領域Da2に分割している。
図4(a)に示した第1マスクM1を用いた第1露光工程では、図5(a)に示すように、各第1分割領域Da1に単独で走査方向Sと同方向の光配向が施される。次ぎに、図4(b)に示した第2マスクM2を用いた第2露光工程では、図5(b)に示すように、各第2分割領域Da2に単独で走査方向Sとは逆方向の光配向が施される。そして、その後の図4(c)に示した第3マスクM3と集光手段20を用いた第3露光工程では、図5(c)に示すように、各第1分割領域Da1と各第2分割領域Da2の境界付近である分割線DLに沿った第1分割領域Da1側の領域に単独で走査方向Sと同方向の光配向が施される。
このような特徴を有する光配向露光装置100を用いた光配向露光方法によると、単位画像領域Pa内の全領域で配向乱れを抑制し、単位画像領域Pa内を一方向に光配向した領域と他方向に光配向した領域にすることができるので、光配向露光方式をマルチドメイン法に適用する場合に、単位画像領域Paの狭幅化に対して十分な有効画像領域を確保することができる。
以上、本発明の実施の形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても本発明に含まれる。特に、図3に示した実施形態では、被露光基板Bの移動(走査)する態様を示しているが、これに限らず、固定した被露光基板Bに対して、順次第1露光工程、第2露光工程、第3露光工程を施すものであってもよい。
1:光源,2:コンデンサレンズ,3:フライアイレンズ,
M:マスク,M1:第1マスク,M2:第2マスク,M3:第3マスク,
B:被露光基板,Bs:被露光面,
P1:画素,Pa:単位画像領域,
Da1:第1分割領域,Da2:第2分割領域,DL:分割線,
10:基板走査手段,
11:第1露光装置,12:第2露光装置,13:第3露光装置,
20:集光手段,20a:単レンズ,
S:走査方向

Claims (5)

  1. 液晶表示素子の各単位画像領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域の配向材料膜をそれぞれ異なる方向に光配向する光配向露光装置であって、
    前記分割領域の一つである第1分割領域を単独でプロキシミティ露光するための第1マスク及び第1露光装置と、前記分割領域の一つであり前記第1分割領域に隣接する第2分割領域を単独でプロキシミティ露光するための第2マスク及び第2露光装置と、前記第1分割領域と前記第2分割領域の境界付近における前記第1分割領域側の領域を露光するための第3マスク及び第3露光装置を備え、
    前記第3露光装置は、被露光面に対して前記第1露光装置と同じ光照射角度を備え、
    前記第3マスクのマスク開口と被露光面との間に前記境界付近における前記第1分割領域側の領域にマスク透過光を集光させる集光手段を備えたことを特徴とする光配向露光装置。
  2. 複数の前記単位画像領域の配列方向であり且つ前記分割領域の分割線に沿って前記被露光面を有する基板を走査する基板走査手段を備え、
    前記基板走査手段の走査方向に沿って、前記第1マスク及び前記第1露光装置、前記第2マスク及び前記第2露光装置、前記第3マスク及び前記第3露光装置を順次間隔を空けて配置し、
    前記第1露光装置及び前記第2露光装置は、前記走査方向に沿った露光光で且つ被露光面に対して異なる角度の紫外線露光光を照射することを特徴とする請求項1記載の光配向露光装置。
  3. 前記集光手段は、前記第3マスクにおける複数のマスク開口の光透過側にそれぞれ単レンズを配置したマイクロレンズアレイであることを特徴とする請求項1又は2記載の光配向露光装置。
  4. 前記単位画像領域は、一画素内を複数色に分けたサブ画素であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の光配向露光装置。
  5. 液晶表示素子の各単位画像領域を複数の分割領域に分割し、各分割領域の配向材料膜をそれぞれ異なる方向に光配向する光配向露光方法であって、
    前記分割領域の一つである第1分割領域を、第1マスクを介して単独でプロキシミティ露光する第1露光工程と、前記分割領域の一つであり前記第1分割領域に隣接する第2分割領域を、第2マスクを介して単独でプロキシミティ露光する第2露光工程と、前記第1分割領域と前記2分割領域の境界付近における前記第1分割領域側の領域を、第3マスクを介して露光する第3露光工程とを有し、
    前記第3露光工程は、被露光面に対して前記第1露光工程と同じ光照射角度で露光を行い、前記第3マスクのマスク開口と被露光面との間に集光手段を配置して前記境界付近における前記第1分割領域側の領域にマスク透過光を集光させることを特徴とする光配向露光方法。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6164142B2 (ja) * 2014-03-31 2017-07-19 東芝ライテック株式会社 液晶パネルの製造装置及び液晶パネルの製造方法
WO2017217300A1 (ja) * 2016-06-14 2017-12-21 シャープ株式会社 偏光照射装置及び液晶表示装置の製造方法
JP2019197187A (ja) * 2018-05-11 2019-11-14 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置および露光方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100319871B1 (ko) * 1994-01-28 2002-08-21 삼성전자 주식회사 액정배향제어막및그제조방법,이를제조하기위한제조장치및제조장치에이용되는마스크의제조방법
JP5302826B2 (ja) * 1999-07-30 2013-10-02 シャープ株式会社 液晶表示装置
JP4401538B2 (ja) 1999-07-30 2010-01-20 シャープ株式会社 液晶表示装置及びその製造方法
JP2003161946A (ja) * 2001-11-27 2003-06-06 Fujitsu Display Technologies Corp 液晶表示装置製造方法及び液晶表示装置
JP2005092137A (ja) * 2003-09-19 2005-04-07 Nikon Corp 露光装置及び露光方法
JP4744518B2 (ja) 2005-06-09 2011-08-10 シャープ株式会社 液晶表示装置
CN102226860B (zh) * 2005-12-02 2013-04-10 夏普株式会社 液晶显示装置的制造方法和用于配向处理的曝光装置
WO2007066596A1 (ja) * 2005-12-09 2007-06-14 Sharp Kabushiki Kaisha 露光方法および露光装置
KR101448001B1 (ko) * 2008-01-29 2014-10-13 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치
JP2012018256A (ja) * 2010-07-07 2012-01-26 Hitachi High-Technologies Corp 液晶用配向膜露光方法及びその装置
KR101829454B1 (ko) * 2010-07-30 2018-02-20 삼성디스플레이 주식회사 다수의 도메인을 갖는 단위화소들이 형성된 액정패널
JP5688730B2 (ja) 2010-09-17 2015-03-25 株式会社ブイ・テクノロジー 露光装置
KR101462272B1 (ko) * 2010-10-01 2014-11-17 가부시키가이샤 에프케이 코우카쿠 겐큐쇼 광 배향 노광 장치 및 광 배향 노광 방법

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