JP5925706B2 - デジタル顕微鏡法の画像強調スポットライト・モード - Google Patents
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- 238000000386 microscopy Methods 0.000 title description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 84
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 28
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 24
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 20
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 9
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 7
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 3
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 7
- 210000003743 erythrocyte Anatomy 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 description 4
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 4
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 4
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 238000003909 pattern recognition Methods 0.000 description 3
- 241000282412 Homo Species 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 206010027145 Melanocytic naevus Diseases 0.000 description 1
- 208000007256 Nevus Diseases 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000009607 mammography Methods 0.000 description 1
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 210000004872 soft tissue Anatomy 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/60—Control of cameras or camera modules
- H04N23/62—Control of parameters via user interfaces
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
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- H—ELECTRICITY
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/261—Details
- H01J37/265—Controlling the tube; circuit arrangements adapted to a particular application not otherwise provided, e.g. bright-field-dark-field illumination
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/46—Colour picture communication systems
- H04N1/56—Processing of colour picture signals
- H04N1/60—Colour correction or control
- H04N1/62—Retouching, i.e. modification of isolated colours only or in isolated picture areas only
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/22—Treatment of data
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/26—Electron or ion microscopes
- H01J2237/28—Scanning microscopes
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
12 スポットライト
16 柱体
18 背景
Claims (24)
- 最初の画像フレーム上で画像化プロセスを実行する画像化装置であり、像強度をデジタル画素値に変換して一組のデジタル画素を生成する画像化装置と、
画像を表示する表示画面、表示データ処理装置およびユーザ制御手段を有する表示装置であり、ユーザが、前記表示画面にスポットライトを配置し、それによってスポットライト領域を画定し、事前定義の一組のユーザ・コマンドの中から、前記スポットライト領域内の画像データに関係した1つまたは複数のユーザ・コマンドを選択することができる表示装置と
を備え、
前記表示データ処理装置に、前記スポットライト領域に類似した画素配列を有する前記最初の画像フレームの他のエリアを探索し、それらのエリアを前記表示装置上で強調表示させる所定のユーザ・コマンドに応答して、前記スポットライト領域の表示を変化させる
画像化アセンブリ。 - 事前定義のユーザ・コマンドによって、前記スポットライト領域内のグレー・シェード・スケールが変化する、請求項1に記載の画像化アセンブリ。
- 前記事前定義のユーザ・コマンドが利用され、事前定義の追加のユーザ・コマンドによって、前記スポットライト領域のグレー・シェード・スケールが前記最初の画像フレームに一般化される、請求項2に記載の画像化アセンブリ。
- 事前定義のユーザ・コマンドによって、前記スポットライト領域が反転コントラストで
示される、請求項1に記載の画像化アセンブリ。 - 事前定義のユーザ・コマンドによって、前記スポットライト内の特徴部分の測定が実施される、請求項1に記載の画像化アセンブリ。
- 事前定義のユーザ・コマンドによって、前記画像化装置が前記スポットライト領域を再画像化する、請求項1に記載の画像化アセンブリ。
- 前記ユーザ制御手段がマウスまたはタッチ・スクリーンを含む、請求項1に記載の画像化アセンブリ。
- 前記スポットライト・エリアを再画像化するときに、前記画像化装置が、最初に画像化したスポットライト・エリア内に見られる像強度範囲により良好に適合した像強度−画素値変換を使用する、請求項6に記載の画像化アセンブリ。
- 前記画像化装置が焦点範囲の調整を含み、前記スポットライト・エリアを再画像化するときに、前記スポットライト領域の最も近い範囲の要素の方が、前記最初の画像フレームの最も近い範囲の要素よりも画像化装置から近い場合に、前記画像化装置が、前記スポットライト領域の最も近い範囲の要素に整合するように前記焦点範囲を調整する、請求項6に記載の画像化アセンブリ。
- 前記画像化装置が走査ビームを利用し、前記最初のフレームを画像化するのに使用した前記走査ビームが、可能な最も細いビームでなかった場合に、前記スポットライト領域の前記再画像化に対してより細いビームが使用される、請求項6に記載の画像化アセンブリ。
- 前記画像化装置が走査ビームを利用し、前記走査ビームからの戻りをサンプリングし、前記最初のフレームを画像化するのに使用した単位走査長当たりのサンプリング・レートが可能な最高のものでなかった場合に、前記スポットライト領域の前記再画像化に対してより速いサンプリング・レートが使用される、請求項6に記載の画像化アセンブリ。
- 前記画像化装置が走査電子顕微鏡である、請求項1に記載の画像化アセンブリ。
- 前記画像化装置が透過型電子顕微鏡である、請求項1に記載の画像化アセンブリ。
- 前記画像化装置が集束イオン・ビーム顕微鏡である、請求項1に記載の画像化アセンブリ。
- 前記画像化装置がスモール・デュアル・ビーム顕微鏡である、請求項1に記載の画像化アセンブリ。
- 前記画像化装置がデジタル光学顕微鏡である、請求項1に記載の画像化アセンブリ。
- 画像を表示する表示画面および前記表示画面を制御する表示データ処理アセンブリを有する画像表示装置と、
前記表示データ処理アセンブリに接続されたユーザ制御手段と
を備え、
前記ユーザ制御手段によって、ユーザが、前記表示画面上にスポットライトを配置することができ、それにより前記スポットライトの内側と前記スポットライトの外側とで画像が異なって表示され、
前記ユーザ制御手段によって、前記スポットライトの内側で、あるパターンと類似したパターンの位置を突き止めるために前記画像上で探索することができ、さらに、ユーザが、前記スポットライトの外側での画像の表示のされ方が前記スポットライトの内側での画像の表示のされ方と同じになるように、前記スポットライトの外側での画像の表示のされ方を変化させることができる
画像表示アセンブリ。 - デジタル画素値を表示画素強度に変換するスケールを、スポットライト領域内のデジタル画素値の範囲により良好に適合するように変更することによって、前記スポットライト内の画像が異なって表示される、請求項17に記載の画像表示アセンブリ。
- 表示画面および前記表示画面を制御する表示データ処理アセンブリを有する画像表示装置と、
前記表示データ処理アセンブリに接続されたユーザ制御手段と
を備え、
前記ユーザ制御手段によって、ユーザが、前記表示画面上にスポットライトを配置すること、および前記スポットライト内のあるパターンを検出し、前記スポットライトの外側に出現する類似のパターンを強調表示するアルゴリズムを実行させることができる
画像表示アセンブリ。 - アナログ電気信号をデジタル電気信号に変換し、それによって一組の画素を形成するアナログ−デジタル変換器を含むデジタル画像形成装置と、
前記画像形成装置から前記画素を受け取るように適合された画像表示装置であり、表示画面および前記表示画面を制御する表示データ処理アセンブリを有し、それによって前記表示画面が第1の画像を表示することができる画像表示装置と、
前記表示データ処理アセンブリに接続されたユーザ制御手段と
を備え、
前記ユーザ制御手段によって、ユーザが、あるパターンを有するエリアを画定する前記表示画面上にスポットライトを配置すること、前記スポットライトの内側で、前記パターンと類似したパターンの位置を突き止めるために前記画像上で前記表示データ処理アセンブリによって探索を開始させること、および前記デジタル画像形成装置が、スポットライト・エリアに対応する領域を再画像化するようにし、前記画像表示装置が、再画像化された前記スポットライト領域を表示するようにすることができる
画像形成および表示アセンブリ。 - 前記デジタル画像形成装置が前記スポットライト・エリアを再画像化するときに、前記デジタル画像形成装置が、最初に画像化したスポットライト・エリア内に見られる像強度の範囲により良好に適合した像強度−画素値変換を使用する、請求項20に記載の画像化アセンブリ。
- 前記デジタル画像形成装置が焦点範囲の調整を含み、前記スポットライト・エリアを再画像化するときに、前記スポットライト領域の最も近い範囲の要素の方が、前記最初の画像フレームの最も近い範囲の要素よりも前記デジタル画像形成装置から近い場合に、前記デジタル画像形成装置が、前記スポットライト領域の最も近い範囲の要素に整合するように前記焦点範囲を調整する、請求項20に記載の画像化アセンブリ。
- 前記デジタル画像形成装置が走査ビームを利用し、前記最初のフレームを画像化するのに使用した前記走査ビームが、可能な最も細いビームでなかった場合に、前記スポットライト領域の前記再画像化に対してより細いビームが使用される、請求項20に記載の画像化アセンブリ。
- 前記デジタル画像形成装置が走査ビームを利用し、前記走査ビームからの戻りをサンプリングし、前記最初のフレームを画像化するのに使用した単位走査長当たりのサンプリング・レートが可能な最高のものでなかった場合に、前記スポットライト領域の前記再画像化に対してより速いサンプリング・レートが使用される、請求項20に記載の画像化アセンブリ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201261593297P | 2012-01-31 | 2012-01-31 | |
US61/593,297 | 2012-01-31 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013157321A JP2013157321A (ja) | 2013-08-15 |
JP2013157321A5 JP2013157321A5 (ja) | 2016-03-17 |
JP5925706B2 true JP5925706B2 (ja) | 2016-05-25 |
Family
ID=47877730
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013014914A Active JP5925706B2 (ja) | 2012-01-31 | 2013-01-30 | デジタル顕微鏡法の画像強調スポットライト・モード |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9204036B2 (ja) |
EP (1) | EP2624040A3 (ja) |
JP (1) | JP5925706B2 (ja) |
CN (1) | CN103295189B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5542478B2 (ja) * | 2010-03-02 | 2014-07-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子線顕微鏡 |
FR3015772B1 (fr) | 2013-12-19 | 2017-10-13 | Aledia | Dispositif optoelectronique a diodes electroluminescentes a extraction de lumiere amelioree |
JP6491957B2 (ja) * | 2015-05-25 | 2019-03-27 | 京セラ株式会社 | 電子機器および画像処理方法 |
DE102015011420B4 (de) | 2015-09-01 | 2017-04-20 | Carl Zeiss Meditec Ag | Verfahren zur Visualisierung einer Membran an einer Retina eines Auges und chirurgisches Mikroskop zur Ausführung des Verfahrens |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3980679B2 (ja) * | 1996-02-16 | 2007-09-26 | 角田 達雄 | 文字・文字列入力処理装置 |
WO2003019523A1 (en) | 2001-08-23 | 2003-03-06 | Fei Company | Graphical automated machine control and metrology |
US20060210129A1 (en) | 2002-07-30 | 2006-09-21 | Deutsches Krebsforschungzentrum | Method and apparatus for multiple labeling detection and evaluation of a plurality of particles |
EP1443757A1 (en) * | 2003-01-31 | 2004-08-04 | Lg Electronics Inc. | Display system for adjusting video parameters for user-selected area |
US7920739B2 (en) * | 2006-12-13 | 2011-04-05 | Adobe Systems Incorporated | Automatically selected adjusters |
JP2010527007A (ja) | 2007-05-07 | 2010-08-05 | ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション | 細胞アッセイ及び組織の自動解析のためのシステム及び方法 |
-
2013
- 2013-01-18 US US13/745,100 patent/US9204036B2/en active Active
- 2013-01-30 CN CN201310035298.5A patent/CN103295189B/zh active Active
- 2013-01-30 JP JP2013014914A patent/JP5925706B2/ja active Active
- 2013-01-30 EP EP13153161.8A patent/EP2624040A3/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9204036B2 (en) | 2015-12-01 |
EP2624040A3 (en) | 2013-08-21 |
CN103295189A (zh) | 2013-09-11 |
JP2013157321A (ja) | 2013-08-15 |
EP2624040A2 (en) | 2013-08-07 |
US20130307960A1 (en) | 2013-11-21 |
CN103295189B (zh) | 2017-11-14 |
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Date | Code | Title | Description |
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A521 | Request for written amendment filed |
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|
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|
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|
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