JP5924128B2 - ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置 - Google Patents

ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5924128B2
JP5924128B2 JP2012119803A JP2012119803A JP5924128B2 JP 5924128 B2 JP5924128 B2 JP 5924128B2 JP 2012119803 A JP2012119803 A JP 2012119803A JP 2012119803 A JP2012119803 A JP 2012119803A JP 5924128 B2 JP5924128 B2 JP 5924128B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
function
beam hardening
ray
hardening correction
imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012119803A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2013244188A (ja
Inventor
佑太 平澤
佑太 平澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Asahi Roentgen Industries Co Ltd
Original Assignee
Asahi Roentgen Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Roentgen Industries Co Ltd filed Critical Asahi Roentgen Industries Co Ltd
Priority to JP2012119803A priority Critical patent/JP5924128B2/ja
Publication of JP2013244188A publication Critical patent/JP2013244188A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5924128B2 publication Critical patent/JP5924128B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

本発明は、ビームハードニングによる誤差を補正するビームハードニング補正装置及びビームハードニング補正方法並びにビームハードニング補正装置を備えるX線撮影装置に関する。
X線撮影装置は、被写体に対してX線を照射するX線照射部と、前記被写体を透過したX線を検出するX線検出部とを備えている。X線照射部のX線管球から発生するX線量子は図15に示すように様々なエネルギーを持つ。
X線は基本的にエネルギーが高いほど減弱しにくいという性質を持つ。つまり、X線が物質を透過するとき、低エネルギーのX線がより多く減弱し、高エネルギーのX線がより多く残ることになる。従って、X線は、物質を透過すればするほど、平均エネルギーが図16(a)→図16(b)→図16(c)のように推移して徐々に高くなるとともに減弱しにくくなる。この現象はビームハードニングと呼ばれている。
もしX線照射部のX線管球から発生するX線量子がたった1つのエネルギーしか持たなかったとすれば、上述したビームハードニングは起こらない。そして、世の中で使われるX線撮影装置の再構成アルゴリズムは、X線照射部のX線管球から発生するX線量子がたった1つのエネルギーしか持たないと仮定している。
しかし、X線照射部のX線管球から実際に発生するX線量子は図15に示すように様々なエネルギーを持つため、ビームハードニングが発生し、再構成画像の画素値にビームハードニングによる誤差が生じ、その誤差によってアーチファクトが出現する。例えば、図17は、X線撮影装置の被写体を水中における2本のアルミ棒にした場合の再構成画像であるが、2本のアルミ棒の間に本来は存在しないはずの像が出現している。この像がビームハードニングによる誤差に起因するアーチファクトである。
ビームハードニングによる誤差に起因するアーチファクトの別の例を図18に示す。図18(a)は、X線撮影装置の被写体を頭部ファントムにした場合の再構成画像であり、図17に出現しているような顕著なアーチファクトは見当たらない。しかしながら、図18(a)を2値化した画像である図18(b)を観察すると、前歯部と臼歯部とで画素値が異なることが分かる。本来は前歯部と臼歯部とでは画素値は同じはずであるが、ビームハードニングの影響で画素値が変動している。このことは、図18(a)にもビームハードニングによる誤差に起因するアーチファクトが出現していることを示している。
特開平10−075947号公報(要約) 特開2010−068832号公報(要約)
従来より、ビームハードニングによる誤差を補正し、再構成画像に出現するアーチファクトを低減させる技術が種々開発されている(例えば、特許文献1及び特許文献2参照)。
しかしながら、特許文献1及び特許文献2で提案されている従来のビームハードニング補正は複数回の処理が必要であるという問題があった。
本発明は、上記の状況に鑑み、1回の処理で再構成画像の軟組織撮影領域も硬組織撮影領域もビームハードニング補正が可能であるビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びX線撮影装置を提供することを目的とするものである。
上記目的を達成するために本発明に係るビームハードニング補正装置においては、X線撮影で得られる投影画像に対して、第1の関数y=f(x)を用いてビームハードニング補正を行うビームハードニング補正装置とし、第1の関数が、第2の関数の逆関数であり、第2の関数が、ロジスティック曲線を表す第3の関数y=α/[1+exp[-β(x-γ)]]を平行移動して得られる関数である構成としている。
このような構成によると、第1の関数(第2の関数の逆関数。なお、第2の関数は、ロジスティック曲線を表す第3の関数y=α/[1+exp[-β(x-γ)]]を平行移動して得られる関数。)を用いたビームハードニング補正が軟組織撮影領域にも硬組織撮影領域にも適しているので、第1の関数を用いたビームハードニング補正のみ、つまり1回の処理で再構成画像の軟組織撮影領域も硬組織撮影領域もビームハードニング補正が可能である。
さらに、第2の関数が、原点を通る関数であって、尚且つ、第2の関数の原点での接線の傾きが1であるという条件及び第2の関数の変曲点が原点であるという条件の少なくとも一つを満たす関数であることが好ましい。例えば、第1の関数を
にするとよい。
このような構成によると、投影画像の画素値が零であった画素がビームハードニング補正によって画素値が零でなくなることを防止することができる。
さらに、定数aの設定値を変更することができることが好ましい。
このような構成によると、定数aの設定値変更のみでビームハードニング補正の強さを調整することができる。
さらに、前記投影画像の各画素値のうち、閾値未満の画素値を第1の関数によって変換し、前記閾値以上の画素値を第1の関数のxに前記閾値を代入して得られる値に変換することが好ましい。
このような構成によると、投影画像のビームハードニング補正後の画素値が大きくなり過ぎたり、投影画像のビームハードニング補正後の画素値が求まらなかったりする不具合を防止することができる。
また、上記目的を達成するために本発明に係るビームハードニング補正方法においては、X線撮影で得られる投影画像に対して、第1の関数y=f(x)を用いてビームハードニング補正を行うビームハードニング補正方法とし、第1の関数が、第2の関数の逆関数であり、第2の関数が、ロジスティック曲線を表す第3の関数y=α/[1+exp[-β(x-γ)]]を平行移動して得られる関数であるようにしている。
また、上記目的を達成するために本発明に係るX線撮影装置においては、被写体に対してX線を照射するX線照射部と、前記被写体を透過したX線を検出するX線検出部と、前記X線検出部の検出結果を用いて投影画像を生成する投影画像生成部と、前記投影画像に対してビームハードニング補正を行う上記いずれかの構成のビームハードニング補正装置とを備える構成とする。
本発明によると、第1の関数(第2の関数の逆関数。なお、第2の関数は、ロジスティック曲線を表す第3の関数y=α/[1+exp[-β(x-γ)]]を平行移動して得られる関数。)を用いたビームハードニング補正のみ、つまり1回の処理で再構成画像の軟組織撮影領域も硬組織撮影領域もビームハードニング補正が可能である。
本発明の一実施形態に係るX線撮影装置の本体部の外観を示す図である。 パノラマ撮影モードの標準軌道を示す図である。 局所CT撮影モードの軌道を示す図である。 局所CT撮影モードにおいて、撮影対象部位の中心を前歯の位置に設定した場合の撮影対象部位の中心及び画像再構成範囲を示す図である。 局所CT撮影モードにおいて、撮影対象部位の中心を左顎の位置に設定した場合の撮影対象部位の中心及び画像再構成範囲を示す図である。 局所CT撮影モードにおいて、撮影対象部位の中心を右第2小臼歯の位置に設定した場合の撮影対象部位の中心及び画像再構成範囲を示す図である。 全歯CT撮影モードの軌道を示す図である。 全顎CT撮影モードの軌道を示す図である。 画像処理装置の構成を示す図である。 測定画像及び投影画像の各例を示す図である。 第3の関数の一例を示すグラフである。 第2の関数の一例を示すグラフである。 第1の関数の一例を示すグラフである。 頭部ファントムの本発明に係るビームハードニング補正を適用して得られた再構成画像及びその2値化画像を示す図である。 X線照射部のX線管球から発生するX線量子のエネルギー分布を示す図である。 ビームハードニングの説明図である。 水中における2本のアルミ棒の再構成画像を示す図である。 頭部ファントムの再構成画像及びその2値化画像を示す図である。
本発明の実施形態について図面を参照して以下に説明する。
まず始めに、本発明の一実施形態に係るX線撮影装置の本体部1(以下、「X線撮影装置の本体部1」と称す)の構成について図1を参照して説明する。図1はX線撮影装置1の本体部の外観を示す図であり、図1(a)は上面図、図1(b)は正面図、図1(c)は側面図である。
X線撮影装置の本体部1は、歯科用あるいは耳鼻科用等のX線撮影装置の本体部であって、床面に載置されるベース2と、ベース2から鉛直方向に立設された下部ポール3と、鉛直方向にスライド可能に下部ポール3に接続される上部ポール4と、上部ポール4の上端部に固定されている固定アーム5と、回転可能に固定アーム5に接続される旋回アーム6と、上部ポール4の中央部に固定されており被写体(例えば歯など)を含む人体の頭部を保持する頭部保持部7とを備えている。実施形態では、固定アーム5が上部ポール4に固定されているが、例えば、X線撮影装置の本体部1を設置する部屋の壁や天井に固定アーム5が直接あるいは部屋の壁や天井との距離を調整することができる調整機構を介して取り付けられる態様であってもよい。
旋回アーム6は、被写体に対してX線を照射するX線照射部8と、被写体を透過したX線を検出するX線検出部9とを対向して配置している。本実施形態では、X線検出部9として、照射されたX線に応じて電気信号を生成する変換素子が二次元状に配置されている二次元X線検出器を用いる。
X線撮影装置の本体部1の撮影モードは特に限定されないが、例えば、パノラマ撮影モードやCT撮影モードを挙げることができる。パノラマ撮影モードでは、X線照射部8及びX線検出部9が歯列弓の形状に沿った所定の軌跡を描くように、旋回アーム6の旋回軸を旋回軸に垂直な方向(X方向、Y方向)に移動させ、旋回アーム6を旋回軸回りに旋回させながら断層撮影を行う。CT撮影モードでは、頭部の対象撮影領域(画像再構成範囲)を中心にして旋回アーム6を回転させながら、対象撮影領域(画像再構成範囲)の断層撮影を行う。
ここで、パノラマ撮影モードについて図2を参照してより詳細に説明する。図2はパノラマ撮影モードの標準(成人用)軌道を示している。パノラマ撮影モードの標準(成人用)軌道では、X線照射部8及びX線検出部9が仮想歯列弓201の形状に沿った所定の軌跡を描いてX線ビームの軌跡が包絡線状の軌跡202になるように、X線照射部8及びX線検出部9が配置されている旋回アーム6を、撮影開始位置P1から図2に示す軌道に沿って撮影終了位置P2まで移動させる。撮影開始位置P1と撮影終了位置P2との間における旋回アーム6の旋回角度は約220度である。なお、撮影終了位置P2を除く図2に示された旋回アーム6の位置は被写体の撮影領域の左半分における各撮影位置である。X線照射部8のX線焦点8Aから射出されるX線は、X線照射部8に設けられているX線絞り8Bによって絞られ、X線検出部9上でのX線ビーム幅Wが調整される。
パノラマ撮影モードは、上述した標準(成人用)軌道の他に、小児用軌道、直行軌道、顎関節撮影軌道、上顎洞撮影軌道などを有していることが好ましい。小児用軌道は、仮想歯列弓201の形状が小さくなる点が標準軌道と異なっている。直行軌道は、各撮影位置でのX線ビームが患者歯列弓203の歯と歯の間を通過するようにしている点が標準軌道と異なっている。顎関節撮影軌道(側面)は、X線照射部8及びX線検出部9が仮想歯列弓201の両端部分(顎関節撮影可能部分)の形状に沿った所定の軌跡を描くように旋回アーム6を移動させる点が標準軌道と異なっている。顎関節撮影軌道(正面)は、X線照射部8及びX線検出部9が仮想線204の形状に沿った所定の軌跡を描くように旋回アーム6を移動させる点が標準軌道と異なっている。上顎洞撮影軌道は、X線照射部8及びX線検出部9が仮想線205の形状に沿った所定の軌跡を描くように旋回アーム6を移動させる点が標準軌道と異なっている。
続いて、CT撮影モードについて図3〜図8を参照してより詳細に説明する。なお、図3〜図8において図2と同一の部分には同一の符号を付す。
局所CT撮影モードは、歯顎領域内の上下歯牙領域全体よりも狭い特定の領域を撮影対象とするCT撮影モードである。局所CT撮影モードの画像再構成範囲は例えば直径51mm高さ55mmの円柱形状の空間領域である。図3は局所CT撮影モードの軌道を示している。局所CT撮影モードでは、図3に示すように、X線検出部9の中心がX線照射部8と旋回アーム6の旋回軸中心206とを結ぶラインの延長線上にくるように旋回アーム6を旋回させながら複数の撮影位置で撮影が行われる。また、局所CT撮影モードでは、通常、図3に示すように、旋回アーム6の旋回軸中心206は定位置になっている。なお、図3には撮影位置として4箇所が図示されているが、これはあくまで例示であり撮影位置は図示された箇所に限定されるものではない。
局所CT撮影モードは、後述する全歯CT撮影モードや全顎CT撮影モードに比べてX線検出部9上でのX線ビーム幅Wが狭いため、X線検出部9のサイズが小さくても実施可能である。
なお、局所CT撮影モードでは、撮影対象部位(関心領域)の中心を何処に設定するかに応じて旋回アーム6の旋回軸中心206の位置を変えるようにしており、通常、図3に示すように、撮影対象部位(関心領域)の中心と旋回アーム6の旋回軸中心206の位置とが一致するように位置調整がなされる。局所CT撮影モードにおける撮影対象部位(関心領域)の中心は任意に設定することができる。図3に示した位置設定の他にも、例えば、図4に示すように撮影対象部位(関心領域)の中心208を仮想歯列弓201上の前歯の位置に設定することもでき、図5に示すように撮影対象部位(関心領域)の中心208を仮想歯列弓201上の左顎の位置に設定することもでき、図6に示すように撮影対象部位(関心領域)の中心208を仮想歯列弓201上の右第2小臼歯の位置に設定することもでき、その他種々の位置設定が可能である。
全歯CT撮影モードは、上下歯牙領域全体を撮影対象とするCT撮影モードである。全歯CT撮影モードの画像再構成範囲は例えば直径97mm高さ100mmの円柱形状の空間領域である。図7は全歯CT撮影モードの軌道を示している。全歯CT撮影モードでは、図7に示すように、X線検出部9の中心がX線照射部8と旋回アーム6の旋回軸中心206とを結ぶラインの延長線上にくるように旋回アーム6を旋回させながら複数の撮影位置で撮影が行われる。また、全歯CT撮影モードでは、通常、図7に示すように、旋回アーム6の旋回軸中心206は定位置になっている。なお、図7には撮影位置として4箇所が図示されているが、これはあくまで例示であり撮影位置は図示された箇所に限定されるものではない。
全歯CT撮影モードは、上述した局所CT撮影モードに比べて撮影対象が広範囲になりX線検出部9上でのX線ビーム幅Wが広くなるため、その広いX線ビーム幅Wに見合ったX線検出部9のサイズを必要とする。
全顎CT撮影モードは、歯顎領域の全ての範囲を撮影対象とするCT撮影モードである。全顎CT撮影モードの画像再構成範囲は例えば直径161mm高さ100mmの円柱形状の空間領域である。図8は全顎CT撮影モードの軌道を示している。全顎CT撮影モードでは、図8に示すように、X線検出部9の中心がX線照射部8と旋回アーム6の旋回軸中心206とを結ぶラインの延長線上からずれるように旋回アーム6を旋回させながら複数の撮影位置で撮影が行われる。また、全顎CT撮影モードでは、通常、図8に示すように、旋回アーム6の旋回軸中心206は定位置になっている。なお、図8には撮影位置として4箇所が図示されているが、これはあくまで例示であり撮影位置は図示された箇所に限定されるものではない。
全顎CT撮影モードは、X線検出部9の中心をX線照射部8と旋回アーム6の旋回軸中心206とを結ぶラインの延長線上からずらして撮影を行っているので、上述した全歯CT撮影モードよりも画像再構成範囲207を拡大することができる。したがって、X線検出部9のサイズアップを抑えながら歯顎領域の全ての範囲を撮影対象とすることができる
なお、全顎CT撮影モードにおいて、X線検出部9をサイズアップして、X線検出部9上でのX線ビーム幅Wを図8に示す場合よりも拡大し、画像再構成範囲を例えば直径230mm高さ164mmの円柱形状の空間領域にすることで、歯顎領域の全ての範囲のみならず、頭頸部領域の全ての範囲を撮影対象とすることも可能である。
上述したパノラマ撮影モード及びCT撮影モードでは、撮影時に患者歯列弓203が想定した位置(図2、図3、図7、図8に図示した位置)に存在することで、撮影者が意図していた通りの撮影を行うことができる。患者歯列弓203の想定した位置への位置合わせを容易に実現する方法としては、例えば、光ビームを利用する方法を挙げることができる。当該光ビームとしては、例えば、頭の正中線の位置を示す正中線光ビーム、眼窩下縁と外耳道を結ぶ線の位置を示す水平線光ビーム、犬歯の位置(断層撮影の基準位置)を示す断層基準線光ビームなどがあり、これらの光ビームの出力部をX線撮影装置に設け、これらの光ビームを参考にして患者が頭の位置を微調整するとよい。
また、旋回アーム6から離れた位置に設置するセファロ用ユニット(不図示)を用い、セファロ撮影モードでの撮影が行えるようにしてもよい。セファロ用ユニットは、被写体を透過 したX線を検出して、被写体をセファロ撮影するためのセファロ用X線検出部と、頭部を固定するための頭部固定部とを備える。セファロ撮影は、歯科矯正の診断等に用いられ、頭部規格X線撮影法(セファロ撮影法)を用いて撮影する。セファロ撮影では、例えば、頭部固定部のイヤーロッドを頭部の左右の外耳孔部に挿入して固定し、旋回アーム6に設けられたX線照射部8からX線を照射して、被写体を透過したX線をセファロ用X線検出部で検出する。
本発明の一実施形態に係るX線撮影装置は、X線撮影装置の本体部1の他に、図9に示す画像処理装置10も備えている。
画像処理装置10は、ROM102やHDD107に格納されているプログラムに従って画像処理装置10全体を制御するCPU101と、固定的なプログラムやデータを記録するROM102と、作業メモリを提供するRAM103と、X線撮影装置の本体部1内に格納されX線撮影装置の本体部1の各部を制御する制御部(不図示)との間で通信を行うための通信インターフェース部104と、画像データを一時的に記憶するVRAM105と、VRAM105に記憶された画像データに基づいて画像を表示する表示部106と、前記制御部及びCPU101が協働してX線撮影動作を制御するための撮影制御プログラム、再構成画像を生成するための画像再構成処理プログラム、ビームハードニング補正処理を行うためのビームハードニング補正処理プログラム等の各種プログラム、各種プログラムを実行する際に用いられる各種パラメータの設定値、並びに、再構成画像データ等の各種データを記憶するHDD107と、キーボード、ポインティングデバイス等の入力部108とを備えている。
画像処理装置10と前記制御部との通信方法は、有線通信でもよく、無線通信でもよく、有線と無線を組み合わせた通信であってもよい。画像処理装置10としては、例えば、パーソナルコンピュータを挙げることができる。なお、画像処理装置10は、画像処理以外に、X線撮影装置の本体部1の遠隔操作、画像表示も行う。HDD107に記憶されている各プログラムは、画像処理装置10にプリインストールされていてもよく、光ディスク等の記憶媒体に格納された形態で流通されて画像処理装置10にインストールされてもよく、ネットワークを介して流通されて画像処理装置10にインストールされてもよい。
ビームハードニング補正処理プログラムを実行すると、画像処理装置10はビームハードニング補正装置として機能する。ビームハードニング補正処理は画像再構成処理中に割り込んで実施される。
X線検出部9から出力され、画像処理装置10が受信する画像は、測定画像と呼ばれる。測定画像の各画素値は、X線検出部9の各検出素子に到達したX線量子の個数に比例した値を表しているとみなすことができる。
画像再構成処理プログラムで使用される再構成アルゴリズムは、X線量子の個数ではなく、X線の線減弱係数の線積分を用いて断面を再構成する。このため、画像再構成処理において、X線量子の個数の分布を示す測定画像を、線減弱係数の線積分の分布を示す画像(投影画像)に変換する必要がある。以下、測定画像から投影画像への変換(対数変換)について詳述する。
画素のラベルをi、被写体が存在しないときの測定画像の画素値をI0(i)、今回再構成を所望する被写体を置いたときの測定画像の画素値をI(i)、X線の経路をs、位置sにおける線減弱係数をμ(s)とすると、次の式(1)が成り立つ。この式(1)は、X線の減弱の様子を表す方程式である。
式(1)の左辺が測定画像の画素値であるのに対し、右辺の指数関数の中身は投影画像の画素値を正負反転したものである。よって、式(1)を指数関数の中身に関して解くことで、測定画像から投影画像への変換(対数変換)の変換式が求まる。よって、対数変換の変換式は次の式(2)のようになる。
ここで、測定画像の一例を図10(a)に示し、図10(a)の測定画像を対数変換して得られる投影画像を図10(b)に示す。
画像処理装置10が実施するビームハードニング補正処理では、投影画像に対して、第1の関数y=f(x)を用いてビームハードニング補正を行う。ここで、第1の関数は、第2の関数の逆関数である。また、第2の関数は、ロジスティック曲線を表す第3の関数y=α/[1+exp[-β(x-γ)]]を平行移動して得られる関数である。
本実施形態では、第3の関数の各定数α、β、γをα=2a、β=2/a、γ=0に設定している。さらに、本実施形態では、第2の関数が、原点を通る関数であって、尚且つ、第2の関数の原点での接線の傾きが1であるという条件、第2の関数の変曲点が原点であるという条件を満たす関数となるように、第3の関数をy方向に-a平行移動して得られる関数を第2の関数にしている。よって、本実施形態では、第3の関数は次の式(3)で表され、第2の関数は次の式(4)で表され、第1の関数は次の式(5)で表される。そして、式(3)で定数aの設定値を5にしたときのグラフは図11に示すようになり、式(4)で定数aの設定値を5にしたときのグラフは図12に示すようになり、式(5)で定数aの設定値を5にしたときのグラフは図13に示すようになる。図13に示すグラフのx軸はビームハードニング補正前の投影画像の画素値を示す軸であり、図13に示すグラフのy軸はビームハードニング補正後の投影画像の画素値を示す軸である。
投影画像の画素値は零または正の値であるので、本実施形態では第1の関数の原点または第1象限を用いてビームハードニング補正を行っている。上述した第1の関数を用いたビームハードニング補正によって、投影画像の画素値は大きいほど、より大きくなるように変換される。また、上述した第1の関数を用いたビームハードニング補正が軟組織撮影領域にも硬組織撮影領域にも適しているので、上述した第1の関数を用いたビームハードニング補正のみ、つまり1回の処理で再構成画像の軟組織撮影領域も硬組織撮影領域もビームハードニング補正が可能である。
ここで、X線撮影装置の被写体が頭部ファントムであり、本実施形態でのビームハードニング補正を適用して得られる再構成画像を図14(a)に示し、図14(a)を2値化した画像を図14(b)に示す。図14(b)と図18(b)とを比較すれば明らかな通り、本実施形態でのビームハードニング補正を適用することで、ビームハードニングによる誤差に起因するアーチファクトを低減できていることが分かる。
なお、定数aの設定値を変更することでビームハードニング補正の強さを調整することができるので、定数aの設定値が変更可能であることが好ましい。
定数aの設定値を変更可能にした場合、定数aの設定値が手動で変更されるようにしてもよく、定数aの設定値が自動で変更されるようにしてもよく、手動変更と自動変更の両方が選択可能であるようにしてもよい。
定数aの設定値が手動で変更される場合としては、例えば撮影者が再構成画像を観察しビームハードニング補正の強さを調整する必要があると判断すれば、入力部108を操作して定数aの設定値を変更すればよい。これにより、HDD107が定数aの設定値を記憶し直すことになり、それ以後の撮影によって得られる投影画像に対するビームハードニング補正において、定数aの設定値変更が反映される。
定数aの設定値が自動で変更される場合としては、例えばX線照射部のX線管球に印加される管電圧の設定値が変更されると、ビームハードニングの状態が変化するので、管電圧の設定値変更に連動して定数aの設定値が自動で変更されるようにすればよい。この連動変更は、例えば、管電圧の設定値と定数aの設定値との関係を示すデータテーブル或いは関係式をHDD107に記憶させておくことで容易に実現することができる。
また、投影画像のビームハードニング補正後の画素値が大きくなり過ぎたり、投影画像のビームハードニング補正後の画素値が求まらなかったりする不具合を防止するために、投影画像の各画素値のうち、閾値未満の画素値を上述した第1の関数によって変換し、前記閾値以上の画素値を上述した第1の関数のxに前記閾値を代入して得られる値に変換することが好ましい。
図13に示すグラフの場合であれば、例えばy=10に対応するxの値を前記閾値の設定値とすればよい。また、例えばHDD107が前記閾値の設定値を記憶するようにすればよい。前記閾値の設定値も定数aの設定値と同様に変更可能であることが好ましい。
1 本発明の一実施形態に係るアーム型X線撮影装置の本体部
2 ベース
3 下部ポール
4 上部ポール
5 固定アーム
6 旋回アーム
7 頭部保持部
8 X線照射部
8A X線焦点
8B X線絞り
9 X線検出部
10 画像処理装置
101 CPU
102 ROM
103 RAM
104 通信インターフェース部
105 VRAM
106 表示部
107 HDD
108 入力部
201 仮想歯列弓
202 包絡仮想歯列弓
203 患者歯列弓
204、205 仮想線
206 旋回アームの旋回軸中心
207 画像再構成範囲
P1 撮影開始位置
P2 撮影終了位置
W X線検出部上でのX線ビーム幅

Claims (7)

  1. X線撮影で得られる投影画像に対して、第1の関数y=f(x)を用いてビームハードニング補正を行うビームハードニング補正装置であって、
    第1の関数が、第2の関数の逆関数であり、
    第2の関数が、ロジスティック曲線を表す第3の関数y=α/[1+exp[-β(x-γ)]]を平行移動して得られる関数であることを特徴とするビームハードニング補正装置。
  2. 第2の関数が、原点を通る関数であって、尚且つ、第2の関数の原点での接線の傾きが1であるという条件及び第2の関数の変曲点が原点であるという条件の少なくとも一つを満たす関数である請求項1に記載のビームハードニング補正装置。
  3. 第1の関数が、
    である請求項2に記載のビームハードニング補正装置。
  4. 定数aの設定値を変更することができる請求項3に記載のビームハードニング補正装置。
  5. 前記投影画像の各画素値のうち、閾値未満の画素値を第1の関数によって変換し、前記閾値以上の画素値を第1の関数のxに前記閾値を代入して得られる値に変換する請求項1〜4のいずれか1項に記載のビームハードニング補正装置。
  6. X線撮影で得られる投影画像に対して、第1の関数y=f(x)を用いてビームハードニング補正を行うビームハードニング補正方法であって、
    第1の関数が、第2の関数の逆関数であり、
    第2の関数が、ロジスティック曲線を表す第3の関数y=α/[1+exp[-β(x-γ)]]を平行移動して得られる関数であることを特徴とするビームハードニング補正方法。
  7. 被写体に対してX線を照射するX線照射部と、
    前記被写体を透過したX線を検出するX線検出部と、
    前記X線検出部の検出結果を用いて投影画像を生成する投影画像生成部と、
    前記投影画像に対してビームハードニング補正を行う請求項1〜5のいずれか1項に記載のビームハードニング補正装置とを備えることを特徴とするX線撮影装置。
JP2012119803A 2012-05-25 2012-05-25 ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置 Active JP5924128B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012119803A JP5924128B2 (ja) 2012-05-25 2012-05-25 ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012119803A JP5924128B2 (ja) 2012-05-25 2012-05-25 ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013244188A JP2013244188A (ja) 2013-12-09
JP5924128B2 true JP5924128B2 (ja) 2016-05-25

Family

ID=49844456

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012119803A Active JP5924128B2 (ja) 2012-05-25 2012-05-25 ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5924128B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6142172B2 (ja) * 2014-06-03 2017-06-07 朝日レントゲン工業株式会社 ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06142094A (ja) * 1992-11-10 1994-05-24 Hitachi Medical Corp ビームハードニング補正機能を持つx線ct装置
US20030189579A1 (en) * 2002-04-05 2003-10-09 Pope David R. Adaptive enlarging and/or sharpening of a digital image
US8611625B2 (en) * 2007-11-29 2013-12-17 Shimadzu Corporation Tomographic apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013244188A (ja) 2013-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9907520B2 (en) Digital tomosynthesis systems, methods, and computer readable media for intraoral dental tomosynthesis imaging
Pauwels et al. Technical aspects of dental CBCT: state of the art
JP6335844B2 (ja) Ctにおける放射線量低減のための自動管電圧選択方法
JP2008104762A (ja) X線断層撮影装置およびアーチファクトの低減方法
JP5480467B2 (ja) 自動プロトコル・アシスタンス装置
JP4989473B2 (ja) 傾斜した構成を用いた3次元再現方法及び装置
Pauwels What is CBCT and how does it work?
US10019795B2 (en) Focal spot de-blurring
JP6201235B2 (ja) 散乱線補正装置、散乱線補正方法、及びx線撮影装置
JP6142172B2 (ja) ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置
JP5924128B2 (ja) ビームハードニング補正装置、ビームハードニング補正方法、及びx線撮影装置
JP2014014451A (ja) X線撮影装置
JP6051393B2 (ja) ポアソンノイズ除去装置、ポアソンノイズ除去方法、及びx線撮影装置
Kumar et al. Basics of CBCT imaging
JP6142289B2 (ja) 散乱線補正装置、散乱線補正方法、及びx線撮影装置
JP6307763B2 (ja) 画像再構成装置、画像再構成方法、及びx線撮影装置
JP6299045B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及びx線撮影装置
JP6201229B2 (ja) 画像再構成装置、画像再構成方法、及びx線撮影装置
JP5681926B2 (ja) 医療用x線撮影装置
JP2005034436A (ja) 放射線画像撮影装置
WO2018235393A1 (ja) X線ct装置及びx線照射条件設定方法
WO2024042901A1 (ja) X線撮像装置
JP6375575B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、及びx線撮影装置
JP6183884B2 (ja) 放射線断層撮影装置および投影データ補正方法並びにプログラム
JP2020151259A (ja) バイアス付きノイズ除去装置、バイアス付きノイズ除去方法、及びx線撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150514

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160229

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160322

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160404

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5924128

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D03

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250