JP5923824B2 - 画像処理装置 - Google Patents
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Description
図1は本実施の形態に係る硬さ試験装置を示す概略図である。硬さ試験装置は、図1に示すように、硬さ試験機10、及び硬さ試験機10を制御するコンピュータシステム20を有する。なお、本実施の形態において、硬さ試験装置は、合成画像を生成するための画像処理装置としても機能する。
次に、図10を参照して、第2の実施の形態に係る硬さ試験装置について説明する。第2の実施の形態に係る硬さ試験装置は、第1の実施の形態と異なる硬さ試験機30を有する。この点のみ第2の実施の形態は第1の実施の形態と異なり、その他の構成及び動作は第1の実施の形態と同様である。
次に、第3の実施の形態に係る硬さ試験装置について説明する。第3の実施の形態に係る硬さ試験装置は、ステージ13の移動方法のみにおいて第1の実施の形態と異なる。ここで、上記第1の実施の形態はワークWの指定された領域を撮像する。これに対して、第3の実施の形態は、図11に示すように、予め撮像された画像に基づきワークWのエッジEを追跡し(エッジ追跡処理)、そのエッジEに沿って画像IM(1)〜IM(4)を撮像する。そして、第3の実施の形態は、それら画像IM(1)〜IM(4)に対して前述の画像マッチングを実行して合成画像IMaを生成する。
Claims (7)
- 測定対象を撮像する撮像部と、
前記測定対象を載置可能に且つ前記撮像部に対して相対移動可能に構成されたステージと、
前記撮像部を前記ステージに対して相対移動させて前記撮像部により前記測定対象を複数箇所で撮像して複数の画像を取得し、得られた複数の前記画像又はこれらの画像から所定の処理により求められた画像を合成することにより前記撮像部の撮像範囲よりも広い範囲の前記測定対象の合成画像を生成する制御部とを備え、
前記制御部は、
前記撮像部により取得された互いに隣接する画像の一部が重複するように前記ステージに対して前記撮像部を相対移動させ、
前記隣接する画像の重複部分を画像マッチングさせる画像マッチング処理を行い、
前記画像マッチング処理において画像マッチングした位置で、前記隣接する画像を結合することにより前記測定対象の合成画像を生成し、
前記画像マッチング処理によって前記合成画像の座標系と前記ステージの座標系との角度のずれを算出し、
前記合成画像の座標系における軸をX´軸及びY´軸と、
前記ステージの座標系における軸をX軸及びY軸と、
前記ステージの座標系と前記合成画像の座標系との角度のずれをθとすると、
前記ステージに対して前記撮像部を前記X´軸に沿ってΔX O だけ相対移動させる場合には、前記ステージに対して前記撮像部を、前記X軸に沿ってΔX O だけ相対移動させると共に、前記Y軸に沿ってΔX O ・θだけ相対移動させ、
前記ステージに対して前記撮像部を前記Y´軸に沿ってΔY O だけ相対移動させる場合には、前記ステージに対して前記撮像部を、前記Y軸に沿ってΔY O だけ相対移動させると共に、前記X軸に沿ってΔY O ・θだけ相対移動させる
ことを特徴とする画像処理装置。 - 前記制御部は、前記重複部分を画像圧縮して圧縮画像を生成し、前記圧縮画像による画像マッチング処理を行うことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
- 前記制御部は、前記重複部分を二値化して二値化画像を生成し、前記二値化画像による画像マッチング処理を行うことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
- 前記制御部は、前記重複部分の輪郭を抽出してエッジ画像を生成し、前記エッジ画像による画像マッチング処理を行うことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
- 前記制御部は、前記重複部分を画像圧縮して圧縮画像を生成し、前記圧縮画像同士を画像マッチングして前記圧縮画像間の相対位置を取得し、前記圧縮画像間の相対位置を初期値として前記画像マッチング処理を実行する
ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。 - 前記制御部は、前記重複部分を二値化して二値化画像を生成し、前記二値化画像同士を画像マッチングして前記二値化画像間の相対位置を取得し、前記二値化画像間の相対位置を初期値として前記画像マッチング処理を実行する
ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。 - 前記制御部は、前記重複部分の輪郭を抽出してエッジ画像を生成し、前記エッジ画像同士を画像マッチングして前記エッジ画像間の相対位置を取得し、前記エッジ画像間の相対位置を初期値として前記画像マッチング処理を実行する
ことを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
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AT518859B1 (de) * | 2016-08-12 | 2018-02-15 | Qness Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Härteprüfung |
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CN113375555A (zh) * | 2018-07-02 | 2021-09-10 | 广西电网有限责任公司北海供电局 | 一种基于手机影像的电力线夹测量方法及系统 |
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DE102018126050A1 (de) * | 2018-10-19 | 2020-04-23 | Fraunhofer-Gesellschaft für die angewandte Forschung e.V. | Verfahren zum absortiervorgang unterstützenden anzeigen von werkstück-darstellungen |
US11733181B1 (en) | 2019-06-04 | 2023-08-22 | Saec/Kinetic Vision, Inc. | Imaging environment testing fixture and methods thereof |
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JPH09281405A (ja) * | 1996-04-17 | 1997-10-31 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡システム |
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JP3586371B2 (ja) * | 1998-03-31 | 2004-11-10 | 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ | 電子部品認識装置 |
JPH11331556A (ja) * | 1998-05-20 | 1999-11-30 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 画像処理装置 |
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US6996264B2 (en) * | 2002-10-18 | 2006-02-07 | Leco Corporation | Indentation hardness test system |
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US7792338B2 (en) * | 2004-08-16 | 2010-09-07 | Olympus America Inc. | Method and apparatus of mechanical stage positioning in virtual microscopy image capture |
US20060256397A1 (en) * | 2005-05-12 | 2006-11-16 | Lexmark International, Inc. | Method and system for combining images |
JP4407663B2 (ja) * | 2005-10-13 | 2010-02-03 | 株式会社デンソーウェーブ | 撮像装置 |
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