JP5916823B2 - 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置 - Google Patents

太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5916823B2
JP5916823B2 JP2014187019A JP2014187019A JP5916823B2 JP 5916823 B2 JP5916823 B2 JP 5916823B2 JP 2014187019 A JP2014187019 A JP 2014187019A JP 2014187019 A JP2014187019 A JP 2014187019A JP 5916823 B2 JP5916823 B2 JP 5916823B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photonic crystal
photoelectric conversion
solar cell
medium
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2014187019A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2015026850A (ja
Inventor
博昭 重田
博昭 重田
有史 八代
有史 八代
裕介 津田
裕介 津田
宮西 晋太郎
晋太郎 宮西
野田 進
進 野田
誠之 冨士田
誠之 冨士田
田中 良典
良典 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyoto University
Sharp Corp
Original Assignee
Kyoto University
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kyoto University, Sharp Corp filed Critical Kyoto University
Priority to JP2014187019A priority Critical patent/JP5916823B2/ja
Publication of JP2015026850A publication Critical patent/JP2015026850A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5916823B2 publication Critical patent/JP5916823B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0352Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
    • H01L31/035209Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions comprising a quantum structures
    • H01L31/035227Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions comprising a quantum structures the quantum structure being quantum wires, or nanorods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0352Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
    • H01L31/035272Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/035281Shape of the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/036Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
    • H01L31/0392Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/036Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
    • H01L31/0392Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate
    • H01L31/03921Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate including only elements of Group IV of the Periodic Table
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/054Optical elements directly associated or integrated with the PV cell, e.g. light-reflecting means or light-concentrating means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/075Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PIN type, e.g. amorphous silicon PIN solar cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/52PV systems with concentrators
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/548Amorphous silicon PV cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

本発明は、フォトニック結晶構造を備えた太陽電池、複数の上記太陽電池を配列した太陽電池パネルおよび上記太陽電池を電源として搭載した装置に関するものである。
現在、例えば、太陽電池または光センサなどに、入射光を光電変換することで電気信号に変換する光電変換素子が一般的に用いられている。このような光電変換素子には半導体が用いられており、半導体のバンドギャップを越えるエネルギーを持った電磁波(光)が入射したとき、半導体において電子が、価電子帯から伝導帯へ励起され、光電変換が発生する。
例えば、アモルファス半導体であるa‐Siでは、波長700nm程度以下に吸収があることが一般的に知られている(光の吸収端が700nm付近)。つまり、吸収端より短波長の電磁波(光)では、光起電力材料において光の吸収があるため、光起電力材料では光電変換が発生する。しかし、加工方法や製造方法の改善により、実際のデバイスでは820nm程度まで吸収が存在するため、波長700nmから820nm程度までの帯域でも光起電力の発生が期待できる。
図32は、a‐Si(厚み330nm)の光の波長に対する吸収率の実測値を表す図である。
図32に示すように、a‐Siの場合、波長約520nm以下では吸収のピークが続き、波長が520nm付近から、吸収端の波長である820nmの方へ大きくなるとともに、吸収率が低下している。これは、半導体の吸収端から吸収ピーク間では、光と電子との相互作用が弱くなるため、この間の電磁波(光)はa‐Siを透過しやすくなるからである。したがって、半導体の吸収端から吸収ピーク間で光電変換効率が悪くなる。このため、この吸収端から吸収ピーク間で、半導体が充分に光を吸収するには、半導体を厚膜化する必要がある。
近年では、光の吸収率を向上させるために、例えば下掲の特許文献1〜4に開示されているように、フォトニック結晶を用いた光電変換素子が開発されている。
図33は、特許文献1に開示されている太陽電池セルの構成を表す概略図である。
フォトニック結晶は、誘電率が異なる周期構造が、光の波長と同程度の周期で誘電体内に人工的に形成されたものである。
図33に示すように、太陽電池セル101では、分散型ブラッグ反射器(DBR)102に積層された光起電力材料103の中に、複数のエアホールが形成されたフォトニック結晶構造104が形成されている。
光起電力材料103に進入した入射光iから、フォトニック結晶構造104によって正反射された反射光r0、フォトニック結晶構造104によって回折された回折光r1、フォトニック結晶構造104によって屈折された屈折光tが生じる。
回折光r1は、入射角θより大きな角度θ’で回折されるため、光起電力材料103内の光路長を長くすることに寄与する。また、光起電力材料103と外界の空気との界面では、内部全反射が起きることにより、回折光r1は、光起電力材料103内での共鳴を起こす。このため、光起電力材料103による光の吸収率が向上する。
また、屈折光tと、分散型ブラッグ反射器102で反射されフォトニック結晶構造104に戻る光とは、フォトニック結晶構造104の内部で跳ね返って行き来する共鳴を起こし、徐々に吸収される。このことも、光の吸収率を改善する。
このような、太陽電池セル101では、光起電力材料103およびフォトニック結晶構造104内で入射光を共鳴させることで光を吸収し、光起電セルの吸収効率を向上させることができる。特に、共鳴波長を、入射光の吸収率が小さい長波長側に出現させることで、太陽光の広範囲の波長を吸収できる吸収体を実現することができる。
また、下掲の非特許文献2には、バンド端が形成されたフォトニック結晶を用いた太陽電池について開示されている。非特許文献2に開示されている太陽電池の構成について、図34を用いて説明する。
図34に示す太陽電池200では、有機材料の光起電力層203にフォトニック結晶を加工し、そのバンド端を用いることで、光起電力層203の吸収を増強する。その結果として、フォトニック結晶により設計したバンドのバンド端を用いることで、光起電力層203で吸収する波長のうち、吸収の低い波長の吸収を増強し、全体の光起電力量を増加させている。
日本国公表特許公報「特表2009‐533875号(2009年9月17日公表)」 日本国公開特許公報「特開2006‐24495号(2006年1月26日公開)」 日本国公開特許公報「特開2006‐32787号(2006年2月2日公開)」 国際公開WO2007/108212号(2007年9月27日国際公開)
C.Manolatou, M.J.Khan, Shanhui Fan, Pierre R.Villeneuve, H.A.Haus, Life Fellow, IEEE, and J.D.Joannopoulos "Coupling of Modes Analysis of Resonant Channel Add-Drop Filters"/IEEE JOUNAL OF QUANTUM ELECTRONICS/SEPTEMBER 1999 VOL.35, NO.9, PP.1322-1331 J.R.Tumbleston, Doo-Hyun Ko, Edward T.Samulski, and Rene Lopez "Absorption and quasiguided mode analysis of organic solar cells with photonic crystal photoactive layers"/OPTICS EXPRESS/Optical Society of America/ April 27, 2009 Vol.17,No.9 PP.7670-7681
しかしながら、特許文献1に開示された太陽電池セル101には、以下のような課題点が存在する。特許文献1には、フォトニック結晶の効果に関する詳細な記述が無いため、フォトニック結晶の効果として、厚み等の条件を変更した場合に共鳴の効果であるQ値(もしくは結合の容易さとして後述する係数κ、αなど)が大きくなるのか小さくなるのかが不明である。
つまり、フォトニック結晶は、(1)Q値を大きくすれば、光と対象デバイスとの相互作用が無くなり、光が対象デバイスに吸収されにくくなるという効果を持つため、光の吸収に寄与させるためには、無制限にQ値が大きくなれば良いわけではない。
また、上掲の非特許文献1に記載されたフォトニック結晶のモード結合理論を本願発明者グループが検討した結果、(2)フォトニック結晶の構造が持つ外部との結合の容易さκv(共振器で考えた場合のQv)と光起電力デバイスがもともと持つ特性としての吸収の容易さα(共振器で考えた場合のQα)がほぼ等しければ、最大の吸収効果を持つということを新たに見出した。
このため、上記(1)(2)を考慮すると、フォトニック結晶の設計条件として、より効率的に吸収される条件が、特許文献1には明示されていないことが問題点である。要するに、特許文献1の開示から、フォトニック結晶による吸収増強の効果を十分に発揮するための知見を到底得ることはできない。
また、非特許文献2についても同様に、より効率的に吸収される条件が明示されていないため、フォトニック結晶によるバンド端を形成することはできても、吸収に寄与させるために設計される波長帯域が狭くなる。このように、光を吸収する波長帯域が狭いため、光起電力層203の波長(波長帯域)に対する全体の光起電力量向上が小さい。このため、非特許文献2の太陽電池200では、光電変換を行なうデバイスとして、実用上の難点がある。
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、フォトニック結晶構造を備えた太陽電池の光の吸収率を高め、太陽電池の起電力を増大させることにある。
本発明の第1の太陽電池は、上記の課題を解決するために、
(1)光電変換層と、
(2)上記光電変換層の内部に形成されたフォトニック結晶とを備え、
(3)上記フォトニック結晶と外界との結合の強度を表す係数κVの逆数に比例し、上記フォトニック結晶と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQと、上記光電変換層の媒質による光の吸収係数の逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQαとが、0.2Q≦Qα≦5.4Qを満たす範囲にあることを特徴とする。
本発明の第2〜第19の太陽電池については、後述する。
本発明の第20の太陽電池は、
(1)複数の半導体が積層された光電変換層と、当該光電変換層の内部に形成されたフォトニック結晶とを備えた太陽電池であって、
(2)複数積層された上記半導体のうち、少なくとも1つの層に突起が形成されており、
(3)上記フォトニック結晶は、上記突起が形成された半導体を含むものであり、
(4)上記フォトニック結晶による共鳴ピーク波長をλとしたとき、上記突起は、λ/4以上、λ以下のピッチで、二次元に周期的に配置されており、
(5)上記フォトニック結晶と外界との結合の強度を表す係数κVの逆数に比例し、上記フォトニック結晶と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQと、上記光電変換層の媒質による光の吸収係数αの逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQαとが、0.2Q≦Qα≦5.4Qを満たす範囲にあることを特徴としている。
本発明の太陽電池は、以上のように、光電変換層と、上記光電変換層の内部に形成されたフォトニック結晶とを備え、上記フォトニック結晶と外界との結合の強度を表す係数κVの逆数に比例し、上記フォトニック結晶と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQと、上記光電変換層の媒質による光の吸収係数の逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQαとが、0.2Q≦Qα≦5.4Qを満たす範囲にある構成である。
それゆえ、フォトニック結晶による光の吸収効果が高くなるので、フォトニック結晶構造を備えた太陽電池の光の吸収率を高めることができるという効果を奏する。
また、本発明の太陽電池は、複数の半導体が積層された光電変換層と、当該光電変換層の内部に形成されたフォトニック結晶とを備えた太陽電池であって、複数積層された上記半導体のうち、少なくとも1つの層に突起が形成されており、上記フォトニック結晶は、上記突起が形成された半導体を含むものであり、上記フォトニック結晶による共鳴ピーク波長をλとしたとき、上記突起は、λ/4以上、λ以下のピッチで、二次元に周期的に配置されており、上記フォトニック結晶と外界との結合の強度を表す係数κVの逆数に比例し、上記フォトニック結晶と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQと、上記光電変換層の媒質による光の吸収係数の逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQαとが、0.2Q≦Qα≦5.4Qを満たす範囲にある構成である。
それゆえ、半導体層に複数の突起を形成することで、フォトニック結晶を構成することができる上、フォトニック結晶による光の吸収効果が高くなるので、フォトニック結晶構造を備えた太陽電池の光の吸収率を向上させることができるという効果を奏する。
一実施形態に係る太陽電池の全体構成を概略的に示す図である。 フォトニック結晶の構成を示す図であり、(a)は上面を示し、(b)(c)は(a)のA−B線矢視断面を示している。 フォトニック結晶に対する光の入射方向と、規格化周波数との関係によってフォトニックバンド構造を示すグラフである。 三角格子を持つフォトニック結晶の逆格子空間中の位置を示す説明図である。 フォトニック結晶が作り込まれた光電変換層を示す斜視図である。 フォトニック結晶を持つ光起電力デバイスの結合の大きさとQ値との関係を説明するための説明図である。 フォトニック結晶の欠陥による共振器を作成した場合に、当該共振器のQ値を説明するための説明図である。 光の共鳴ピークを波長と強度との関係において示すグラフである。 太陽電池の他の構成例を概略的に示す断面図である。 実施例1としての太陽電池の積層構造を示す断面図である。 太陽電池に作り込んだフォトニック結晶のナノロッドおよび欠陥(キャビティ)の二次元配置を示す平面図である。 フォトニック結晶の欠陥の周囲にて、ナノロッドの周期構造に意図的に形成した乱れを示す説明的な平面図である。 実施例1の太陽電池に作り込んだフォトニック結晶の欠陥で発生した共鳴を、規格化周波数と光強度との関係によって示すグラフである。 実施例1と同様の積層構造における半導体層に作り込んだフォトニック結晶のナノロッドおよび欠陥の他の二次元配置(実施例2)を示す平面図である。 図14に示す欠陥領域の1つを拡大して示す説明的な平面図である。 実施例2の太陽電池に作り込んだフォトニック結晶の欠陥領域で発生した共鳴を、規格化周波数と光強度との関係によって示すグラフである。 太陽電池の製造工程を示す工程図である。 太陽電池において、光の波長に対する起電力量の特性曲線を示すグラフである。 太陽追尾システムの概念を表した説明図である。 放物面状集光素子の集光動作を示す説明図である。 太陽電池パネルの一構成例を示す断面図である。 本発明の太陽電池の構成を表す斜視図である。 本発明の光電変換素子の三角格子構造を有するフォトニック結晶の構成を表す平面図である。 本発明の光電変換素子の正方格子構造を有するフォトニック結晶の構成を表す平面図である。 フォトニック結晶におけるフォトニックバンドを表す図である。 本発明の太陽電池の吸収波長を表す図である。 バンドギャップが形成されているフォトニックバンドを表す図である。 本発明の太陽電池の構成を表す断面図である。 断面が台形のナノロッドが形成されたフォトニック結晶の構成を表す断面図である。 領域ごとに、ナノロッドのピッチが異なるフォトニック結晶の構成を表す平面図である。 第2の実施の形態に係る太陽電池の構成を表す断面図である。 a‐Siの光の波長に対する吸収率を表すグラフである。 フォトニック結晶を備えた従来の太陽電池セルの構成を表す概略図である。 従来のフォトニック結晶を用いた太陽電池の構成を表す斜視図である。 本発明の太陽電池の積層構造例を示す図であり、(a)は光電変換層から裏面側の金属層までの積層部分を抜き出した斜視図を表し、(b)は太陽電池全体の断面を表している。 図35に示す積層構造の変形例として、図35に示す太陽電池とは、ナノロッドの形状と、裏面側の透明導電層の厚みとが相違した例を示す図である。 本発明の太陽電池の他の積層構造例として、図36に示す太陽電池とは、裏面側の透明導電層および金属層の各形状が相違した例を示す図である。 図35に示す太陽電池の製造工程を示す工程図である。 図37に示す太陽電池の製造工程を概略的に示す工程図である。
〔実施の形態1〕
本発明の実施の一形態について図1ないし図11および図21に基づいて説明すれば、以下のとおりである。但し、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に特定的な記載がない限り、この発明の範囲をそれのみに限定する趣旨ではなく、単なる説明例に過ぎない。
(太陽電池の構成例1)
図1は、本実施形態の太陽電池1の全体構成を概略的に示す図である。図1の(a)は、太陽電池1の斜視図を示し、図1の(b)(c)は、太陽電池1の断面図を示している。
太陽電池1は、入射光を、光電変換することで電流に変換する素子であり、例えば光検出センサなど、光を電気信号へと変換する装置としても用いることができる。
太陽電池1は、フォトニック結晶が作り込まれた光電変換層2と、光電変換層2を上下に挟む透明導電層3・4と、光入射側の透明導電層3を覆うガラス基板5と、光入射側とは反対側、すなわち裏面側の透明導電層4を覆う金属電極層6とを備えている。なお、金属電極層6は、光が太陽電池1に入射する側とは反対側の最外層に配された層である。また、透明導電層3は、光電変換層2の媒質より屈折率が小さい媒質からなる2つの層の一方であり、透明導電層4は、その2つの層の他方である。
光電変換層2は、極性の異なる半導体層が隣接した構造を有している。本発明にとって、その構造は特に限定されないが、例えば、図1の(b)(c)に示すように、真性半導体層(i層)20をp型半導体層21とn型半導体層22とで挟んだpin縦型構造を採用してもよい。
より具体的には、透明導電層3・4の材料として、ITO(Indium−Tin−Oxide)、ZnO、SnOなどを選択できる。ガラス基板5としては、例えば屈折率が1.52程度のガラスを選択できる。また、金属電極層6の材料として、光反射率が高く、電気伝導度が大きな材料、例えば、AgまたはAlなどを選択できる。
ガラス基板5を介して光電変換層2に入射した光は、主に真性半導体層20で電子と正孔とを発生させるとともに、電子を価電子帯から導電帯へと励起することによって、真性半導体層20で吸収される。励起された電子は、透明導電層3、金属電極層6および外部抵抗7によって形成された回路を流れる電流となり、外部抵抗7に起電力を発生させる。
なお、金属電極層6を、反射板としても機能させることができ、光電変換層2で光電変換されず、透過してきた光を、再び光電変換層2へと反射させることもできる。金属電極層6を、太陽電池1の裏面の全面を覆って配することで、光電変換層2を透過した光を確実に反射することができるので、より、光の吸収効率が高い太陽電池1を構成することができる。
また、光電変換層2に形成されたフォトニック結晶は、図5にその斜視図を示すように、複数のナノロッド(柱状の媒質)30が、光の波長程度の厚みを持つ光電変換層2の媒質内に周期的に配置された二次元フォトニック結晶である。ナノロッド30は、光電変換層2の媒質より屈折率が小さい媒質で、例えば柱状に形成されている。光電変換層2の媒質が、例えば、屈折率が3〜4程度のアモルファスシリコン(a‐Si)の場合、ナノロッド30の媒質は、空気でもよいし、屈折率が1.45のSiOでもよい。このほかに、ナノロッド30の材料として、屈折率1.6程度のJAS(透明樹脂材料)、SOG(Spin−on Glass)材料として用いられるHSQ(Hydrogen Silsesquioxane:水素シルセスキオキサン)として、例えばFOX(東レ・ダウコーニング社の登録商標)などを用いることもできる。
光電変換層2の他の媒質として、微結晶シリコン(μC−Si)、Si、Ge、GaNINGaP、(In)GeAs、GaAsなどを選択できる。
ナノロッド30の配置間隔、すなわちピッチ(間隔)pは、あとで説明するフォトニックバンドギャップを的確に生成する上で、光の波長λより短いことが好ましく、λ/7以上、λ/2以下の範囲を取ることがより好ましい。なお、波長λとは、フォトニック結晶内に閉じ込められて共鳴する光の波長、より具体的には共鳴ピークを示す波長である。
また、ナノロッド30の高さは、図1の(b)に示すように、光電変換層2の厚みと等しくてもよいし、図1の(c)に示すように、光電変換層2の厚みより小さくてもよい。より具体的には、ナノロッド30の高さは、光電変換層2の厚みの約1/4以上、1/1以下である。
図1の(b)に示す例では、ナノロッド30は、p型半導体層21、真性半導体層20およびn型半導体層22を貫通することによって、光電変換層2の厚みと等しい高さを持っている。一方、図1の(c)に示す例では、ナノロッド30は、p型半導体層21を貫通し、真性半導体層20の厚みの途中まで達する高さを持っている。
さらに、ナノロッド30の半径は、ピッチaを基準として、0.2a(直径0.4a)以上、0.4a(直径0.8a)以下の範囲を取ることが好ましい。
なお、ナノロッド30の断面形状は、図2の(b)(c)にも示すように、上下対称な円柱状または角柱状でもよいし、上下非対称な角錐台または円錐台形状でもよい。
(フォトニックバンド構造)
上記のような構成を備えたフォトニック結晶には、図3に示すようなフォトニックバンド構造が生成される。図3は、上記フォトニック結晶に対する光の入射方向と、規格化周波数との関係によってフォトニックバンド構造を示すグラフである。このグラフは、フォトニック結晶内に進入し、フォトニック結晶内で共鳴する光の波長に対応する規格化周波数を、光の入射方向との関係によってプロットした点を結ぶことによって作成されている。
より具体的には、ナノロッド30の媒質による低誘電バンドと、光電変換層2の媒質による高誘電バンドとが生成される。
このフォトニックバンド構造には、フォトニック結晶内で存在できない光の波長帯域(禁制帯)として、低誘電バンドと高誘電バンドとに挟まれたフォトニックバンドギャップgが含まれている。
上記規格化周波数は、フォトニック結晶の上記ピッチaと光の周波数とが相関関係にあるために用いられるパラメータであり、a/λとして表される。したがって、図3では、グラフの縦軸の上に向かって、波長が小さくなる。
なお、光の入射方向を、図4に示すように、三角格子(結晶工学での六方細密構造の2次元平面部分)の逆格子空間ベクトルで表した結晶の方位によって示している。これは、光が感じる結晶配置は、逆格子空間(第1ブリルアンゾーン)で表した配置となるからである。
図3において、K点は、Γ点を囲む正六角形の格子形状のうちの1つの角を示し、その角と隣接する角との間の点がM点である。Γは、直上からフォトニック結晶の表面に向かう方向を表す。K,Mは、面内の方向を表すのに用いられ、ΓM、MK、KΓのように、起点終点の組み合わせによって面内の方向を表す。
Γ,K,Mを頂点とする三角形が単位格子であり、六角形の中に12個の単位格子が含まれている。1つの単位格子について方向を決めておけば、全ての単位格子についても方向を決めることができる。例えば、高誘電バンドでは、図3のMに対応する規格化周波数は約0.2であるが、これは、ΓMの面内方向に伝播することのできる光は、規格化周波数0.2に対応する波長を持った光のみであることを意味している。
(欠陥準位)
次に、図1の(b)(c)、図2の(a)〜(c)、図5および図6に示すように、ナノロッド30の周期構造の中に、ナノロッド30を設けない領域、すなわち欠陥(キャビティまたはナノキャビティと呼ぶこともある)31を形成すると、フォトニックバンドギャップgの中に、欠陥準位cが生成される。この欠陥準位cに対応する波長帯域(許容バンド)の光は、欠陥31内で存在することが許される一方で、欠陥31の周囲のフォトニック結晶では存在することが許されない。この結果、欠陥31とその周囲のナノロッド30とを合わせた全体が、欠陥準位cに対応する波長帯域の光を閉じ込める微小な共振器(共鳴器)となる。
欠陥31の設け方として、一例は、図2の(a)に示すように、ナノロッド30を1つ設けない領域を作る1格子点欠陥、または図14に示すように、3つのナノロッド30を線状に設けない領域を作る3格子点線状欠陥などを採用することができる。
このように、ナノロッド30と欠陥31とによって構成されたフォトニック結晶は、特定の方向に偏光特性等を持たない。また、そうなるために、フォトニック結晶の構造は、基本的にどの断面で見ても、左右対称な構造としている。その構造によって得られる電磁場は、同心円状に得られることが望ましい。
(Q値に基づくフォトニック結晶の設計)
ここで、太陽電池1の外部とフォトニック結晶との光の結合の大きさをQ値を用いて考える。Q値は、電気工学の共振のQ値と同様、電磁波としての光の共鳴効果の大きさを表す。Q値の表し方は、いろいろあるが、下記の式1または式2によって表すことができる。
Q=λ/Δλ …式1
Q=ωU/(−dU/dt) …式2
図8は、光の共鳴ピークを波長と強度との関係において示すグラフである。図8に示すように、上記式1のλは共鳴ピークの波長であり、Δλは半値幅である。
上記式2のωは、共振角周波数、Uは共振器内の内部エネルギー、tは時間である。
式1から、半値幅Δλが小さくなるほど共鳴が強くなるので、共鳴が強いほどQ値が大きくなることが分かる。また、共鳴が強いほど、共振の振幅は大きくなり、波動が減衰しにくくなるため、Q値が大きいほど、共振器に光が存在する時間(ライフタイム)が長くなることが分かる。
また、式2から、共振器からエネルギーが失われる程度が小さいほど、すなわち−dU/dtが小さいほど、Q値が大きくなることが分かるので、Q値は、共振器が光を閉じ込める強さを表すともいえる。
レーザー発光ダイオードなどにフォトニック結晶を作り込む場合には、共鳴を強くして発光強度を増大させたいため、Q値をできるだけ大きくすることが、フォトニック結晶を設計するときの目標となる。しかし、本発明の場合、上記とは逆に、Q値をできるだけ小さくし、共振器に閉じ込められる光の波長帯域を広げ(つまり、半値幅を広げ)るとともに、光のライフタイムを短くして、半導体層に吸収される度合いを大きくすることが、フォトニック結晶を設計するときの目標となる。なお、光の半値幅を広げると、外部とフォトニック結晶との光の結合が行いやすくなるため、光のライフタイムが短くなる。
ここで、図6に示す欠陥31を図7に示す共振器とみなし、外部空間およびフォトニック結晶の母材の媒質(すなわち前記光電変換層2を構成する半導体)を含めた系全体で、Q値を考える。太陽電池1全体のQ値をQとし、フォトニック結晶と外部空間との結合に関するQ値をQ、フォトニック結晶の面内方向の伝播に関するQ値をQin、上記媒質による光の吸収に関するQ値をQα、前記金属電極層6による光の吸収に関するQ値をQとすると、以下の関係式(式3)が成り立つ。
なお、上記Qαは、下記の式4でも示すように、フォトニック結晶の母材の光吸収係数αの逆数に比例する。
1/Q=1/Q+1/Qin+1/Qα+1/Q …式3
は、フォトニック結晶と外部空間との結合の強度(結合のしやすさ)を表す係数κVの逆数に比例し、フォトニック結晶と外部空間との結合による外部空間への光の出やすさを表す。なお、フォトニック結晶の構造が決まれば、時間領域差分(FDTD:Finite Difference Time Domain)法を用いて、Qを算出することができる。すなわち、Qは、フォトニック結晶の構造によって決まるQ値である。
inは、フォトニック結晶に進入した光が、水平方向に伝播するときの伝播のしやすさを表すので、光閉じ込めの観点では、光が閉じ込められずに、共振器から漏れていく漏れやすさを表す。QαおよびQは、それぞれ、媒質および金属電極層6を形成する金属が光を吸収することによる共鳴効果の大きさを表す。Qは測定によって求めることができる。
一方、Qαは、媒質に固有の吸収係数α、媒質の屈折率nおよび共鳴ピークの波長λと、下記の式4の関係を有している。すなわち、Qαは、媒質の材料によって決まるQ値である。
α=2πn/λQα …式4
上記式3の関係式において、Q=Qαとなるとき、言い換えると、κV=αとなるとき、媒質による光の吸収が最大になるとともに、吸収される光の波長帯域が最大になる。
また、共振器での共振効果が理想的であり、光半導体デバイスの面内に光が漏れることが無ければ、Qin=∞とみなすことができる。
以上より、
=π・n・Q/(λ・α・Q+π・n) …式5
が導かれる。
ここで、Q=Qαとなるようにフォトニック結晶を設計した太陽電池1全体のQ値(Q)を、式5を使って具体的に求めてみる。まず、媒質をa‐Siとすると、その屈折率nは4.154、吸収係数αは65534cm−1となる。さらに、波長λを660nm、金属のQを4000とすると、
=11.1
と非常に小さな値になり、式1から、Δλ=59.5nmが導かれ、非常に広い半値幅になる。なお、Qの範囲としては、Q>10となることが好ましく、Δλとして数10nmとなることが好ましい。
したがって、Q=Qαとなるようにフォトニック結晶を設計(ナノロッド30の半径およびピッチaなどの設計)すれば、欠陥31に閉じ込めた光が媒質によって吸収され易く、かつ、広い波長範囲で共鳴効果を得ることができる。言い換えると、本発明の太陽電池は、フォトニック結晶の構造によって決まるQ値と、フォトニック結晶を作り込む光電変換層の媒質の材料によって決まるQ値とを一致させたフォトニック結晶を、光電変換層中に備えた太陽電池であるといえる。
ここで、係数κVと吸収係数αとの関係について補足する。まず、光起電力材料はもともとある程度高い光の吸収率を持っているので、αは大きい傾向があり、Qαは逆に小さくなる傾向がある。
一方で、光起電力材料中にフォトニック結晶を加工した場合、一般的に、光起電力材料の屈折率がナノロッドの屈折率より1以上高いため、フォトニック結晶をそのまま加工すると、係数κVが小さくなり、Qが逆に大きくなる傾向にある。したがって、もともと、κV≦α(Q≧Qα)の大小関係が存在する。
本発明の達成目標として、光起電力デバイスでの光吸収量を増強させるためには、フォトニック結晶の欠陥により構成された共鳴器に結合された光が、光起電力デバイスの吸収過程に移ることが必要である。この効果が最大になるのが、κV=α(Q=Qα)である。
上記の前提から、光起電力デバイスの光の吸収量の増強を行なうためには、κV=α(Q=Qα)が必要であり、そのためには、κVを大きくする(Qを小さくする)必要がある。κVを大きくする(Qを小さくする)ためには、フォトニック結晶で構成される共鳴器全体(デバイス全体)の結合の割合を大きくする(光起電力デバイスのQ値、すなわち上記Qを小さくする)必要がある。
なお、前述したモード結合理論を考慮すると、より詳細な議論が可能となる。具体的には、太陽電池1内の透明導電層4に相当する透明層の厚みが、光の反射時の位相差θに対して、θ=2mπ(m=0,1,2…)を満たす場合、光半導体層に吸収される光エネルギー量の割合をPとすると、
=(8・Qα/Q)/(1+2Qα/Q+2Qα/Q
となる。この関係式から、光の9割以上を利用するためには、0.2Q≦Qα≦5.4Qを満たす範囲でフォトニック結晶構造を設計することが望ましいことを導ける。
(太陽電池の構成例2)
図9は、太陽電池1の他の構成例を概略的に示す断面図である。本構成例では、フォトニック結晶が、真性半導体層20内に形成されている点が、図1で説明した太陽電池1の構成と異なっている。
図9に示すように、複数のナノロッド30aが、真性半導体層20内に二次元的かつ周期的に配置され、部分的にナノロッド30aを設けていない欠陥31aが形成されている。
既に説明したように、光電変換層2に入射した光は、主に真性半導体層20で電子と正孔とを発生させるとともに、電子を価電子帯から導電帯へと励起することによって、真性半導体層20で吸収されるので、少なくとも真性半導体層20内にフォトニック結晶を形成すれば、光電変換の効率を向上させることができる。
(実施例1)
以下、図10から図13に基づいて、上記太陽電池の実施例を説明する。
図10は、実施例1としての太陽電池60の積層構造を示す断面図であり、図11は、太陽電池60に作り込んだフォトニック結晶のナノロッドおよび欠陥(ナノキャビティ)の二次元配置を示す平面図である。
太陽電池60の受光面側から、ガラス基板71、ZnOからなる透明導電層72、a‐Siのpin接合構造を有した半導体層73、ZnOからなる透明導電層74およびAlからなる金属電極層75が、この順に積層されている。なお、透明導電層72・74の形成材料として、SnOを用いてもよい。
ガラス基板71、透明導電層72、半導体層73および透明導電層74の各屈折率は、この順に、1.52、2.0、3.76、2.0であり、フォトニック結晶が作り込まれる高屈折率の半導体層73を、低屈折率の透明導電層72・74が挟んでいる。
また、透明導電層72、半導体層73、透明導電層74および金属電極層75の各厚みは、この順に、900nm、330nm、60nm、100nmである。
透明導電層72、半導体層73、透明導電層74および金属電極層75は、上記の厚みで、ガラス基板71上に順次蒸着して形成されている。
半導体層73には、図1等を参照して説明したように、直径rが60nmの円柱状のナノロッド76が、200nmのピッチaで二次元的に配置されている。なお、ナノロッド76は、屈折率1.45のSiOによって形成されている。
図11に示すように、ナノロッド76が、平面視した場合に、三角格子により構成される六角形の各頂点と中心とにより構成される配置を第1ユニット(図11に細線で示す)とすると、ナノロッド76のピッチはaだから、二次元的に配置された第1ユニットは、x方向に2a、x方向に直交するy方向に√3aのピッチで配置される。また、ナノロッド76が形成されていない欠陥77は、x方向に4aから8a、y方向に2√3aから4√3aのピッチで、正方格子状に配置されている。
第1ユニットおよび欠陥77の配置の各ピッチについてさらに説明する。例えば、上記第1ユニットを構成する六角形の中心同士が、x方向に隣り合う距離をLxとし、y方向に隣り合う距離をLyとすると、二次元的に配置された第1ユニットは、x方向にLx=2a、y方向にLy=2√3aのピッチで配置されている。したがって、上記欠陥は、x方向に2Lx〜4Lx、y方向にも2Ly〜4Lyのピッチで配置されている。
上記正方格子状の配置とは、x方向およびy方向の配置が、同一ピッチになっている配置を意味する。例えば、x方向に2Lx、y方向にも2Lyのピッチで欠陥77を配置すると、それは正方格子状の配置となる。
このように、正方格子状に欠陥77を設けると、半導体層73の受光面全体に配置された欠陥77でそれぞれ発生する共鳴が相互作用を起こしていることをFDTD法を用いたシミュレーション上で確認できた。
なお、共鳴し合う面積が大きくなるほど、光電変換素子60全体のQ値(Q)は小さくなる。また、半導体層73の厚みに対して、ナノロッド76の高さを低くすると、上記Q値(Q)は小さくなるため、結果として、外部との結合の係数κVが大きくなる。以上の議論を元に、光起電力層(半導体層73)で吸収できる光の量を増加させることができる。
さらに、図12に示すように、上記欠陥77を取り囲むナノロッド76のうち、特定方向(x方向)に沿った線M上に配置された2つのナノロッド76a・76bの位置に関して、上記六角形の各頂点の位置(線L1およびL2にて示す)から、上記特定方向に沿って、互いに逆方向で、互いに近寄る方向にシミュレーション上でシフトさせる検討を行った。
このように、欠陥77の周囲で、ナノロッド76の周期構造を乱すと、欠陥77内に閉じ込められて共振する光の共鳴ピークの縮退を解けることがFDTD法を用いたシミュレーション上で明らかにできた。その結果を図13に示す。図13は、上記実施例1の光電変換素子60に作り込んだフォトニック結晶の欠陥77で発生した共鳴効果を、規格化周波数と光強度との関係によって示すグラフである。図13に示すように、一つの欠陥(1dotのキャビティ)であるにもかかわらず、2つの共鳴点ができている。
図18は、太陽電池60において、光の波長(nm)に対する起電力量(μW/cm)の特性曲線を示すグラフである。図18に示すように、半導体層73にフォトニック結晶が形成されていない場合には、起電力量は、波長550nm付近をピークとして、ほぼ左右対称に0まで低下している。
これに対し、半導体層73に上記構成のフォトニック結晶を形成した場合には、2つのモードを持つ共鳴のピークに対応して、ピークの波長550nmと吸収端の波長820nmとの間に、1つ目の効果領域S1と、2つ目の効果領域S2とを出現させることができれば、光起電力量を増大させ、太陽電池60の変換効率を向上させることができる。
(実施例2)
続いて、図14から図16に基づいて、上記太陽電池の他の実施例を説明する。
図14は、太陽電池60と同様の積層構造における半導体層73に作り込んだフォトニック結晶のナノロッドおよび欠陥(ナノキャビティ)の他の二次元配置を示す平面図であり、図15は、図14に示す欠陥領域の1つを拡大して示す説明的な平面図である。
図14および図15に示すように、上記ナノロッド76が、平面視した場合に、三角格子により構成される六角形の各頂点と中心とにより構成される配置の中に、上記欠陥が2つ以上形成された欠陥領域78(例えば、図14では3つ分のナノロッドが無い3格子点線状欠陥)を有した構成を第2ユニット(図14に細線で示す)とすると、ナノロッド76のピッチはaだから、二次元的に配置された第2ユニットは、x方向に4a以上、y方向に√3aのピッチで配置され、上記欠陥は、x方向に4aから8a、y方向に2√3aから4√3aのピッチで、長方格子状に配置されている。
このように、1つのユニット内に欠陥を2つ以上連続して形成することによっても、欠陥領域78内に閉じ込められて共振する光の共鳴ピークの縮退を解けることがFDTD法を用いたシミュレーション上で明らかにできた。その結果を図16に示す。図16は、欠陥領域78で発生した共鳴を、規格化周波数と光強度との関係によって示すグラフである。図16に示すように、3格子点線状欠陥によって、3つの共鳴点が発生している。
(太陽電池の製造工程)
最後に、上記実施例1の太陽電池60の製造工程を詳しく説明する。図17は、太陽電池60の製造工程を示す工程図である。
まず、図17の(a)に示すように、ガラス基板71上にSnOを蒸着して透明導電層72を形成し、さらに、ナノロッド76の形成材料であるSiOを350nmの厚みで透明導電層72上に蒸着し、SiO層81を形成する。
次に、図17の(b)に示すように、SiO層81上にフォトレジスト82を、900nmの厚みを持つように塗布した後、電子ビーム露光によって、ナノロッド76および欠陥77の配置パターンに対応するパターンを描画する。フォトレジスト82がポジ型の感光材料であれば、露光された部分を現像によって除去することによって、ピッチa=150〜250nmおよび直径r=60nmで規定されたナノロッド76の配置パターンと、欠陥77の配置パターンとを形成する。
続いて、図17の(c)に示すように、上記配置パターンの全体にわたって、Alを300nmの厚みで蒸着し、Al膜83を形成する。
その後、図17の(d)に示すように、フォトレジスト82を除去することにより、ナノロッド76の形成部位にのみ、Al膜83を残す。SiO層81の厚みは、350nmのまま変化しない。
さらに、図17の(e)に示すように、四フッ化炭素(CF)をエッチングガスとする誘導結合型反応性イオンエッチング(ICP−RIE:Inductive Coupled Plasma‐Reactive Ion Etching)を用い、残ったAl膜83をマスクとして、マスクされていないSiOを精度よく除去する。これにより、ナノロッド76が透明導電層72上に二次元的に配置された中間体90が作製される。
次に、図17の(f)に示すように、中間体90の表面全体にa‐Siを蒸着し、p型不純物をドープすることによりp型a‐Si層84を形成し、その上にa‐Siを蒸着してi型a‐Si層85を形成し、その上にさらにa‐Siを蒸着し、n型不純物をドープすることによりn型a‐Si層86を形成する。各a‐Si層84〜86の合計を、約330nmに制御する結果、350nm厚みのナノロッド76の上部は、n型a‐Si層86の上面から少し隆起した状態になる。
また、各a‐Si層84〜86のそれぞれの厚みは、ナノロッド76の厚み(350nm)とその上のAl膜83の厚み(300nm)との合計に比べ、約1/3以上に薄いため、各a‐Si層84〜86は、透明導電層72上に製膜される部分と、Al膜83上に製膜される部分とで分離される。すなわち、ナノロッド76上に残っているAl膜83は、その側面がa‐Siで被覆されずに露出している。
続いて、塩酸(HCl)を用いたウェットエッチングにより、ナノロッド76上に残っていたAl膜83を除去する。ナノロッド76上に残っていたAl膜83は、その側面が露出しているため、ウェットエッチングにより除去することができる。
最後に、図17の(g)に示すように、SnOを蒸着して透明導電層87を形成し、さらに、金属電極層88を積層すると、太陽電池1が完成する。なお、ナノロッド76の上方に位置する透明導電層87の部位および金属電極層88の部位は、ナノロッド76の上部が、n型a‐Si層86の上面から少し隆起した状態を反映して、上方へ少し隆起した状態となっている。
〔実施の形態2〕
(太陽電池の構成)
図21は、本発明の太陽電池110の構成を表す断面図である。図22は、太陽電池110の構成を表す斜視図である。
太陽電池110は、入射光を、光電変換することで電流に変換する素子であり、例えば光検出センサなど、光を電気信号へと変換する装置としても用いることができる。
太陽電池110は、入射光を光電変換するための半導体層(光電変換層)113を備えている。この半導体層113の内部には、半導体層113とは屈折率が異なるナノロッド(柱状の媒質)119が形成されることで構成されるフォトニック結晶121が形成されている。
太陽電池110は、このフォトニック結晶121により形成されるバンド端に対応する状態の光の波長を強く共鳴させることで、光の吸収率を向上させるものである。なお、フォトニック結晶121が形成されている半導体層113の構造について、詳細は後述する。
太陽電池110は、光が太陽電池110に入射する側とは反対側の最外層に配された裏面金属電極111(金属層)と、裏面金属電極111に積層されている透明導電膜112と、透明導電膜112に積層されている半導体層113と、半導体層113に積層されている透明導電膜117と、透明導電膜117に積層されているガラス118とを備えている。なお、透明導電膜117は、半導体層113の媒質より屈折率が小さい媒質からなる2つの層の一方であり、透明導電膜112は、その2つの層の他方である。
太陽電池110では、ガラス118の、透明導電膜117との接触面とは逆の面が、光の入射面である。太陽電池110は、この入射面から入射した光を、半導体層113で光電変換することで、入射光の光量に対応して電流を生成する。そして、例えば、半導体層113を挟んで配されている裏面金属電極111及び透明導電膜117を外部抵抗で接続することで、電気信号として外部に出力することができる。
ここで、太陽電池110のうち、光の入射面(側)を表面(側)と称し、裏面金属電極111の、半導体層113との接触面とは逆の面(側)を裏面(側)と称する。同様に、太陽電池110を構成する各膜のうち、入射面側に配されている面(側)を表面(側)と称し、裏面金属電極111側に配されている面(側)を裏面(側)と称する。
ガラス118は、例えば、屈折率が1.52程度の材質からなる。
裏面金属電極111は、AgやAlなどの光の反射が強く吸収の小さい金属からなり、半導体層113で光電変換されることで生成された電流を取り出して、外部に出力するためのものである。
また、裏面金属電極111を、反射板としても機能させることができ、半導体層113で光電変換されず、透過してきた光を、再び半導体層13へと反射させることもできる。裏面金属電極111を、半導体層113の裏面の全面を覆って配することで、半導体層113を透過した光を確実に反射することができるので、より、光の吸収効率が高い太陽電池110を構成することができる。
透明導電膜(TCO;Transparent Conducing Oxide)112・117は、透明な導電膜であり、半導体層113を挟んで配されている。透明導電膜112・117は、半導体層113の媒質より屈折率が小さい媒質からなっており、例えば、ITO、ZnO、SnOなどからなる。
半導体層113は、光起電力材料であり、例としてa‐Si(アモルファスシリコン)からなり、入射光を光電変換することで電流を発生させるための起電力層である。本実施の形態では、半導体層113は、裏面側(透明導電膜112が配されている側)から順に、n型半導体(n型半導体層)114、i型半導体(真性半導体層)115、及びp型半導体(p型半導体層)116が積層して形成されたp‐i‐n型の半導体である。
半導体層113には、n型半導体114、i型半導体115、及びp型半導体116より屈折率が小さいナノロッド119が、2次元的に、規則的に配された周期構造を有する2次元フォトニック結晶121が配されている。
(フォトニック結晶の構成)
次に、フォトニック結晶121の構成について説明する。
図21に示すように、フォトニック結晶121は、半導体層113に形成されており、複数のナノロッド119が、光の波長程度の厚みを持つ半導体層113の媒質内に周期的に配置された2次元フォトニック結晶である。
半導体層113のうち、ナノロッド119が形成されている領域が、フォトニック結晶121である。本実施の形態では、ナノロッド119は、半導体層113の全面に形成されているものとする。
ナノロッド119は、n型半導体114、i型半導体115、及びp型半導体116を構成するa‐Siよりも屈折率が小さい材料からなる。つまり、ナノロッド119は、半導体層113における低屈折率領域である。また、ナノロッド119は、絶縁機能を有し、透過率が高い材料からなる。ナノロッド119は、屈折率が1.0〜2.0程度の材料からなり、空気や、屈折率が1.45のSiO等からなる。
このほかに、ナノロッド30の材料として、屈折率1.6程度のJAS(透明樹脂材料)、SOG(Spin−on Glass)材料として用いられるHSQ(Hydrogen Silsesquioxane:水素シルセスキオキサン)として、例えばFOX(東レ・ダウコーニング社の登録商標)などを用いることもできる。
ナノロッド119の高さ(半導体層113の厚み方向の長さ)は、半導体層113の厚みに対して1/1の厚みになるか、1/4以下の厚みになるように形成されている。
また、ナノロッド119は、半導体層113に、円柱状等、柱状に形成されている。
図23は、三角格子状にナノロッド119が配されているフォトニック結晶121の構成を表す平面図である。図23に示すように、フォトニック結晶121は、後述する逆格子空間におけるΓ点に、バンド端が形成されるように、ナノロッド119が二次元的に配置されている。
具体的には、ナノロッド119は、ピッチ(間隔)aが、波長λに対して、λ/4以上、λ以下となるように、周期的に配置されている。ここで、波長λは、後述するように、バンド端によって規定される波長である。すなわち、波長λは、フォトニック結晶121により共鳴させる波長の共鳴ピーク波長である。
また、ナノロッド119は、フォトニック結晶121を平面視したとき、三角形の各頂点に配されることで、六角形の各頂点と、中心とに周期的に配置されている。すなわち、フォトニック結晶121は、ナノロッド119が二次元に三角格子状に配された構造を有する。
または、図24に示すように、ナノロッド119は、フォトニック結晶121を平面視したとき、四角形の各頂点に配置されていてもよい。すなわち、フォトニック結晶121は、ナノロッド119が二次元に正方格子状に配された構造を有していてもよい。
図24は、四角格子状にナノロッド119が配されているフォトニック結晶121の構成を表す平面図である。
いずれの格子形状であっても、後述する逆格子空間におけるΓ点に、バンド端を形成することができる。
ナノロッド119の半径は、ピッチaを基準として、0.2a以上、0.4a以下の範囲を取ることが好ましい。
次に、このように、ナノロッド119が半導体層113に配された太陽電池110に形成されるバンド端について説明する。
(バンド端)
図25は、フォトニック結晶121におけるフォトニックバンドを表す図である。三角格子(六方細密構造の1つの平面断面構造)の逆格子空間中の位置および方位については、図4を参照して既に説明したとおりである。
図25では、縦軸は規格化周波数であり、横軸は逆格子空間中の位置と方向とを表している。
規格化周波数は、フォトニック結晶121のピッチaと光の周波数とが相関関係にあるために用いられるパラメータであり、a/λとして表される。したがって、図25では、グラフの縦軸の上に向かって、波長λが小さくなる。
図25に示す各バンドは、フォトニック結晶121での共鳴する波長の点をつなげたものである。
フォトニック結晶121は、上述したように、ピッチaが波長λに対して1/4倍以上1倍以下となるように、複数のナノロッド119が周期的に配された構成なので、図25に示すように、Γ点に、フォトニック結晶121のフォトニックバンドの極値であるバンド端Bが形成される。
このバンド端Bでは、規格化周波数に対応する共鳴ピークの波長λが、フォトニック結晶121の面全体で強く共鳴する。このバンド端Bでの共鳴効果を得ることで、半導体層113に入射した光の寿命(lifetime)を増加させることができる。そして、増加した寿命期間での、半導体層113と、光との相互作用により、半導体層113での吸収率を向上させることができる。
このように、フォトニック結晶121の構成によると、Γ点と呼ばれる、フォトニック結晶121に対して垂直方向から入射する光に対してのみ、共鳴を起こすことが可能なバンド端Bを利用することができる。
このバンド端Bを利用することで、フォトニック結晶121に入射する光のうち、垂直方向からの入射光であって、波長λの光を、フォトニック結晶121で共鳴させることができる。そして、フォトニック結晶121で共鳴された波長λの光は、上記光電変換層の媒質によって吸収される。
従って、太陽電池の光の吸収率を向上させることができる。
図26は、太陽電池110の吸収波長を表している。図26に示すように、太陽電池110では、通常のa‐Siからなる半導体での吸収波長に加え、バンド端Bでの共鳴波長の吸収率を向上させることができる。本実施の形態の太陽電池110では、a‐Siの吸収端の波長(820nm近傍)から、吸収のピーク波長(520nm)間の吸収率が低い波長である650nm近傍の波長の吸収率を向上させることができる。この対象波長は、ナノロッドのピッチaを変え、その結果、規格化周波数を変えることによって、変更することができる。
なお、バンド端Bによって、規定される規格化周波数は、おおよそ0.3〜0.5程度である。
このように、太陽電池110では、フォトニック結晶121内で、特定角度からの入射光を強く共鳴させることで、面全体で光の吸収率を向上させることができる。特に、半導体の吸収端から吸収ピーク間の吸収率が低い波長域に共鳴ピークをもたせることで、太陽電池110として全体的な吸収率を向上させることができる。
加えて、太陽電池110では、Γ点と呼ばれる、太陽電池110に対して垂直方向から入射した光のみ共鳴させる構成である。太陽電池110で共鳴させることができるのは、90°±1°程度の入射角で入射した光である。
すなわち、フォトニック結晶121の構成によると、半導体層113に対する垂直方向からの光の入射角をθ1としたとき、−1°≦θ1≦1°程度からの入射光の光を、Γ点により形成されるバンド端Bで共鳴させることができる。ここで、θ1は、バンド端Bにおいてバンドが面内方向(M方向もしくはK方向)に同一の規格化周波数を持つ長さによって決定される。
このように、半導体層113で共鳴された共鳴ピークの波長λの光は、半導体層113の媒質によって吸収される。
すなわち、太陽電池110によると、強く共鳴させる光の波長の入射角を制限することができる。このため、太陽電池110を例えば、光の入射角度センシング素子などの光センサ素子に用いることができる。
また、太陽電池110のフォトニック結晶121では、ナノロッド119のピッチaを、波長λに対して、1/4倍〜1倍に設定しているので、バンドギャップが形成されない。
図27は、バンドギャップが形成されているフォトニックバンドを表す図である。フォトニックバンドは、フォトニック結晶内で存在できない光の波長帯域(禁制帯)である。
例えば、図27に示すように、高誘電バンドと、低誘電バンドとの間に、フォトニック結晶によるバッドギャップが形成されている場合、バンドギャップ中の波長は、フォトニック結晶に入射することができない。このため、この規格化周波数に対応する波長帯の光の吸収効率が低下する。
一方、太陽電池110では、ナノロッド119のピッチaを、波長λに対して、1/4倍〜1倍に設定することによる共振条件を選択している。それによって、フォトニック結晶121に対して起電力として変換できる波長領域内にバンドギャップが形成されることを防止することができる。この結果、バンドギャップによる特定の波長が反射されることなく、光の吸収効率を向上させることができる。
このように、太陽電池110は、半導体層113に形成されたフォトニック結晶121により、外部からの特定の波長、及び特定の入射角の光を効率的に取り込むことができるので、単位面積辺りの光の吸収量を増やすことで、光半導体層の起電力量を増加させ、かつ指向性を向上させることができる。
(Q値に基づくフォトニック結晶の設計)
太陽電池110の外部とフォトニック結晶との光の結合の大きさをQ値を用いて考察する点は、太陽電池1について、既に説明したとおりである。
なお、本発明の達成目標として、光起電力デバイスでの光吸収量を増強させるためには、フォトニック結晶により構成された共鳴器に結合された光が、光起電力デバイスの吸収過程に移ることが必要である。バンド端Bを形成するように周期的にナノロッドが配されたフォトニック結晶においても、この効果が最大になる条件が、κV=α(Q=Qα)である。
すなわち、光起電力デバイスの光の吸収量の増強を行なうためには、κV=α(Q=Qα)が必要であり、そのためには、κVを大きくする(Qを小さくする)必要がある。κVを大きくする(Qを小さくする)ためには、フォトニック結晶で構成される共鳴器全体(デバイス全体)の結合の割合を大きくする(光起電力デバイスのQ値、すなわち上記Qを小さくする)必要がある。
加えて、上記係数κVと吸収係数αとがほぼ等しくなっており、光の吸収が一定以上(αが約5.0%以上)である場合、特に、光の吸収効果が高くなる対象波長帯域(共鳴波長の帯域)を広くすることができる。このため、角度依存性を持った光の共鳴波長の帯域を広げる効果が大きい。
(太陽電池の受光量を増大させる構成)
本実施形態2の太陽電池110のように、フォトニック結晶に進入できる光の入射角が、ある角度範囲に制限され、角度依存性を持つ場合には、太陽電池の受光量を増大させる構成を付加することが好ましい。
その一構成例として、太陽電池パネルの法線方向が太陽に向かうように、すなわち、当該法線方向と太陽光線とが平行をなすように、太陽電池パネルの向きを変える追尾システムを採用することが考えられる。図19の(a)(b)は、その追尾システムの概念を表した説明図である。これにより、太陽電池パネルの単位面積あたりの受光量を常に大きくすることができるので、太陽電池の光の吸収率を向上させることできる。
また、他の構成例として、放物面状集光素子(Parabolic Concentrator)などのレンズ効果を持つデバイスを付加する方法を採用してもよい。図20は、放物面状集光素子90の集光動作を示す説明図である。放物面状集光素子90の受光面に、入射角γで入射した平行光線は、放物面状集光素子90の内面で反射され、太陽電池パネル91に対し、入射角γとの関係によって規定される角度範囲βに絞り込まれた光束となり、太陽電池パネル91に集光される。
これにより、太陽電池パネル91の受光面積より広い面積に入射した光が集光されるので、太陽電池パネル91の光の吸収を増強することができ、光の吸収率を向上させることできる。
(フォトニック結晶の変形例)
次に、フォトニック結晶の変形例について説明する。
図28は、本発明の太陽電池130の構成を表す断面図である。
太陽電池130は、太陽電池110のフォトニック結晶121に換えて、フォトニック結晶123を備えている。他の構成は、太陽電池110と同様である。
フォトニック結晶123は、ナノロッド139の高さが、半導体層113の厚みと同じである点で、フォトニック結晶121の構成と相違する。フォトニック結晶123に形成されたナノロッド139は、半導体層113を貫通して形成された円柱形状の孔である。
さらに、ナノロッド119、139のように円柱形状に限定されず、断面形状が台形となるように形成してもよい。
図29は、断面が台形であるナノロッドが形成されたフォトニック結晶の構成を表す断面図である。
図29に示すフォトニック結晶124は、半導体層113に、断面が台形であるナノロッド149が形成されている。ナノロッド149は、半導体層113の表面に形成されている上面の面積の方が、半導体層113の内部に形成されている下面の面積より大きくなるように形成されている。これにより、エッチングなどにより、半導体層113にナノロッド149を形成する際の加工を容易にすることができる。
図30は、領域ごとに、ナノロッドのピッチが異なるフォトニック結晶の構成を表す平面図である。
図30に示すように、1つのフォトニック結晶中に、ナノロッドのピッチの異なる領域を複数配してもよい。
図30に示すように、フォトニック結晶122は、半導体層113に、ナノロッド119がピッチaで形成されている領域Aと、ナノロッド119がピッチa(a>a)で配されている領域Aと、ナノロッド119がピッチa(a>a)で形成されている領域Aとが配されたものである。
ピッチa、ピッチa、及びピッチaは、それぞれ異なる一定の値であり、かつ、それぞれ、波長λの1/4以上1以下を満たす値である。
図30に示すように、半導体層113を平面視したときの半導体層113の一辺に平行な方向に、等ピッチで配されているナノロッド119が、各領域A、A、Aに50個〜100個程度ずつ含まれるように、領域A、領域A、領域Aを設ける。
これにより、領域A、領域A、及び領域Aでは、それぞれのΓ点で、それぞれ異なるバンド端が形成される。このため、それぞれの領域A、A、AでのΓ点の規格化周波数に対応する波長λ1、λ2、λ3が共鳴波長となる。
このように、フォトニック結晶122では、1つのフォトニック結晶122で、複数の異なる波長λ1、波長λ2、及び波長λ3の光を共鳴させることができるので、それぞれの領域を用いて、複数の波長の光の吸収率を向上させることができる。
(太陽電池の製造工程)
太陽電池110の製造工程としては、図17を参照して説明した製造工程を採用することができる。
〔実施の形態3〕
本発明の太陽電池に関する第3の実施形態について、図31に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、説明の便宜上、前記実施の形態1にて説明した図面と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
図31は、本実施の形態に係る太陽電池170の構成を表す断面図である。
太陽電池170の半導体層173は、裏面側から順に、n型半導体174、i型半導体175、及びp型半導体176が積層されている。そして、n型半導体174、i型半導体175、及びp型半導体176には、それぞれ複数の突起179c、突起179b、及び179aが形成されている。突起179c、突起179b、及び179aはそれぞれ対応する位置に形成されている。この対応する位置に積層されている突起179c、突起179b、及び179aがナノロッド179である。
フォトニック結晶127は、半導体層173に、ナノロッド179が形成されているものである。
ナノロッド179は、太陽電池170のように、n型半導体174、i型半導体175、及びp型半導体176のそれぞれに形成された突起179c、突起179b、及び179aから構成されていてもよいし、n型半導体174、i型半導体175、及びp型半導体176のうち、何れか1層に形成された複数の突起からなっていてもよい。n型半導体174、i型半導体175、及びp型半導体176のうち、何れか1層に突起を形成する場合、光電変換は主としてi型半導体175内で生じるため、n型半導体174とi型半導体175との界面か、あるいは、i型半導体175とp型半導体176との界面に突起を形成することが好ましい。
このナノロッド179のピッチ、半径等は、実施の形態2で説明したものと同じである。
すなわち、ナノロッド179は、フォトニック結晶127による共鳴ピーク波長をλとしたとき、1/4倍以上、1倍以下のピッチで、二次元に周期的に配置されている。
さらに、フォトニック結晶127では、フォトニック結晶127と外界との結合の強度を表す係数κVの逆数に比例し、フォトニック結晶127と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQと、半導体層173の媒質による光の吸収係数αの逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQαとが、0.2Q≦Qα≦5.4Qを満たす範囲にある。
ガラス基板178は、エッチングされるなどにより、ナノロッド179の形成領域に、複数の凹部が形成されている。この凹部は、隣接する間隔がピッチaの三角格子により構成される六角形の格子となるように、ガラス基板178の裏面に形成されている。
そして、ガラス基板178の凹部が形成されている面に、順に、TCOである透明導電膜177、a-Siからなるp型半導体176、a-Siからなるi型半導体175、a-Siからなるn型半導体174、TCOである透明導電膜172、及び裏面金属電極171(金属層)が積層される。これにより、ガラス基板178に積層された各層に、ガラス基板178に形成された凹部に対応する凹凸が形成される。
これにより、太陽電池170は、太陽電池110、130、150、160と同様の効果を得ることができる。
〔実施の形態4〕
本発明の太陽電池に関する第4の実施形態について、図35〜図38に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、説明の便宜上、前記実施の形態2にて説明した図面と同じ機能を有する部材については、同じ数字番号を付記し、その説明を省略する。
本実施形態の太陽電池は、原理的には実施の形態2の太陽電池と同じである。すなわち、本実施形態の太陽電池は、0.2Q≦Qα≦5.4Qを満たし、かつバンド端での共鳴効果が得られるフォトニック結晶構造を備えた光電変換素子の光の吸収率を高めることができ、前述した波長520nmから820nm程度までの帯域における光起電力を増大させることができる構造を有している。
(太陽電池の構成例)
図35は、本発明の太陽電池の積層構造例を示す図であり、(a)は光電変換層から裏面側の金属層までの積層部分を抜き出した斜視図を表し、(b)は太陽電池全体の断面を表している。また、図36は、図35に示す積層構造の変形例を示す図であり、図35に示す太陽電池とは、ナノロッドの形状と、裏面側の透明導電層の厚みとが相違している。また、図37は、本発明の太陽電池の他の積層構造例を示す図であり、図36に示す太陽電池とは、裏面側の透明導電層および金属層の各形状が相違している。
(太陽電池300〜302の共通点)
図35〜図37に示す太陽電池300,301,302に共通している第1の点は、光入射側の透明導電層117に形成されたナノロッド119aまたは119bを覆って光電変換層113aまたは113bを積層するという製造方法を採用した結果、光電変換層113aまたは113bの表裏面のうち、光が太陽電池300〜302に入射する側とは反対側に位置する裏面に、複数のナノロッド119aまたは119bの形状に対応した凹凸が形成されていることである。
この凹凸は、あたかも複数のナノロッド119aまたは119bの形状が転写されたかのように形成されている。ただし、この凹凸は、光電変換層113aまたは113bの媒質自体が形作る凹凸である。
なお、光電変換層113aまたは113bは、例えば図21に示すように、極性の異なる半導体層が隣接した構造を有しているが、その構造の詳細を図35〜図37では省略している。
複数のナノロッド119aまたは119bの形状と、光電変換層113aまたは113bの裏面に形成された凹凸との対応関係をより厳密に定義すると、ナノロッド119aまたは119bのそれぞれの中心軸と、光電変換層113aまたは113bの媒質による凸形状のそれぞれの中心軸とが、図35の(b)に中心線Cにて示すように、光電変換層113aまたは113bの厚み方向において一致している。
これは、上述したように、透明導電層117に形成されたナノロッド119aまたは119bを覆って光電変換層113aまたは113bを積層した結果である。このような製法により、光電変換層113aまたは113bの裏面に凹凸を形成できるように、ナノロッド119aまたは119bの高さを、光電変換層113aまたは113bの厚みより小さくしている。具体的には、ナノロッド119aまたは119bの高さを光電変換層113aまたは113bの厚みの1/3以上1/2以下とすることが好ましい。
なお、図24に示すナノロッド119の配置と同様に、ナノロッド119aまたは119bは、図35〜図37の各(a)に示すように、光電変換層113aまたは113bを、その表面の法線方向に沿って平面視したとき、正方形の各頂点に配置することが好ましい。すなわち、フォトニック結晶は、ナノロッド119aまたは119bが二次元的に正方格子状に配された構造を有していることが好ましい。
ナノロッド119aまたは119bのピッチaは、図24に基づいて既に説明したとおり、共鳴ピークの波長λに対して1/4倍以上1倍以下に設定されている。
ナノロッド119aまたは119bの形状としては、図35の(a)に示すように、円柱でもよいし、図36および図37の各(b)に示すように、略円錐台でもよい。ナノロッド119aまたは119bの形状が円柱であれば、断面形状としては、図35の(b)に示す矩形状になる。また、ナノロッド119aまたは119bの形状が略円錐台であれば、断面形状としては、図36および図37の各(b)に示す略台形状になる。いずれの形状でも、光電変換層113aまたは113bの裏面を成す円柱または略円錐台の底面のエッジは鋭利であってもよいし、なだらかな曲面になっていてもよい。
次に、太陽電池300〜302に共通している第2の点は、積層された層の種類と順序とが同じになっていることである。すなわち、太陽電池300は、光の入射側から順番に、ガラス基板118、裏面にナノロッド119aが形成された透明導電層117、光電変換層113a、透明導電層112a、および金属電極層111(金属層)の積層によって構成されている。また、太陽電池301は、光の入射側から順番に、ガラス基板118、裏面にナノロッド119bが形成された透明導電層117、光電変換層113b、透明導電層112b、および金属電極層111の積層によって構成されている。さらに、太陽電池302は、光の入射側から順番に、ガラス基板118、裏面にナノロッド119bが形成された透明導電層117、光電変換層113b、透明導電層112c、および金属電極層111c(金属層)の積層によって構成されている。
光電変換層113aは、光電変換層113aの媒質より屈折率が小さい媒質からなる透明導電層117および透明導電層112aによって挟まれている。透明導電層112aは金属電極層111に隣接している。光電変換層113bも、光電変換層113bの媒質より屈折率が小さい媒質からなる透明導電層117と、透明導電層112aまたは112bとによって挟まれ、透明導電層112aまたは112bは金属電極層111または111cに隣接している。
(太陽電池300、301の共通点)
次に、図35および図36に示す太陽電池300,301に共通していることは、光が太陽電池300,301に入射する側とは反対側、すなわち、太陽電池300,301の裏面側の最外層には、上記裏面側の全体を覆う金属電極層111が設けられ、金属電極層111が平坦な層になっていることである。この構成による作用効果については、後述する。
(太陽電池302に特有の点)
太陽電池302に特有の点は、金属電極層111cの形状に表れている。太陽電池302では、透明導電層117の裏面に形成されたナノロッド119bの形状が保たれた状態で、光電変換層113b、透明導電層112cおよび金属電極層111cを順に積層した結果、太陽電池302は、金属電極層111cの表裏面のうち、少なくとも、金属電極層111cの表面側(光が太陽電池302に入射する側)に、フォトニック結晶構造を成す凹凸が形成された構造を有している。
なお、金属電極層111cの裏面側には凹凸が形成されなくても、太陽電池302の発電効率に影響しない。また、金属電極層111cの表裏面に、ナノロッド119bの形状に対応する凹凸が形成される程度は、金属電極層111cに隣接した透明導電層112cの厚みの設定に依存する。これらの点については後述する。
(太陽電池の動作)
ガラス基板118および透明導電層117を介して光電変換層113a(113b)に入射した光は、主に真性半導体層で電子と正孔とを発生させるとともに、電子を価電子帯から導電帯へと励起することによって、真性半導体層で吸収される。励起された電子は、透明導電層117、金属電極層111(111c)および外部抵抗7a(装置または機器など)によって形成された回路を流れる電流となり、外部抵抗7aに起電力を発生させる。
なお、金属電極層111(111c)を、反射板としても機能させることができ、光電変換層113a(113b)で光電変換されず、透過してきた光を、再び光電変換層113a(113b)へと反射させることもできる。金属電極層111(111c)を、太陽電池300(301または302)の裏面の全面を覆って配することで、光電変換層113a(113b)を透過した光を確実に反射することができるので、光の吸収効率が一層高い太陽電池300(301または302)を構成することができる。
ナノロッド119aまたは119bは、ピッチaが波長λに対して1/4倍以上1倍以下となるように、周期的に配されることによって、フォトニック結晶構造を形成しているので、実施の形態2として図25を参照して説明したように、Γ点に、フォトニック結晶のフォトニックバンドの極値であるバンド端Bが、ピッチaに対応して形成される。
このバンド端Bを利用することで、太陽電池300(301または302)に入射する光のうち、垂直方向からの入射光であって、共鳴ピーク波長である波長λの光を、フォトニック結晶で共鳴させることができる。そして、フォトニック結晶で共鳴された波長λの光は、上記光電変換層113a(113b)の媒質によって吸収される。したがって、太陽電池300(301または302)の光の吸収率を向上させることができる。
本実施形態では、光電変換層113a(113b)の表裏両面にフォトニック結晶構造が形成されているので、太陽電池300(301または302)の発電効率をさらに向上させることができる。その理由は以下のとおりである。
本実施形態のように、ナノロッド119aまたは119bのそれぞれの中心軸と、光電変換層113aまたは113bの媒質による凸形状のそれぞれの中心軸とが、光電変換層113aまたは113bの厚み方向において一致している場合、光電変換層113a(113b)の表面および裏面に、同じ構造を持つフォトニック結晶が形成される。
これにより、同じ構造を持つフォトニック結晶のピッチaに対応したバンド端Bを利用して、光電変換層113a(113b)の表面および裏面双方のフォトニック結晶において、波長λの光を共鳴させることができる。したがって、光電変換層113a(113b)の媒質における最適な光閉じ込めの効果を期待できるので、太陽電池の光の吸収率をさらに向上させることができる。
なお、透明導電層117に形成されたナノロッド119aまたは119bを覆って光電変換層113a(113b)を積層するという製造方法を採用せずに、光電変換層113a(113b)の裏面に、図17を参照して説明したように、フォトリソグラフィの技術によって、フォトニック結晶構造をなす凹凸を改めて作製してもよい。この場合には、光電変換層113a(113b)の表面側のフォトニック結晶の構造と、裏面側のフォトニック結晶の構造とを異ならせることができる。
そうすると、光電変換層113a(113b)の表面側と裏面側とで共鳴する光の波長を異ならせることができる。この結果、光電変換層113a(113b)で吸収される光の波長帯域を広げる効果を期待することができるので、この形態でも太陽電池の発電効率を向上させることができる。
なお、太陽電池300(301または302)の受光面を太陽の向きに合わせて移動させる手段、もしくは、集光デバイスとして、図19の(a)(b)に示す追尾システム、または図20に示す放物面状集光素子90が付加されているので、フォトニック結晶に進入できる光が、角度依存性を持っていても、太陽電池300(301または302)の受光量を増大させることができる点についても、実施の形態2で説明したとおりである。
(金属層の作用効果1)
既に説明したように、図35および図36に示す太陽電池300,301では、裏面側の全体を覆う金属電極層111が平坦な層になっている。
これにより、金属電極層111は、光電変換層113a(113b)などを通り抜けた光を、再び、光電変換層113a(113b)に戻すように反射するので、光電変換率を向上させることができる。
金属電極層111は平坦な層なので、太陽電池300,301の特性を測定した値が、シミュレーションによって予測した結果と合いやすい。したがって、設計した特性を期待どおりに得やすいという効果を奏する。
さらに、金属電極層111は平坦な層なので、金属電極層111にフォトニック結晶構造を成す凹凸が形成された構造と比べて、電気抵抗を小さくすることができ、電力の取り出しに有利になると考えられる。
(金属層の作用効果2)
一方、図37に基づいて既に説明したように、太陽電池302では、金属電極層111cの表裏面のうち、少なくとも、金属電極層111cの表面側に、フォトニック結晶構造を成す凹凸が形成されている。
これにより、少なくとも、透明導電層112cに接する金属電極層111cの表面にも、フォトニック結晶構造を成す凹凸形状が形成されているので、対象としている波長帯域以外の波長の光が金属電極層111cによって散乱されると考えられる。また、金属層による(表面)プラズモン共鳴のために、光エネルギーを増強する効果が期待できる。この結果、光電変換層113bで吸収される光の波長帯域を広げることによって、太陽電池302の光の吸収率をさらに向上させることが期待できる。
(透明導電層の作用効果)
屈折率が光電変換層113a(113b)より小さい媒質からなる透明導電層117と、透明導電層112a(112bまたは112c)とが、光電変換層113a(113b)を挟むことによって、高屈折率のコアを、低屈折率のクラッドで被覆した光ファイバと同じ原理で、光電変換層113a(113b)の表面に垂直な方向に伝播し、漏れ出ようとする光を閉じ込めることができる。この結果、光電変換層113a(113b)による光の吸収率をさらに向上させることができる。
透明導電層112a(112bまたは112c)および透明導電層117を導電性材料によって形成しているのは、電流の取り出しのためである。透明導電層112a(112bまたは112c)および透明導電層117を誘電体層に置き換えた場合にも、同様に、漏れ出ようとする光を閉じ込める効果を得ることができる。ただし、この場合には、光電変換層113a(113b)から横方向に電流を取り出すための別構成を必要とする。
なお、透明導電層117および透明導電層112a(112bまたは112c)は、光電変換層113a(113b)の表面に垂直な方向に伝播し、漏れ出ようとする光を閉じ込める条件を満たす厚みを有している。太陽電池300(301または302)の裏面側に配された透明導電層112a(112bまたは112c)の厚みは、上記条件を満たす最小厚みの整数倍の厚みから選択することができる。なお、透明導電層112a(112bまたは112c)の厚みは、ナノロッド119aまたは119bの高さを上回ることが好ましい。
図35の(b)または図37の(b)に示すように、例えば、透明導電層112aまたは透明導電層112cの厚みを上記最小厚みとした場合、光電変換層113a(113b)の裏面に形成された上記凹凸形状が、透明導電層112aまたは透明導電層112cに最も強く転写される。このため、透明導電層112cを覆って金属導電層111cを積層した場合には、金属導電層111cにも上記凹凸形状が転写される。
ここで、図35の(b)に示すように、金属電極層111を平坦な層としたければ、金属電極層111を平坦に形成するための平坦化処理が必要になる。つまり、透明導電層112aに形成された凹凸形状を除去して平坦化する工程を経て後、金属電極層111を堆積することになる。
これに対し、図36の(b)に示すように、透明導電層112bの厚みを上記最小厚みの整数倍とした場合、その厚みの設定(例えば、1μm以上)によっては、光電変換層113bの裏面に形成された凹凸形状が、金属電極層111に、もはや転写されなくなる。この結果、透明導電層112bの平坦化処理をしなくても、金属電極層111を平坦な層にすることができる。
なお、透明導電層112a(112bまたは112c)の厚みが薄い方が、透明導電層112a(112bまたは112c)によって光が吸収されることによる損失を小さくすることができる。
(太陽電池の製造工程の一例)
図35に示す太陽電池300の製造工程を例示的に説明する。図38は、太陽電池300の製造工程を示す工程図である。なお、膜厚に関する数値は一例であって、適宜変更可能である。
まず、図38の(a)に示すように、ガラス基板118上にSnOを蒸着して透明導電層117を形成し、さらに、ナノロッド119aの形成材料である透明誘電体として、SiOを350nmの厚みで透明導電層117上に蒸着し、SiO層119Aを形成する。なお、SiOの蒸着に代えて、実施の形態2で紹介したSOG(Spin−on Glass;塗布ガラス)液をスピンコート法によって塗布してもよい。
これらの透明誘電体は、光をほとんど吸収しない。その上、これらの透明誘電体の屈折率は、光電変換層113a(113b)の屈折率より小さい。なお、ナノロッドを形成する透明誘電体は、光電変換層を形成する光起電力材料の屈折率より0.4以上小さい透明材料から選択することが好ましい。
次に、図38の(b)に示すように、SiO層119A(またはSOG層)上にフォトレジスト41を、900nmの厚みを持つように塗布した後、電子ビーム露光によって、ナノロッド119aの配置パターンに対応するパターンを描画する。フォトレジスト41がポジ型の感光材料であれば、露光された部分を現像によって除去する。これにより、ピッチaを、共鳴ピークの波長λに対して、1/4倍〜1倍に設定することによって、フォトニック結晶構造を成すナノロッド119aの配置パターンを形成する。
続いて、図38の(c)に示すように、上記配置パターンの全体にわたって、Alを300nmの厚みで蒸着し、Al膜42を形成する。
その後、図38の(d)に示すように、フォトレジスト41を除去することにより、ナノロッド119aの形成部位にのみ、Al膜42を残す。
さらに、図38の(e)に示すように、四フッ化炭素(CF)をエッチングガスとする誘導結合型反応性イオンエッチング(ICP−RIE:Inductive Coupled Plasma‐Reactive Ion Etching)を用い、残ったAl膜42をマスクとして、マスクされていないSiOを精度よく除去する。これにより、ナノロッド119aが透明導電層117上に二次元的に配置された中間体300Aが作製される。
続いて、塩酸(HCl)を用いたウェットエッチングにより、残っていたAl膜42を除去する。
次に、図38の(f)に示すように、中間体300Aの表面全体にa‐Siを蒸着し、p型不純物をドープすることによりp型a‐Si層を形成し、その上にa‐Siを蒸着してi型a‐Si層を形成し、その上にさらにa‐Siを蒸着し、n型不純物をドープすることによりn型a‐Si層を形成する。これにより、pin型の光電変換層113aが形成される。
この後、図38の(g)に示すように、SnOを前記条件を満たす最小厚みにて蒸着して透明導電層112Aを形成する。このとき、透明導電層112Aの上面には、ナノロッド119aに対応する凹凸が形成されている。
この凹凸を残したまま、金属層を蒸着すると、金属層にも凹凸が形成されるので、図37の(b)に示す太陽電池302が完成する。このように、太陽電池302は、フォトニック結晶の加工以外に特殊な加工を施すことなく、太陽電池300に比べて容易に作製できる。一方、図38の(h)に示すように、透明導電層112Aの上面の凹凸を、集積回路等の作製で用いられているCMP(Chemical Mechanical Polishing;化学的機械研磨)またはエッチングにより平坦化して、金属層111を蒸着すると、図35の(b)に示す太陽電池300が完成する。
(太陽電池の製造工程の別例)
最後に、図37に示す太陽電池302を作製するための他の製造工程例を説明する。図39は、太陽電池302の製造工程を概略的に示す工程図である。なお、膜厚等に関する数値は一例であって、適宜変更可能である。
まず、図39の(a)に示すように、ガラス基板118上に積層され一体化された透明導電層117の面(太陽電池に光が入射する側とは反対側の面)に、HSQ(Hydrogen Silsesquioxane;水素シルセスキオキサン)などのSOG液をスピンコート法によって塗布し、HSQ層119Aを形成する。HSQ層119Aの膜厚は、例えば100nm〜150nmである。HSQは、高解像電子線ネガ型レジストの用途に好適な無機ポリマーである。
次に、図39の(b)に示すように、電子線リソグラフィ技術を用い、電子ビームをHSQ層119Aに照射し、ナノロッド119bのパターンをHSQ層119Aに描画する。これにより、HSQ層119Aは、露光済みHSQ層119Bとなる。露光済みHSQ層119Bには、感光し現像液に対して不溶性を示す部分がナノロッド119bのパターンに対応して形成されている。
続いて、図39(c)に示すように、現像処理を経ると、不溶性部119Cが透明導電層117上に残る。なお、不溶性部119Cの直径は例えば数100nmとする。
次に、図39(d)に示すように、酸素(O)プラズマを不溶性部119Cに照射し、アニールすると、HSQはSiO−likeな構造に変化し、不溶性部119Cはナノロッド119bとなる。
なお、図39の(b)から図39の(d)に至る電子線リソグラフィの工程を、ナノインプリントの工程に置き換えてもよい。ナノインプリントの場合には、ナノロッド119bに対応するキャビティが形成されたモールドを、HSQ層119Aに高圧でプレスする。この後、図39(d)に示す工程と同様に、酸素(O)プラズマを照射し、アニールすると、ナノロッド119bが透明導電層117上に形成される。なお、ナノロッド119bの直径は、上記と同じく例えば数100nmである。また、このときのナノロッド119bの配列状態は、図24に示すとおりである。
続いて、図39の(e)に示すように、図37の光電変換層113b(厚みは例えば330nm)として、p型a‐Si層184、i型a‐Si層185およびn型a‐Si層186を形成する。具体的には、ナノロッド119bが形成された透明導電層117の表面全体にa‐Siを蒸着し、p型不純物をドープすることによりp型a‐Si層184を形成し、その上にa‐Siを蒸着してi型a‐Si層185を形成し、その上にさらにa‐Siを蒸着し、n型不純物をドープすることによりn型a‐Si層186を形成する。
このとき、ナノロッド119b上を覆うp型a‐Si膜184aと、p型a‐Si膜184aの周囲に存在するn型a‐Si層186との間が接近し過ぎてリーク(接合)が生じないように、ナノロッド119bの高さ、すなわちHSQ層119Aの塗布厚が決定されている。
最後に、図39の(f)に示すように、n型a‐Si層186の上に、透明導電層112cと金属電極層111cとを順に積層することにより、太陽電池302が完成する。
このように、図38および図39に示す製造方法では、a‐Si層に加工を施さないので、a‐Si層が全くダメージを受けないことが期待できる。なお、ナノロッドの形成にSOG材料を用いた場合には、SOG材料の取り扱いまたは状態によって、太陽電池の特性が決まると考えられる。
本発明に係る太陽電池の特徴点について、以下に補足する。
〔まとめ〕
本発明の第1の太陽電池は、上記の課題を解決するために、
(1)光電変換層と、
(2)上記光電変換層の内部に形成されたフォトニック結晶とを備え、
(3)上記フォトニック結晶と外界との結合の強度を表す係数κVの逆数に比例し、上記フォトニック結晶と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQと、上記光電変換層の媒質による光の吸収係数の逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQαとが、0.2Q≦Qα≦5.4Qを満たす範囲にあることを特徴とする。
上記の構成によれば、フォトニック結晶は、光電変換層の媒質(第1の媒質とする)と、当該第1の媒質とは誘電率(屈折率)が異なる第2の媒質との周期構造を備え、特定波長の光が、フォトニック結晶内に進入し、フォトニック結晶内で共鳴する。共鳴を起こした光は、光電変換層の媒質内を行き来し、光電変換層の媒質によって吸収され、光電変換される。
ここで、上記係数κVと吸収係数とがほぼ等しくなっている場合、言い換えると、QとQαとがほぼ等しくなっている場合、光電変換層の媒質による光の吸収が最大になる。
なお、QとQαとがほぼ等しくなくても、上記のように0.2Q≦Qα≦5.4Qの条件が満たされる場合には、フォトニック結晶による光の吸収効果が高くなるとともに、太陽電池の開放電圧(Vco)および曲線因子(FF)を変化させることなく、太陽電池の短絡電流(Jsc)を向上させることができる。この結果、太陽電池の変換効率を向上させることができる。
したがって、上記の構成により、フォトニック結晶構造を備えた光電変換素子の光の吸収率を高めることができ、前述した波長520nmから820nm程度までの帯域における光起電力を増大させることができる。また、欠陥準位に対応する共鳴ピークの波長を、光電変換層の媒質による吸収率の低い波長帯域に合わせることにより、より広範囲の波長帯域の光を吸収できる太陽電池を得ることができる。
太陽電池(光起電力デバイス)自体の光の吸収量を高めることができれば、入射された光に対する起電力の割合(分光感度特性(もしくはIPCE:光電子変換効率;Incident Photon−to−Current Efficiency))を増加することができる。これは、従来では吸収し、起電力変換できていなかった太陽からのフォトンを、電子へと変換することが可能となることによる。したがって、本発明の効果は、フォトニック結晶を光起電力層に加工することで、光の吸収量を増大させたことによる太陽電池の短絡電流(Jsc)の増加につなげることができることにある。ここで、太陽電池の開放電圧をVoc、曲線因子をFF、変換効率をηとすると、変換効率は、以下のように表すことができる。
η= Jsc×Voc×FF
したがって、Jscの増加につながる本発明は、太陽電池デバイスの変換効率を高めることが可能であり、太陽電池デバイスの有用性を向上させることが可能となる。
本発明の第2の太陽電池において、上記フォトニック結晶は、フォトニックバンドギャップを持つように、上記光電変換層の媒質より屈折率が小さい柱状の媒質が、上記光電変換層の媒質内に周期的に配置されているとともに、上記フォトニックバンドギャップに欠陥準位を生成するように、上記柱状の媒質が配置されていない欠陥が形成されたフォトニック結晶であり、上記欠陥準位に対応する共鳴ピークの波長をλとしたとき、上記柱状の媒質は、波長λに対して、λ/7以上、λ/2以下のピッチで、二次元的に配置されており、上記欠陥がマトリクス状に配置されることにより、全体として、フォトニックバンドギャップを形成する共振器を構成していることを特徴とする。
上記の構成によれば、フォトニックバンドギャップに欠陥準位を生成するように欠陥が形成されたフォトニック結晶が、光電変換層の内部に形成されているので、光電変換層に進入した光のうち、上記欠陥準位に対応する特定波長の光は、フォトニック結晶の欠陥内およびその付近に閉じ込められ、共鳴を起こす。
上記柱状の媒質(第2の媒質)が、共鳴ピークの波長λに対して、λ/7以上、λ/2以下のピッチで、二次元的に配置されている場合、上記係数κVと吸収係数とがほぼ等しくなるので、光電変換層の媒質による光の吸収が最大になる、または最大に近くなる。
本発明の第3の太陽電池において、上記フォトニック結晶は、フォトニックバンド端を持つように、上記光電変換層の媒質より屈折率が小さい柱状の媒質が、上記光電変換層の媒質内に周期的に配置されたフォトニック結晶であり、上記フォトニック結晶による共鳴波長をλとしたとき、上記柱状の媒質は、λ/4以上、λ以下のピッチで、二次元に周期的に配置され、太陽電池の受光面を太陽の向きに合わせて移動させる手段、もしくは、集光デバイスが付加されていることを特徴としている。
上記構成によると、上記フォトニック結晶では、柱状の媒質が、λ/4以上、λ以下のピッチで、二次元的に配置されている。このため、上記フォトニック結晶の逆格子空間におけるΓ点にバンド端が形成され、当該バンド端により規定される光の波長がλとなる。
これにより、フォトニック結晶が形成された上記光電変換層に入射する光のうち、垂直方向からの入射光であって、波長λの光を、上記光電変換層内に閉じ込めて共鳴させることができる。このように、角度依存性を持って光電変換層で共鳴された波長λの光は、上記光電変換層の媒質によって吸収される。したがって、太陽電池の光の吸収率を向上させることができる。
さらに、太陽電池の受光面を太陽の向きに合わせて移動させる手段、もしくは、集光デバイスが付加されているので、フォトニック結晶に進入できる光が、角度依存性を持っていても、太陽電池の受光量を増大させることができる。これにより、上記の構成であっても、太陽電池の光の吸収を増強することができ、光の吸収率を向上させることできる。
本発明の第4の太陽電池において、上記フォトニック結晶では、上記光電変換層の媒質より屈折率が小さい柱状の媒質が、上記光電変換層の厚みと等しい高さを持って、上記光電変換層の媒質内に周期的に配置されていることを特徴とする。
上記の構成は、公知の半導体プロセス技術を用いて、比較的容易に作製することができる二次元フォトニック結晶の一構成例である。また、このような構成を備えた二次元フォトニック結晶は、欠陥が形成されたフォトニック結晶の場合、デバイスの外部から入射された光を上記欠陥内に効率良く閉じ込めることができる。
さらに、柱状の媒質の高さを、上記光電変換層の厚みと等しくした場合、光は、入射角度依存性を持たずに、光電変換層、言い換えればフォトニック結晶に進入することができる。このため、上記の構成は、太陽電池のように、光の吸収率をできるだけ高くしたい光電変換素子に適している。
なお、本発明の第5の太陽電池として、上記フォトニック結晶では、上記光電変換層の媒質より屈折率が小さい柱状の媒質が、上記光電変換層の厚みの1/4以下の高さを持って、上記光電変換層の媒質内に周期的に配置されていてもよい。
上記構成により、上記光電変換層に形成する上記柱状の媒質が、当該光電変換層の高さより小さいので、上記光電変換層に、上記柱状の媒質を容易に形成することができる。すなわち、フォトニック結晶の形成が容易である。
本発明の第6の太陽電池において、上記光電変換層は、光電変換層の媒質より屈折率が小さい媒質からなる2つの層によって挟まれ、上記2つの層の少なくとも一方は、透明であることを特徴とする。
上記の構成によれば、高屈折率のコアを、低屈折率のクラッドで被覆した光ファイバと同じ原理で、光電変換層の表面に垂直な方向に伝播し、漏れ出ようとする光を閉じ込めることができる。この結果、光電変換層による光の吸収率をさらに向上させることができる。
なお、フォトニック結晶に光を進入させるため、上記2つの層のうち、少なくとも、太陽電池の受光面側に配された層を透明とすればよい。
本発明の第7の太陽電池において、上記光電変換層は、p型半導体層、真性半導体層およびn型半導体層の各層の隣接構造を有し、上記隣接構造は、各層が縦積みされた縦型構造であることを特徴とする。
上記のように、p型半導体層、真性半導体層およびn型半導体層の各層の隣接構造を備えた太陽電池は、いわゆるpin型太陽電池である。
pin型の太陽電池は、真性半導体層で電子および正孔が生成され、効率良く電流を取り出すことができるので、太陽電池の用途に適している。また、縦型構造は太陽電池の占有面積を小さくするのに有利である。
本発明の第8の太陽電池において、光が上記太陽電池に入射する側とは反対側の最外層には、上記反対側の全体を覆う金属層が設けられていることを特徴とする。
これにより、上記金属層は、光電変換層などを通り抜けた光を、再び、光電変換層に戻すように反射するので、光電変換率を向上させることができる。また、上記金属層は、電流を取り出す電極の1つとしての役割を果たすこともできる。
なお、フォトニック結晶を光電変換層の全体にわたって形成することは本発明にとって必須ではなく、フォトニック結晶が光電変換層の一部領域に形成されていれば、従来より光電変換率を向上させる効果が得られる。この場合、上記金属層を、フォトニック結晶が形成された上記一部領域に対応した下方領域の全体に設けることが好ましい。
本発明の第9の太陽電池において、上記柱状の媒質(ナノロッド)が、平面視した場合に、三角格子により構成される六角形の各頂点と中心とにより構成される配置を第1ユニットとし、上記柱状の媒質の上記ピッチをaとすると、二次元的に配置された第1ユニットは、x方向に2a、x方向に直交するy方向に√3aのピッチで配置され、
上記欠陥(ナノロッドの無い部分)は、x方向に4aから8a、y方向に2√3aから4√3aのピッチで、正方格子状に配置されていることを特徴とする。
上記構成によれば、上記κVとα(もしくはQとQα)とがほぼ等しくなるので、光電変換層の媒質による光の吸収を最大にするとともに、吸収される光の波長帯域をも最大にすることができる。なお、上記欠陥とその周囲のナノロッドとを合わせて、光を閉じ込める共鳴器とみなすことができ、複数の共鳴器をマトリクス状に配置することによって、各共鳴器を相互に共鳴させ、全体の共鳴の強さを小さく(Qを小さく=κVを大きく)することができる。これにより、フォトニック結晶と外界との結合の強度が大きくなるので、光をフォトニック結晶内に取り込み易くなる一方、フォトニック結晶のQ値が小さくなるので、光電変換層の光が吸収される度合いが大きくなるとともに、吸収される光の波長帯域を大きくすることができる。
なお、上記柱状の媒質が、平面視した場合に、三角格子により構成される六角形の各頂点と中心とにより構成される配置の中に、上記欠陥が2つ以上形成され構成を第2ユニットとし、上記柱状の媒質の上記ピッチをaとすると、二次元的に配置された第2ユニットは、x方向に4a以上、y方向に√3aのピッチで配置され、上記欠陥は、x方向に4aから8a、y方向に2√3aから4√3aのピッチで、長方格子状に配置された構成であってもよい。
この場合にも、上記κVとα(もしくはQとQα)とがほぼ等しくなるので、上記と同様の効果が得られる。
さらに、柱状の媒質が六角形に配置されたユニット内に2つ以上の欠陥を形成することによって、共鳴ピークの縮退が解け、波長が異なる複数の共鳴ピークが現れる。この結果、吸収される光の波長帯域が増える効果も得られる。
本発明の第11の太陽電池において、上記欠陥を取り囲む上記柱状の媒質のうち、特定方向に沿った線上に配置された2つの柱状の媒質の位置が、上記六角形の各頂点の位置から、上記特定方向に沿って、互いに逆方向で距離が短くなる方向にシフトしていることを特徴とする。
上記の構成によれば、上記柱状の媒質の周期的な配置が乱されるため、共鳴ピークの縮退が解け、波長が異なる複数の共鳴ピークが現れる。この結果、吸収される光の波長帯域が増えるため、太陽電池の光吸収率を向上させる効果が得られる。
本発明の第12の太陽電池は、上記第3の太陽電池において、上記フォトニック結晶では、平面視したとき、上記柱状の媒質は、三角形の各頂点に配置されているか、または、本発明の第13の太陽電池において、四角形の各頂点に配置されていることが好ましい。
これにより、逆格子空間におけるΓ点にバンド端が形成され、当該バンド端により規定される光の波長がλとなるフォトニック結晶を構成することができる。このため、波長λの光を、太陽電池の内部で共鳴させることで、光の吸収率を向上させることができる。
なお、上記第12・13の太陽電池の構成を、上記第4〜第8の太陽電池のいずれかの構成と組み合わせることもできる。
本発明の第14の太陽電池は、上記第3、第12または第13の太陽電池において、上記フォトニック結晶では、上記柱状の媒質が、2次元的に一定のピッチで配されている領域と、当該領域とは異なるピッチで、2次元的に一定のピッチで配されている領域とが配されていることが好ましい。
上記構成のように、一定のピッチで配されている上記柱状の媒質のピッチを、領域ごとに異ならせることで、領域ごとに、フォトニック結晶によるバンド端により規定される共鳴ピーク波長を異ならせることができる。このため、領域ごとに、フォトニック結晶による共鳴ピーク波長を複数発生させることができるので、さらに光の吸収率の向上効果を得ることができる。
なお、上記第14の太陽電池の構成を、上記第4〜第8の太陽電池のいずれかの構成と組み合わせることもできる。
本発明の第15の太陽電池は、上記第13の太陽電池の構成に、さらに以下の構成を加えた構成を有していてもよい。すなわち、上記柱状の媒質の高さは、上記光電変換層の厚みより小さく、上記光電変換層において、光が上記太陽電池に入射する側とは反対側に位置する裏面に、フォトニック結晶構造を成すように、上記光電変換層の媒質による凹凸形状が形成されていてもよい。
これにより、光電変換層の表面側に周期的に配置された柱状の媒質が構成する第1のフォトニック結晶では、第1のフォトニック結晶のピッチに対応して前述のバンド端が形成される。そして、上記光電変換層に入射する光のうち、垂直方向からの入射光であって、そのバンド端により規定された特定波長の光が共鳴し、光電変換層の媒質によって吸収される。
さらに、光電変換層の裏面(上記表面とは反対側の面)に形成された凹凸形状が構成する第2のフォトニック結晶でも、第2のフォトニック結晶のピッチに対応して前述のバンド端が形成される。そして、上記光電変換層に入射する光のうち、垂直方向からの入射光であって、第2のフォトニック結晶のピッチに対応したバンド端により規定された特定波長の光が共鳴し、光電変換層の媒質によって吸収される。
第1のフォトニック結晶のピッチと第2のフォトニック結晶のピッチとが同じであれば、同じ波長の光が第1のフォトニック結晶および第2のフォトニック結晶において共鳴し、最適な光閉じ込めの効果を得ることが期待できる。
また、第1のフォトニック結晶のピッチと第2のフォトニック結晶のピッチとが異なっていれば、異なる波長の光が第1のフォトニック結晶および第2のフォトニック結晶において共鳴し、光電変換層の媒質によって吸収される光の波長帯域を広げることが期待できる。
いずれにしても、太陽電池の発電効率をさらに向上させることができる。
なお、太陽電池の受光面を太陽の向きに合わせて移動させる手段、もしくは、集光デバイスが付加されているので、フォトニック結晶に進入できる光が、角度依存性を持っていても、太陽電池の受光量を増大させることができる点については、上記第3の太陽電池について説明したとおり、第15の太陽電池にもあてはまる。
また、上記第15の太陽電池の構成を、上記第5〜第8の太陽電池のいずれかの構成と組み合わせることもできる。
本発明の第16の太陽電池の場合、上記第15の太陽電池の構成において、上記柱状の媒質のそれぞれの中心軸と、上記光電変換層の媒質による凸形状のそれぞれの中心軸とが、上記光電変換層の厚み方向において一致していてもよい。
これにより、光電変換層の表面および裏面に、同じ構造を持つフォトニック結晶が形成されるので、光電変換層の媒質における最適な光閉じ込めの効果を期待することができ、太陽電池の光の吸収率をさらに向上させることができる。
なお、上記柱状の媒質のそれぞれの中心軸と、上記光電変換層の媒質による凸形状のそれぞれの中心軸とが、上記光電変換層の厚み方向において一致していない場合には、光電変換層に構造の異なる2種類のフォトニック結晶が形成される。したがって、この場合には、それぞれのフォトニック結晶で共鳴する光の波長を異ならせることができる。この結果、光電変換層で吸収される光の波長帯域を広げる効果を期待することができるので、太陽電池の発電効率を向上させることができる。
本発明の第17の太陽電池の場合、上記第15の太陽電池の構成において、光が上記太陽電池に入射する側とは反対側の最外層には、上記反対側の全体を覆う金属層が設けられ、上記金属層は平坦な層であってもよい。
これにより、上記金属層は、光電変換層などを通り抜けた光を、再び、光電変換層に戻すように反射するので、光電変換率を向上させることができる。また、上記金属層は、電流を取り出す電極の1つとしての役割を果たすこともできる。
上記金属層は平坦な層なので、太陽電池の特性を測定した値が、シミュレーションによって予測した結果と合いやすい。したがって、設計した特性を期待どおりに得やすいという効果を奏する。
さらに、上記金属層は平坦な層なので、上記金属層にフォトニック結晶構造を成す凹凸が形成された構造と比べて、電気抵抗を小さくすることができ、電力の取り出しに有利になると考えられる。
なお、フォトニック結晶を光電変換層の全体にわたって形成することは本発明にとって必須ではなく、フォトニック結晶が光電変換層の一部領域に形成されていれば、従来より光電変換率を向上させる効果が得られる。この場合、上記金属層を、フォトニック結晶が形成された上記一部領域に対応した下方領域の全体に設けることが好ましい。
本発明の第18の太陽電池の場合、上記第15の太陽電池の構成において、光が上記太陽電池に入射する側とは反対側の最外層には、上記反対側の全体を覆う金属層が設けられ、少なくとも、光が上記太陽電池に入射する側である上記金属層の表面にも、フォトニック結晶構造を成す凹凸形状が形成されていてもよい。
これにより、少なくとも、上記金属層の表面にも、フォトニック結晶構造を成す凹凸形状が形成されているので、対象としている波長帯域以外の波長の光が金属層によって散乱されると考えられる。また、金属層による(表面)プラズモン共鳴のために、光エネルギーを増強する効果が期待できる。この結果、光電変換層で吸収される光の波長帯域を広げることによって、太陽電池の光の吸収率をさらに向上させることが期待できる。
本発明の第19の太陽電池の場合、上記第17または第18の太陽電池の構成において、上記光電変換層は、光電変換層の媒質より屈折率が小さい媒質からなる2つの透明層によって挟まれ、上記2つの透明層のうち、光が上記太陽電池に入射する側とは反対側の透明層は、上記金属層に隣接していることが好ましい。
上記の構成によれば、高屈折率のコアを、低屈折率のクラッドで被覆した光ファイバと同じ原理で、光電変換層の表面に垂直な方向に伝播し、漏れ出ようとする光を閉じ込めることができる。この結果、光電変換層による光の吸収率をさらに向上させることができる。
なお、上記2つの透明層は、光電変換層の表面に垂直な方向に伝播し、漏れ出ようとする光を閉じ込める条件を満たす厚みを有している。光が上記太陽電池に入射する側とは反対側の透明層、すなわち裏面側の透明層の厚みは、上記条件を満たす最小厚みの整数倍の厚みから選択することができる。
上記裏面側の透明層の厚みを上記最小厚みとした場合、光電変換層の裏面に形成された上記凹凸形状が、上記裏面側の透明層および金属層に転写される。したがって、この場合に、金属層を平坦な層としたければ、金属層を平坦に形成するための平坦化処理が必要になる。
これに対し、上記裏面側の透明層の厚みを上記最小厚みの整数倍とした場合、その厚みの設定によっては、光電変換層の裏面に形成された上記凹凸形状が、金属層には転写されなくなる。この結果、平坦化処理をしなくても、金属層を平坦な層にすることができる。
本発明の第20の太陽電池は、
(1)複数の半導体が積層された光電変換層と、当該光電変換層の内部に形成されたフォトニック結晶とを備えた太陽電池であって、
(2)複数積層された上記半導体のうち、少なくとも1つの層に突起が形成されており、
(3)上記フォトニック結晶は、上記突起が形成された半導体を含むものであり、
(4)上記フォトニック結晶による共鳴ピーク波長をλとしたとき、上記突起は、λ/4以上、λ以下のピッチで、二次元に周期的に配置されており、
(5)上記フォトニック結晶と外界との結合の強度を表す係数κVの逆数に比例し、上記フォトニック結晶と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQと、上記光電変換層の媒質による光の吸収係数αの逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQαとが、0.2Q≦Qα≦5.4Qを満たす範囲にあることを特徴としている。
上記構成によると、半導体層に複数の突起を形成することで、フォトニック結晶を構成することができる。このように形成されたフォトニック結晶では、突起が、λ/4以上、λ以下のピッチで、二次元に周期的に配置されている。このため、上記フォトニック結晶の逆格子空間におけるΓ点にバンド端が形成され、当該バンド端により規定される光の波長がλとなる。
これにより、フォトニック結晶が形成された上記光電変換層に入射する光のうち、垂直方向からの入射光であって、波長λの光を、上記光電変換層内に閉じ込めて共鳴させることができる。このように、光電変換層で共鳴された波長λの光は、上記光電変換層の媒質によって吸収される。
ここで、上記係数κVと吸収係数αとがほぼ等しくなっている場合、言い換えると、QとQαとがほぼ等しくなっている場合、光電変換層の媒質による光の吸収が最大になるとともに、吸収される光の波長帯域が最大になる。
なお、QとQαとがほぼ等しくなくても、上記のように0.2Q≦Qα≦5.4Qの条件が満たされる場合には、フォトニック結晶による光の吸収効果が高くなる。
したがって、上記の構成により、フォトニック結晶構造を備えた光電変換素子の光の吸収率を高めることができ、前述した波長520nmから820nm程度までの帯域における光起電力を増大させることができる。また、バンド端により規定される共鳴ピークの波長を、光電変換層の媒質による吸収率の低い波長帯域に合わせることにより、より広範囲の波長帯域の光を吸収できる光電変換素子を得ることができる。
本発明の太陽電池パネルは、上記第1から第20の太陽電池のいずれかを1ユニットとして、複数の上記ユニットが一次元的または二次元的に配列されたことを特徴とする。
これにより、光の吸収率が高い太陽電池が配列されているので、光電変換率の高い太陽電池パネルを得ることができる。
特に、上記第3の太陽電池または第20の太陽電池は、フォトニック結晶中に欠陥を設けていないので、フォトニック結晶中に欠陥を設けた太陽電池より製造しやすい。したがって、上記第3の太陽電池または第20の太陽電池が配列された太陽電池パネルは、量産に適しているというメリットを持っている。
上記第1から第20の太陽電池のいずれかを電源として備えた装置もまた、本発明の1つのカテゴリーである。そのような装置は、上記太陽電池を電源として動作する携帯型または据え置き型の電子機器、家電製品または広告塔などが含まれる。
また、上記太陽電池パネルを電源として備えた装置もまた、本発明の1つのカテゴリーである。そのような装置は、上記太陽電池パネルを電源として動作する携帯型または据え置き型の電子機器または家電製品のほかに、車両または広告塔なども含まれる。
なお、ある着目した請求項に記載された構成と、その他の請求項に記載された構成との組み合わせが、その着目した請求項で引用された請求項に記載された構成との組み合わせのみに限られることはなく、本発明の目的を達成できる限り、その着目した請求項で引用されていない請求項に記載された構成との組み合わせが可能である。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明は、太陽電池全般に利用することができる。
1,60 太陽電池
2 光電変換層
3,72 透明導電層(2つの層の一方)
4,74 透明導電層(2つの層の他方)
6,111,111c 金属電極層(金属層)
20 真性半導体層
21 p型半導体層
22 n型半導体層
30,76,76a〜76d ナノロッド(柱状の媒質)
31,77 欠陥
78 欠陥領域
c 欠陥準位
g フォトニックバンドギャップ
p ピッチ
x 方向(特定方向)
110、130、170 太陽電池
111、171 裏面金属電極(金属層)
112 透明導電膜(2つの層の一方)
117 透明導電膜(2つの層の他方)
113、173 半導体層(光電変換層)
114、174 n型半導体
115、175 i型半導体
116、176 p型半導体
118 ガラス
119、179 ナノロッド(柱状の媒質)
121、123、127 フォトニック結晶
111c 金属電極層(金属層)
112a,112b,112c 透明導電層
113a,113b 光電変換層
117 透明導電層
119a,119b ナノロッド(柱状の媒質)
300,301,302 太陽電池
a,a,a,a ピッチ
,A,A 領域

Claims (12)

  1. 光電変換層と、
    上記光電変換層の内部に形成されたフォトニック結晶とを備え、
    上記フォトニック結晶と外界との結合の強度を表す係数κVの逆数に比例し、上記フォトニック結晶と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQと、上記光電変換層の媒質による光の吸収係数の逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQαとが、Q=Qαを満たす関係にあり、
    上記フォトニック結晶は、フォトニックバンドギャップを持つように、上記光電変換層の媒質より屈折率が小さい柱状の媒質が、上記光電変換層の媒質内に周期的に配置されているとともに、上記フォトニックバンドギャップに欠陥準位を生成するように、上記柱状の媒質が配置されていない欠陥が形成されたフォトニック結晶であり、
    上記欠陥準位に対応する共鳴ピークの波長をλとしたとき、上記柱状の媒質は、波長λに対して、λ/7以上、λ/2以下のピッチで、二次元的に配置されており、上記欠陥がマトリクス状に配置されることにより、全体として、フォトニックバンドギャップを形成する共振器を構成しており、
    上記柱状の媒質が、平面視した場合に、三角格子により構成される六角形の各頂点と中心とにより構成される配置を第1ユニットとし、上記柱状の媒質の上記ピッチをaとすると、
    二次元的に配置された第1ユニットは、x方向に2a、y方向に√3aのピッチで配置され、
    上記欠陥は、x方向に4aから8a、y方向に2√3aから4√3aのピッチで、正方格子状に配置されていること
    を特徴とする太陽電池。
  2. 光電変換層と、
    上記光電変換層の内部に形成されたフォトニック結晶とを備え、
    上記フォトニック結晶と外界との結合の強度を表す係数κ V の逆数に比例し、上記フォトニック結晶と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQ と、上記光電変換層の媒質による光の吸収係数の逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQ α とが、Q =Q α を満たす関係にあり、
    上記フォトニック結晶は、フォトニックバンドギャップを持つように、上記光電変換層の媒質より屈折率が小さい柱状の媒質が、上記光電変換層の媒質内に周期的に配置されているとともに、上記フォトニックバンドギャップに欠陥準位を生成するように、上記柱状の媒質が配置されていない欠陥が形成されたフォトニック結晶であり、
    上記欠陥準位に対応する共鳴ピークの波長をλとしたとき、上記柱状の媒質は、波長λに対して、λ/7以上、λ/2以下のピッチで、二次元的に配置されており、上記欠陥がマトリクス状に配置されることにより、全体として、フォトニックバンドギャップを形成する共振器を構成しており、
    上記柱状の媒質が、平面視した場合に、三角格子により構成される六角形の各頂点と中心とにより構成される配置の中に、上記欠陥が2つ以上形成される構成を第2ユニットとし、上記柱状の媒質の上記ピッチをaとすると、
    二次元的に配置された第2ユニットは、x方向に4a以上、y方向に√3aのピッチで配置され、
    上記欠陥は、x方向に4aから8a、y方向に2√3aから4√3aのピッチで、長方格子状に配置されていること
    を特徴とする太陽電池。
  3. 光電変換層と、
    上記光電変換層の内部に形成されたフォトニック結晶とを備え、
    上記フォトニック結晶と外界との結合の強度を表す係数κVの逆数に比例し、上記フォトニック結晶と外界との結合による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQと、上記光電変換層の媒質による光の吸収係数の逆数に比例し、上記光電変換層の媒質による共鳴効果の大きさを表すQ値としてのQαとが、Q=Qαを満たす関係にあり、
    上記フォトニック結晶は、フォトニックバンド端を持つように、上記光電変換層の媒質より屈折率が小さい柱状の媒質が、上記光電変換層の媒質内に周期的に配置されたフォトニック結晶であり、
    上記フォトニック結晶による共鳴波長をλとしたとき、
    上記柱状の媒質は、λ/4以上、λ以下のピッチで、二次元に周期的に配置され、
    太陽電池の受光面を太陽の向きに合わせて移動させる手段、もしくは、集光デバイスが付加されていること
    を特徴とする太陽電池。
  4. 上記フォトニック結晶では、上記光電変換層の媒質より屈折率が小さい柱状の媒質が、上記光電変換層の厚みと等しい高さを持って、上記光電変換層の媒質内に周期的に配置されていること
    を特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の太陽電池。
  5. 上記フォトニック結晶では、上記光電変換層の媒質より屈折率が小さい柱状の媒質が、上記光電変換層の厚みの1/4以下の高さを持って、上記光電変換層の媒質内に周期的に配置されていること
    を特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の太陽電池。
  6. 上記欠陥を取り囲む上記柱状の媒質のうち、特定方向に沿った線上に配置された2つの柱状の媒質の位置が、上記六角形の各頂点の位置から、上記特定方向に沿って、互いに逆方向で距離が短くなる方向にシフトしていること
    を特徴とする請求項に記載の太陽電池。
  7. 上記フォトニック結晶では、平面視したとき、上記柱状の媒質は、三角形の各頂点に配置されていること
    を特徴とする請求項に記載の太陽電池。
  8. 上記フォトニック結晶では、平面視したとき、上記柱状の媒質は、四角形の各頂点に配置されていること
    を特徴とする請求項に記載の太陽電池。
  9. 上記フォトニック結晶では、上記柱状の媒質が、2次元的に一定のピッチで配されている領域と、当該領域とは異なるピッチで、2次元的に一定のピッチで配されている領域とが配されていること
    を特徴とする請求項3,7または8に記載の太陽電池。
  10. 請求項1からのいずれか1項に記載の太陽電池を1ユニットとして、複数の上記ユニットが一次元的または二次元的に配列されたことを特徴とする太陽電池パネル。
  11. 請求項1からのいずれか1項に記載の太陽電池を電源として備えたことを特徴とする装置。
  12. 請求項10に記載の太陽電池パネルを電源として備えたことを特徴とする装置。
JP2014187019A 2010-01-07 2014-09-12 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置 Expired - Fee Related JP5916823B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014187019A JP5916823B2 (ja) 2010-01-07 2014-09-12 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010002351 2010-01-07
JP2010002351 2010-01-07
JP2010187404 2010-08-24
JP2010187404 2010-08-24
JP2014187019A JP5916823B2 (ja) 2010-01-07 2014-09-12 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011548955A Division JPWO2011083693A1 (ja) 2010-01-07 2010-12-22 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015026850A JP2015026850A (ja) 2015-02-05
JP5916823B2 true JP5916823B2 (ja) 2016-05-11

Family

ID=44305430

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011548955A Pending JPWO2011083693A1 (ja) 2010-01-07 2010-12-22 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置
JP2014187019A Expired - Fee Related JP5916823B2 (ja) 2010-01-07 2014-09-12 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011548955A Pending JPWO2011083693A1 (ja) 2010-01-07 2010-12-22 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9324891B2 (ja)
EP (1) EP2523220A1 (ja)
JP (2) JPWO2011083693A1 (ja)
CN (1) CN102792456B (ja)
WO (1) WO2011083693A1 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101100111B1 (ko) * 2010-03-22 2011-12-29 한국철강 주식회사 인플렉서블 또는 플렉서블 기판을 포함하는 광기전력 장치 및 이의 제조 방법
KR101039719B1 (ko) 2010-03-26 2011-06-09 한국철강 주식회사 플렉서블 기판 또는 인플렉서블 기판을 포함하는 광기전력 장치 및 이의 제조 방법
JP2015028959A (ja) * 2011-11-21 2015-02-12 シャープ株式会社 太陽電池、太陽電池パネル、太陽電池を備えた装置、及び、太陽電池パネルを備えた装置
JP6281868B2 (ja) * 2013-03-08 2018-02-21 国立大学法人大阪大学 フォトニック結晶スラブ電磁波吸収体および高周波金属配線回路、電子部品、および送信器、受信器および近接無線通信システム
CN105027428B (zh) * 2013-03-08 2017-09-22 国立研究开发法人科学技术振兴机构 热辐射光源以及太阳能发电装置
WO2014171457A1 (ja) * 2013-04-17 2014-10-23 独立行政法人科学技術振興機構 フォトニック結晶及びそれを利用した光機能デバイス
US11121271B2 (en) 2013-05-22 2021-09-14 W&WSens, Devices, Inc. Microstructure enhanced absorption photosensitive devices
US10468543B2 (en) 2013-05-22 2019-11-05 W&Wsens Devices, Inc. Microstructure enhanced absorption photosensitive devices
EP3000134B1 (en) 2013-05-22 2021-03-10 Shih-Yuan Wang Microstructure enhanced absorption photosensitive devices
US10446700B2 (en) * 2013-05-22 2019-10-15 W&Wsens Devices, Inc. Microstructure enhanced absorption photosensitive devices
US10700225B2 (en) 2013-05-22 2020-06-30 W&Wsens Devices, Inc. Microstructure enhanced absorption photosensitive devices
JPWO2015015694A1 (ja) * 2013-08-01 2017-03-02 パナソニック株式会社 光起電力装置
US9929291B2 (en) 2014-02-06 2018-03-27 Raytheon Company Photo-detector having plasmonic resonance and photon crystal thermal noise suppression
CN104601103B (zh) * 2014-12-30 2016-09-07 河海大学常州校区 磁纳米流体聚光式光伏热电联产装置
US10134926B2 (en) * 2015-02-03 2018-11-20 Microsoft Technology Licensing, Llc Quantum-efficiency-enhanced time-of-flight detector
CN105068184B (zh) * 2015-07-24 2018-01-05 太原理工大学 一种增强宽谱光吸收的二维光子晶体复合结构
RU194493U1 (ru) * 2019-10-18 2019-12-12 федеральное государственное автономное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (НИЯУ МИФИ) Устройство для сбора солнечного излучения в широком диапазоне длин волн для солнечных батарей
KR20210048953A (ko) 2019-10-24 2021-05-04 삼성전자주식회사 메타 광학 소자 및 이의 제조방법
KR102363048B1 (ko) 2020-03-05 2022-02-15 고려대학교 산학협력단 병렬 및 직렬 연결 구조를 갖는 태양전지 모듈
CN111895668A (zh) * 2020-07-02 2020-11-06 中国人民解放军火箭军工程大学 一种太阳能高效吸收微结构
CN112652720B (zh) * 2020-12-22 2023-09-05 青岛大学 一种基于二维光子晶体结构的钙钛矿太阳能电池
CN115700928A (zh) * 2021-07-15 2023-02-07 上海新微技术研发中心有限公司 光电探测器及其制造方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3682289B2 (ja) * 2002-12-06 2005-08-10 独立行政法人科学技術振興機構 境界反射を利用した2次元フォトニック結晶光分合波器
JP3847261B2 (ja) * 2003-02-10 2006-11-22 国立大学法人京都大学 2次元フォトニック結晶中の共振器と波長分合波器
JP4761426B2 (ja) * 2003-07-25 2011-08-31 三菱電機株式会社 光デバイスおよび半導体レーザ発振器
JP3763826B2 (ja) 2003-08-29 2006-04-05 独立行政法人科学技術振興機構 2次元フォトニック結晶分合波器
US7964925B2 (en) * 2006-10-13 2011-06-21 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Photodiode module and apparatus including multiple photodiode modules
JP2005150291A (ja) * 2003-11-13 2005-06-09 Seiko Epson Corp 受光素子、光モジュール、及び光伝送装置
JP4025738B2 (ja) 2004-03-05 2007-12-26 国立大学法人京都大学 2次元フォトニック結晶
JP2006024495A (ja) 2004-07-09 2006-01-26 Sony Corp 光電変換素子
JP2006032787A (ja) 2004-07-20 2006-02-02 Ricoh Co Ltd 光電変換素子
JP2006173329A (ja) 2004-12-15 2006-06-29 Seiko Epson Corp 受光素子およびその製造方法、光モジュール、並びに、光伝達装置
JP4027393B2 (ja) * 2005-04-28 2007-12-26 キヤノン株式会社 面発光レーザ
JP4954975B2 (ja) 2006-03-17 2012-06-20 洋 本間 周期構造体及び周期構造の作製方法並びに応用製品
US20070235072A1 (en) * 2006-04-10 2007-10-11 Peter Bermel Solar cell efficiencies through periodicity
US20080048102A1 (en) * 2006-08-22 2008-02-28 Eastman Kodak Company Optically enhanced multi-spectral detector structure
JP5054355B2 (ja) * 2006-11-13 2012-10-24 株式会社カネカ 光電変換装置
JP5272173B2 (ja) 2007-03-26 2013-08-28 国立大学法人京都大学 2次元フォトニック結晶
US7701629B2 (en) * 2007-04-19 2010-04-20 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Photonic device including semiconductor structure having doped region with array of subwavelengh recesses
JP5300344B2 (ja) * 2007-07-06 2013-09-25 キヤノン株式会社 光検出素子及び撮像素子、光検出方法及び撮像方法
US7998877B1 (en) * 2008-05-02 2011-08-16 Saket Chadda Diffraction grating in conjunction with reduced thickness to increase efficiency of solar cells
TWI385809B (zh) 2008-12-17 2013-02-11 Ind Tech Res Inst 表面織化的方法
CN101515607B (zh) * 2009-03-27 2011-03-30 苏州大学 Ⅲ-v族氮化物基有机/无机杂化纳米结构太阳电池
US20100259826A1 (en) * 2009-04-10 2010-10-14 Lightwave Power, Inc. Planar plasmonic device for light reflection, diffusion and guiding

Also Published As

Publication number Publication date
EP2523220A1 (en) 2012-11-14
JPWO2011083693A1 (ja) 2013-05-13
US9324891B2 (en) 2016-04-26
WO2011083693A1 (ja) 2011-07-14
US20120279553A1 (en) 2012-11-08
CN102792456B (zh) 2015-09-09
CN102792456A (zh) 2012-11-21
JP2015026850A (ja) 2015-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5916823B2 (ja) 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置
JP5967592B2 (ja) 光電変換素子
WO2011083694A1 (ja) 光電変換素子
Burresi et al. Complex photonic structures for light harvesting
JP2009533875A (ja) 周期性を通じた太陽電池セルの効率
US20130092211A1 (en) Asymmetric mim type absorbent nanometric structure and method for producing such a structure
US20110247676A1 (en) Photonic Crystal Solar Cell
US9680117B2 (en) Thin film small molecule organic photovoltaic solar cell
US9252303B2 (en) Thin film photovoltaic cell structure, nanoantenna, and method for manufacturing
US20130320470A1 (en) Photodetector
Elshorbagy et al. Funneling and guiding effects in ultrathin aSi-H solar cells using one-dimensional dielectric subwavelength gratings
JP5967586B2 (ja) 太陽電池、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置
JP6037288B2 (ja) 太陽電池、フォトニック結晶基板、太陽電池パネルおよび太陽電池を備えた装置
US9985147B2 (en) Light-reflecting grating structure for photovoltaic devices
JP5842268B2 (ja) 太陽電池
US10147827B2 (en) Thin film solar cell
WO2013077254A1 (ja) 太陽電池、太陽電池パネル、太陽電池を備えた装置、及び、太陽電池パネルを備えた装置
El Daif et al. Absorbing photonic crystals for thin film photovoltaics
Pathi et al. Designing Dielectric Light Trapping Structures for c-Si Solar Cells
Whitesell et al. Silicon solar cell light-trapping using defect mode photonic crystals
Pishbin Designing a broadband antireflective coating

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141022

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150625

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150707

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150907

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160308

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160405

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5916823

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees