JP5902490B2 - レーザー光線のスポット形状検出方法およびスポット形状検出装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 106
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 91
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 20
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 13
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 11
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 9
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000005338 frosted glass Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 2
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- -1 gallium nitride compound Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0411—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/0096—Portable laser equipment, e.g. hand-held laser apparatus
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0238—Details making use of sensor-related data, e.g. for identification of sensor or optical parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
- G01J2001/4446—Type of detector
- G01J2001/446—Photodiode
Description
集光スポットの大きさより小さい大きさの微細プリズムが表面に形成された透明基板を集光器によって集光されるレーザー光線の光軸(Z軸)上にZ軸方向と直交するX軸方向およびZ軸方向とX軸方向とに直交するY軸方向に移動可能に位置付ける透明基板位置付け工程と、
該透明基板に形成された微細プリズムが位置する領域に該透明基板を加工することができない出力のレーザー光線を該集光器によって集光して照射するレーザー光線照射工程と、
該透明基板に形成された微細プリズムが位置する領域にレーザー光線を照射した状態で該透明基板を該集光器に対して相対的にX軸方向およびY軸方向に移動させつつ該透明基板に形成された微細プリズムによって屈折された光の光強度を光強度検出手段によって検出する光強度検出工程と、
該光強度検出工程において検出された微細プリズムのx,y座標値における光強度マップを作成する光強度マップ作成工程と、を含み、
該集光器をZ軸方向における複数の検出位置において該光強度検出工程および該光強度マップ作成工程を実施し、該光強度マップ作成工程で作成された複数の光強度マップに基づいてレーザー光線のスポット形状画像を作成するスポット形状画像形成工程と、該スポット形状画像形成工程によって作成されたスポット形状画像を表示手段に表示する表示工程を含んでいる、
ことを特徴とするレーザー光線のスポット形状検出方法が提供される。
集光器によって集光されたレーザー光線の光軸(Z軸)上に配設され集光スポットの大きさより小さい大きさの微細プリズムが表面に形成された透明基板と、該透明基板をZ軸方向と直交するX軸方向に移動するX軸方向移動手段と、該透明基板をZ軸方向とX軸方向とに直交するY軸方向に移動するY軸方向移動手段と、該集光器をZ軸方向に移動するZ軸方向移動手段と、該透明基板に形成された微細プリズムのX軸方向位置を検出するX軸方向位置検出手段と、該透明基板に形成された微細プリズムのY軸方向位置を検出するY軸方向位置検出手段と、該集光器のZ軸方向位置を検出するZ軸方向位置検出手段と、該透明基板に形成された微細プリズムによって屈折された光の光強度を検出する光強度検出手段と、該光強度検出手段と該X軸方向位置検出手段と該Y軸方向位置検出手段および該Z軸方向位置検出手段からの検出信号に基づいてレーザー光線のスポット形状を求める制御手段と、該制御手段によって求められたレーザー光線のスポット形状を表示する表示手段と、を具備し、
該制御手段は、該レーザー光線発振手段を作動して該透明基板に形成された微細プリズムが位置する領域に該透明基板を加工することができない出力のレーザー光線を該集光器によって集光して照射するレーザー光線照射工程と、該透明基板に形成された微細プリズムが位置する領域にレーザー光線を照射した状態で該X軸方向移動手段および該Y軸方向移動手段を作動して該透明基板を該集光器に対して相対的にX軸方向およびY軸方向に移動させつつ該透明基板に形成された微細プリズムによって屈折された光の光強度を光強度検出手段によって検出する光強度検出工程と、該光強度検出工程において検出された微細プリズムのx,y座標値における光強度マップを作成する光強度マップ作成工程と、該集光器をZ軸方向における複数の検出位置において該光強度検出工程および該光強度マップ作成工程を実施し、該光強度マップ作成工程で作成された複数の光強度マップに基づいてレーザー光線のスポット形状画像を作成するスポット形状画像形成工程と、該スポット形状画像形成工程によって作成されたスポット形状画像を該表示手段に表示する表示工程と、を実行する、
ことを特徴とするレーザー光線のスポット形状検出装置が提供される。
また、上記光強度検出手段は、透明基板に形成された微細プリズムによって屈折された光の光軸上に位置付けられた結像レンズ1と、該結像レンズによって結像された光を捉えるホトデテクターとからなっている。
上述したレーザー加工機におけるレーザー光線照射手段52の集光器524から照射されるレーザー光線のスポット形状を検出するためには、図7に示すように上記微細プリズム651を有する透明基板65を備えたスポット形状検出機構6の基台61をチャックテーブル36上に載置する。このとき、第1の支持枠体63を構成する側板631、632がX軸方向に平行になるように位置付ける。そして、図示しない吸引手段を作動することによりスポット形状検出機構6をチャックテーブル36上に吸引保持する。このようにして、スポット形状検出機構6が保持されたチャックテーブル36は、X軸方向移動手段としての加工送り手段37およびY軸方向移動手段としての第1の割り出し送り手段38を作動してチャックテーブル36の中心位置をレーザー光線照射手段52の集光器524の直下(集光器524によって集光されるレーザー光線の光軸(Z軸)上)に位置付ける(透明基板位置付け工程)。
3:チャックテーブル機構
36:チャックテーブル
37:加工送り手段
374:X軸方向位置検出手段
38:第1の割り出し送り手段
384:Y軸方向位置検出手段
4:レーザー光線照射ユニット支持機構
43:第2の割り出し送り手段
5:レーザー光線照射ユニット
52:レーザー光線照射手段
524:集光器
53:Z軸方向移動手段
54:Z軸方向位置検出手段
6:スポット形状検出機構
61:基台
63:第1の支持枠体
64:第2の支持枠体
65:透明基板
651:微細プリズム
66:光強度検出手段
67:X軸方向移動手段
68:Y軸方向移動手段
7:制御手段
70:表示手段
Claims (4)
- レーザー光線発振手段によって発振され集光器によって集光されたレーザー光線のスポット形状を検出するレーザー光線のスポット形状検出方法であって、
集光スポットの大きさより小さい大きさの微細プリズムが表面に形成された透明基板を集光器によって集光されるレーザー光線の光軸(Z軸)上にZ軸方向と直交するX軸方向およびZ軸方向とX軸方向とに直交するY軸方向に移動可能に位置付ける透明基板位置付け工程と、
該透明基板に形成された微細プリズムが位置する領域に該透明基板を加工することができない出力のレーザー光線を該集光器によって集光して照射するレーザー光線照射工程と、
該透明基板に形成された微細プリズムが位置する領域にレーザー光線を照射した状態で該透明基板を該集光器に対して相対的にX軸方向およびY軸方向に移動させつつ該透明基板に形成された微細プリズムによって屈折された光の光強度を光強度検出手段によって検出する光強度検出工程と、
該光強度検出工程において検出された微細プリズムのx,y座標値における光強度マップを作成する光強度マップ作成工程と、を含み、
該集光器をZ軸方向における複数の検出位置において該光強度検出工程および該光強度マップ作成工程を実施し、該光強度マップ作成工程で作成された複数の光強度マップに基づいてレーザー光線のスポット形状画像を作成するスポット形状画像形成工程と、該スポット形状画像形成工程によって作成されたスポット形状画像を表示手段に表示する表示工程を含んでいる、
ことを特徴とするレーザー光線のスポット形状検出方法。 - レーザー光線発振手段によって発振され集光器によって集光されたレーザー光線のスポット形状を検出するレーザー光線のスポット形状検出装置であって、
集光器によって集光されたレーザー光線の光軸(Z軸)上に配設され集光スポットの大きさより小さい大きさの微細プリズムが表面に形成された透明基板と、該透明基板をZ軸方向と直交するX軸方向に移動するX軸方向移動手段と、該透明基板をZ軸方向とX軸方向とに直交するY軸方向に移動するY軸方向移動手段と、該集光器をZ軸方向に移動するZ軸方向移動手段と、該透明基板に形成された微細プリズムのX軸方向位置を検出するX軸方向位置検出手段と、該透明基板に形成された微細プリズムのY軸方向位置を検出するY軸方向位置検出手段と、該集光器のZ軸方向位置を検出するZ軸方向位置検出手段と、該透明基板に形成された微細プリズムによって屈折された光の光強度を検出する光強度検出手段と、該光強度検出手段と該X軸方向位置検出手段と該Y軸方向位置検出手段および該Z軸方向位置検出手段からの検出信号に基づいてレーザー光線のスポット形状を求める制御手段と、該制御手段によって求められたレーザー光線のスポット形状を表示する表示手段と、を具備し、
該制御手段は、該レーザー光線発振手段を作動して該透明基板に形成された微細プリズムが位置する領域に該透明基板を加工することができない出力のレーザー光線を該集光器によって集光して照射するレーザー光線照射工程と、該透明基板に形成された微細プリズムが位置する領域にレーザー光線を照射した状態で該X軸方向移動手段および該Y軸方向移動手段を作動して該透明基板を該集光器に対して相対的にX軸方向およびY軸方向に移動させつつ該透明基板に形成された微細プリズムによって屈折された光の光強度を光強度検出手段によって検出する光強度検出工程と、該光強度検出工程において検出された微細プリズムのx,y座標値における光強度マップを作成する光強度マップ作成工程と、該集光器をZ軸方向における複数の検出位置において該光強度検出工程および該光強度マップ作成工程を実施し、該光強度マップ作成工程で作成された複数の光強度マップに基づいてレーザー光線のスポット形状画像を作成するスポット形状画像形成工程と、該スポット形状画像形成工程によって作成されたスポット形状画像を該表示手段に表示する表示工程と、を実行する、
ことを特徴とするレーザー光線のスポット形状検出装置。 - 該透明基板は石英基板からなり、該微細プリズムは石英基板に形成されている、請求項2記載のレーザー光線のスポット形状検出装置。
- 該光強度検出手段は、該透明基板に形成された微細プリズムによって屈折された光の光軸上に位置付けられた結像レンズ1と、該結像レンズによって結像された光を捉えるホトデテクターとからなっている、請求項2又は3記載のレーザー光線のスポット形状検出装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012012821A JP5902490B2 (ja) | 2012-01-25 | 2012-01-25 | レーザー光線のスポット形状検出方法およびスポット形状検出装置 |
KR1020120155071A KR101886357B1 (ko) | 2012-01-25 | 2012-12-27 | 레이저 광선의 스폿 형상 검출 방법 및 스폿 형상 검출 장치 |
CN201310015553.XA CN103223557B (zh) | 2012-01-25 | 2013-01-16 | 激光光线的光点形状检测方法以及光点形状检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012012821A JP5902490B2 (ja) | 2012-01-25 | 2012-01-25 | レーザー光線のスポット形状検出方法およびスポット形状検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013151002A JP2013151002A (ja) | 2013-08-08 |
JP5902490B2 true JP5902490B2 (ja) | 2016-04-13 |
Family
ID=48834324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012012821A Active JP5902490B2 (ja) | 2012-01-25 | 2012-01-25 | レーザー光線のスポット形状検出方法およびスポット形状検出装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5902490B2 (ja) |
KR (1) | KR101886357B1 (ja) |
CN (1) | CN103223557B (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6328521B2 (ja) * | 2014-08-18 | 2018-05-23 | 株式会社ディスコ | レーザー光線のスポット形状検出方法 |
JP6814588B2 (ja) * | 2016-10-04 | 2021-01-20 | 株式会社ディスコ | パルスレーザー光線のスポット形状検出方法 |
JP6799470B2 (ja) | 2017-01-24 | 2020-12-16 | 株式会社ディスコ | スポット形状検出装置 |
JP6955932B2 (ja) * | 2017-08-25 | 2021-10-27 | 株式会社ディスコ | レーザービームプロファイラユニット及びレーザー加工装置 |
CN110625270A (zh) * | 2019-11-05 | 2019-12-31 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 一种超快激光的加工方法 |
JP2023021607A (ja) * | 2021-08-02 | 2023-02-14 | 株式会社Screenホールディングス | 光照射装置、および、光照射方法 |
WO2023208863A1 (de) * | 2022-04-25 | 2023-11-02 | Primes Gmbh Messtechnik Für Die Produktion Mit Laserstrahlung | Vorrichtung und verfahren zur fokuslagen-bestimmung mit berücksichtigung von prozessgas |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59159291A (ja) * | 1983-03-03 | 1984-09-08 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | レ−ザ焦点合せ方法 |
JP2669695B2 (ja) * | 1989-06-30 | 1997-10-29 | 株式会社アマダ | レーザ加工装置 |
JP2949179B2 (ja) * | 1990-07-09 | 1999-09-13 | 群馬県 | 非接触式形状測定装置及び形状測定法 |
JPH07132391A (ja) * | 1993-11-10 | 1995-05-23 | Niigata Eng Co Ltd | レーザ加工機における焦点位置の自動把握方法 |
JPH095048A (ja) * | 1995-06-16 | 1997-01-10 | Sony Corp | 表面形状測定装置 |
JPH10305420A (ja) | 1997-03-04 | 1998-11-17 | Ngk Insulators Ltd | 酸化物単結晶からなる母材の加工方法、機能性デバイスの製造方法 |
JP3408805B2 (ja) | 2000-09-13 | 2003-05-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 切断起点領域形成方法及び加工対象物切断方法 |
EP1393308A1 (en) * | 2001-05-03 | 2004-03-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical scanning device |
JP4361383B2 (ja) | 2004-01-28 | 2009-11-11 | 株式会社 液晶先端技術開発センター | 光強度分布監視方法、アニール装置及びアニール方法、結晶化装置 |
JP4288490B2 (ja) * | 2004-03-12 | 2009-07-01 | セイコーエプソン株式会社 | 走査光ビームスポット測定方法 |
JP2009092479A (ja) * | 2007-10-05 | 2009-04-30 | Hexagon Metrology Kk | 3次元形状測定器 |
CN101513692B (zh) * | 2008-02-21 | 2011-09-07 | 富士迈半导体精密工业(上海)有限公司 | 激光切割脆性材料的方法及装置 |
JP5117920B2 (ja) | 2008-04-28 | 2013-01-16 | 株式会社ディスコ | レーザー加工装置 |
JP2010071751A (ja) * | 2008-09-17 | 2010-04-02 | Hitachi Via Mechanics Ltd | ミラーの平面度検査装置 |
JP2010249727A (ja) | 2009-04-17 | 2010-11-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | レーザ光強度測定方法およびカメラ付き携帯電話 |
JP2011191253A (ja) * | 2010-03-16 | 2011-09-29 | Sanpa Kogyo Kk | レーザ形状認識センサ及び計測装置 |
CN102141373B (zh) * | 2010-12-15 | 2013-04-10 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 光斑中心实时检测系统和检测方法 |
CN202119410U (zh) * | 2011-06-16 | 2012-01-18 | 中国科学技术大学 | 激光多自由度同时测量装置 |
JP5797963B2 (ja) * | 2011-07-25 | 2015-10-21 | 株式会社ディスコ | レーザー光線のスポット形状検出方法 |
-
2012
- 2012-01-25 JP JP2012012821A patent/JP5902490B2/ja active Active
- 2012-12-27 KR KR1020120155071A patent/KR101886357B1/ko active IP Right Grant
-
2013
- 2013-01-16 CN CN201310015553.XA patent/CN103223557B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103223557A (zh) | 2013-07-31 |
KR20130086517A (ko) | 2013-08-02 |
JP2013151002A (ja) | 2013-08-08 |
CN103223557B (zh) | 2016-06-08 |
KR101886357B1 (ko) | 2018-08-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20141209 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20151207 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160105 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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