JP5887978B2 - 半導体発光素子およびその製造方法 - Google Patents
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Description
特許文献3に、所謂ジャンクションダウン構造の半導体発光装置の接合層として、AuSn等の共晶材が記載されている。
特許文献4に、半導体チップのはんだ層として、多数のすず層と金層とから成る積層体が記載されている。この積層体は、はんだ付け過程においてAuSn合金へと融合する。
また、かかる構成によれば、半導体発光素子は、第1金属層として、複数のAuSn層と、中間層とを備えている。ここで、本発明における複数のAuSn層の膜厚の合計を、例えば、従来の半導体発光素子における1つのAuSn層からなる金属層の厚さと同程度の厚さとした場合、個々のAuSn層の厚みが従来よりも薄く、かつ、AuSn層との間に接して設けられた中間層が従来よりも薄いAuSn層を支えるため、基板からの金属層の剥がれを低減することができる。
また、かかる構成によれば、半導体発光素子は、第1金属層を構成する中間層の膜厚が薄いので、基板からの金属層の剥がれを効果的に低減でき、半導体発光素子を割断し易くすることができる。また、中間層の膜厚を薄くすることで、AuSn層を十分に加熱溶融できるため、実装が行い易くなる。
本発明の半導体発光素子の製造方法によれば、分割する際に、割断し易くなるので、金属層の剥がれを低減することができる。そのため、歩留まりを向上させることができる。
図1は、本発明の実施形態に係る半導体発光素子1を示す。図2は、比較例の発光素子100を示す。半導体発光素子1の構成の概要について図1および図2を参照して説明する。図1(a)および図1(b)に示すように、半導体発光素子1は、図示しないワイヤを取り付けるためのp側電極32およびn側電極33を発光面側に有した構造、すなわちフェイスアップ構造のものである。図示するように、半導体発光素子1は、基板2と、基板2の第1主面上に積層された半導体素子構造体3と、基板2の第2主面上に積層された金属層4とを主に備える。金属層4は、図1(b)に示すように、半導体発光素子1を外部の部材(図示しない)に接合させるための第1金属層5と、第2金属層6とを備える。第1金属層5は、厚み方向に設けられた複数のAuSn層7と、AuSn層7の間に設けられた中間層8とを備える。
半導体発光素子1において、第1金属層5を構成する中間層8は、AuSn層7に接して設けられモース硬度においてAuSnよりも硬い材料で構成された層である。そして、2つのAuSn層7の間には中間層8が介在している。半導体発光素子1は、第1金属層5に、AuSnよりも硬い中間層8を備えるので、発光素子100と比べて割断性が向上する。したがって、半導体発光素子1は、基板2からの金属層4の剥がれを低減することができる。
以下、本実施形態に係る半導体発光素子1の構成を詳細に説明する。
(基板)
基板2は、例えば、サファイア、スピネル、SiC、NGO(NdGaO3)基板、LiAlO2基板、LiGaO3基板、GaN、GaAs等の公知の絶縁性基板及び導電性基板を用いることができる。なかでも、サファイア基板が好ましい。
半導体素子構造体3は、基板2側から順に、n側半導体層21と、発光層22と、p側半導体層23とが積層されてなる。
n側半導体層21およびp側半導体層23のうちの一方または双方を複数の窒化物半導体層で構成することもできる。また、発光層22も単層であっても多層であってもよい。従って、例えば、n側半導体層21およびp側半導体層23をそれぞれ、コンタクト層、クラッド層等の必要な機能に対応させた複数の層で構成することができ、用途に応じた発光特性を実現することができる。
透明電極層31は、p側電極の第1層であって、p側半導体層23と直接接触するオーミック電極として機能する。透明電極層31は、半導体発光素子1の発光する光を透過できる導電層であり、p側半導体層23の上面のほぼ全域に形成されており、p側電極32から流れ込む電流をp側半導体層23の全体に均一に広げる。透明電極層31の材料としては、例えば、亜鉛(Zn)、インジウム(In)、スズ(Sn)よりなる群から選択された少なくとも一種の元素を含む酸化物とする。具体的には、ITO、ZnO、In2O3、SnO2等を挙げることができる。
p側電極32は、ワイヤ等の外部接続部材が接合されるパッド電極として機能するものであって、パッド部321と、延伸導電部322と、を備える。
パッド部321は、図1(a)に示すように略円形状であって、ワイヤ等の外部接続部材が接合される領域である。なお、外部接続部材が接合される際には、パッド部321の上面に積層されている保護層34は除去される。
n側電極33は、p側電極32と同様に、ワイヤ等の外部接続部材が接合されるパッド電極として機能するものであって、パッド部331と、延伸導電部332と、を備える。
パッド部331は、図1(a)に示すように略円形状であって、ワイヤが接合される領域である。なお、外部接続部材が接合される際には、パッド部331の上面に積層されている保護層34は除去される。
保護層34は、p側電極32と、n側電極33と、半導体素子構造体3の上面および側面を被覆して保護するものである。保護層34は、絶縁膜であって、特に酸化膜からなるものが好ましい。保護層34は、例えば、Zr酸化膜(ZrO2)やSiO2からなる。
保護層34は、例えば、スパッタリング法、ECR(Electron Cyclotron Resonance:電子サイクロトロン共鳴)スパッタリング法、CVD(Chemical Vapor Deposition:化学気相成長)法、ECR−CVD法、ECR−プラズマCVD法、蒸着法、EB法(Electron Beam:電子ビーム蒸着法)等の公知の方法で形成することができる。なかでも、ECRスパッタリング法、ECR−CVD法、ECR−プラズマCVD法等で形成することが好ましい。
金属層4は、図1(b)に示すように、第1金属層5と、第2金属層6とを備えている。第1金属層5は、半導体発光素子1を外部の部材に接合させるために設けられている。
第2金属層6は、基板2の第2主面(裏面)と第1金属層5との間に積層されている。
本実施形態では、第2金属層6は、光反射層11と、密着層12と、第1拡散防止層13と、第2拡散防止層14とを備える。
これらの金属層4を構成する各層は、例えば、蒸着法、スパッタ法、イオンビームアシスト蒸着法、めっき法等によって形成することができる。なお、各層は、基板2の第2主面の全面に形成されていることが好ましい。
<光反射層>
光反射層11は、基板2の裏面に接触して設けられ、半導体素子構造体3によって発光した光を、効率的に反射させて、外部に取り出すための層である。光反射層11は、半導体素子構造体3の発光波長に対して、AuSn層7よりも高い反射率を有する層とするのが好ましい。具体的には、Ag(銀)、Al(アルミニウム)、Rh(ロジウム)等の材料からなる層又はこれらの材料の合金等の単層又は積層構造で形成されることが好ましい。
密着層12は、光反射層11と第1拡散防止層13との密着性を強固にするために設けられる層である。密着層12の材料としては、例えば、鉄族元素(Fe、Co、Ni)、タングステン(W)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、マンガン(Mn)等が適している。
第1拡散防止層13および第2拡散防止層14は、それぞれ第1金属層5からAuSnが光反射層11に拡散することを防止するなど、光反射層11を保護するものである。
第1拡散防止層13の材料としては、例えば、白金族元素(Ru、Rh、Pd、Os、Ir、Pt)及びその同族元素である鉄族元素(Fe、Co、Ni)等が適している。
第2拡散防止層14の材料としては、第1拡散防止層13の材料、あるいは、金(Au)、タングステン(W)、チタン(Ti)、ジルコニウム(Zr)、ハフニウム(Hf)、バナジウム(V)、ニオブ(Nb)、タンタル(Ta)、マンガン(Mn)、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)等の金属又はこれらの合金等が挙げられる。
第1金属層5は、厚み方向に設けられた複数のAuSn層7と、中間層8と、を備える。
中間層8は、AuSn層7に接して設けられモース硬度においてAuSnよりも硬い材料からなる層である。
2つのAuSn層7の間には中間層8が介在している。本実施形態では、第1金属層5は、AuSn層7と中間層8とが交互に積層されて構成されている。なお、中間層8の膜厚は、AuSn層7の膜厚に比べて1桁程度以上小さいが、図1(b)では誇張して示している。
AuSn層7は、好ましくはAuとSnとを主成分とする共晶合金膜である。AuSn共晶とは、Au含有率が80%以上のものをいう。
第1金属層5のうち複数のAuSn層7の膜厚の合計は、発光素子100のように1層からなるAuSnの膜厚として用いられている数値範囲と同じ程度である。第1金属層5のうち複数のAuSn層7の膜厚の合計は、2.8〜4.2μmの厚さであることが好ましく、さらに3.2〜3.8μmの厚さであることが好ましく、特に3.5μm程度の厚さであることが好ましい。この理由は、実装可能とするためである。例えば、AuSn層7の膜厚の合計値が例えば2.8μmよりも小さいと、第1金属層5にAuSnの共晶を用いた半導体発光素子を、発光装置のパッケージへ実装できない場合がある。一方、AuSn層7の使用量が必要以上に増加して、AuSn層7の膜厚の合計値が4.2μmよりも大きくなると、実装するときに想定している加熱時間では、溶融が不充分になって密着力が低下する恐れがある。
本実施形態では、中間層8は、AuSnよりも硬い材料で構成されている。つまり、中間層8は、AuSnの硬度(モース硬度)よりも大きい硬度を有する材料で構成されることが望ましい。ここで、AuSnよりも硬い材料としては、例えば、Ag,Ni,Rh,Al,W,Pt,Ti,Ru,Mo,Nbから構成される群から選択される少なくとも1つを主体とする金属材料を挙げることができる。
特に、Rhを用いた場合、後記するようにAuSnが加熱により基板側に回りこむのを軽減することができる。また、Niを用いた場合、後記するように金属層4の剥がれを効果的に低減することができる。
中間層8の膜厚が0.1μmよりも薄い場合、例えば、リフロー方式によるパッケージへ実装性がよくなる。一方、中間層8の膜厚の下限は、0.001μmよりも厚いことが好ましい。その理由は、0.001μm以下の膜を精度よく形成することは極めて難しいからである。
半導体発光素子1の製造方法は、第1工程と、第2工程と、第3工程と、を主として有する。第1工程は、基板2の第1主面上に形成された半導体積層構造体3を準備する工程であり、例えば、ウェハ基板の第1主面上(基板2の表側)に半導体を積層して発光層を含む半導体積層構造体3を形成する。第2工程は、ウェハ基板の第2主面上(基板2の裏側)に金属を積層して第1金属層5を含む金属積層構造体(金属層)4を形成する工程である。続いて行う第3工程は、ウェハ基板を素子1ごとに分割する工程である。第2工程は、金属積層構造体4において第1金属層5を形成する第1金属層形成工程を含む。本発明の実施形態に係る半導体発光素子の製造方法は、この第1金属層形成工程に特徴がある。第1金属層形成工程では、基板裏面側の第1金属層5として、厚み方向に設けられる複数のAuSn層7と、中間層8と、を積層する。
以下、半導体発光素子1の製造方法の詳細について図3を参照して説明する。
第1工程にてウェハ基板に積層された半導体積層構造体の断面を図3(a)に示す。この第1工程は、丸いウェハ基板としてのサファイア基板20の第1主面上に、エピタキシャル成長によってGaN半導体を積層して半導体積層構造体40を形成する工程である。ここで、半導体積層構造体40は、n側半導体層、発光層、およびp側半導体層を含む。また、半導体積層構造体40には、透明電極層、p側電極、n側電極および保護層が順次積層されていることとする。
実験1は、本発明の半導体発光素子1において中間層8の材料の条件だけを変えたときに、後記する金属層の剥がれ発生率を測定する実験である。
実験2は、実験1に付随して金属層の剥がれ発生率とは異なる観点から中間層8として適した材料を探索する実験である。
実験3は、本発明の半導体発光素子1において中間層8の膜厚の条件だけを変えたときに、金属層の剥がれ発生率を測定する実験である。
実験4は、実験3に付随して金属層の剥がれ発生率とは異なる観点から中間層8として適した膜厚を探索する実験である。
実験5は、中間層8として、実験1〜4から導かれる特定の膜厚かつ特定の材料を用いた半導体発光素子の金属層の剥がれ発生率を検証する実験である。
実験6は、実験5に付随して、第1金属層の密着力を検証する実験である。
以下、金属層の剥がれ発生率の定義と、実験1〜実験6とについて順次説明する。
図2(a)および図2(b)は、比較例の発光素子100において、金属層の剥がれがないものを示している。一方、図4(a)および図4(b)は、この比較例の発光素子100において、金属層の剥がれが発生したものを示している。
本発明の半導体発光素子1の金属層4において、第2金属層6(光反射層11、密着層12、第1拡散防止層13、第2拡散防止層14)として、基板側から、Ag/Ni/Rh/Auを積層した。そして、金属層4を構成する第1金属層5において、中間層8の材料の条件だけを変えたときの金属層の剥がれ発生率の違いを測定した。ここでは、中間層の材料として、硬度がAuSnより高い金属を用いた。また、第2金属層6として積層した金属ならば、製造工程において、第2金属層6の次に積層する第1金属層5に対して容易に準備できる。よって、密着層12に用いたNiと、第1拡散防止層13に用いたRhと、密着層12に利用できるWとをそれぞれ用意した。そして、材料および膜厚の条件を、以下の実施例1、2、3および比較例1のように変えた。
中間層をNiとし、その膜厚を50nm(500Å)とした。
具体的には、本発明の実施形態に係る半導体発光素子1の第1金属層5として、サファイア基板の裏面に基板側から、AuSn/Ni/AuSn/Ni/AuSnの順番で、それぞれの膜厚[nm]を1100/50/1100/50/1300として積層した。ここで、3層に分けて設けたAuSn層は、膜厚の合計値が3500[nm](3.5μm)である。その後、サファイア基板を分割して1ロットの半導体発光素子を得た。この材料条件および膜厚条件を実施例1とする。なお、Niの硬度は4.0である。測定結果の金属層の剥がれ発生率を表1に示す。なお、表1の回り込み量dについては、実験2で求めたものなので説明を後記する。
実施例1のNiをRhに置き換えて、同様に1ロットの半導体発光素子を得た。この材料条件および膜厚条件を実施例2とする。なお、Rhの硬度は6.0である。金属層の剥がれ発生率の測定結果を表1に示す。
実施例1のNiをWに置き換えて、同様に1ロットの半導体発光素子を得た。この材料条件および膜厚条件を実施例3とする。なお、Wの硬度は7.5である。金属層の剥がれ発生率の測定結果を表1に示す。
発光素子100として、第1金属層5をAuSnで構成し、その膜厚を3500[nm](3.5μm)とした。その他は、実施例1〜3と同様にして1ロットの半導体発光素子を得た。この材料条件および膜厚条件を比較例1とする。なお、Auの硬度は2.5、Snの硬度は1.5である。AuSn共晶は、Au含有率が80%以上なので、ここでは、AuSnの硬度を2.5と表記したが、実際には2.5よりも小さな値となる。金属層の剥がれ発生率の測定結果を表1に示す。比較例1に中間層はないが、表1においてAuSnの硬度を2.5として示した。
前記実施例2の条件として中間層8に用いたRhは、半導体発光素子1の第2金属層6を構成する第1拡散防止層13として用いた材料と同じである。このため、前記実施例2の条件によれば、第1金属層5からAuSnが光反射層11へ拡散することを防止する効果が向上するものと考えられる。そして、実施例1,3の条件においても、中間層8がAuSnの拡散を防止する効果があると期待される。また、AuSnの拡散防止効果と、金属層の剥がれ発生率の低減効果との相関を調べることで、中間層8として適した材料を探索できると考えられる。
よって、このときの改善率は、7.2/11.53より、62.4%であった。このように変色の回り込み量が小さくなっている原因として、AuSn溶け出しの際、Rhに引き寄せられる等なんらかの反応があると考えられる。
実験2の結果をもとに、中間層8の材料をRhに固定して、この中間層8の膜厚の条件だけを変えたときの金属層の剥がれ発生率の違いを実験1と同様な方法で測定した。このとき、材料および膜厚の条件を、以下の実施例4、5および参考例のように変えた。
前記実施例2のRhの膜厚を10nm(100Å)に置き換えて、同様に1ロットの半導体発光素子を得た。この材料条件および膜厚条件を実施例4とする。金属層の剥がれ発生率の測定結果を表2に示す。
前記実施例2のRhの膜厚を30nm(300Å)に置き換えて、同様に1ロットの半導体発光素子を得た。この材料条件および膜厚条件を実施例5とする。金属層の剥がれ発生率の測定結果を表2に示す。
前記実施例2のRhの膜厚を100nm(1000Å)に置き換えて、同様に1ロットの半導体発光素子を得た。この材料条件および膜厚条件の場合、第1金属層を単独のAuSn層で構成した比較例1よりも、金属層の剥がれ発生率が悪化したので、参考例とした。ただし、回り込み量dについては、比較例1および実施例2,4,5よりもよい結果となった。参考例についての金属層の剥がれ発生率の測定結果を表2に示す。
なお、表1に記載の比較例1および実施例2の測定結果を実施例4,5等と対比させるために、併せて表2に記載した。
実験3の結果をもとに、実施例4,5の条件のように膜厚が薄くなった場合でも、実施例2の条件のときと同程度のAuSnの拡散防止効果があることを確かめるため、実験2と同様な方法で調べた。このとき、ウェハ500について、中間層8の材料をRhとした上で、実施例4,5および参考例の条件に合わせて、膜厚が異なる3種類のウェハを準備した。
実験1の結果、金属層の剥がれ発生率が最も低かったときに中間層8に用いた材料はNiであった。また、実験3の結果、金属層の剥がれ発生率が最も低かったときの中間層8の膜厚は10nmであった。よって、この組み合わせのときに最良の結果が得られると予想されるので、これを検証する実験を行った。
実施例1の材料(Ni)を用いて、膜厚を10nm(100Å)に置き換えて、同様に1ロットの半導体発光素子を得た。この材料条件および膜厚条件を実施例6とする。金属層の剥がれ発生率の測定結果を表3に示す。なお、表2に記載の比較例1および実施例4の測定結果を実施例6と対比させるために、併せて表3に記載した。
ここで、1ロット当たりの割断性がよい良品の割合(歩留まり)に置き換える。ここでは、歩留まり[%]=100−(金属層の剥がれ発生率)とする。
この場合、比較例1のとき、77.4%となり、実施例4のとき、84.3%となり、実施例6のとき、91.5%となる。実施例6の歩留まりは、比較例1から14.1%上昇した。よって、このときの増加率は、14.1/77.4により18.2%となった。
表3に記載の実施例4および実施例6の条件のように中間層8を設けて作成した素子の密着力を確かめるため、表3に記載の比較例1とのダイシェア強度の比較実験を行った。所定の実装基板へ実装した半導体発光素子のダイシェア時の破壊モードは、基板2と第2金属層6との界面とした。ここで、第2金属層6は、基板2の裏面に基板側から、Ag/Ni/Rh/Auの順番で、それぞれの膜厚[nm]を120/100/200/500として積層した。
なお、ダイシェア強度は、常温および高温で半導体チップを横から水平方向に押し、剥がれたときの荷重として測定されたせん断強度である。この測定には、公知のダイシェア強度試験機が用いられる。なお、ダイシェア強度は、JEITA規格(EIAJ ED4703)やMIL規格(MIL−STD−883C)に定められている。
2 基板
3 半導体素子構造体
4 金属層
5 第1金属層
6 第2金属層
7 AuSn層
8 中間層
11 光反射層
12 密着層
13 第1拡散防止層
14 第2拡散防止層
20 サファイア基板
21 n側半導体層
22 発光層
23 p側半導体層
31 透明電極層
32 p側電極
321 パッド部
322 延伸導電部
33 n側電極
331 パッド部
332 延伸導電部
34 保護層
40 半導体積層構造体
50 金属積層構造体
Claims (9)
- 基板と、前記基板の第1主面上に積層された半導体素子構造体と、前記基板の第1主面とは反対側となる第2主面上に積層された金属層と、を備えた半導体発光素子であって、
前記金属層は、前記半導体発光素子を外部の部材に接合させるための第1金属層を備え、
前記第1金属層は、厚み方向に設けられた複数のAuSn層と、前記AuSn層との間に接して設けられ、膜厚が0.1μm未満であってRhを主体とする金属材料からなる中間層と、を備えることを特徴とする半導体発光素子。 - 前記第1金属層は、前記AuSn層と前記中間層とが交互に積層されて構成されていることを特徴とする請求項1に記載の半導体発光素子。
- 前記AuSn層の膜厚の合計は、2.8〜4.2μmの厚さであることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体発光素子。
- 前記基板の第2主面と前記第1金属層との間に、前記AuSn層よりも前記半導体素子構造体からの光に対する反射率の高い層を含む第2金属層を備えることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載の半導体発光素子。
- 前記中間層の膜厚は、0.01〜0.05μmであることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか一項に記載の半導体発光素子。
- 基板の第1主面上に形成された半導体積層構造体を準備する第1工程と、
前記基板の第1主面とは反対側となる第2主面上に、厚み方向に設けられる複数のAuSn層と、前記AuSn層の間に接して設けられ、膜厚が0.1μm未満であってRhを主体とする金属材料からなる中間層と、を備える第1金属層を形成する第2工程と、
前記半導体積層構造体および前記第1金属層が形成された基板を、前記半導体発光素子ごとに分割する第3工程と、を有することを特徴とする半導体発光素子の製造方法。 - 前記第2工程は、前記AuSn層と前記中間層とを交互に積層することを特徴とする請求項6に記載の半導体発光素子の製造方法。
- 前記第1工程と前記第2工程との間に、前記AuSn層よりも前記半導体素子構造体からの光に対する反射率の高い第2金属層を形成する工程を有することを特徴とする請求項6又は請求項7に記載の半導体発光素子の製造方法。
- 前記中間層の膜厚は、0.01〜0.05μmであることを特徴とする請求項6ないし請求項8のいずれか一項に記載の半導体発光素子の製造方法。
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