JP5866726B2 - Article classification apparatus and operation method thereof - Google Patents

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Description

本発明は、物品分類装置およびその運転方法に関するもので、特にLED素子といった電子部品の分類に適した物品分類装置およびその運転方法に関するものである。   The present invention relates to an article classification device and an operation method thereof, and more particularly to an article classification device suitable for classification of electronic components such as LED elements and an operation method thereof.

従来より特許文献1に示されるような電子部品の分類装置が知られている。特許文献1に記載された電子部品の分類装置では、インデックステーブル2の吸着ノズル8により吸着され排出位置に搬送された電子部品Wを、ノズル11のブローにより分配装置4の投入管12へと投入し、投入された電子部品Wを揺動管13の揺動により所要の分配部材14の分配口14Aを介して収容箱15へと振り分けていた。   2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known an electronic component sorting apparatus as disclosed in Patent Document 1. In the electronic component sorting apparatus described in Patent Document 1, the electronic component W sucked by the suction nozzle 8 of the index table 2 and transported to the discharge position is thrown into the charging pipe 12 of the distribution device 4 by blowing the nozzle 11. Then, the inserted electronic component W is distributed to the storage box 15 through the distribution port 14 </ b> A of the required distribution member 14 by the swing of the swing tube 13.

この電子部品の分類装置には、次のような問題がある。即ち、吸着ノズル8に吸着されている電子部品Wを排出位置で排出するに際し、ノズル11により、電子部品Wに対し水平方向へブローし、更に、電子部品Wの進行方向を投入管12により鉛直下方へと曲げるようにするため、セラミックス等の脆い材質からなる電子部品Wでは割れてしまう危険があった。更に、ノズル11よりブローを行うためには電磁弁のON/OFFが必要となるため、電磁弁の動作遅れ(タイムラグ)の分だけ排出時間が長くなっていた。   This electronic component classification apparatus has the following problems. That is, when the electronic component W sucked by the suction nozzle 8 is discharged at the discharge position, the nozzle 11 blows in the horizontal direction with respect to the electronic component W, and the traveling direction of the electronic component W is vertically adjusted by the input pipe 12. In order to bend downward, the electronic component W made of a brittle material such as ceramics has a risk of cracking. Furthermore, since the solenoid valve needs to be turned ON / OFF in order to blow from the nozzle 11, the discharge time is increased by the operation delay (time lag) of the solenoid valve.

そこで、電子部品Wを自然落下させ、上下に伸びる直線状の投入管へ投入するようにすれば上記のようなワークの欠けが発生する可能性を低減することができる上、排出時間の短縮も図れる。このような排出孔を介した自然落下式の分類装置としては、特許文献2に示される電子部品の分類装置が知られている。   Therefore, if the electronic component W is naturally dropped and put into a straight throwing pipe extending vertically, the possibility of the above-mentioned chipping of the work can be reduced and the discharge time can be shortened. I can plan. As such a natural fall type classification device through the discharge hole, an electronic component classification device disclosed in Patent Document 2 is known.

ところで、このような電子部品の分類装置は、電子部品の光学的特性や電気的特性を検査装置で検査し、この特性に基づき分類を行う。従って、電子部品の分類装置の稼働開始時や、検査する電子部品の生産ロットや品種が変更された場合などには、該検査装置の調整のため、テスト運転を行う必要があった。   By the way, such an electronic component classification apparatus inspects optical characteristics and electrical characteristics of electronic components with an inspection device, and performs classification based on these characteristics. Accordingly, it is necessary to perform a test operation for adjustment of the inspection device when the operation of the electronic device classification device is started or when the production lot or type of the electronic component to be inspected is changed.

このテスト運転は、予め電子部品の特性を検査しておいた上記検査装置の校正用の基準チップを繰り返し検査し、その検査結果に基づき検査装置を調整していた。このようなテスト運転は、一日に数回程度行われるのが通常である。   In this test operation, the reference chip for calibration of the above-described inspection apparatus, which has previously inspected the characteristics of the electronic component, is repeatedly inspected, and the inspection apparatus is adjusted based on the inspection result. Such a test operation is usually performed several times a day.

しかし、引用文献2に示される電子部品の分類装置は、排出孔があるため、テスト運転のために連続した循環搬送を行うことができなくなる。この場合、日に数度のテスト運転の度に、一度検査装置を通過し、特定の分類容器に振り分けた基準チップを、オペレータが再度装置へ供給する作業を繰り返すこととなり、テスト運転のための作業が煩雑となってしまっていた。   However, since the electronic component classification device disclosed in the cited document 2 has a discharge hole, it cannot perform continuous circulating conveyance for the test operation. In this case, every time a test operation is performed several times a day, the operator repeats the operation of once passing the inspection device and supplying the reference chip distributed to a specific classification container to the device again. The work was complicated.

特許文献1に示される電子部品の分類装置における検査装置の調整のためのテスト運転では、排出位置において吸着ノズル8の吸引を維持したままノズル11のブローを行わないことで、電子部品Wをインデックステーブル2上で連続循環搬送させることにより、繰り返し検査装置をパスさせて行う方法が考えられた。しかし、この場合にもテスト運転終了後の排出の際に、検査装置の校正用基準チップが割れてしまう危険は避けられなかった。
尚、背景技術で用いた符号は特許文献1に用いられている符号である。
In the test operation for adjusting the inspection device in the electronic component classification device disclosed in Patent Document 1, the electronic component W is indexed by not blowing the nozzle 11 while maintaining the suction of the suction nozzle 8 at the discharge position. There has been considered a method in which the inspection apparatus is repeatedly passed by continuously circulating and conveying on the table 2. However, even in this case, there is an inevitable risk that the calibration reference chip of the inspection apparatus will be broken when discharging after the test operation is completed.
In addition, the code | symbol used by background art is a code | symbol used for patent document 1. FIG.

特許第4474612号特許公報Japanese Patent No. 4447412 特許第2814525号特許公報Japanese Patent No. 2814525

本発明は、上記問題点を解決しようとするもので、分類運転時の分類対象物品又はテスト運転終了時においては基準物品を、搬送手段の排出位置で、下方に位置する分配手段に自然落下させ、ワークであるこれらの物品の欠けが発生する可能性を低減させるとともに、テスト運転時には基準物品を連続循環搬送することを可能にして、同じ基準物品を繰り返し検査装置により検査することができる物品分類装置およびその運転方法を提供する。   The present invention is intended to solve the above-mentioned problems, and the article to be classified at the time of the classification operation or the reference article at the end of the test operation is naturally dropped onto the distribution means located below at the discharge position of the conveyance means. Article classification that can reduce the possibility of chipping of these articles that are workpieces, and allows the reference articles to be continuously circulated and conveyed during the test operation, so that the same reference articles can be repeatedly inspected by the inspection device An apparatus and a method for operating the apparatus are provided.

上記課題を解決するため、第1の発明は、物品分類装置に次の手段を採用する。
第1に、外周にそれぞれ物品を収容する複数の収容部を有する回転体と前記回転体の各収容部に収容される物品を下方から支持する固定体とからなり、該固定体に設けた排出部から物品を落下させて排出する排出位置を有する搬送手段と、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給する供給手段と、前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、前記排出部下方に設けられる複数の分類容器と、前記排出部下方に設けられ、排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段からなる物品分類装置とする。
In order to solve the above problems, the first invention employs the following means in the article classification apparatus.
1stly, it consists of the rotary body which has several accommodating parts which each accommodates articles | goods in an outer periphery, and the fixed body which supports the articles accommodated in each accommodating part of the said rotary body from below, The discharge | emission provided in this fixed body A conveying means having a discharge position for dropping and discharging the article from the section; a supply means for automatically supplying the article to the storage section of the conveying means; Article classification comprising inspection means for inspecting, a plurality of classification containers provided below the discharge section, and a distribution means provided below the discharge section and distributing the discharged articles to the required classification containers based on the characteristics of the articles A device.

第2に、前記固定体の排出部に設けられ、開放時には物品を落下させ、閉鎖時には物品の落下を阻止して該排出部を通過させる排出部閉鎖手段を設ける。
第3に、前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転においては、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給するとともに、前記排出部閉鎖手段を開放して物品を落下させる。
第4に、前記搬送手段により基準物品を循環搬送するテスト運転においては、前記供給手段からの物品の自動供給を停止するとともに、基準物品が前記搬送手段の前記収容部に供給され、前記排出部閉鎖手段を閉鎖して前記基準物品の落下を阻止することにより前記搬送手段による前記基準物品の搬送を継続する。
Secondly, there is provided a discharge portion closing means that is provided in the discharge portion of the fixed body and drops the article when opened and prevents the drop of the article when closed and allows the discharge portion to pass through.
Thirdly, in the classification operation in which the articles conveyed by the conveying means are distributed to a required classification container, the articles are automatically supplied to the storage section of the conveying means, and the discharge section closing means is opened to remove the articles. Drop it.
Fourthly, in the test operation in which the reference article is circulated and conveyed by the conveying means, automatic supply of the article from the supply means is stopped, and the reference article is supplied to the accommodating portion of the conveying means , and the discharge section The closing means is closed to prevent the reference article from falling, whereby the reference article is continuously conveyed by the conveying means.

第2の発明は、第1の発明に、次の手段を付加した物品分類装置である。
第1に、上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が1つとされる。
第2に、上記テスト運転においては、基準物品を手動供給する。
The second invention is an article classification apparatus in which the following means are added to the first invention.
First, there is a single supply path for supplying articles to the storage section of the transport means.
Second, in the test operation, the reference article is manually supplied.

第3の発明は、第1の発明に、次の手段を付加した物品分類装置である。
第1に、上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が2つとされる。
第2に、上記分類運転においては第1の供給経路より物品を自動供給するとともに第2の供給経路を閉鎖する。
第3に、上記テスト運転においては第2の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第1の供給経路を閉鎖する。
The third invention is an article classification apparatus in which the following means are added to the first invention.
First, there are two supply paths for supplying an article to the accommodating portion of the conveying means.
Secondly, in the classification operation, articles are automatically supplied from the first supply path and the second supply path is closed.
Third, in the test operation, the reference article is automatically supplied from the second supply path and the first supply path is closed.

第4の発明は、物品分類装置の運転方法に次の手段を採用する。
第1に、外周にそれぞれ物品を収容する複数の収容部を有する回転体と前記回転体の各収容部に収容される物品を下方から支持する固定体とからなり、該固定体に設けた排出部から物品を落下させて排出する排出位置を有する搬送手段と、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給する供給手段と、前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、前記排出部下方に設けられる複数の分類容器と、前記排出部下方に設けられ、排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段からなる物品分類装置の運転方法とする。
The fourth invention employs the following means for the operation method of the article classification apparatus.
1stly, it consists of the rotary body which has several accommodating parts which each accommodates articles | goods in an outer periphery, and the fixed body which supports the articles accommodated in each accommodating part of the said rotary body from below, The discharge | emission provided in this fixed body A conveying means having a discharge position for dropping and discharging the article from the section; a supply means for automatically supplying the article to the storage section of the conveying means; Article classification comprising inspection means for inspecting, a plurality of classification containers provided below the discharge section, and a distribution means provided below the discharge section and distributing the discharged articles to the required classification containers based on the characteristics of the articles The operation method of the apparatus is assumed.

第2に、前記固定体の排出部に設けられ、開放時には物品を落下させ、閉鎖時には物品の落下を阻止して該排出部を通過させる排出部閉鎖手段を設ける。
第3に、前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転においては、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給するとともに、前記排出部閉鎖手段を開放して物品を落下させる。
第4に、前記搬送手段により基準物品を循環搬送するテスト運転においては、前記供給手段からの物品の自動供給を停止するとともに、基準物品を前記搬送手段の前記収容部に供給し、前記排出部閉鎖手段を閉鎖して前記基準物品の落下を阻止することにより前記搬送手段による前記基準物品の搬送を継続する。
Secondly, there is provided a discharge portion closing means that is provided in the discharge portion of the fixed body and drops the article when opened and prevents the drop of the article when closed and allows the discharge portion to pass through.
Thirdly, in the classification operation in which the articles conveyed by the conveying means are distributed to a required classification container, the articles are automatically supplied to the storage section of the conveying means, and the discharge section closing means is opened to remove the articles. Drop it.
Fourth, in the test operation in which the reference article is circulated and conveyed by the conveying means, the automatic supply of the article from the supply means is stopped, the reference article is supplied to the accommodating portion of the conveying means , and the discharge section The closing means is closed to prevent the reference article from falling, whereby the reference article is continuously conveyed by the conveying means.

第5の発明は、第4の発明に、次の手段を付加した物品分類装置の運転方法である。
第1に、上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が1つとされる。
第2に、上記テスト運転においては、基準物品を手動供給する。
5th invention is the operating method of the goods classification device which added the following means to 4th invention.
First, there is a single supply path for supplying articles to the storage section of the transport means.
Second, in the test operation, the reference article is manually supplied.

第6の発明は、第4の発明に、次の手段を付加して物品分類装置の運転方法である。
第1に、上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が2つとされる。
第2に、上記分類運転においては第1の供給経路より物品を自動供給するとともに第2の供給経路を閉鎖する。
第3に、上記テスト運転においては第2の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第1の供給経路を閉鎖する。
The sixth invention is an operation method of the article classification device by adding the following means to the fourth invention.
First, there are two supply paths for supplying an article to the accommodating portion of the conveying means.
Secondly, in the classification operation, articles are automatically supplied from the first supply path and the second supply path is closed.
Third, in the test operation, the reference article is automatically supplied from the second supply path and the first supply path is closed.

第1の発明および第4の発明は、排出部閉鎖手段の開放か閉鎖かの選択といった簡単な方法で、分類運転とテスト運転との切換が容易にできる物品分類装置およびその運転方法となった。
その上、分類運転においては、排出部閉鎖手段を開放して物品を自重落下させるのみなので、ワークたる物品へのダメージの低減が図れる物品分類装置およびその運転方法となった。
更に、テスト運転においては、排出部閉鎖手段を閉鎖して物品(テスト運転時であるので基準物品)の落下を阻止することにより、基準物品の搬送を連続的に継続し、同じ基準物品を繰り返し検査装置により検査することができ、テスト運転が容易にできる物品分類装置およびその運転方法となった。
1st invention and 4th invention became the article | item classification | category apparatus which can switch easily a classification | category driving | operation and a test driving | operation with the simple method of selection of the opening or closing of a discharge part closing means, and its operating method. .
In addition, in the classification operation, since the discharge unit closing means is opened and the article is dropped by its own weight, the article classification apparatus and its operation method can reduce damage to the article as the workpiece.
Further, in the test operation, the discharge part closing means is closed to prevent the article (reference article because it is in the test operation) from falling, so that the reference article is continuously conveyed and the same reference article is repeated. An article classification apparatus that can be inspected by an inspection apparatus and can easily perform a test operation, and an operation method thereof.

その上、多数の物品を分類する分類運転においては物品を自動供給し、同じ基準物品を循環搬送するテスト運転においては、自動供給を停止し、基準物品が供給されるため、テスト運転のために供給経路に残存する物品を除去すると言った煩わしい作業の必要をなくすことができた。
In addition, in the classification operation for classifying a large number of articles, the articles are automatically supplied, and in the test operation in which the same reference articles are circulated and conveyed, the automatic supply is stopped and the reference articles are supplied. It was possible to eliminate the need for troublesome work such as removing articles remaining in the supply path.

第3の発明および第6の発明においては、供給経路を2つ設けて、分類運転とテスト運転とで供給経路を異ならせ、分類運転においては第1の供給経路より物品を自動供給するとともに第2の供給経路を閉鎖し、テスト運転においては第2の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第1の供給経路を閉鎖することにより、運転切替ごとに供給経路に残存する物品を除去すると言った煩わしい作業の必要をなくすことができた。   In the third and sixth inventions, two supply paths are provided, and the supply paths are different in the classification operation and the test operation. In the classification operation, articles are automatically supplied from the first supply path. In the test operation, the reference article is automatically supplied from the second supply path and the first supply path is closed to remove the articles remaining in the supply path every time the operation is switched. This eliminates the need for cumbersome work.

本発明の一実施例を示す電子部品分類装置の概要説明図1 is a schematic explanatory diagram of an electronic component classification apparatus according to an embodiment of the present invention. 搬送手段の平面説明図Plane explanatory diagram of transport means 供給位置および検査位置を示す搬送手段の側面説明図Side view of the conveying means showing the supply position and the inspection position 排出位置の断面説明図Cross-sectional explanatory drawing of discharge position 供給位置での供給方法を示す説明図Explanatory drawing which shows the supply method in a supply position 検査位置でのプローブとLEDチップの位置関係を示す説明図で、(A)は検査前後の状態を示し、(B)は検査中を示す。It is explanatory drawing which shows the positional relationship of the probe and LED chip in a test | inspection position, (A) shows the state before and behind a test | inspection, (B) shows in process of test | inspection.

以下、図示の実施例と共に本発明の実施の形態について説明する。図1は、本発明の一実施例を示す電子部品分類装置の概要説明図である。実施例においてワークである部品は、LEDチップLであり、該LEDチップLを電気的特性と光学的特性により、振り分け分類する装置である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described together with illustrated examples. FIG. 1 is a schematic explanatory diagram of an electronic component classification apparatus showing an embodiment of the present invention. In the embodiment, the part which is a workpiece is an LED chip L, and is an apparatus that sorts and classifies the LED chip L according to electrical characteristics and optical characteristics.

電子部品分類装置は、LEDチップLを整列して供給するパーツフィーダ1と、パーツフィーダ1よりLEDチップLを受け取り、吸着保持して供給位置30より検査位置31を通過し排出位置32へと搬送する搬送手段3と、搬送手段3の搬送経路に沿って設けられLEDチップLの電気的特性と光学的特性を検査位置31にて検査する検査装置2と、排出位置32の下方(具体的には排出部61の下方)に配置され、排出されたLEDチップLを電気的特性と光学的特性に基づき振り分ける分配装置4と、更に、その下方に配置され、分配装置4から振り分けられ、チューブ10を通って送り込まれたLEDチップLを貯留する多数の分類容器50よりなる分類部5を有する。   The electronic component sorting apparatus receives the LED chip L from the parts feeder 1 and the parts feeder 1 that are supplied by aligning and supplying the LED chips L, sucks and holds them, passes the inspection position 31 from the supply position 30, and conveys them to the discharge position 32. Conveying means 3, an inspection device 2 provided along the conveying path of the conveying means 3 for inspecting the electrical characteristics and optical characteristics of the LED chip L at the inspection position 31, and below the discharge position 32 (specifically, Is disposed below the discharge unit 61, and distributes the discharged LED chips L based on electrical characteristics and optical characteristics, and further, is disposed below and distributed from the distribution apparatus 4, and the tube 10. It has the classification | category part 5 which consists of many classification containers 50 which store LED chip L sent in through.

パーツフィーダ1は、図1に現れるように、多数のLEDチップLがランダムに収容されるフィーダボウル11と、レール12で構成され、振動によってLEDチップLをフィーダボウル11からレール12へと長手方向一列に整列して送り出し、レール12から搬送手段3にLEDチップLを供給する手段であり、本発明における供給経路となる。この供給経路は、実施例においては1つであるが、本発明では、分類運転時に用いる第1の供給経路とテスト運転時に用いる第2の供給経路という2つの供給経路を設けることもできる。   As shown in FIG. 1, the parts feeder 1 is composed of a feeder bowl 11 in which a large number of LED chips L are accommodated at random and a rail 12, and the LED chip L is moved from the feeder bowl 11 to the rail 12 in the longitudinal direction by vibration. This is a means for feeding LED chips L from the rails 12 to the transport means 3 in a line, and is a supply path in the present invention. In the embodiment, there is one supply path, but in the present invention, two supply paths, that is, a first supply path used during the classification operation and a second supply path used during the test operation may be provided.

搬送手段3は、図3に示されるように、間欠回転する円盤状のインデックステーブル7と、インデックステーブル7の下方に配置される固定テーブル6で構成される。インデックステーブル7が、本発明における回転体となり、固定テーブル6が本発明における固定体となる。   As shown in FIG. 3, the transport unit 3 includes a disk-shaped index table 7 that rotates intermittently and a fixed table 6 that is disposed below the index table 7. The index table 7 is a rotating body in the present invention, and the fixed table 6 is a fixed body in the present invention.

インデックステーブル7の外周70には所定間隔で多数の切り欠きが設けられており、この切り欠きがLEDチップLを収容するポケット状の収容部71となる。実施例で収容部71は等間隔に設けられている。インデックステーブル7の裏面には、各収容部71と連通する放射状の溝72が複数形成されている。   A large number of notches are provided on the outer periphery 70 of the index table 7 at predetermined intervals, and these notches serve as pocket-shaped accommodation portions 71 that accommodate the LED chips L. In the embodiment, the accommodating portions 71 are provided at equal intervals. A plurality of radial grooves 72 communicating with the respective accommodating portions 71 are formed on the back surface of the index table 7.

固定テーブル6には、各収容部71に収容されるLEDチップLを下方から支持する支持部と、固定テーブル6を切欠して、収容部71で搬送されてきたLEDチップLを搬送手段3の下方に配置される分配装置4へ自然落下させる排出部61とが形成される。該排出部61の形成された位置が、排出位置32となる。排出位置32での排出部61を除いた固定テーブル6の上面は支持部となる。   In the fixed table 6, a support part that supports the LED chips L accommodated in the respective accommodating parts 71 from below, and the LED table L that has been conveyed in the accommodating part 71 by notching the fixed table 6. A discharge portion 61 that spontaneously drops into the distribution device 4 disposed below is formed. The position where the discharge portion 61 is formed becomes the discharge position 32. The upper surface of the fixed table 6 excluding the discharge portion 61 at the discharge position 32 serves as a support portion.

排出部61には、本発明における排出部閉鎖手段となるシャッタ8が設けられる。シャッタ8は、開放時にはLEDチップLを自然落下させ、閉鎖時にはLEDチップLの落下を阻止して、排出部61上を落下せずに通過させるものである。シャッタ8は、図2および図4に示されるように、LEDチップLが通過可能な排出孔80を形成した円盤状のもので、軸83を支点に回転可能とされている。尚、実施例では上記のような回転式のシャッタ8を用いているが、進退式シャッタや、取り外し式シャッタであっても良い。   The discharge unit 61 is provided with a shutter 8 serving as a discharge unit closing unit in the present invention. The shutter 8 spontaneously drops the LED chip L when opened, prevents the LED chip L from dropping when closed, and allows the LED chip L to pass through without dropping. As shown in FIGS. 2 and 4, the shutter 8 is a disk-shaped member having a discharge hole 80 through which the LED chip L can pass, and is rotatable about a shaft 83. In the embodiment, the rotary shutter 8 as described above is used, but an advancing / retracting shutter or a detachable shutter may be used.

尚、排出部61の上方には、アシストブローノズル81が設けられており、アシストブローノズル81は、LEDチップLの排出を確実にするために、LEDチップLが欠けない程度の圧力で、排出部61の上に位置した排出孔80の上方より下方に向かってエアをブローする。排出部61の下方には連結チューブ82が連結されており、連結チューブ82の下端は分配装置4と連結されている。   An assist blow nozzle 81 is provided above the discharge portion 61. The assist blow nozzle 81 discharges the LED chip L at a pressure at which the LED chip L is not chipped in order to ensure the discharge of the LED chip L. Air is blown downward from above the discharge hole 80 located on the portion 61. A connection tube 82 is connected to the lower side of the discharge unit 61, and the lower end of the connection tube 82 is connected to the distribution device 4.

固定テーブル6には、排出位置32以外に、供給位置30,検査位置31が形成されている。搬送手段3は、固定テーブル6とインデックステーブル7の収容部71でLEDチップLを吸着保持して、図2に示される供給位置30より検査位置31を通過し排出位置32へとLEDチップLを搬送する手段である。   In addition to the discharge position 32, a supply position 30 and an inspection position 31 are formed on the fixed table 6. The conveying means 3 sucks and holds the LED chip L by the accommodating portion 71 of the fixed table 6 and the index table 7, and passes the LED chip L from the supply position 30 shown in FIG. 2 to the discharge position 32 through the inspection position 31. It is a means to convey.

従って、収容部71にLEDチップLを吸着させるための負圧を生じさせる必要がある。そこで、固定テーブル6の上面で、供給位置30、検査位置31、排出位置32以外の領域で単に、LEDチップLを搬送するだけの領域には、インデックステーブル7の裏面に形成された放射状の溝72と連通する同心円状の溝62が彫ってあり、該溝62は、それぞれ図示されていない真空源と接続されている。   Therefore, it is necessary to generate a negative pressure for adsorbing the LED chip L in the housing portion 71. Therefore, radial grooves formed on the back surface of the index table 7 are provided on the upper surface of the fixed table 6 in areas other than the supply position 30, the inspection position 31, and the discharge position 32. A concentric groove 62 communicating with 72 is carved, and each of the grooves 62 is connected to a vacuum source (not shown).

この固定テーブル6の同心円状の溝62とインデックステーブル7の放射状の溝72が連通することにより収容部71に負圧が供給され、収容されるLEDチップLを収容部71に吸着保持する。尚、固定テーブル6の供給位置30、検査位置31にはそれぞれ別の溝が形成されており、各位置において収容部71に負圧を供給するようになっている。   By connecting the concentric grooves 62 of the fixed table 6 and the radial grooves 72 of the index table 7, negative pressure is supplied to the housing portion 71, and the LED chip L to be housed is sucked and held in the housing portion 71. Note that separate grooves are formed at the supply position 30 and the inspection position 31 of the fixed table 6 so that negative pressure is supplied to the accommodating portion 71 at each position.

供給位置30で収容部71へのLEDチップLの受け渡しは次のように行われる。供給位置30において、LEDチップLは、パーツフィーダ1のレール12の先端から、供給位置30に間欠移動されるインデックステーブル7の収容部71に、一つずつ供給される。具体的には、図5に示すように、レール12先端のLEDチップL1の吸引2をOFFにすると同時に、吸引1をONにして収容部71へLEDチップL1を移動供給する。即ち、図5中点線位置にLEDチップL1は移動することになる。   The delivery of the LED chip L to the accommodating portion 71 at the supply position 30 is performed as follows. At the supply position 30, the LED chips L are supplied one by one from the tip of the rail 12 of the parts feeder 1 to the accommodating portion 71 of the index table 7 that is intermittently moved to the supply position 30. Specifically, as shown in FIG. 5, the suction 2 of the LED chip L1 at the tip of the rail 12 is turned off, and at the same time, the suction 1 is turned on and the LED chip L1 is moved and supplied to the housing portion 71. That is, the LED chip L1 moves to the dotted line position in FIG.

このとき供給位置30の収容部71上方には可動させて開くことができるカバー33が位置している。このカバー33により収容部71の上方を覆うことになり、LEDチップLは、スムースに収容部71へと移動することができる。   At this time, a cover 33 that can be moved and opened is located above the accommodating portion 71 at the supply position 30. The cover 33 covers the upper portion of the housing portion 71, and the LED chip L can smoothly move to the housing portion 71.

LEDチップL1の収容部71への供給があったときでも、吸引3はONのままである。即ちLEDチップL2は元の位置に留まっている。次に、吸引2をONにするとともに、吸引3をOFFにして、後続先頭のLEDチップL2をレール12の先端へと移動させる。   Even when the LED chip L1 is supplied to the housing portion 71, the suction 3 remains ON. That is, the LED chip L2 remains in its original position. Next, the suction 2 is turned on, the suction 3 is turned off, and the subsequent leading LED chip L2 is moved to the tip of the rail 12.

LEDチップL1が収容部71に供給されたか、否かは、収容検出センサ34により検知される。供給されたLEDチップLの姿勢が不良か否かの検知は、カバー33を観察することによって可能である。姿勢不良のLEDチップLが押し上げたカバー33をフォトマイクロセンサで、検出することにより収納ミスがあり、供給が完了されなかったことを検知するのである。   Whether or not the LED chip L1 is supplied to the housing portion 71 is detected by the housing detection sensor 34. Whether or not the posture of the supplied LED chip L is defective can be detected by observing the cover 33. By detecting the cover 33 pushed up by the defective LED chip L with a photomicrosensor, it is detected that there is a storage error and supply has not been completed.

インデックステーブル7側方には、サイドガイド9(排出位置32では特殊形状のサイドガイド90)が設けられ、LEDチップLの不意の飛び出しを防止している。尚、検査位置31では、該位置31に存在するLEDチップL4のサイドおよび上方を案内するサイドおよびトップガイド91が設けられている。   A side guide 9 (a specially shaped side guide 90 at the discharge position 32) is provided on the side of the index table 7 to prevent the LED chip L from unexpectedly popping out. In the inspection position 31, a side and a top guide 91 for guiding the side and upper side of the LED chip L4 existing at the position 31 are provided.

検査装置2は、検査位置31の下方に昇降可能に設けられたプローブ20と、検査位置31の上方に設けられた積分球21とで構成される。検査装置2での検査は、図6(A)より(B)に至るように、プローブ20を上昇させ、LEDチップL4の電極と当接させ、LEDチップL4に電流を供給して発光させ、その発光光を積分球21で受光し、LEDチップL4の光学的特性と共に電気的特性を検査するものである。   The inspection apparatus 2 includes a probe 20 provided so as to be movable up and down below the inspection position 31 and an integrating sphere 21 provided above the inspection position 31. In the inspection by the inspection apparatus 2, as shown in FIG. 6 (A) to (B), the probe 20 is raised, brought into contact with the electrode of the LED chip L4, current is supplied to the LED chip L4 to emit light, The emitted light is received by the integrating sphere 21 and the electrical characteristics as well as the optical characteristics of the LED chip L4 are inspected.

電子部品分類装置は、搬送手段3で運ばれてきたLEDチップLを、シャッタ8を開放して排出部61に落下させ、所要の分類容器50へ振り分ける分類運転と、シャッタ8を閉鎖して排出部61に落下することを阻止し、LEDチップLの循環搬送を継続し、検査装置2の調整のためのテスト運転を行う必要がある。以下、分類運転とテスト運転の方法について説明する。   The electronic component classification device opens the shutter 8 to drop the LED chip L carried by the transport means 3 onto the discharge unit 61, sorts the LED chip L to the required classification container 50, closes the shutter 8 and discharges it. It is necessary to prevent the LED chip L from falling to the part 61, continue circulating the LED chip L, and perform a test operation for adjusting the inspection device 2. Hereinafter, the classification operation and test operation methods will be described.

分類運転は、次のように行われる。先ず、供給位置30において、LEDチップLは、供給経路となるパーツフィーダ1のレール12の先端から、インデックステーブル7の収容部71に、一つずつ自動供給される。LEDチップL1が収容部71に供給されたか、否かの検出が、収容検出センサ34により行われる。   The classification operation is performed as follows. First, at the supply position 30, the LED chips L are automatically supplied one by one from the front end of the rail 12 of the parts feeder 1 serving as a supply path to the accommodating portion 71 of the index table 7. The accommodation detection sensor 34 detects whether or not the LED chip L1 is supplied to the accommodation unit 71.

収容部71への供給が確認されると、インデックステーブル7が回転し、間欠搬送により検査位置31にLEDチップL4が到達する。到達したLEDチップL4に上昇させたプローブ20を当接させ、電流を流して発光させ、上方に設置された積分球21により光学的特性および電気的特性を検査する。   When the supply to the accommodating portion 71 is confirmed, the index table 7 rotates and the LED chip L4 reaches the inspection position 31 by intermittent conveyance. The probe 20 that has been raised is brought into contact with the LED chip L4 that has arrived, and a current is supplied to emit light, and the optical and electrical characteristics are inspected by the integrating sphere 21 installed above.

検査終了後、LEDチップLが排出位置32の排出部61の上方に到達したとき、排出部61には、シャッタ8の排出孔80が位置しているため、LEDチップLの排出部61からの落下はシャッタ8により阻害されることはなく、排出部61より排出される。   After the inspection, when the LED chip L reaches above the discharge portion 61 at the discharge position 32, the discharge portion 61 is provided with the discharge hole 80 of the shutter 8; The fall is not obstructed by the shutter 8 and is discharged from the discharge unit 61.

排出孔80を通り排出部61から排出されたLEDチップLは、図4に示されるように、連結チューブ82内を自然落下し、その下流に接続される分配装置4により、物品の特性に基づき、振り分けられ、チューブ10を介して、分類部5である所要の分類容器50へと分類される。   As shown in FIG. 4, the LED chip L discharged from the discharge portion 61 through the discharge hole 80 naturally falls in the connection tube 82, and based on the characteristics of the article by the distribution device 4 connected downstream thereof. And is classified into the required classification container 50 which is the classification unit 5 through the tube 10.

次にテスト運転は、次のように行われる。先ず、排出部61をシャッタ8により閉鎖する、即ち、排出部61の上方よりシャッタ8の排出孔80を90度ずらすことにより、シャッタ8により、固定テーブル6に形成された排出部61を閉じるとともにパーツフィーダ1のレール12の先頭のLEDチップL1を吸着固定し、供給経路からの自動供給をストップする。図5における吸引2をONにしておく。   Next, the test operation is performed as follows. First, the discharge portion 61 is closed by the shutter 8, that is, the discharge portion 61 formed on the fixed table 6 is closed by the shutter 8 by shifting the discharge hole 80 of the shutter 8 by 90 degrees from above the discharge portion 61. The top LED chip L1 of the rail 12 of the parts feeder 1 is sucked and fixed, and automatic supply from the supply path is stopped. The suction 2 in FIG. 5 is turned on.

その後、供給位置30のカバー33を開いて、オペレータによりインデックステーブル7の収容部71へ3〜10個程度の任意数の基準チップを収容する。即ち、基準チップの手動供給を行う。テスト運転の際はカバー33を開いてピンセットで基準チップを手載せする。   After that, the cover 33 at the supply position 30 is opened, and an arbitrary number of 3 to 10 reference chips are accommodated in the accommodating portion 71 of the index table 7 by the operator. That is, the reference chip is manually supplied. During the test operation, the cover 33 is opened and the reference chip is manually placed with tweezers.

その後、カバー33を閉め、インデックステーブル7を回転させれば、排出部61はシャッタ8により閉鎖されているので、検査位置31を通過したLEDチップLは、排出部61上を通過する際も閉鎖されたシャッタ8上を通過し、再び検査位置31を通過するように連続循環搬送される。   After that, if the cover 33 is closed and the index table 7 is rotated, the discharge unit 61 is closed by the shutter 8, so that the LED chip L that has passed the inspection position 31 is also closed when passing over the discharge unit 61. Then, it is continuously circulated and conveyed so that it passes over the shutter 8 and passes through the inspection position 31 again.

テスト運転終了後は、シャッタ8を開く、即ち、シャッタ8の排出孔80を排出部61上に合わせる。基準チップは、通過時に開放された排出部61より自然落下し、所要の分類容器50へ排出して完了する。尚、基準チップは繰り返し使用される。   After the test operation is completed, the shutter 8 is opened, that is, the discharge hole 80 of the shutter 8 is set on the discharge unit 61. The reference chip spontaneously falls from the discharge unit 61 opened at the time of passage, and is discharged to the required classification container 50 to complete. The reference chip is used repeatedly.

このように、シャッタ8により排出部61を閉鎖することで基準チップを循環搬送することができるため、テスト運転が容易となった。加えて、テスト運転の際にはカバー33を開いて基準チップを人手で供給するようにするので、例えば、緊急停止からの復帰の際に、パーツフィーダ1にLEDチップLが多数残った状態においても基準チップを供給してテスト運転を行うことができる。   Thus, since the reference chip can be circulated and conveyed by closing the discharge portion 61 by the shutter 8, the test operation is facilitated. In addition, during the test operation, the cover 33 is opened and the reference chip is manually supplied. For example, when returning from an emergency stop, a large number of LED chips L remain in the parts feeder 1. Also, a test operation can be performed by supplying a reference chip.

更に、パーツフィーダ1が空であっても、基準チップは数個程度と少ないため、基準チップをパーツフィーダ1に供給して、自動的に基準チップを供給するより、人手による供給の方が簡単である。実施例では、テスト運転の際に人手により基準チップを供給するための位置は、供給位置30とされているが、手動供給のため位置を限定されることはなく、それ以外の位置でも良い。更に、所望の位置にカバーを設け、供給時のみカバーを開くようにしても良い。   Furthermore, even if the parts feeder 1 is empty, there are only a few reference chips, so it is easier to supply manually than supplying the reference chips to the parts feeder 1 and automatically supplying the reference chips. It is. In the embodiment, the position for manually supplying the reference chip during the test operation is the supply position 30, but the position is not limited for manual supply, and other positions may be used. Furthermore, a cover may be provided at a desired position, and the cover may be opened only during supply.

以上の実施例では、搬送手段3にLEDチップL又は基準チップを供給する供給経路(パーツフィーダ1)は、1つであるが、これを2つとし、第1の供給経路をLEDチップを自動供給するものとし、第2の供給経路を基準チップを自動供給するものとすることもできる。   In the above embodiment, there is one supply path (part feeder 1) for supplying the LED chip L or the reference chip to the transport means 3, but there are two supply paths, and the LED chip is automatically used as the first supply path. The reference chip may be automatically supplied through the second supply path.

この場合、分類運転においては第1の供給経路よりLEDチップLを自動供給するとともに第2の供給経路を閉鎖し、テスト運転においては第2の供給経路より基準チップを自動供給するとともに第1の供給経路を閉鎖して運転する。   In this case, in the classification operation, the LED chip L is automatically supplied from the first supply path and the second supply path is closed, and in the test operation, the reference chip is automatically supplied from the second supply path and the first supply path is closed. Operate with the supply path closed.

1・・・・・・・・パーツフィーダ
2・・・・・・・・検査装置
3・・・・・・・・搬送手段
4・・・・・・・・分配装置
5・・・・・・・・分類部
6・・・・・・・・固定テーブル
7・・・・・・・・インデックステーブル
8・・・・・・・・シャッタ
9・・・・・・・・サイドガイド
10・・・・・・・チューブ
11・・・・・・・フィーダボウル
12・・・・・・・レール
20・・・・・・・プローブ
21・・・・・・・積分球
30・・・・・・・供給位置
31・・・・・・・検査位置
32・・・・・・・排出位置
33・・・・・・・カバー
34・・・・・・・収容検査センサ
50・・・・・・・分類容器
61・・・・・・・排出部
62・・・・・・・同心円状の溝
70・・・・・・・外周
71・・・・・・・収容部
72・・・・・・・放射状の溝
80・・・・・・・排出孔
81・・・・・・・アシストブローノズル
82・・・・・・・連結チューブ
83・・・・・・・軸
90・・・・・・・サイドガイド
91・・・・・・・サイドおよびトップガイド
L1、L2、L3、L4・・・・・・・・LEDチップ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Parts feeder 2 ... Inspection apparatus 3 ... Conveying means 4 ... Distributor 5 ...・ ・ ・ Classifying part 6 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ Fixed table 7 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ Index table 8 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ Shutter 9 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ Side guide 10 ・························································································································ Probe ... Supply position 31 ... Inspection position 32 ... Discharge position 33 ... Cover 34 ... Inspection inspection sensor 50 ... ... Category container 61 ... Drain part 62 ... Concentric groove 70 ... Outer periphery 71 ... Container 2 ... Radial groove 80 ... Discharge hole 81 ... Assist blow nozzle 82 ... Connection tube 83 ... Shaft 90 ······· Side guide 91 ········ Side and top guide

Claims (6)

外周にそれぞれ物品を収容する複数の収容部を有する回転体と前記回転体の各収容部に収容される物品を下方から支持する固定体とからなり、該固定体に設けた排出部から物品を落下させて排出する排出位置を有する搬送手段と、
前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給する供給手段と、
前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、
前記排出部下方に設けられる複数の分類容器と、
前記排出部下方に設けられ、排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段からなる物品分類装置において、
前記固定体の排出部に設けられ、開放時には物品を落下させ、閉鎖時には物品の落下を阻止して該排出部を通過させる排出部閉鎖手段を設け、
前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転においては、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給するとともに、前記排出部閉鎖手段を開放して物品を落下させ、
前記搬送手段により基準物品を循環搬送するテスト運転においては、前記供給手段からの物品の自動供給を停止するとともに、基準物品が前記搬送手段の前記収容部に供給され、前記排出部閉鎖手段を閉鎖して前記基準物品の落下を阻止することにより前記搬送手段による前記基準物品の搬送を継続することを特徴とする物品分類装置。
The rotating body has a plurality of storage portions for storing articles on the outer periphery, and a fixed body that supports articles stored in the storage sections of the rotating body from below, and the articles are discharged from a discharge portion provided on the fixed body. Conveying means having a discharge position for dropping and discharging;
Supply means for automatically supplying an article to the accommodating portion of the conveying means;
An inspection unit provided along a conveyance path of the conveyance unit, and inspecting characteristics of the article;
A plurality of classification containers provided below the discharge unit;
In the article classification apparatus comprising distribution means provided below the discharge unit and distributing the discharged articles to a required classification container based on the characteristics of the articles,
Provided in the discharge part of the fixed body, provided with a discharge part closing means for dropping the article at the time of opening, blocking the drop of the article at the time of closing, and passing the discharge part;
In the classification operation for distributing the articles conveyed by the conveying means to the required classification container, the articles are automatically supplied to the storage unit of the conveying means and the discharge unit closing means is opened to drop the articles,
In the test operation in which the reference article is circulated and conveyed by the conveying means, automatic supply of the article from the supply means is stopped, the reference article is supplied to the accommodating portion of the conveying means , and the discharge portion closing means is closed. Then, the article classifying apparatus is characterized in that the reference article is continuously conveyed by the conveying means by preventing the reference article from falling.
上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が1つであり、上記テスト運転においては、基準物品を手動供給することを特徴とする請求項1記載の物品分類装置。
2. The article classification apparatus according to claim 1, wherein there is one supply path for supplying an article to the accommodating portion of the transport means, and the reference article is manually supplied in the test operation.
上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が2つであり、上記分類運転においては第1の供給経路より物品を自動供給するとともに第2の供給経路を閉鎖し、上記テスト運転においては第2の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第1の供給経路を閉鎖することを特徴とする請求項1記載の物品分類装置。
There are two supply paths for supplying articles to the accommodating portion of the transport means. In the classification operation, the articles are automatically supplied from the first supply path and the second supply path is closed. 2. The article classification apparatus according to claim 1, wherein the reference article is automatically supplied from the second supply path and the first supply path is closed.
外周にそれぞれ物品を収容する複数の収容部を有する回転体と前記回転体の各収容部に収容される物品を下方から支持する固定体とからなり、該固定体に設けた排出部から物品を落下させて排出する排出位置を有する搬送手段と、
前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給する供給手段と、
前記搬送手段の搬送経路に沿って設けられ、物品の特性を検査する検査手段と、
前記排出部下方に設けられる複数の分類容器と、
前記排出部下方に設けられ、排出された物品を該物品の特性に基づき所要の分類容器に振り分ける分配手段からなる物品分類装置の運転方法において、
前記固定体の排出部に設けられ、開放時には物品を落下させ、閉鎖時には物品の落下を阻止して該排出部を通過させる排出部閉鎖手段を設け、
前記搬送手段により搬送される物品を所要の分類容器へ振り分ける分類運転においては、前記搬送手段の前記収容部に物品を自動供給するとともに、前記排出部閉鎖手段を開放して物品を落下させ、
前記搬送手段により基準物品を循環搬送するテスト運転においては、前記供給手段からの物品の自動供給を停止するとともに、基準物品を前記搬送手段の前記収容部に供給し、前記排出部閉鎖手段を閉鎖して前記基準物品の落下を阻止することにより前記搬送手段による前記基準物品の搬送を継続することを特徴とする物品分類装置の運転方法。
The rotating body has a plurality of storage portions for storing articles on the outer periphery, and a fixed body that supports articles stored in the storage sections of the rotating body from below, and the articles are discharged from a discharge portion provided on the fixed body. Conveying means having a discharge position for dropping and discharging;
Supply means for automatically supplying an article to the accommodating portion of the conveying means;
An inspection unit provided along a conveyance path of the conveyance unit, and inspecting characteristics of the article;
A plurality of classification containers provided below the discharge unit;
In the operation method of the article classification apparatus, which is provided below the discharge section and includes distribution means for distributing the discharged articles to a required classification container based on the characteristics of the articles,
Provided in the discharge part of the fixed body, provided with a discharge part closing means for dropping the article at the time of opening, blocking the drop of the article at the time of closing, and passing the discharge part;
In the classification operation for distributing the articles conveyed by the conveying means to the required classification container, the articles are automatically supplied to the storage unit of the conveying means and the discharge unit closing means is opened to drop the articles,
In the test operation in which the reference article is circulated and conveyed by the conveying means, the automatic supply of the article from the supply means is stopped, the reference article is supplied to the accommodating portion of the conveying means , and the discharge portion closing means is closed. Then, the conveyance of the reference article by the conveying means is continued by preventing the reference article from falling, and the operation method of the article classification apparatus,
上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が1つであり、上記テスト運転においては、基準物品を手動供給することを特徴とする請求項4記載の物品分類装置の運転方法。
5. The operation method of the article classification apparatus according to claim 4, wherein there is one supply path for supplying an article to the accommodating portion of the conveying means, and the reference article is manually supplied in the test operation.
上記搬送手段の上記収容部に物品を供給する供給経路が2つであり、上記分類運転においては第1の供給経路より物品を自動供給するとともに第2の供給経路を閉鎖し、上記テスト運転においては第2の供給経路より基準物品を自動供給するとともに第1の供給経路を閉鎖することを特徴とする請求項4記載の物品分類装置の運転方法。 There are two supply paths for supplying articles to the accommodating portion of the transport means. In the classification operation, the articles are automatically supplied from the first supply path and the second supply path is closed. The method for operating an article classification apparatus according to claim 4, wherein the reference article is automatically supplied from the second supply path and the first supply path is closed.
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