JP5862364B2 - 誘電体積層薄膜 - Google Patents
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t=(RA+RX)/√2(RB+RX)
t:トレランスファクタ(ペロブスカイト構造における許容度、理想は1)
RA:Aサイトにおけるイオン半径
RB:Bサイトにおけるイオン半径
RX:Xサイトにおけるイオン半径
ここでLiNbO3などは、ペロブスカイトと同じ化学式のABX3でありながら、トレランスファクタの値が0.75と小さいため、その結晶内での歪が大きくなり、イルメナイト構造という別の結晶構造になる。
Si(111)基板111面上に形成された、少なくとも一層のZrを主成分とする酸化物のエピタキシャル膜2が下地膜2であり、その膜厚は100nm以下である。その上には結晶配向の安定化や、デバイスへの応用上の理由により別の酸化物、又は金属のエピタキシャル膜を追加して構成させることが可能である。これらの膜構成を合わせて下地膜2とする。格子整合の状態は、Si基板と下地膜2との結晶性のずれを示すmisfitとして、以下の計算式を用いて求められる。
misfit(%)=((上部膜a軸長−下部ベースa軸長)/下部ベースa軸長)×100
下地膜2を有するSi基板111上に形成された、イルメナイト構造のエピタキシャル膜3で、LiNbO3の場合、a軸長は0.520nmである。ここで、図11は、Si基板と下地膜の格子面上にイルメナイトの格子面をあわせた図である。白丸で示す原子は、下地膜の格子面8であり、Si基板と下地膜の格子面は、a軸長はほぼ同様の値であり、1:1で同じ格子面8となる。黒丸で示す原子は、イルメナイト格子面9である。
水平面:Si(111)/ZrO2(111)/LiNbO3(001)
面直A:Si(112)/ZrO2(112)/LiNbO3(110)
面直B:Si(110)/ZrO2(101)/LiNbO3(100)
ここで、水平面は基板面と平行な面であり、面直Aは積層された基板を任意に垂直に切った一つの断面であり、面直Bは面直Aと垂直に交差する断面である。
Si基板111の(111)面の結晶配向を継承して、下地膜2が酸化ジルコニウム(ZrO2)からなる第1のエピタキシャル下地膜21である場合は、その表面に(111)面が得られる様に形成される。ZrO2の(111)面は格子結晶においてSi(111)と同様で、傾斜を持って形成される。ここで下地膜2が厚いと、成膜途中で発生した結晶中に本来あるべき位置にその原子が欠損している、すなわち、格子欠陥等の影響が、表面において大きく現れるため、ペロブスカイト構造の膜の場合より薄い条件の方が良好である。その膜厚は2〜50nm、願わくは2〜20nmである。
イルメナイト構造を持つエピタキシャル膜、すなわち、イルメナイト構造膜3についても、格子欠陥の観点より膜厚は200〜2000nmと比較的薄い方が良好であり、願わくは200〜1000nmである。
(3)成膜レート
イルメナイト構造膜3の成膜レートは、格子欠陥や膜応力増加の観点より0.5〜30.0nm/minが好ましい。
成膜レートと共にその膜面における分布は、面内における応力の分布につながる。すなわち、膜の厚い部分は相対的に膜応力が大きくなり、また、その膜厚は一般的に基板中央から外側に向けて薄くなるため、膜応力は中央から外側に向かって開放される方向に向かう。このため膜厚分布は出来る限り抑制する必要があり、願わくは(MAX−MIN)/MAXの計算式において10%以下である。
Si基板111の熱膨張係数が2.6×10−7〔m/K〕に対して、LiNbO3からなるイルメナイト構造膜3は15〜16×10−7〔m/K〕とLiNbO3の熱膨張係数は基板のSiに対して一桁大きい。このため成膜時の基板温度の差は、内部応力として分布を持つことになり、安定したエピタキシャル成長の妨げとなる。また温度分布は酸化等の化学的な安定性への影響もあり、基板面における温度分布は(MAX−MIN)/MAXの計算式において10℃以下、願わくは5℃以下の制御が好ましい。
Si基板111面上に成膜されたイルメナイト構造膜3の、成膜における応力は、膜剥がれの起きていない状態において、200MPa以下であることが望ましい。このためには、成膜レート、成膜分布、基板温度分布を上記の設定にすると共に、基板温度の設定は1000℃以下、望ましくは600〜800℃とすることが望ましい。
イルメナイト構造膜3の成膜においては、成膜の時間と共に、結晶内でのLiなどの軽元素とNb、Taなどの元素の比率や、Oの欠損、過剰の状態が変化していくため、成膜中にスパッタガスの圧力やO2ガス分圧などの雰囲気を調節する必要がある。具体的な調整の範囲はガス圧力で0.1〜1.5Pa、O2分圧で20〜50%の範囲にて調整される事が好ましい。
以下に、実施形態に基づいた実施例1について、実際に試作を作製し、評価を行ったので、具体的に説明する。
水平面:Si(111)/ZrO2(111)/LiNbO3(001)
面直A:Si(112)/ZrO2(112)/LiNbO3(110)
面直B:Si(110)/ZrO2(101)/LiNbO3(100)
ここで、水平面は基板面と平行な面であり、面直Aは積層された基板を任意に垂直に切った一つの断面であり、面直Bは面直Aと垂直に交差する断面である。
次に、スパッタリングターゲットにおけるLi/Nbのモル比を変更した後、上記と同様の方法、同様の膜厚構成にて成膜し、その膜の組成比に対する結晶性の違いを確認した。
次に、下地膜2の構成において、第2のエピタキシャル下地膜22である、金属薄膜を複合させた形態について、試作し、評価を行った。
21 第1のエピタキシャル下地膜
22 第2のエピタキシャル下地膜
3 イルメナイト構造膜
4 極点
8 下地膜の格子面
9 イルメナイトの格子面
11 実施例1のX線回折ピーク
12 比較例1のX線回折ピーク
13 比較例2のX線回折ピーク
14 比較例3のX線回折ピーク
15 実施例3のX線回折ピーク
31 a軸
32 b軸
33 c軸
110 Si(100)基板
111 Si(111)基板
Claims (4)
- 単結晶Si(111)基板面上に、酸化ジルコニウム(ZrO2)を主成分としたエピタキシャル成長した少なくとも一層の下地膜が形成され、
前記下地膜上に、イルメナイト構造の誘電体材料からなるエピタキシャル成長したイルメナイト構造膜が形成され、
前記イルメナイト構造膜において、X線回折により測定された(006)反射のロッキングカーブの半値幅が1.6°以下で、且つ、結晶c軸に対して回転双晶を有することを特徴とする誘電体積層薄膜。 - 前記イルメナイト構造膜の化学式はABX3であって、かつ、A/Bのモル比が0.9〜1.1であることを特徴とする請求項1に記載の誘電体積層薄膜。
- 前記イルメナイト構造膜は、ニオブ酸リチウム(LiNbO3)、又はタンタル酸リチウム(LiTaO3)であることを特徴とする請求項1から2のいずれかに記載の誘電体積層薄膜。
- 前記誘電体積層薄膜を構成する各薄膜の結晶配向性が、以下の方向に規定された条件を満たす積層構造を特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の誘電体積層薄膜。
水平面:Si基板(111)/ZrO 2 下地膜(111)/イルメナイト構造膜(001)
面直A:Si基板(112)/ZrO 2 下地膜(112)/イルメナイト構造膜(110)
面直B:Si基板(110)/ZrO 2 下地膜(101)/イルメナイト構造膜(100)
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