JP5851227B2 - 炭化珪素単結晶製造装置及び炭化珪素単結晶の製造方法 - Google Patents
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Description
その基盤技術として炭化珪素単結晶の成長技術の研究開発が精力的に進められている。
単結晶成長装置100は、真空容器101の内部に断熱材102に覆われた坩堝103配置され、真空容器101の外側に加熱手段110が配置されて概略構成されている。
炭化珪素単結晶製造装置200は、坩堝上部230a及び坩堝下部230bからなる坩堝230と、坩堝上部230aの蓋部230aaの下面中央部に取り付けられた台座240とを備えている。坩堝下部230b内には、粉末状の炭化珪素原料260が収容されており、台座240の下面には、炭化珪素原料260に臨むように炭化珪素種結晶250が取り付けられる。
炭化珪素単結晶の成長中に坩堝内部を観察することも可能であったが、X線装置等の大掛かりな装置が必要であった。
また、粉末原料を昇華させてその昇華ガスを炭化珪素種結晶に供給するという手法のため、坩堝に隙間があると、その隙間から昇華ガスが漏洩して、良好な成長環境を維持できないし、また、坩堝外部の部材(断熱部材やヒータ)の劣化を招くことになる。従って、この観点からも、坩堝に覗き窓や測定用の窓を設置することは望ましくない。
〔1〕台座に取付けた炭化珪素種結晶上に原料ガスを供給して、前記炭化珪素種結晶上に炭化珪素の単結晶を成長させる炭化珪素単結晶製造装置において、坩堝上部と坩堝下部とからなる坩堝と、前記坩堝上部及び前記坩堝下部のうち、少なくとも前記坩堝下部を支持する第1支持部材と、前記台座を支持する第2支持部材と、前記第1支持部材及び前記第2支持部材の重量をそれぞれ独立に検出できる重量センサと、前記坩堝の周囲に配置する加熱手段と、を備え、前記第1支持部材と前記第2支持部材とは上下方向に互いに相対移動可能である、ことを特徴とする炭化珪素単結晶製造装置。
〔2〕前記台座は前記坩堝上部の蓋部の下面に支持され、前記第1支持部材は前記坩堝上部及び前記坩堝下部のうち、前記坩堝下部のみを支持するものであり、前記第2支持部材は前記坩堝上部を支持し、該坩堝上部を介して前記台座を支持するものである、ことを特徴とする〔1〕に記載の炭化珪素単結晶製造装置。
〔3〕前記第1支持部材は前記坩堝上部及び前記坩堝下部のいずれも支持するものであり、
前記台座は、少なくともその種結晶取付面が前記坩堝内に位置するように、前記坩堝上部の蓋部に形成された開口から下方に突出している、ことを特徴とする〔1〕に記載の炭化珪素単結晶製造装置。
〔4〕前記蓋部の下面において前記開口の周囲に沿って下方に突出するように設けられた第1突起部であって、前記坩堝の内側壁側が高くかつ前記坩堝の鉛直中心側が低くなるように傾斜する下方傾斜面を前記坩堝の内側壁に対向する側に有する第1突起部を備えたことを特徴とする〔3〕に記載の炭化珪素単結晶製造装置。
〔5〕前記台座の側壁において、前記坩堝の内側壁側が高くかつ前記坩堝の鉛直中心側が低くなるように傾斜する上方傾斜面を前記坩堝の鉛直中心側に有する第2突起部が設けられていることを特徴とする〔3〕又は〔4〕のいずれかに記載の炭化珪素単結晶製造装置。
〔6〕前記坩堝上部はその側部の下端に形成された坩堝上部連結部を備え、前記坩堝下部はその側部の上端に形成された坩堝下部連結部を備え、前記坩堝上部連結部及び前記坩堝下部連結部は、坩堝の内壁側が高くかつ外壁側が低くなるように傾斜し、互いに対向する傾斜連結面を有する、ことを特徴とする〔1〕〜〔5〕のいずれか一項に記載の炭化珪素単結晶製造装置。
〔7〕前記第2支持部材は上方から吊り下げられたものである、ことを特徴とする〔1〕〜〔6〕のいずれか一項に記載の炭化珪素単結晶製造装置。
〔8〕台座に取付けた炭化珪素種結晶上に原料ガスを供給して、前記炭化珪素種結晶上に炭化珪素の単結晶を成長させる炭化珪素単結晶の製造方法において、坩堝上部と坩堝下部とからなる坩堝と、前記坩堝上部及び前記坩堝下部のうち、少なくとも前記坩堝下部を支持する第1支持部材と、前記台座を支持する第2支持部材と、前記第1支持部材及び前記第2支持部材の重量をそれぞれ独立に検出できる重量センサと、前記坩堝の周囲に配置する加熱手段とを備え、前記第1支持部材と前記第2支持部材とは上下方向に互いに相対移動可能である炭化珪素単結晶製造装置を用い、炭化珪素単結晶の製造中に、前記重量センサを用いて検出した前記第2支持部材の重量から、炭化珪素単結晶の成長量及び/又は成長速度を求め、前記重量センサを用いて検出した前記第1支持部材の重量から、炭化珪素粉末原料の昇華速度及び/又は昇華量を求め、前記成長速度及び/又は成長量、及び/又は、昇華量及び/又は昇華速度が所望の範囲外である場合には、その範囲内に入るように、(1)〜(4)の少なくともいずれかを行う、ことを特徴とする炭化珪素単結晶の製造方法;
(1) 前記坩堝上部又は前記台座、及び/又は、前記坩堝下部の温度を調整する、
(2) 前記第1支持部材及び前記第2支持部材を上下方向に互いに相対移動させる、又は異なる速度で上昇もしくは下降させる、
(3) 炭化珪素単結晶の所期の予定成長時間を変更する、
(4) 炉内圧力を調節する。
なお、以下の説明において参照する図面は、本実施形態の炭化珪素単結晶製造装置及び炭化珪素単結晶の製造方法を説明する図面であって、図示される各部の大きさや厚さや寸法等は、実際の炭化珪素単結晶製造装置等の寸法関係とは異なっていることがある。また、以下の説明において例示する材料や寸法等は一例であり、本発明は必ずしもそれらに限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲で適宜変更して実施することが可能である。また、真空容器や加熱手段等、通常用いられる構成については図示及びその説明を省略している場合がある。
まず、図1に、本発明の第1の実施形態を適用した炭化珪素単結晶製造装置を示す。なお、真空容器、断熱材等の通常の炭化珪素単結晶製造装置に備えた構成は図示していない。
摺動面3A、3Bを合わせたとき底部3baは坩堝上部3aの蓋部3aaと対面した状態となる。
本実施形態では摺動面3A、3Bが摺接する構成であるが、摺動面3A、3Bに相当する面が互いに直接接しないで、互いに相対移動可能な構成でもよい。
連結部3bbaは、摺動面3Bと、坩堝上部3aの坩堝下部3bに対する相対位置が最も低い位置にあるときに、連結部3abaの連結面3abaaと当接するか又は連結面3abaaと最近接する連結面3bbaaとを有する。
なお、連結面3abaaと連結面3bbaaとが当接しない(最近接する)場合は、その間に形成される隙間は坩堝内部の昇華ガスのリークができるだけ少なくなるように微小であることが望ましい。
第2支持側部8bの上端面8Aには坩堝上部3aの側部3abの下端面3ababが当接しており、この当接により第2支持部材8は坩堝上部3aを支持する構成となっている。坩堝上部3aの蓋部3aaに設けられた台座4は坩堝上部3aを介して第2支持部材8に支持される。
第1重量センサ9は第1支持部材7の例えば、シャフト部7bに配置され、第1支持部材7及びこれに支持された坩堝下部3bの重量(炭化珪素原料6の重量を含む)を検出する。炭化珪素単結晶の成長時、第1支持部材及び坩堝下部3bの重量は変化しないが、炭化珪素原料6の重量は原料ガスの昇華によって減少するため、第1重量センサ9が検出する重量は減少する。第1重量センサ9は全重量すなわち、第1支持部材7及びこれに支持された坩堝下部3b(炭化珪素原料6を含む)の重量減を検出して、炭化珪素原料6の減少量を検出する。
本実施形態において、第1重量センサ9は第1支持部材7に設けられ、第2重量センサ10は第2支持部材8に設けられているため、炭化珪素原料6の重量変化と成長した炭化珪素単結晶分の重量とを独立して得ることができる。このような重量センサ9,10としてロードセルを用いることができ、半導体ピエゾ抵抗式圧力センサ方式、バネ式圧力センサ方式のものなどを用いることにより、微量な重量変化であっても確実に検出することができる。
また、坩堝3の真空容器を介して外側には、図8に示すような、高周波加熱コイル等の加熱手段が配置されており、制御回路16の演算結果に基づいて加熱手段への電流供給を調整することによって坩堝3の加熱温度を調整することができる。これにより坩堝上部3a又は台座4、又は坩堝下部3bの温度を調整することができる。この温度調整によって炭化珪素単結晶の成長速度や成長量を調整することができる。
また、制御回路16の演算結果に基づいて炭化珪素単結晶の所期の予定成長時間を変更することができる。
さらに、制御回路16の演算結果に基づいて真空容器内の圧力を調整することができる。この圧力調整によっても、炭化珪素単結晶の成長速度や成長量を調整することができる。
なお、制御回路を用いて自動で成長条件を調整する構成を説明したが、第1重量センサ9及び第2重量センサ10から得られた重量に基づいて、手動で成長条件を調整してもよい。
その後、制御回路16は演算した成長速度及び/又は成長量、及び/又は、昇華量及び/又は昇華速度を予め設定してある基準値と比較し、比較の結果、所定の範囲外である場合には、その範囲内に入るように、炭化珪素単結晶の成長条件を調整する。
具体的には、加熱手段を調整することによって、坩堝上部3a又は台座4、及び/又は、坩堝下部3bの温度を調整する。すなわち、坩堝上部3a又は台座4の温度を高くすることにより、原料ガスが成長面に堆積するのが抑制されて成長速度が低下する一方、坩堝上部3a又は台座4の温度を低くすることにより、原料ガスが成長面に堆積するのが促進されて成長速度が上昇する。また、坩堝下部3bの温度を高くすることにより、炭化珪素原料6の昇華速度が上昇し、成長面に到達する原料ガス量が増加して単結晶の成長速度が上昇する一方、坩堝下部3bの温度を低くすることにより、炭化珪素原料6の昇華速度が低下し、成長面に到達する原料ガス量が減少して単結晶の成長速度が低下する。こうして、単結晶の成長速度及び/又は成長量、及び/又は、炭化珪素原料の昇華量及び/又は昇華速度を所定の範囲内にすることが可能となる。
または、炭化珪素単結晶の成長条件の調整のために、第1支持部材7及び第2支持部材8を上下方向に互いに相対移動させる、又は、異なる速度で上昇もしくは下降させる。これにより、台座と炭化珪素原料との距離を変えることで単結晶の成長面と原料面との距離を変え、成長速度及び/又は成長量を所定の範囲内にすることが可能となる。
または、炭化珪素単結晶の成長条件の調整のために、炭化珪素単結晶の所期の予定成長時間を変更する。これにより、単結晶の成長量を所定の範囲内にすることが可能となる。
または、炭化珪素単結晶の成長条件の調整のために、真空容器内の圧力を調節する。これにより、単結晶の成長速度及び/又は成長量、及び/又は、炭化珪素原料の昇華量及び/又は昇華速度を所定の範囲内にすることが可能となる。
以上の調整の一つ又は二つ以上を行うことにより、単結晶の成長途上でも成長条件を調整することができる。これにより、高品質の炭化珪素単結晶を製造することができ、歩留まりを向上させることができ、所期の取得可能なウェハ数を確保することが可能となる。
図2は、第2の実施形態の炭化珪素単結晶製造装置の坩堝上部連結部及び坩堝下部連結部の近傍を拡大した断面摸式図である。
これに対して、坩堝下部連結部22は傾斜連結面22aを有する点で第1の実施形態の坩堝下部連結部3bbaとは異なるが、坩堝下部3bの側部3bbをそのまま上方に延長することにより形成されるものであり、坩堝上部3aの側部3abの延長線上に設けられている点で第1の実施形態の坩堝下部連結部3bbaと共通する。
図2において、実線矢印は結晶成長中の坩堝3内のガスの流れの方向を示すものであり、また、破線は結晶成長中の等温線を示すものである。これらは本発明の効果をわかりやすく説明する目的で、ガスの流れ及び等温線の概略若しくは傾向を示したものである。
なお、昇華再結晶法では、坩堝下部3bに収容された炭化珪素原料6を高温で昇華させ、その温度より低い坩堝上部3aの蓋部3aa上の台座に取り付けた炭化珪素種結晶上に昇華ガスを再結晶化させていくため、下方から上方へ温度が低い等温線が並ぶことになる。
昇華ガスは全体としてほぼ等温線に直交する方向に流れるため、坩堝上部3aと坩堝下部3bとの連結部近傍では、昇華ガスは全体としてG1に示すように流れると考えられる。本実施形態の坩堝上部連結部21及び坩堝下部連結部22はそれぞれ、坩堝の内壁側が高くかつ外壁側が低くなるように傾斜した傾斜連結面21a、傾斜連結面22aを有し、坩堝上部連結部21と坩堝下部連結部22との間に形成される隙間23は坩堝の内壁側から外壁側へ向かうにつれて下方に傾斜しているため、その隙間23に入り込む昇華ガス(ガスの流れG2)は坩堝内部のガスの流れとは逆になるため、隙間23に入り込むのが抑制される。この結果、隙間23に形成される炭化珪素多結晶の量が低減されるため、炭化珪素単結晶の成長中も坩堝上部と坩堝下部の相対移動を円滑に行うことができる。
図3に、第3の実施形態の炭化珪素単結晶製造装置を示す。
第1支持部材17は第1の実施形態と同様に、支持面部17aとシャフト部7bとを有する。
坩堝上部13aは坩堝下部13bの上部に支持されており、坩堝下部13bに対して相対移動しない。この坩堝上部13aは坩堝下部13bを介して第1支持部材17の支持面部17a上に支持された構造となっており、坩堝上部13a及び坩堝下部13bの双方が第1支持部材17に支持された状態となっている。
その後、制御回路16は演算した成長速度及び/又は成長量、及び/又は、昇華量及び/又は昇華速度を予め設定してある基準値と比較し、比較の結果、所定の範囲外である場合には、その範囲内に入るように、炭化珪素単結晶の成長条件を調整する。
具体的には、加熱手段を調整することによって、坩堝上部13a又は台座14、及び/又は、坩堝下部13bの温度を調整する。すなわち、坩堝上部13a又は台座14の温度を高くすることにより、昇華ガスが成長面に堆積するのが抑制されて成長速度が低下する一方、坩堝上部13a又は台座14の温度を低くすることにより、昇華ガスが成長面に堆積するのが促進されて成長速度が上昇する。また、坩堝下部13bの温度を高くすることにより、炭化珪素原料6の昇華速度が上昇し、成長面に到達する昇華ガス量が増加して単結晶の成長速度が上昇する一方、坩堝下部13bの温度を低くすることにより、炭化珪素原料6の昇華速度が低下し、成長面に到達する昇華ガス量が減少して単結晶の成長速度が低下する。こうして、単結晶の成長速度及び/又は成長量、及び/又は、炭化珪素原料の昇華量及び/又は昇華速度を所定の範囲内にすることが可能となる。
または、炭化珪素単結晶の成長条件の調整のために、第1支持部材17及び第2支持部材18を上下方向に互いに相対移動させる、又は、異なる速度で上昇もしくは下降させる。これにより、台座と炭化珪素原料との距離を変えることで単結晶の成長面と原料面との距離を変え、成長速度及び/又は成長量を所定の範囲内にすることが可能となる。
または、炭化珪素単結晶の成長条件の調整のために、炭化珪素単結晶の所期の予定成長時間を変更する。これにより、単結晶の成長量を所定の範囲内にすることが可能となる。
または、炭化珪素単結晶の成長条件の調整のために、真空容器内の圧力を調節する。これにより、単結晶の成長速度及び/又は成長量、及び/又は、炭化珪素原料の昇華量及び/又は昇華速度を所定の範囲内にすることが可能となる。
以上の調整の一つ又は二つ以上を行うことにより、単結晶の成長途上でも成長条件を調整して、高品質の炭化珪素単結晶を製造することができ、歩留まりを向上させることができ、所期の取得可能なウェハ数を確保することが可能となる。
炭化珪素種結晶5上の炭化珪素単結晶26の成長に伴い、炭化珪素単結晶26の成長面と炭化珪素原料の表面(原料面)との距離が変化する。
炭化珪素種結晶5上の炭化珪素単結晶26の成長と共に、坩堝上部13aの蓋部13aaの下面等に炭化珪素の多結晶27が成長してしまう。
図5に、第4の実施形態の炭化珪素単結晶製造装置の台座の近傍を拡大した断面摸式図である。
本実施形態は坩堝上部33aの蓋部33aaに第1突起部35を備え、台座24の側壁24bに第2突起部37を備える構成であるが、台座24の側壁24bに第2突起部37を備えず、坩堝上部3aの蓋部33aaに第1突起部35を備えるだけの構成でもよい。
なお、第1重量センサが第1支持部材に設けられ、第2重量センサが第2支持部材に設けられ、第2支持部材が昇降駆動装置に連結される点については第1の実施形態と同様である。
これらの構成及び作用により、鉛直面35bや側壁24bに炭化珪素多結晶が析出することが抑制でき、炭化珪素単結晶の成長中も台座と坩堝上部の円滑な相対移動が可能となる。
第5の実施形態として、図6に示す本発明を適用した炭化珪素単結晶製造装置の構造について説明する。
なお、第1重量センサ9が第1支持部材7に設けられ、第2重量センサ40が第2支持部材48に設けられている点は第1の実施形態と同様である。
その後、制御回路は演算した成長速度及び/又は成長量、及び/又は、昇華量及び/又は昇華速度を予め設定してある基準値と比較し、比較の結果、所定の範囲外である場合には、その範囲内に入るように、加熱手段を調整したり、第1支持部材7及び第2支持部材48を上下方向に互いに相対移動させ、又は、異なる速度で上昇もしくは下降させたり、炭化珪素単結晶の所期の予定成長時間を変更したり、真空容器(炉)内の圧力を調節する。
以上の調整の一つ又は二つ以上を行うことにより、単結晶の成長途上でも成長条件を調整して、高品質の炭化珪素単結晶を製造することができ、歩留まりを向上させることができ、所期の取得可能なウェハ数を確保することが可能となる。
第6の実施形態として、図7に示す本発明を適用した炭化珪素単結晶製造装置の構造について説明する。
なお、第1重量センサ19が第1支持部材17に設けられ、第2重量センサ50が第2支持部材58に設けられている点は第3の実施形態と同様である。
その後、制御回路は演算した成長速度及び/又は成長量、及び/又は、昇華量及び/又は昇華速度を予め設定してある基準値と比較し、比較の結果、所定の範囲外である場合には、その範囲内に入るように、加熱手段を調整したり、第1支持部材17及び第2支持部材48を上下方向に互いに相対移動させる、又は、異なる速度で上昇もしくは下降させたり、炭化珪素単結晶の所期の予定成長時間を変更したり、真空容器(炉)内の圧力を調節する。
以上の調整の一つ又は二つ以上を行うことにより、単結晶の成長途上でも成長条件を調整して、高品質の炭化珪素単結晶を製造することができ、歩留まりを向上させることができ、所期の取得可能なウェハ数を確保することが可能となる。
直径75mmの炭化珪素種結晶を用い、台座に接着剤を用いて接着した。
坩堝内の温度を2400℃として炭化珪素単結晶を100時間成長させたところ、長さ30mmの炭化珪素単結晶が成長した。このとき、第2支持部材及びこれに支持された構成の重量は700g増加し、第1支持部材及びこれに支持された構成の重量は800g減少した。重量100gの差は主に、坩堝外へ原料ガスが逃げたために生じたものと考えられる。この実施例で得られたインゴットは異種多形の混入や割れがなく高品質の単結晶となっていた。
実施例1と同様に直径75mmの炭化珪素種結晶を用い、坩堝内の温度を2400℃として炭化珪素単結晶を成長させたところ、80時間を過ぎた時点で、第2支持部材及びこれに支持された構成の重量は490g増加し、第1支持部材及びこれに支持された構成の重量は560g減少していた。このままで100時間の成長を継続すると成長する炭化珪素単結晶の長さが所定の長さ(30mm)より短くなることが予想された。このため成長時間を115時間に延長したところ、長さ30mmの炭化珪素単結晶を成長させることができた。得られたインゴットは異種多形の混入や割れがなく高品質の単結晶となっていた。
実施例1と同様に直径75mmの炭化珪素種結晶を用い、坩堝内の温度を2400℃として炭化珪素単結晶を成長させたところ、80時間を過ぎた時点で、第2支持部材及びこれに支持された構成の重量は620g増加し、第1支持部材及びこれに支持された構成の重量は700g減少していた。このままで100時間の成長を継続すると成長する炭化珪素単結晶の長さが所定の長さ(30mm)より長くなることが予想された。このため成長時間を90時間に短縮したところ、長さ30mmの炭化珪素単結晶を成長させることができた。得られたインゴットは異種多形の混入や割れがなく高品質の単結晶となっていた。
実施例1と同様に直径75mmの炭化珪素種結晶を用い、坩堝内の温度を2400℃として炭化珪素単結晶を成長させたところ、50時間を過ぎた時点で、第2支持部材及びこれに支持された構成の重量は280g増加し、第1支持部材及びこれに支持された構成の重量は320g減少していた。この実施例では従来から得られている結晶成長データベースに基づいて参考成長条件と比較した。その結果、炭化珪素原料の昇華速度及び炭化珪素単結晶の成長速度が参考成長条件より遅くなっていることが判明した。これに基づいて、坩堝上部の温度を10℃下げ、坩堝下部の温度を10℃上昇させて結晶を成長させた。100時間経過後、第2支持部材及びこれに支持された構成の重量は700g増加し、第1支持部材及びこれに支持された構成の重量は800g減少した。得られたインゴットは長さ30mmであり、異種多形の混入や割れがなく高品質の単結晶となっていた。
実施例1と同様に直径75mmの炭化珪素種結晶を用い、坩堝内の温度を2300℃として炭化珪素単結晶を成長させたところ、50時間を過ぎた時点で、第2支持部材及びこれに支持された構成の重量は280g増加し、第1支持部材及びこれに支持された構成の重量は320g減少していた。この実施例では従来から得られている結晶成長データベースに基づいて参考成長条件と比較した。その結果、炭化珪素原料の昇華速度及び炭化珪素単結晶の成長速度が参考成長条件より遅くなっていることが判明した。これに基づいて坩堝の位置を5mm上昇させ、坩堝上部と坩堝下部との温度差を大きくして結晶を成長させた。100時間経過後、第2支持部材及びこれに支持された構成の重量は700g増加し、第1支持部材及びこれに支持された構成の重量は800g減少した。得られたインゴットは長さ30mmであり、異種多形の混入や割れがなく高品質の単結晶となっていた。
3a、13a、33a 坩堝上部
3aa、13aa、33aa 蓋部
3ab、13ab、33ab 側部
3b、13b、33b 坩堝下部
4、14、24 台座
4a、14a、24a 種結晶取付面
5 炭化珪素種結晶
6 炭化珪素原料
7、17 第1支持部材
8、18、48、58 第2支持部材
9、19 第1重量センサ
10、20、40、50 第2重量センサ
13ac、33ac 開口
15 昇降駆動装置
21 坩堝上部連結部
21a 傾斜連結面
22 坩堝下部連結部
22a 傾斜連結面
24b 側壁
26 炭化珪素単結晶
33abA 内側壁
35 第1突起部
35a 下方傾斜面
37 第2突起部
37a 上方傾斜面
110 加熱手段
G1、G2、G3、G4 ガスの流れ
Claims (5)
- 台座に取付けた炭化珪素種結晶上に原料ガスを供給して、前記炭化珪素種結晶上に炭化珪素の単結晶を成長させる炭化珪素単結晶製造装置において、
坩堝上部と坩堝下部とからなる坩堝と、
前記坩堝上部及び前記坩堝下部のうち、少なくとも前記坩堝下部を支持する第1支持部材と、
前記台座を支持する第2支持部材と、
前記第1支持部材及び前記第2支持部材の重量をそれぞれ独立に検出できる重量センサと、
前記坩堝の周囲に配置する加熱手段と、備え、前記第1支持部材と前記第2支持部材とは上下方向に互いに相対移動可能であり、
前記第1支持部材は前記坩堝上部及び前記坩堝下部のいずれも支持するものであり、
前記台座は、少なくともその種結晶取付面が前記坩堝内に位置するように、前記坩堝上部の蓋部に形成された開口から下方に突出しており、
前記蓋部の下面において前記開口の周囲に沿って下方に突出するように設けられた第1突起部であって、前記坩堝の内側壁側が高くかつ前記坩堝の鉛直中心側が低くなるように傾斜する下方傾斜面を前記坩堝の内側壁に対向する側に有する第1突起部を備えることを特徴とする炭化珪素単結晶製造装置。 - 台座に取付けた炭化珪素種結晶上に原料ガスを供給して、前記炭化珪素種結晶上に炭化珪素の単結晶を成長させる炭化珪素単結晶製造装置において、
坩堝上部と坩堝下部とからなる坩堝と、
前記坩堝上部及び前記坩堝下部のうち、少なくとも前記坩堝下部を支持する第1支持部材と、
前記台座を支持する第2支持部材と、
前記第1支持部材及び前記第2支持部材の重量をそれぞれ独立に検出できる重量センサと、
前記坩堝の周囲に配置する加熱手段と、備え、前記第1支持部材と前記第2支持部材とは上下方向に互いに相対移動可能であり、
前記坩堝上部はその側部の下端に形成された坩堝上部連結部を備え、
前記坩堝下部はその側部の上端に形成された坩堝下部連結部を備え、
前記坩堝上部連結部及び前記坩堝下部連結部は、坩堝の内壁側が高くかつ外壁側が低くなるように傾斜し、互いに対向する傾斜連結面を有する、ことを特徴とする炭化珪素単結晶製造装置。 - 前記台座の側壁において、前記坩堝の内側壁側が高くかつ前記坩堝の鉛直中心側が低くなるように傾斜する上方傾斜面を前記坩堝の鉛直中心側に有する第2突起部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の炭化珪素単結晶製造装置。
- 前記第2支持部材は上方から吊り下げられたものである、ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の炭化珪素単結晶製造装置。
- 台座に取付けた炭化珪素種結晶上に原料ガスを供給して、前記炭化珪素種結晶上に炭化珪素の単結晶を成長させる炭化珪素単結晶の製造方法において、
請求項1〜4のいずれか一項に記載の炭化珪素単結晶製造装置を用い、
炭化珪素単結晶の製造中に、前記重量センサを用いて検出した前記第2支持部材の重量から、炭化珪素単結晶の成長量及び/又は成長速度を求め、前記重量センサを用いて検出した前記第1支持部材の重量から、炭化珪素粉末原料の昇華速度及び/又は昇華量を求め、前記成長速度及び/又は成長量、及び/又は、昇華量及び/又は昇華速度が所望の範囲外である場合には、その範囲内に入るように、(1)〜(4)の少なくともいずれかを行う、ことを特徴とする炭化珪素単結晶の製造方法;
(1) 前記坩堝上部又は前記台座、及び/又は、前記坩堝下部の温度を調整する、
(2) 前記第1支持部材及び前記第2支持部材を上下方向に互いに相対移動させる、又は異なる速度で上昇もしくは下降させる、
(3) 炭化珪素単結晶の所期の予定成長時間を変更する、
(4) 炉内圧力を調節する。
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CN110344118B (zh) * | 2019-07-22 | 2024-01-30 | 江苏星特亮科技有限公司 | 一种多坩埚半连续式碳化硅晶体生长装置 |
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JP4924260B2 (ja) * | 2007-07-20 | 2012-04-25 | 株式会社デンソー | 炭化珪素単結晶の製造装置 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102187449B1 (ko) * | 2019-05-28 | 2020-12-11 | 에스케이씨 주식회사 | 탄화규소 잉곳의 제조방법, 탄화규소 잉곳 및 이의 성장 시스템 |
US11359306B2 (en) | 2019-10-29 | 2022-06-14 | Senic Inc. | Method for preparing a SiC ingot and device for preparing a SiC ingot wherein electrical resistance of crucible body is 2.9 ohms or more |
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