JP5851035B2 - 回路装置、及び、センサ信号の妥当性検査方法 - Google Patents
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Description
従来技術から公知のセンサ信号の妥当性検査方法は、ふつう、2つの同じセンサユニットを含み、その複数のセンサ信号を評価制御ユニットで冗長的に監視している。このために、2つのセンサユニットと2つの評価制御ユニットとが機器ユニットのプリント回路板上に構成されている。2つのセンサユニットの各センサ信号は周期的に読み出され、評価制御ユニットによって相互に比較される。2つのセンサ信号の差が所定の閾値を上回ると、出力信号は妥当でないとマークされる。
本発明の請求項1記載の特徴を有するセンサ信号の妥当性を検査する回路装置、及び、本発明の請求項10記載の特徴を有するセンサ信号の妥当性検査方法は、従来技術に比べて有利である。すなわち、第1の評価制御ユニットは、第1のセンサエレメントのセンサ信号を受信及び評価して第1のセンサデータを形成し、形成された第1のセンサデータを少なくとも1つのインタフェースユニットを介して第2の評価制御ユニットへ供給し、第2の評価制御ユニットは、第2のセンサエレメントのセンサ信号を受信及び評価して第2のセンサデータを形成し、形成された第2のセンサデータと形成された第1のセンサデータとを相互に比較して妥当性を検査する。ここで、第1のセンサエレメント及び第1の評価制御ユニットは有利には第1のセンサユニットを形成し、第2のセンサエレメント及び第2の評価制御ユニットは有利には第2のセンサユニットを形成する。
Claims (11)
- 2つの別個のセンサエレメント(12,22)によって形成される複数のセンサ信号の妥当性を検査するために、少なくとも1つの評価制御ユニット(14,14’,24,24’)により、少なくとも1つのインタフェースユニット(14.2,24.2)を介して複数のセンサ信号(12.1,22.1)を受信し、該受信された複数のセンサ信号(12.1,22.1)を評価して複数のセンサデータ(SD1,SD2)を形成する、
回路装置において、
第1の評価制御ユニット(14,14’)は、第1のセンサエレメント(12)の第1のセンサ信号(12.1)を受信及び評価して第1のセンサデータ(SD1)を形成し、該形成された第1のセンサデータ(SD1)を少なくとも1つのインタフェースユニット(14.2)を介して第2の評価制御ユニット(24,24’)へ供給し、
該第2の評価制御ユニット(24,24’)は、第2のセンサエレメント(22)の第2のセンサ信号(22.1)を受信及び評価して第2のセンサデータ(SD2)を形成し、該形成された第2のセンサデータ(SD2)と前記形成された第1のセンサデータ(SD1)とを相互に比較して妥当性を検査し、
前記第1のセンサエレメント(12)及び前記第1の評価制御ユニット(14,14’)が第1のセンサユニット(10,10’)を形成しており、及び、
前記第2のセンサエレメント(22)及び前記第2の評価制御ユニット(24,24’)が第2のセンサユニット(20,20’)を形成している
ことを特徴とする回路装置。 - 前記第2の評価制御ユニット(24,24’)は、
比較結果に基づいて妥当性が確認された、前記第1のセンサデータ(SD1)もしくは前記第2のセンサデータ(SD2)に対応するセンサデータ(SD1,SD2)、及び/又は、
少なくとも1つの制御信号(AS22,AS24)、及び/又は、
少なくとも1つの妥当性信号(PS1,PS2)
を出力する、
請求項1記載の回路装置。 - 前記第2の評価制御ユニット(24,24’)は、第1の比較結果が前記第1のセンサデータ(SD1)及び前記第2のセンサデータ(SD2)が妥当であることを表す場合、
確認信号及び/又は出力命令を含む第1の制御信号(AS22)を前記第1の評価制御ユニット(14,14’)へ出力する、及び/又は、
妥当性肯定信号(PS1)をさらなる処理のために上位のプロセスへ出力する、
請求項2記載の回路装置。 - 前記第2の評価制御ユニット(24,24’)は、第2の比較結果が前記第1のセンサデータ(SD1)及び前記第2のセンサデータ(SD2)の妥当性の欠如を表す場合、
前記第1のセンサデータ(SD1)及び/又は前記第2のセンサデータ(SD2)及び/又は妥当性否定信号(PS2)を含み、かつ、妥当でないことを表す出力信号を、さらなる処理のために上位のプロセスへ出力する、及び/又は、
エラー信号及び/又はリセット信号を含み、かつ、前記第1のセンサユニット(10’)のリセット及び/又は前記第1のセンサ信号(12.1)の新たな測定を促す第2の制御信号(AS24)を、前記第1の評価制御ユニット(14’)へ出力する、
請求項2又は3記載の回路装置。 - 前記第1の評価制御ユニット(14’)は、前記第2の制御信号(AS24)への応答として又は前記第1の制御信号(AS22)の欠如への応答として、前記第2のセンサユニット(20’)のリセット及び/又は前記第2のセンサ信号(22.1)の新たな測定を促す第3の制御信号(AS12)を、前記第2の評価制御ユニット(24’)へ出力する、請求項3又は4記載の回路装置。
- 前記第1のセンサデータ(SD1)及び前記第2のセンサデータ(SD2)は、直接に及び/又は処理後に、差及び/又は商の計算によって相互に比較可能であり、
前記比較結果が少なくとも1つの設定範囲内に入る場合に、前記第1のセンサデータ(SD1)及び前記第2のセンサデータ(SD2)が妥当性を有するものとし、
前記比較結果が少なくとも1つの設定範囲を外れる場合に、前記第1のセンサデータ(SD1)及び前記第2のセンサデータ(SD2)が妥当性を有さないものとする、
請求項1から5までのいずれか1項記載の回路装置。 - 前記処理は所定の係数による処理である、請求項6記載の回路装置。
- 前記第1のセンサユニット(10,10’)及び前記第2のセンサユニット(20,20’)は、
同じ物理量を同じ値領域もしくは異なる値領域で検出及び評価する、又は、
異なる物理量を検出及び評価する、
請求項1から7までのいずれか1項記載の回路装置。 - 前記第1のセンサ信号(12.1)は低G領域の加速度を表し、前記第2のセンサ信号(22.1)は高G領域の加速度を表す、請求項1から8までのいずれか1項記載の回路装置。
- 2つの別個のセンサエレメント(12,22)により複数のセンサ信号(12.1,22,1)を検出し、該複数のセンサ信号を少なくとも1つの評価制御ユニット(14,14’,24,24’)により評価して複数のセンサデータ(SD1,SD2)へ変換する、
センサ信号の妥当性検査方法において、
第1の評価制御ユニット(14,14’)により、第1のセンサエレメント(12)の第1のセンサ信号(12.1)を評価して第1のセンサデータ(SD1)へ変換し、該第1のセンサデータ(SD1)を第2の評価制御ユニット(24,24’)へ伝送し、
該第2の評価制御ユニット(24,24’)により、第2のセンサエレメント(22)の第2のセンサ信号(22.1)を評価して第2のセンサデータ(SD2)へ変換し、前記形成された第1のセンサデータ(SD1)と前記形成された第2のセンサデータ(SD2)とを相互に比較して妥当性を検査し、
前記第1のセンサエレメント(12)及び前記第1の評価制御ユニット(14,14’)により第1のセンサユニット(10,10’)を形成し、及び、
前記第2のセンサエレメント(22)及び前記第2の評価制御ユニット(24,24’)により第2のセンサユニット(20,20’)を形成する
ことを特徴とするセンサ信号の妥当性検査方法。 - 前記第2の評価制御ユニット(24,24’)により、比較結果に基づいて、
妥当性が確認された、前記第1のセンサデータ(SD1)もしくは前記第2のセンサデータ(SD2)に対応するセンサデータ(SD1,SD2)、及び/又は、
少なくとも1つの制御信号(AS22,AS24)、及び/又は、
少なくとも1つの妥当性信号(PS1,PS2)
を出力する、ただし、
第1の比較結果が前記第1のセンサデータ(SD1)及び前記第2のセンサデータ(SD2)が妥当であることを表す場合、
妥当性肯定信号(PS1)をさらなる処理のために上位のプロセスへ出力し、及び/又は、
確認信号及び/又は出力命令を含む第1の制御信号(AS22)を前記第1の評価制御ユニット(14’)へ出力し、
第2の比較結果が前記第1のセンサデータ(SD1)及び前記第2のセンサデータ(SD2)の妥当性の欠如を表す場合、
前記第1のセンサデータ(SD1)及び/又は前記第2のセンサデータ(SD2)及び/又は妥当性否定信号(PS2)を含み、かつ、妥当でないことを表す出力信号をさらなる処理のために上位のプロセスへ出力する、及び/又は、
エラー信号及び/又はリセット信号を含み、かつ、第1のセンサユニット(10’)のリセット及び/又は前記第1のセンサ信号(12.1)の新たな測定を促す第2の制御信号(AS24)を前記第1の評価制御ユニット(14’)へ出力する、
請求項10記載のセンサ信号の妥当性検査方法。
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