JP5780936B2 - 検査装置 - Google Patents
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光学画像を基準画像と比較して、これらの差分値が所定の閾値を超える場合に欠陥と判定する比較部と、
検査対象を複数のフレーム領域に分割し、各フレーム領域について得られた光学画像と基準画像の最大差分値を用いて、比較部における判定の信頼性を評価する診断部とを有することを特徴とする検査装置に関する。
光学画像を基準画像と比較して、これらの差分値が所定の閾値を超える場合に欠陥と判定する比較部と、
画像センサに結像する光学像の光量によって、比較部における判定の信頼性を評価する診断部とを有することを特徴とする検査装置に関する。
光学画像を基準画像と比較して、これらの差分値が所定の閾値を超える場合に欠陥と判定する比較部と、
比較部で欠陥と判定されない時間が所定時間に達すると、検査対象に疑似欠陥を生じさせて、比較部における判定の信頼性を評価する診断部とを有することを特徴とする検査装置に関する。
また、画像センサを構成する複数の撮像素子の動作を制御する制御部を有していて、
比較部で欠陥と判定されない時間が所定時間に達すると、制御部で撮像素子の少なくとも1つを動作しないようにし、得られた光学画像と基準画像を比較部または診断部で比較することが好ましい。
図3において、S1の光学画像取得工程では、図1の光学画像取得部Aが、フォトマスク101の光学画像(測定データ)を取得する。ここで、光学画像は、設計パターンに含まれる図形データに基づく図形が描画されたマスクの画像である。光学画像の具体的な取得方法は、例えば、次に示す通りである。
図3において、S2は記憶工程であり、フォトマスク101のパターン形成時に用いた設計パターンデータが、記憶装置(記憶部)の一例である磁気ディスク装置109に記憶される。
図3のS3は展開工程である。この工程においては、図1の展開回路111が、磁気ディスク装置109から制御計算機110を通して設計パターンデータを読み出し、読み出されたフォトマスク101の設計パターンデータを2値ないしは多値のイメージデータ(設計画像データ)に変換する。そして、このイメージデータは参照回路112に送られる。
図3のS4はフィルタ処理工程である。この工程では、参照回路112によって、送られてきた図形のイメージデータである設計画像データに適切なフィルタ処理が施される。
図3のS5は比較工程である。この工程では、上述したように、S1で取得された、センサ回路106からの光学画像データは、比較回路108へ送られる。また、設計パターンデータも、展開回路111および参照回路112により参照画像データに変換されて比較回路108に送られる。
100 検査装置
101 フォトマスク
102 XYθテーブル
103 光源
104 拡大光学系
105 フォトダイオードアレイ
106 センサ回路
107 位置回路
108 比較回路
109 磁気ディスク装置
110 制御計算機
111 展開回路
112 参照回路
113 オートローダ制御回路
114 テーブル制御回路
115 磁気テープ装置
116 フレキシブルディスク装置
117 CRT
118 パターンモニタ
119 プリンタ
120 バス
122 レーザ測長システム
125 自己診断回路
130 オートローダ
170 照明光学系
201 CADデータ
202 設計中間データ
203 フォーマットデータ
205 マスク検査結果
207 欠陥情報リスト
500 レビュー装置
600 修正装置
Claims (1)
- 検査対象に光を照射して光学画像を得る光学画像取得部と、
前記光学画像を基準画像と比較して、これらの差分値が所定の閾値を超える場合に欠陥と判定する比較部と、
前記比較部で欠陥と判定されない時間が所定時間に達すると、前記検査対象に疑似欠陥を生じさせて、前記比較部における前記判定の信頼性を評価する診断部とを有し、
前記光学画像取得部は、前記検査対象を透過または反射した光を画像センサに結像して前記光学画像を得るよう構成されており、
前記画像センサを構成する複数の撮像素子の動作を制御する制御部を有していて、
前記比較部で欠陥と判定されない時間が所定時間に達すると、前記制御部で前記撮像素子の少なくとも1つを動作しないようにし、得られた光学画像と前記基準画像を前記比較部または前記診断部で比較することを特徴とする検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011267355A JP5780936B2 (ja) | 2011-12-06 | 2011-12-06 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011267355A JP5780936B2 (ja) | 2011-12-06 | 2011-12-06 | 検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013120101A JP2013120101A (ja) | 2013-06-17 |
JP5780936B2 true JP5780936B2 (ja) | 2015-09-16 |
Family
ID=48772795
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2011267355A Active JP5780936B2 (ja) | 2011-12-06 | 2011-12-06 | 検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5780936B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102014004556A1 (de) * | 2014-03-31 | 2015-10-01 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Verfahren zur Prüfung der Zuverlässigkeit der Fehlererkennung eines Bildinspektionsverfahrens |
JP6869815B2 (ja) * | 2017-06-06 | 2021-05-12 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 検査方法および検査装置 |
JP7333277B2 (ja) | 2020-01-06 | 2023-08-24 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | パターン検査装置の故障診断方法及びパターン検査装置 |
JP6865913B1 (ja) * | 2020-01-22 | 2021-04-28 | 三菱電機株式会社 | 予知保守装置、予知保守方法、及び、学習装置 |
JP7440354B2 (ja) | 2020-06-26 | 2024-02-28 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | パターン検査装置及びパターン検査方法 |
CN114228415B (zh) * | 2021-12-22 | 2023-04-18 | 广东汇天航空航天科技有限公司 | 一种飞行汽车控制方法和装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58160852A (ja) * | 1982-03-18 | 1983-09-24 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | シ−ト状物の欠点検査装置 |
JP4185502B2 (ja) * | 2005-03-22 | 2008-11-26 | アドバンスド・マスク・インスペクション・テクノロジー株式会社 | 試料検査装置、被検査試料の画像位置合わせ方法及びプログラム |
JP2008014768A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Olympus Corp | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
JP4711926B2 (ja) * | 2006-09-29 | 2011-06-29 | 株式会社日立情報制御ソリューションズ | 印字検査装置 |
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2011
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013120101A (ja) | 2013-06-17 |
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