JP5773744B2 - 回路基板検査装置および回路基板検査方法 - Google Patents
回路基板検査装置および回路基板検査方法 Download PDFInfo
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Description
14 検査用信号出力部
15 スキャナ部
16 測定部
18 制御部
21 プローブピン
100 回路基板
Ar 規定数
A,A1,A2,As1,A3,A4,As2 ポイント数
P1〜P8,Pa 導体パターン
Pj 検査対象点
R 抵抗値
S 検査用信号
Claims (4)
- 1または複数の検査対象点を有する複数の導体パターンを備えている回路基板における当該各検査対象点に接触させた検査用プローブを介して当該各導体パターンに検査用信号が供給されている状態で当該各導体パターン間の抵抗値を測定する測定部と、
前記各導体パターンのうちの1つを第1被検査体として設定すると共に当該第1被検査体を除く他の前記導体パターンのうちの一部または全部を第2被検査体として設定し、当該第2被検査体における前記各検査対象点を同電位としつつ当該第2被検査体と前記第1被検査体との間に前記検査用信号を供給させている状態で前記測定部によって測定された前記抵抗値に基づいて当該第2被検査体と当該第1被検査体との間の絶縁状態を検査する第1絶縁検査を、前記第1被検査体および前記第2被検査体の組み合わせを変更しつつ複数回実行する際に、2回目以降の前記第1絶縁検査において、それよりも前の前記第1絶縁検査で前記第1被検査体として設定した導体パターンを前記第1被検査体および前記第2被検査体として設定する対象から除外すると共に、直前の前記第1絶縁検査で前記第2被検査体として設定した導体パターンのうちの1つの導体パターンを前記第2被検査体として設定する対象から除外して前記第1被検査体として設定する検査部を備えた回路基板検査装置であって、
前記検査部は、前記回路基板における前記各導体パターンの中に予め決められた数以上の前記検査対象点を有する特定の導体パターンが存在するときには、前記検査対象点の数が前記予め決められた数未満の前記導体パターンだけのうちから当該導体パターンの1つを前記第1被検査体として設定しつつ前記第1絶縁検査を順次実行し、
前記特定の導体パターンが複数存在するときには、前記第1絶縁検査の終了後に、1つの前記特定の導体パターンを第3被検査体として設定すると共に当該第3被検査体を除く他の前記特定の導体パターンを第4被検査体として設定し、前記第3被検査体と前記第4被検査体との間に検査用信号を供給させている状態で前記測定部によって測定された前記抵抗値に基づいて当該第3被検査体と当該第4被検査体との間の絶縁状態を検査する第2絶縁検査を、当該第3被検査体および当該第4被検査体の組み合わせを変更しつつ実行する回路基板検査装置。 - 前記検査部は、2回目以降の前記第2絶縁検査において、それよりも前の前記第2絶縁検査で前記第3被検査体として設定した前記特定の導体パターンを前記第4被検査体として設定する対象から除外する請求項1記載の回路基板検査装置。
- 前記検査部は、前記第2絶縁検査の実行時において前記第4被検査体として前記特定の導体パターンを1つだけ設定する請求項1または2記載の回路基板検査装置。
- 1または複数の検査対象点を有する複数の導体パターンを備えている回路基板における当該各導体パターンのうちの1つを第1被検査体として設定すると共に当該第1被検査体を除く他の前記導体パターンのうちの一部または全部を第2被検査体として設定し、前記第1被検査体および前記第2被検査体における前記各検査対象点に接触させた検査用プローブを介して当該第2被検査体における当該各検査対象点を同電位としつつ当該第2被検査体と当該第1被検査体との間に検査用信号が供給されている状態で当該第2被検査体と当該第1被検査体との間の抵抗値を測定し、当該抵抗値に基づいて当該第2被検査体と当該第1被検査体との間の絶縁状態を検査する第1絶縁検査を、前記第1被検査体および前記第2被検査体の組み合わせを変更しつつ複数回実行する際に、2回目以降の前記第1絶縁検査において、それよりも前の前記第1絶縁検査で前記第1被検査体として設定した導体パターンを前記第1被検査体および前記第2被検査体として設定する対象から除外すると共に、直前の前記第1絶縁検査で前記第2被検査体として設定した導体パターンのうちの1つの導体パターンを前記第2被検査体として設定する対象から除外して前記第1被検査体として設定する回路基板検査方法であって、
前記回路基板における前記各導体パターンの中に予め決められた数以上の前記検査対象点を有する特定の導体パターンが存在するときには、前記検査対象点の数が前記予め決められた数未満の前記導体パターンだけのうちから当該導体パターンの1つを前記第1被検査体として設定しつつ前記第1絶縁検査を順次実行し、
前記特定の導体パターンが複数存在するときには、前記第1絶縁検査の終了後に、1つの前記特定の導体パターンを第3被検査体として設定すると共に当該第3被検査体を除く他の前記特定の導体パターンを第4被検査体として設定し、前記第3被検査体と前記第4被検査体との間に検査用信号を供給させている状態で前記測定部によって測定された前記抵抗値に基づいて当該第3被検査体と当該第4被検査体との間の絶縁状態を検査する第2絶縁検査を、当該第3被検査体および当該第4被検査体の組み合わせを変更しつつ実行する回路基板検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2011109108A JP5773744B2 (ja) | 2011-05-16 | 2011-05-16 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2012242098A JP2012242098A (ja) | 2012-12-10 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP5773744B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4068248B2 (ja) * | 1998-12-28 | 2008-03-26 | 日本電産リード株式会社 | 基板の絶縁検査装置及びその絶縁検査方法 |
JP5215149B2 (ja) * | 2008-12-04 | 2013-06-19 | 日置電機株式会社 | 絶縁検査方法および絶縁検査装置 |
JP5507363B2 (ja) * | 2010-07-02 | 2014-05-28 | 日置電機株式会社 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 |
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