JP5754555B2 - 内燃機関の排気浄化装置 - Google Patents

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Description

本発明は内燃機関の排気浄化装置に関する。
排気ガス中の粒子状物質を捕集するためのパティキュレートフィルタを排気通路内に配置した圧縮着火式内燃機関が公知である。その結果、大気中に排出される粒子状物質の量が抑制される。
ところが、パティキュレートフィルタ上の粒子状物質の量が多くなると、パティキュレートフィルタの圧力損失が次第に大きくなる。その結果、機関出力が低下するおそれがある。
そこで、パティキュレートフィルタを酸化雰囲気に維持しつつパティキュレートフィルタの温度を上昇させることにより粒子状物質を燃焼させてパティキュレートフィルタから除去するPM除去処理を行う内燃機関が公知である(特許文献1参照)。この内燃機関では、パティキュレートフィルタ24の上流及び下流の圧力差を検出し、圧力差があらかじめ定められた上限値以上になったときにPM除去処理が行われる。
特開2000−018019号公報
ところで、排気ガス中にはアッシュと称される不燃性成分が含まれており、このアッシュは粒子状物質と共にパティキュレートフィルタに捕集される。ところが、PM除去処理が行われても、アッシュは燃焼せず又は気化せず、パティキュレートフィルタ上に残留する。このため、機関運転時間が長くなるにつれて、パティキュレートフィルタ上のアッシュ量が次第に増大し、パティキュレートフィルタの圧力損失が次第に大きくなる。その結果、PM除去処理が繰り返し行われても、機関出力が低下するおそれがある。
上述の特許文献1ではこの問題点について何ら考慮されておらず、ましてその解決策も開示されていない。
本発明の第1の観点によれば、機関排気通路内に配置された、排気ガス中に含まれる粒子状物質を捕集するためのパティキュレートフィルタであって、交互に配置された排気ガス流入通路及び排気ガス流出通路と、これら排気ガス流入通路及び排気ガス流出通路を互いに隔てる多孔性の隔壁とを備え、隔壁に、平均細孔径が隔壁基材の平均細孔径よりも小さいコート層により基材表面が覆われたコート領域と、コート領域の下流側において基材表面が前記コート層により覆われていない非コート領域とが区画され、非コート領域において排気ガス中に含まれるアッシュが隔壁を通過できるように隔壁の細孔径が設定されている、パティキュレートフィルタと、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したか否かを判別する判別処理を行う判別手段と、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別されたときに、パティキュレートフィルタから粒子状物質を除去するPM除去処理を行うPM除去手段と、を具備した内燃機関の排気浄化装置が提供される。
本発明の第2の観点によれば、機関排気通路内に配置された、排気ガス中に含まれる粒子状物質を捕集するためのパティキュレートフィルタであって、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が、パティキュレートフィルタの圧力損失が小さいときにはパティキュレートフィルタの圧力損失の増大に関わらずほぼ一定に維持されるか又はパティキュレートフィルタの圧力損失が増大するにつれて増大し、パティキュレートフィルタの圧力損失が更に増大したときにはパティキュレートフィルタの圧力損失が増大するにつれて低下する、パティキュレートフィルタと、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したか否かを判別する判別処理を行う判別手段と、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別されたときに、パティキュレートフィルタから粒子状物質を除去するPM除去処理を行うPM除去手段と、を具備した内燃機関の排気浄化装置が提供される。
本発明の第3の観点によれば、排気通路内に配置された、排気ガス中に含まれる粒子状物質を捕集するためのパティキュレートフィルタであって、パティキュレートフィルタ上の粒子状物質捕集量に対するパティキュレートフィルタの圧力損失の変化率が、粒子状物質捕集量が少ないときには粒子状物質捕集量の増大に関わらずほぼ一定に維持されるか又は粒子状物質捕集量が増大するにつれて増大し、粒子状物質捕集量が更に増大したときには粒子状物質捕集量が増大するにつれて減少し極小値を経て増大する、パティキュレートフィルタと、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したか否かを判別する判別処理を行う判別手段と、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別されたときに、パティキュレートフィルタから粒子状物質を除去するPM除去処理を行うPM除去手段と、を具備した内燃機関の排気浄化装置が提供される。
好ましくは、前記判別手段は、パティキュレートフィルタの圧力損失を検出し、検出された圧力損失が許容上限値を越えて増大したときに前記粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別する。
好ましくは、前記判別手段は、パティキュレートフィルタ上の粒子状物質捕集量に対するパティキュレートフィルタの圧力損失の変化率を求めると共に圧力損失の変化率に極小値が発生したか否かを判別し、前記圧力損失の変化率に極小値が発生したと判別されたときに粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別する。
好ましくは、前記判別手段は、パティキュレートフィルタに流入した粒子状物質の量を求め、パティキュレートフィルタから流出した粒子状物質の量を求め、これら求められた粒子状物質の量に基づいてパティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率を求め、求められた粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したか否かを判別する。
粒子状物質を確実に捕集しつつ、パティキュレートフィルタの圧力損失がアッシュにより増大するのを抑制することができる。
本発明による実施例の内燃機関の全体図である。 パティキュレートフィルタの正面図である。 パティキュレートフィルタの側面断面図である。 隔壁の部分拡大断面図である。 コート層の部分拡大断面図である。 パティキュレートフィルタの捕集メカニズムを説明する概略図である。 パティキュレートフィルタの捕集メカニズムを説明する概略図である。 パティキュレートフィルタの捕集メカニズムを説明する概略図である。 パティキュレートフィルタの捕集メカニズムを説明する概略図である。 パティキュレートフィルタの捕集メカニズムを説明する概略図である。 パティキュレートフィルタの圧力差に対するパティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率を示す線図である。 パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集量に対する圧力差を示す線図である。 本発明による実施例の排気浄化制御を実行するルーチンを示すフローチャートである。 PM除去処理を実行するルーチンを示すフローチャートである。 本発明による別の実施例の排気浄化制御を実行するルーチンを示すフローチャートである。 本発明による更に別の実施例の内燃機関の全体図である。 単位時間当たりに増大する粒子状物質捕集量の増大分を示すマップである。 本発明による更に別の実施例の排気浄化制御を実行するルーチンを示すフローチャートである。 粒子状物質の酸化速度を示す線図である。 PM除去処理の別の実施例を説明するタイムチャートである。 PM除去処理の別の実施例を実行するルーチンを示すフローチャートである。
図1を参照すると、1は圧縮着火式内燃機関の本体、2は各気筒の燃焼室、3は各燃焼室2内にそれぞれ燃料を噴射するための電子制御式燃料噴射弁、4は吸気マニホルド、5は排気マニホルドをそれぞれ示す。吸気マニホルド4は吸気ダクト6を介して排気ターボチャージャ7のコンプレッサ7cの出口に連結され、コンプレッサ7cの入口はエアフローメータ8を介してエアクリーナ9に連結される。吸気ダクト6内には電気制御式スロットル弁10が配置され、更に吸気ダクト6周りには吸気ダクト6内を流れる吸入空気を冷却するための冷却装置11が配置される。一方、排気マニホルド5は排気ターボチャージャ7の排気タービン7tの入口に連結され、排気タービン7tの出口は排気後処理装置20に連結される。
排気マニホルド5と吸気マニホルド4とは排気ガス再循環(以下、EGRと称す)通路12を介して互いに連結され、EGR通路12内には電気制御式EGR制御弁13が配置される。また、EGR通路12周りにはEGR通路12内を流れるEGRガスを冷却するための冷却装置14が配置される。一方、各燃料噴射弁3は燃料供給管15を介してコモンレール16に連結される。このコモンレール16内へは電子制御式の吐出量可変な燃料ポンプ17から燃料が供給され、コモンレール16内に供給された燃料は各燃料供給管15を介して燃料噴射弁3に供給される。図1に示される実施例ではこの燃料は軽油から構成される。別の実施例では、内燃機関は火花点火式内燃機関から構成される。この場合には燃料はガソリンから構成される。
排気後処理装置20は排気タービン7tの出口に連結された排気管21と、排気管21に連結された触媒コンバータ22と、触媒コンバータ22に連結された排気管23とを具備する。触媒コンバータ22内にはウォールフロー型のパティキュレートフィルタ24が配置される。
触媒コンバータ22には、パティキュレートフィルタ24の温度を検出するための温度センサ25が設けられる。別の実施例では、パティキュレートフィルタ24に流入する排気ガスの温度を検出するための温度センサが排気管21に配置される。更に別の実施例では、パティキュレートフィルタ24から流出する排気ガスの温度を検出するための温度センサが排気管23に配置される。これら排気ガスの温度はパティキュレートフィルタ24の温度を表している。
触媒コンバータ22には更に、パティキュレートフィルタ24の圧力損失を検出するための圧力損失センサ26が設けられる。図1に示される実施例では、圧力損失センサ26はパティキュレートフィルタ24の上流及び下流の圧力差を検出するための圧力差センサから構成される。別の実施例では、圧力損失センサ26は排気管21に取り付けられて機関背圧を検出するセンサから構成される。
一方、排気マニホルド5には燃料添加弁27が取り付けられる。この燃料添加弁27にはコモンレール16から燃料が添加され、燃料添加弁27から排気マニホルド5内に燃料が添加される。別の実施例では、燃料添加弁27が排気管21に配置される。
電子制御ユニット30はデジタルコンピュータから構成され、双方向性バス31によって互いに接続されたROM(リードオンリメモリ)32、RAM(ランダムアクセスメモリ)33、CPU(マイクロプロセッサ)34、入力ポート35及び出力ポート36を具備する。エアフローメータ8、温度センサ25、及び圧力差センサ26の出力信号はそれぞれ対応するAD変換器37を介して入力ポート35に入力される。また、アクセルペダル39にはアクセルペダル39の踏み込み量Lに比例した出力電圧を発生する負荷センサ40が接続され、負荷センサ40の出力電圧は対応するAD変換器37を介して入力ポート35に入力される。更に入力ポート35にはクランクシャフトが例えば15°回転する毎に出力パルスを発生するクランク角センサ41が接続される。CPU34ではクランク角センサ41からの出力パルスに基づいて機関回転数Neが算出される。一方、出力ポート36は対応する駆動回路38を介して燃料噴射弁3、スロットル弁10駆動装置、EGR制御弁13、燃料ポンプ17、及び燃料添加弁27に接続される。
図2A及び図2Bはウォールフロー型パティキュレートフィルタ24の構造を示している。なお、図2Aはパティキュレートフィルタ24の正面図を示しており、図2Bはパティキュレートフィルタ24の側面断面図を示している。図2A及び図2Bに示されるようにパティキュレートフィルタ24はハニカム構造をなしており、互いに平行をなして延びる複数個の排気流通路71i,71oと、これら排気流通路71i,71oを互いに隔てる隔壁72とを具備する。図2Aに示される実施例では、排気流通路71i,71oは、上流端が開放されかつ下流端が栓73dにより閉塞された排気ガス流入通路71iと、上流端が栓73uにより閉塞されかつ下流端が開放された排気ガス流出通路71oとにより構成される。なお、図2Aにおいてハッチングを付した部分は栓73uを示している。したがって、排気ガス流入通路71i及び排気ガス流出通路71oは薄肉の隔壁72を介して交互に配置される。云い換えると排気ガス流入通路71i及び排気ガス流出通路71oは各排気ガス流入通路71iが4つの排気ガス流出通路71oによって包囲され、各排気ガス流出通路71oが4つの排気ガス流入通路71iによって包囲されるように配置される。別の実施例では、排気流通路は、上流端及び下流端が開放された排気ガス流入通路と、上流端が栓により閉塞されかつ下流端が開放された排気ガス流出通路とにより構成される。
図2Bに示されるように、隔壁72には、コート領域CZと、コート領域CZの下流側に位置する非コート領域NCZとが区画される。図3に示されるように、コート領域CZでは、隔壁72の基材72sの表面がコート層75により覆われる。これに対し、非コート領域NCZでは、隔壁基材72sの表面が上述のコート層75により覆われていない。
図3に示される実施例では、コート層75が排気ガス流入通路71iに対面する隔壁基材72sの一表面に設けられる。別の実施例では、コート層75が排気ガス流出通路71oに対面する隔壁基材72sの一表面に設けられる。更に別の実施例では、コート層75が排気ガス流入通路71i及び排気ガス流出通路71oに対面する隔壁基材72sの両表面に設けられる。
また、図3に示される実施例では、コート領域CZにおける隔壁基材72sが非コート領域NCZにおける隔壁基材72sよりも薄くなっており、コート領域CZにおける隔壁72の厚さと非コート領域NCZにおける隔壁72の厚さとが互いにほぼ等しくなっている。したがって、コート領域CZにおける排気ガス流入通路と71iの流路面積と、非コート領域NCZにおける排気ガス流入通路と71iの流路面積とが互いにほぼ等しくなっている。別の実施例では、コート領域CZにおける隔壁基材72sの厚さと非コート領域NCZにおける隔壁基材72sの厚さとがほぼ等しくなっており、コート領域CZにおける排気ガス流入通路71iの流路面積が非コート領域NCZにおける排気ガス流入通路と71iの流路面積よりも、コート層75の分だけ小さくなっている。
更に、図2Bに示される実施例では、コート領域CZの上流縁は隔壁72の上流端にほぼ一致している。別の実施例では、コート領域CZの上流縁は隔壁72の上流端よりも下流側に位置する。また、図2Bに示される実施例では、非コート領域NCZの下流縁は隔壁72の下流端にほぼ一致している。別の実施例では、非コート領域NCZの下流縁は隔壁72の下流端よりも上流側に位置する。コート領域CZの長手方向長さはパティキュレートフィルタ24の長手方向長さの例えば50%から90%に設定される。
隔壁基材72sは多孔質材料、例えばコージェライト、炭化ケイ素、窒化ケイ素、ジルコニア、チタニア、アルミナ、シリカ、ムライト、リチウムアルミニウムシリケート、リン酸ジルコニウムのようなセラミックから形成される。
一方、コート層75は図4に示されるように多数の粒子76から形成され、粒子76同士の間に多数の隙間ないし細孔77を有する。したがって、コート層75は多孔性を有する。したがって、図2Bに矢印で示されるように、排気ガスはまず排気ガス流入通路71i内に流入し、次いで周囲の隔壁72内を通って隣接する排気ガス流出通路71o内に流出する。
図4に示される実施例では、粒子76は酸化機能を有する金属から構成される。酸化機能を有する金属として、白金Pt、ロジウムRh、パラジウムPdのような白金族の金属を用いることができる。別の実施例では、粒子76は隔壁基材72sと同様のセラミックから構成される。更に別の実施例では、粒子76はセラミック及び金属の一方又は両方から構成される。
隔壁基材72sの平均細孔径は25μm以上かつ50μm以下に設定される。隔壁基材72sの平均細孔径が25μm以上であると、排気ガス中に含まれるアッシュの大部分が隔壁72を通過できる。したがって、言い換えると、非コート領域NCZにおいて排気ガス中に含まれるアッシュが隔壁72を通過できるように隔壁72の細孔径が設定される。なお、粒子状物質の平均粒径がアッシュの平均粒径よりも小さいことを考えると、非コート領域NCZにおいて粒子状物質及びアッシュが隔壁72を通過できるように隔壁72の細孔径が設定されるという見方もできる。一方、隔壁基材72sの平均細孔径が50μm以下であると、隔壁72の機械的強度を確保することができる。
コート層75の平均細孔径は隔壁基材72sの平均細孔径よりも小さく設定される。具体的には、コート層75の平均細孔径は、コート層75が排気ガス中に含まれる粒子状物質を捕集できるように設定される。更に、粒子76(二次粒子)の平均径は1μm以上かつ10μm以下に設定される。粒子76の平均径が1μmよりも小さいと、コート層75を通過する粒子状物質の量が許容量よりも多くなる。また、粒子76の平均径が10μmよりも大きいと、パティキュレートフィルタ24ないしコート層75の圧力損失が許容値よりも大きくなる。
さて、排気ガス中には主として固体炭素から形成される粒子状物質が含まれている。この粒子状物質はパティキュレートフィルタ24上に捕集される。
また、排気ガス中にはアッシュも含まれており、このアッシュも粒子状物質と共にパティキュレートフィルタ24に捕集される。このアッシュは主として硫酸カルシウムCaSO、リン酸亜鉛カルシウムCa19Zn(PO14のようなカルシウム塩から形成されることが本願発明者により確認されている。カルシウムCa,亜鉛Zn,リンP等は機関潤滑油に由来し、イオウSは燃料に由来する。すなわち、硫酸カルシウムCaSOを例にとって説明すると、機関潤滑油が燃焼室2内に流入して燃焼し、潤滑油中のカルシウムCaが燃料中のイオウSと結合することにより硫酸カルシウムCaSOが生成される。
本願発明者らによれば、平均細孔径が10μmから25μm程度でコート層75を備えていない従来のパティキュレートフィルタ、言い換えるとアッシュがほとんど通過できないパティキュレートフィルタを機関排気通路内に配置した場合、粒子状物質は隔壁72の下流側部分よりも隔壁72の上流側部分に堆積する傾向にあり、アッシュは隔壁72の上流側部分よりも隔壁72の下流側部分に堆積する傾向にあることが確認されている。
そこで、本発明による実施例では、隔壁72の上流側にコート領域CZを設け、隔壁72の下流側に非コート領域NCZを設けている。その結果、粒子状物質が上流側のコート領域CZにおいてコート層75に捕集され、アッシュが下流側の非コート領域NCZにおいて隔壁72を通過する。したがって、粒子状物質がパティキュレートフィルタ24を通過するのを抑制しつつ、アッシュがパティキュレートフィルタ24に堆積するのを抑制することができる。言い換えると、粒子状物質を確実に捕集しつつパティキュレートフィルタ24の圧力損失がアッシュにより増大するのを抑制することができる。
燃焼室2では酸素過剰のもとで燃焼が行われている。したがって、燃料噴射弁3及び燃料添加弁27から燃料が2次的に供給されない限り、パティキュレートフィルタ24は酸化雰囲気にある。また、コート層75は酸化機能を有する金属から構成される。その結果、コート層75に捕集された粒子状物質は順次酸化される。ところが、単位時間当たりに捕集される粒子状物質の量が単位時間当たりに酸化される粒子状物質の量よりも多くなると、パティキュレートフィルタ24上に捕集されている粒子状物質の量が期間運転時間の経過と共に増大する。
図5Aから図5Eは、パティキュレートフィルタ24上に捕集されている粒子状物質の量が機関運転時間の経過と共に増大する場合における、パティキュレートフィルタ24の捕集メカニズムを示している。
機関運転時間が短いときすなわち機関運転の初期には、図5Aに示されるように、粒子状物質80は主として、コート領域CZにおいてコート層75の細孔内に捕集される。この場合、粒子状物質は非コート領域NCZまでほとんど到達しない。なお、機関運転時間がゼロの状態はパティキュレートフィルタ24が未使用の状態に相当する。機関運転時間が経過するにつれて、コート層75の細孔内に捕集されている粒子状物質の量が増大する。
機関運転時間が更に経過したときには、図5Bに示されるように、粒子状物質80は主として、コート層75の表面上に細孔内に捕集される。機関運転時間が更に経過するにつれて、コート層75の表面上に捕集されている粒子状物質の量が増大する。
機関運転時間が更に経過したときには、図5Cに示されるように、粒子状物質80が非コート領域NCZに到達し、隔壁72を通過するようになる。このとき、コート領域CZに捕集されている粒子状物質の量はほとんど増大しない。
機関運転時間が更に経過したときには、非コート領域NCZに到達した粒子状物質の一部が隔壁72の細孔内壁面に衝突し、隔壁72の細孔内に捕集されるようになる。すなわち、図5Dに示されるように、粒子状物質80は主として、非コート領域NCZにおいて隔壁72の細孔内に捕集される。機関運転時間が更に経過するにつれて、非コート領域NCZにおける隔壁72の細孔内に捕集されている粒子状物質の量が増大する。
機関運転時間が更に経過したときには、図5Eに示されるように、粒子状物質80が主として、非コート領域NCZにおける隔壁72の表面上に捕集される。機関運転時間が更に経過するにつれて、非コート領域NCZにおける隔壁72の表面上に捕集されている粒子状物質の量が増大する。
図6は、このようなパティキュレートフィルタ24の粒子状物質捕集率TRをパティキュレートフィルタ24の圧力差PDの関数として示したものである。圧力差PDはパティキュレートフィルタ24の圧力損失を表しており、圧力差センサ26(図1)により検出される。あるいは、圧力差PDはパティキュレートフィルタ24上に捕集されている粒子状物質の量を表している。更に、圧力差PDは機関運転時間を表している。一方、粒子状物質捕集率TRは、単位時間当たりにパティキュレートフィルタ24に流入した粒子状物質の量qPMi及び単位時間当たりにパティキュレートフィルタ24から流出した粒子状物質の量qPMoを用いて次式(1)で表される。
TR=(qPMi−qPMo)/qPMi (1)
圧力差PDが小さいときには、図6にX1で示されるように、粒子状物質捕集率TRは圧力差PDの増大にかかわらずほぼ一定に維持されるか又は圧力差PDが増大するにつれて増大する。これは、粒子状物質が主としてコート層75の細孔内又は表面上に捕集されるからである(図5A、図5B参照)。
圧力差PDが更に増大したときには、図6にX2で示されるように、粒子状物質捕集率TRは圧力差PDが増大するにつれて低下する。これは、粒子状物質が主として非コート領域NCZにおいて隔壁72を通過するからである(図5C参照)。
圧力差PDが更に増大したときには、図6にX3で示されるように、粒子状物質捕集率TRは圧力差PDが増大するにつれて極小値MNTRを経て増大する。これは、粒子状物質が主として非コート領域NCZにおいて隔壁72の細孔内に捕集されるからである(図5D参照)。
圧力差PDが更に増大したときには、図6にX4で示されるように、粒子状物質捕集率TRは圧力差PDの増大にかかわらずほぼ一定に維持されるか又は圧力差PDが増大するにつれて増大する。これは、粒子状物質が主として非コート領域NCZにおいて隔壁72の表面上に捕集されるからである(図5E参照)。
したがって、パティキュレートフィルタ24は、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が、パティキュレートフィルタの圧力損失が小さいときにはパティキュレートフィルタの圧力損失の増大に関わらずほぼ一定に維持されるか又はパティキュレートフィルタの圧力損失が増大するにつれて増大し、パティキュレートフィルタの圧力損失が更に増大したときにはパティキュレートフィルタの圧力損失が増大するにつれて低下する、パティキュレートフィルタから構成されるということになる。あるいは、パティキュレートフィルタ24は、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が、パティキュレートフィルタの圧力損失が小さいときにはパティキュレートフィルタの圧力損失の増大に関わらずほぼ一定に維持されるか又はパティキュレートフィルタの圧力損失が増大するにつれて増大し、パティキュレートフィルタの圧力損失が更に増大したときにはパティキュレートフィルタの圧力損失が増大するにつれて低下し極小値MNTRを経て増大する、パティキュレートフィルタから構成される。
更に図6を参照すると、圧力差PDがしきい値PD1よりも小さいときには、粒子状物質捕集率TRは許容下限値LTRよりも高く維持される。圧力差PDがしきい値PD1よりも大きくなると、粒子状物質捕集率TRは許容下限値LTRを越えて低下する。次いで、圧力差PDがしきい値PD2よりも大きくなると、許容下限値LTRを越えて増大し、許容下限値LTRよりも高く維持される。
したがって、パティキュレートフィルタ24は、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が、パティキュレートフィルタの圧力損失が小さいときにはパティキュレートフィルタの圧力損失の増大に関わらず許容下限値よりも高く維持され、パティキュレートフィルタの圧力損失が更に増大したときにはパティキュレートフィルタの圧力損失が増大するにつれて低下し許容下限値を越えて低下する、パティキュレートフィルタから構成される。あるいは、パティキュレートフィルタ24は、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が、パティキュレートフィルタの圧力損失が小さいときにはパティキュレートフィルタの圧力損失の増大に関わらず許容下限値LTRよりも高く維持され、パティキュレートフィルタの圧力損失が更に増大したときにはパティキュレートフィルタの圧力損失が増大するにつれて低下し許容下限値LTRを越えて低下し、パティキュレートフィルタの圧力損失が更に増大したときにはパティキュレートフィルタの圧力損失が増大するにつれて増大し許容下限値LTRを越えて増大する、パティキュレートフィルタから構成される。
図7は、パティキュレートフィルタ24の圧力差PD及び圧力差PDの変化率CRPDをパティキュレートフィルタ24に捕集されている粒子状物質の量QPMの関数として示したものである。粒子状物質捕集量QPMは機関運転時間を表している。なお、図7において、実線は本発明による実施例の場合を示しており、破線は上述した従来のパティキュレートフィルタの場合を示している。
粒子状物質捕集量QPMが少ないときには、図7にY1で示されるように、圧力差PDは比較的急激に増大する。したがって、図7にZ1で示されるように、粒子状物質捕集量QPMの増大に関わらずほぼ一定に維持されるか又は粒子状物質捕集量QPMが増大するにつれて増大する。これは、粒子状物質が主としてコート層75の細孔内に捕集されるからである(図5A参照)。
粒子状物質捕集量QPMが更に増大したときには、図7にY2で示されるように、圧力差PDは比較的緩やかに増大する。したがって、図7にZ2で示されるように、圧力差変化率CRPDは粒子状物質捕集量QPMが増大するにつれて減少する。これは、粒子状物質が主としてコート層75の表面上に捕集されるからである(図5B参照)。
粒子状物質捕集量QPMが更に増大したときには、図7にY3で示されるように、圧力差PDは比較的急激に増大する。したがって、図7にZ3で示されるように、粒子状物質捕集量QPMが増大するにつれて極小値MNCRを経て増大する。これは、粒子状物質が主として非コート領域NCZにおいて隔壁72の細孔内に捕集されるからである(図5D参照)。
粒子状物質捕集量QPMが更に増大したときには、図7にY4で示されるように、圧力差PDは比較的緩やかに増大する。したがって、図7にZ4で示されるように、圧力差変化率CRPDは粒子状物質捕集量QPMが増大するにつれて極大値MXCRを経て減少し、次いでほぼ一定に維持される。これは、粒子状物質が主として非コート領域NCZにおいて隔壁72の表面上に捕集されるからである(図5E参照)。
したがって、パティキュレートフィルタ24は、パティキュレートフィルタ上の粒子状物質捕集量に対するパティキュレートフィルタの圧力損失の変化率が、粒子状物質捕集量が少ないときには粒子状物質捕集量の増大に関わらずほぼ一定に維持されるか又は粒子状物質捕集量が増大するにつれて増大し、粒子状物質捕集量が更に増大したときには粒子状物質捕集量が増大するにつれて減少し極小値を経て増大する、パティキュレートフィルタから構成されるということにもなる。あるいは、パティキュレートフィルタ24は、パティキュレートフィルタ上の粒子状物質捕集量に対するパティキュレートフィルタの圧力損失の変化率が、粒子状物質捕集量が少ないときには粒子状物質捕集量の増大に関わらずほぼ一定に維持されるか又は粒子状物質捕集量が増大するにつれて増大し、粒子状物質捕集量が更に増大したときには粒子状物質捕集量が増大するにつれて減少し極小値を経て増大し、粒子状物質捕集量が更に増大したときには極大値を経て減少し、次いでほぼ一定に維持される、パティキュレートフィルタから構成される。
これに対し、図7に破線で示される従来のパティキュレートフィルタの場合、圧力差変化率CRPDに極小値及び極大値は発生しない。
さて、図6を参照して説明したように、圧力差PDがしきい値ないし許容上限値PD1よりも大きくなると粒子状物質捕集率TRが許容下限値LTRよりも低くなる。すなわち、パティキュレートフィルタ24を通過する粒子状物質の量が好ましくなく多くなる。許容上限値PD1は例えば実験によりあらかじめ求めることができる。
一方、酸化雰囲気のもとでパティキュレートフィルタ24の温度を上昇させると、パティキュレートフィルタ24に捕集されている粒子状物質が酸化され、除去される。
そこで本発明による実施例では、圧力差PDがしきい値PD1よりも大きくなったときに、パティキュレートフィルタ24上の粒子状物質を除去するPM除去処理を行うようにしている。その結果、粒子状物質が非コート領域NCZにおいて隔壁72を通過し始める前に、パティキュレートフィルタ24、特にコート領域CZから粒子状物質が除去される。したがって、粒子状物質が非コート領域NCZに到達するのが抑制され、粒子状物質が非コート領域NCZおいて隔壁72を通過するのが抑制される。
本発明による実施例では、PM除去処理は、粒子状物質を酸化除去するためにパティキュレートフィルタ24の温度をPM除去温度まで上昇させる昇温処理から構成される。別の実施例では、PM除去処理は、粒子状物質をNOxにより酸化除去するために、パティキュレートフィルタ24に流入する排気ガス中のNOx量を増大させるNOx増大処理から構成される。NOx量を増大させるために例えばEGRガス量が減少される。更に別の実施例では、PM除去処理は、粒子状物質をオゾンにより酸化除去するために、パティキュレートフィルタ24上流の排気通路に連結されたオゾン供給器からオゾンをパティキュレートフィルタ24に供給するオゾン供給処理から構成される。
図8は本発明による実施例の排気浄化制御を実行するルーチンを示している。図8を参照すると、ステップ101ではパティキュレートフィルタ24の圧力差PDが検出される。続くステップ102では圧力差PDが許容上限値PD1よりも大きいか否かが判別される。PD≦PD1のときには処理サイクルを終了する。PD>PD1のときにはステップ103に進み、PM除去処理が実行される。
図9は本発明による実施例のPM除去処理を実行するルーチンを示している。図9を参照すると、ステップ201では目標温度TTFがあらかじめ定められたPM処理温度TPMに設定される。PM処理温度TPMは例えば600℃である。続くステップ202では、パティキュレートフィルタ24の温度TFを目標温度TTFまで上昇し維持する昇温制御が行われる。パティキュレートフィルタ24の温度を上昇させるために、一実施例では、燃料添加弁27から添加された燃料が排気通路又はパティキュレートフィルタ24で燃焼される。別の実施例では、燃料噴射弁3から2次的に噴射された燃料が燃焼室2、排気通路、又はパティキュレートフィルタ24で燃焼される。
続くステップ203では昇温制御ないしPM除去処理を終了すべきか否かが判別される。本発明による実施例では、パティキュレートフィルタ24に捕集されている粒子状物質の量が求められ、求められた粒子状物質捕集量がしきい値まで減少されたときにPM除去処理を終了すべきと判別される。粒子状物質捕集量は、一実施例では、単位時間当たりに増大する粒子状物質捕集量の増大分と単位時間当たりに減少する粒子状物質捕集量の減少分とを機関運転状態に基づきそれぞれ求め、増大分及び減少分の合計を積算して得られるカウンタ値により表される。別の実施例では、パティキュレートフィルタ24の圧力差PDによって粒子状物質捕集量が表される。PM除去処理を終了すべきときでないときにはステップ202に戻り、昇温制御が継続される。PM除去処理を終了すべきときには処理サイクルを終了する。したがって、昇温制御が終了される。
本発明による実施例では、非コート領域NCZにコート層が設けられていない。別の実施例では、非コート領域NCZに、コート層75とは異なる別のコート層が設けられる。この場合、非コート領域NCZにおける隔壁72の平均細孔径は別のコート層が設けられた状態において、25μm以上50μm以下に設定される。別のコート層は例えば酸化機能を有する金属を担持した触媒コート層から形成される。その結果、非コート領域NCZに到達した粒子状物質を容易に酸化除去することができる。
また、本発明による実施例では、コート層75は排気ガス流れ方向にわたりほぼ均一の厚さになっている。別の実施例では、コート層75は下流端に向かうにつれて薄くなっている。このようにすると、コート層75に起因する圧力損失の増大を抑制しつつ、粒子状物質を確実に捕集することができる。
次に、本発明による別の実施例を説明する。
図7を参照して説明したように、圧力差変化率PDが極小値MNCRを経て増大したときには、粒子状物質が主として非コート領域NCZにおいて隔壁72の細孔内に捕集される(図5D参照)。このとき、粒子状物質の一部は非コート領域NCZにおいて隔壁72を通過するおそれがある。
そこで本発明による別の実施例では、圧力差変化率CRPDを繰り返し求め、圧力差変化率CRPDに極小値MNCRが発生したときにPM除去処理を行うようにしている。その結果、粒子状物質が非コート領域NCZおいて隔壁72を通過するのが抑制される。
図10は本発明による別の実施例の排気浄化制御を実行するルーチンを示している。図10を参照すると、ステップ111ではパティキュレートフィルタ24の圧力差PDが検出される。続くステップ112では圧力差変化率CRPDが算出される。続くステップ113では圧力差変化率CRPDに極小値MNCRが発生したか否かが判別される。圧力差変化率CRPDに極小値MNCRが発生していないときには処理サイクルを終了する。圧力差変化率CRPDに極小値MNCRが発生したときにはステップ114に進み、PM除去処理が実行される。
本発明による別の実施例の他の構成及び作用は本発明による実施例の構成及び作用と同様であるので説明を省略する。
次に、本発明による更に別の実施例を説明する。本発明による更に別の実施例では、図11に示されるように、パティキュレートフィルタ24下流の排気管23に、流入する排気ガス中の粒子状物質の量を検出するための粒子状物質センサ51が取り付けられる。
また、本発明による更に別の実施例では、パティキュレートフィルタ24に流入した粒子状物質の量が求められ、パティキュレートフィルタ24から流出した粒子状物質の量が求められ、これら求められた粒子状物質の量に基づいてパティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率TRが求められる。その上で、求められた粒子状物質捕集率TRが許容下限値LTRよりも低いか否かが判別され、粒子状物質捕集率TRが許容下限値LTRよりも低いと判別されたときにPM除去処理が行われる。
具体的には、単位時間当たりにパティキュレートフィルタ24に流入した粒子状物質の量qPMiが機関運転状態に基づいて算出される。すなわち、粒子状物質流入量qPMiは機関負荷を表す燃料噴射量QF及び機関回転数Neの関数として図12に示されるマップの形であらかじめROM32内に記憶されており、このマップを用いて算出される。別の実施例では、パティキュレートフィルタ24上流の排気通路に取り付けられた追加の粒子状物質センサにより粒子状物質流入量qPMiが検出される。また、単位時間当たりにパティキュレートフィルタ24から流出した粒子状物質の量qPMoが粒子状物質センサ51により検出される。更に、上述の式(1)を用いて粒子状物質捕集率TRが算出される。
図13は本発明による更に別の実施例の排気浄化制御を実行するルーチンを示している。図13を参照すると、ステップ121では粒子状物質流入量qPMiが図12のマップを用いて算出される。続くステップ122では粒子状物質流出量qPMoが粒子状物質センサ51の出力から算出される。続くステップ123では粒子状物質捕集率TRが式(1)を用いて算出される。続くステップ124では、算出された粒子状物質捕集率TRが許容下限値LTRよりも低いか否かが判別される。TR≧LTRのときには処理サイクルを終了する。TR<LTRのときには次いでステップ125に進み、PM除去処理が実行される。
本発明による別の実施例の他の構成及び作用は本発明による実施例の構成及び作用と同様であるので説明を省略する。
したがって、これまで説明した本発明による実施例をまとめると、パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したか否かを判別する判別処理を行い、粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別されたときにPM除去処理を行うということになる。その上で、図8に示される実施例では、パティキュレートフィルタの圧力損失が検出され、検出された圧力損失が許容上限値を越えて増大したときに粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別される。図10に示される実施例では、パティキュレートフィルタ24上の粒子状物質捕集量に対するパティキュレートフィルタの圧力損失の変化率が求められると共に圧力損失の変化率に極小値が発生したか否かが判別され、前記圧力損失の変化率に極小値が発生したと判別されたときに粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別される。図13に示される実施例では、パティキュレートフィルタに流入した粒子状物質の量が求められ、パティキュレートフィルタから流出した粒子状物質の量が求められ、これら求められた粒子状物質の量に基づいてパティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が求められ、求められた粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したか否かが判別される。なお、電子制御ユニット30は判別処理及びPM除去処理を行うようにプログラムされている。
次に、PM除去処理の別の実施例を説明する。
図14において、実線はコート領域CZでの粒子状物質の酸化速度ORを、破線は非コート領域NCZでの粒子状物質の酸化速度ORを、それぞれ示している。図14からわかるように、パティキュレートフィルタ24の温度TFをPM除去温度TPMにすると、コート領域CZに捕集された粒子状物質を目標酸化速度TORで酸化除去することができる。
一方、これまで説明した本発明による各実施例では、要するに、非コート領域NCZに到達する粒子状物質の量が多くなる前のタイミングでPM除去処理が行われる。したがって、この場合のPM除去処理は主として、コート領域CZに捕集された粒子状物質を除去するために行われる。そこで図9に示される実施例では、目標温度TTFがPM除去温度TPMに設定される。
ところが、上述のタイミングでPM除去処理を行ったとしても、非コート領域NCZにおいて粒子状物質が捕集される場合がある。しかも、PM除去温度TPMでもってPM除去処理が行われる限り、非コート領域NCZに捕集された粒子状物質を速やかに除去するのは困難である。その結果、非コート領域NCZに捕集されている粒子状物質の量が多くなり、アッシュが非コート領域NCZにおいて隔壁72を通過するのが困難になるおそれがある。
そこで、PM除去処理の別の実施例では、非コート領域NCZに捕集されている粒子状物質の量QPMNCZを求め、非コート領域NCZの粒子状物質捕集量QPMNCZが許容上限量UPMNCZよりも多いときにPM除去処理を行うときには、目標温度TTFがPM除去温度TPMよりも高く設定された温度TPMRに設定される。その結果、非コート領域NCZに捕集された粒子状物質が速やかにかつ確実に除去される。したがって、アッシュが非コート領域NCZにおいて隔壁72を確実に通過することができる。
すなわち、図15にW1,W2で示されるように、非コート領域NCZの粒子状物質捕集量QPMNCZが許容上限量UPMNCZよりも少ないときには、PM除去処理においてパティキュレートフィルタ24の温度TFがPM除去温度TPMまで上昇される。これに対し、非コート領域NCZの粒子状物質捕集量QPMNCZが許容上限量UPMNCZよりも多いときには、図15にW3で示されるように、PM除去処理においてパティキュレートフィルタ24の温度TFが上昇されたPM除去温度TPMRまで上昇される。その結果、非コート領域NCZの粒子状物質捕集量QPMNCZが速やかに減少される。
非コート領域NCZの粒子状物質捕集量QPMNCZは、一実施例では、パティキュレートフィルタ24に流入する粒子状物質の量と、非コート領域NCZの粒子状物質捕集効率とから求められる。パティキュレートフィルタ24への粒子状物質流入量及び非コート領域NCZの粒子状物質捕集効率はそれぞれ、例えば機関運転状態の関数としてあらかじめマップの形で求められ、ROM32内に記憶される。別の実施例では、粒子状物質捕集量QPMNCZは非コート領域NCZにおける粒子状物質の捕集作用をモデル化したモデル式を用いて算出される。
図16は本発明による実施例のPM除去処理を実行するルーチンを示している。図16を参照すると、ステップ211では、非コート領域NCZの粒子状物質捕集量QPMNCZが読み込まれる。粒子状物質捕集量QPMNCZは例えば図示しないルーチンで算出されている。続くステップ212では粒子状物質捕集量QPMNCZが許容上限量UPMNCZよりも多いか否かが判別される。QPMNCZ>UPMNCZのときには次いでステップ213に進み、目標温度TTFが上昇されたPM処理温度TPMRに設定される。次いでステップ215に進む。これに対し、QPMNCZ≦UPMNCZのときには次いでステップ214に進み、目標温度TTFがPM処理温度TPMに設定される。次いでステップ215に進む。ステップ215では、パティキュレートフィルタ24の温度TFを目標温度TTFまで上昇し維持する昇温制御が行われる。続くステップ216では昇温制御ないしPM除去処理を終了すべきか否かが判別される。PM除去処理を終了すべきときでないときにはステップ215に戻り、昇温制御が継続される。PM除去処理を終了すべきときには処理サイクルを終了する。
1 機関本体
21 排気管
24 パティキュレートフィルタ
71i 排気ガス流入通路
71o 排気ガス流出通路
72 隔壁
75 コート層
CZ コート領域
NCZ 非コート領域

Claims (5)

  1. 機関排気通路内に配置された、排気ガス中に含まれる粒子状物質を捕集するためのパティキュレートフィルタであって、交互に配置された排気ガス流入通路及び排気ガス流出通路と、これら排気ガス流入通路及び排気ガス流出通路を互いに隔てる多孔性の隔壁とを備え、隔壁に、平均細孔径が隔壁基材の平均細孔径よりも小さいコート層により基材表面が覆われたコート領域と、コート領域の下流側において基材表面が前記コート層により覆われていない非コート領域とが区画され、非コート領域において排気ガス中に含まれるアッシュが隔壁を通過できるように隔壁の細孔径が設定されている、パティキュレートフィルタと、
    パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したか否かを判別する判別処理を行う判別手段と、
    パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別されたときに、パティキュレートフィルタから粒子状物質を除去するPM除去処理を行うPM除去手段と、
    を具備した内燃機関の排気浄化装置。
  2. 排気通路内に配置された、排気ガス中に含まれる粒子状物質を捕集するためのパティキュレートフィルタであって、パティキュレートフィルタ上の粒子状物質捕集量に対するパティキュレートフィルタの圧力損失の変化率が、粒子状物質捕集量が少ないときには粒子状物質捕集量の増大に関わらずほぼ一定に維持されるか又は粒子状物質捕集量が増大するにつれて増大し、粒子状物質捕集量が更に増大したときには粒子状物質捕集量が増大するにつれて減少し極小値を経て増大する、パティキュレートフィルタと、
    パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したか否かを判別する判別処理を行う判別手段と、
    パティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別されたときに、パティキュレートフィルタから粒子状物質を除去するPM除去処理を行うPM除去手段と、
    を具備した内燃機関の排気浄化装置。
  3. 前記判別手段は、パティキュレートフィルタの圧力損失を検出し、該検出された圧力損失が許容上限値を越えて増大したときに前記粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別する、請求項1又は2に記載の内燃機関の排気浄化装置。
  4. 前記判別手段は、パティキュレートフィルタ上の粒子状物質捕集量に対するパティキュレートフィルタの圧力損失の変化率を求めると共に該圧力損失の変化率に極小値が発生したか否かを判別し、前記圧力損失の変化率に極小値が発生したと判別されたときに粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したと判別する、請求項1又は2に記載の内燃機関の排気浄化装置。
  5. 前記判別手段は、パティキュレートフィルタに流入した粒子状物質の量を求め、パティキュレートフィルタから流出した粒子状物質の量を求め、これら求められた粒子状物質の量に基づいてパティキュレートフィルタの粒子状物質捕集率を求め、該求められた粒子状物質捕集率が許容下限値を越えて低下したか否かを判別する、請求項1又は2に記載の内燃機関の排気浄化装置。
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