JP5753255B2 - 集積回路のための過電圧保護回路 - Google Patents
集積回路のための過電圧保護回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5753255B2 JP5753255B2 JP2013509076A JP2013509076A JP5753255B2 JP 5753255 B2 JP5753255 B2 JP 5753255B2 JP 2013509076 A JP2013509076 A JP 2013509076A JP 2013509076 A JP2013509076 A JP 2013509076A JP 5753255 B2 JP5753255 B2 JP 5753255B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- coupled
- terminal
- voltage
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D89/00—Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
- H10D89/60—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD]
- H10D89/601—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs
- H10D89/811—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs using FETs as protective elements
- H10D89/819—Bias arrangements for gate electrodes of FETs, e.g. RC networks or voltage partitioning circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D89/00—Aspects of integrated devices not covered by groups H10D84/00 - H10D88/00
- H10D89/60—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD]
- H10D89/601—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs
- H10D89/921—Integrated devices comprising arrangements for electrical or thermal protection, e.g. protection circuits against electrostatic discharge [ESD] for devices having insulated gate electrodes, e.g. for IGFETs or IGBTs characterised by the configuration of the interconnections connecting the protective arrangements, e.g. ESD buses
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
さらに、本明細書において使用される場合、「1つ(a または an)」という用語は、1つまたは2つ以上として定義される。さらに、特許請求の範囲における「少なくとも1つの」および「1つまたは複数の」のような前置きの語句の使用は、不定冠詞「1つの(a または an)」による別の請求項要素の導入が、このように導入された請求項要素を含む任意の特定の請求項を、たとえ同じ請求項が前置きの語句「1つまたは複数の」または「少なくとも1つの」および「1つの (a または an)」のような不定冠詞を含む場合であっても、1つだけのこのような要素を含む発明に限定することを暗示するように解釈されるべきではない。同じことが、定冠詞の使用についても当てはまる。
Claims (20)
- 過電圧保護回路であって、
過電圧事象中に比較的一定である基準電圧を提供するための基準電圧生成器と、
前記基準電圧および第1の電源電圧を受け取るように結合されるトリガ回路であって、該トリガ回路は前記基準電圧を前記第1の電源電圧と比較するためのものであり、前記基準電圧よりも前記第1の電源電圧が高い旨の検出に応答して、該トリガ回路は、前記過電圧事象の電圧レベルに比例する電圧を有するトリガ信号を提供する、トリガ回路と、
第1の電源端子と第2の電源端子との間に結合されるクランプデバイスであって、該クランプデバイスは、前記トリガ信号に応答して前記第1の電源端子と前記第2の電源端子との間に電流路を提供するためのものである、クランプデバイスとを備える、過電圧保護回路。 - 前記過電圧事象は、給電される集積回路デバイスに対する過負荷電圧であることを特徴とする、
請求項1に記載の過電圧保護回路。 - 前記基準電圧生成器は、
前記第1の電源端子上の電圧信号内のトランジェントをフィルタリングするための第1のフィルタ回路と、
前記第1のフィルタ回路に結合されるタイマ回路であって、該タイマ回路は、前記基準電圧を所定の期間にわたって維持するためのものである、タイマ回路とを備える、
請求項1に記載の過電圧保護回路。 - 前記第1のフィルタ回路および前記タイマ回路は各々、抵抗−コンデンサ(RC)回路を備える、
請求項3に記載の過電圧保護回路。 - 前記タイマ回路は、
前記第1の電源端子に結合される第1の端子、および第2の端子を有する抵抗素子と、
前記抵抗素子の前記第2の端子に結合される第1の板電極、および前記第2の電源端子に結合される第2の板電極を有する容量性素子とを備える、
請求項3に記載の過電圧保護回路。 - 前記容量性素子の前記第1の板電極に結合される第1の電流電極、制御電極、および前記第2の電源端子に結合される第2の電流電極を有するトランジスタと、
前記過電圧事象を示す信号を受け取るように結合される入力、および前記トランジスタの前記制御電極に結合される出力を有するエッジ検出器であって、該エッジ検出器は前記所定の期間を開始するためのパルスを生成するためのものである、エッジ検出器とをさらに備える、
請求項5に記載の過電圧保護回路。 - 前記トリガ回路は、
第3の電源端子および第4の電源端子と、
前記第3の電源端子に結合される第1の板電極、および第2の板電極を有する容量性素子と、
前記容量性素子の前記第2の板電極に結合される第1の端子、および前記第4の電源端子に結合される第2の端子を有する抵抗素子と、
前記容量性素子の前記第1の板電極に結合される第1の電流電極、前記基準電圧を受け取るための制御電極、および、前記容量性素子の前記第2の板電極に結合される第2の電流電極を有するトランジスタと、
前記容量性素子の前記第2の板電極に結合される入力端子を有するインバータとを備える、
請求項1に記載の過電圧保護回路。 - 前記過電圧保護回路は、
複数の入出力パッドと、
複数のトリガ回路であって、該複数のトリガ回路の各々は、所定数の前記複数の入出力パッドに対応する、複数のトリガ回路とをさらに備える、
請求項1に記載の過電圧保護回路。 - 第2の電源電圧の漸増を検出するためのパワーオンリセット回路をさらに備え、該パワーオンリセット回路の出力信号と前記トリガ信号とに応答して、前記第1の電源端子と前記第2の電源端子との間の前記電流路を前記クランプデバイスが提供することが妨げられる、
請求項1に記載の過電圧保護回路。 - 過電圧保護回路であって、
第1の電源電圧のフィルタリングされた電圧である基準電圧を提供するための基準電圧生成器と、
前記基準電圧および第2の電源電圧を受け取るように結合されるトリガ回路であって、該トリガ回路は、前記基準電圧を前記第2の電源電圧と比較するためのものであり、前記基準電圧よりも前記第2の電源電圧が高い旨の検出に応答して、該トリガ回路は、過電圧事象の電圧レベルに比例する電圧を有するトリガ信号を提供する、トリガ回路と、
第1の電源端子に結合される第1の端子、第2の電源端子に結合される第2の端子、および前記トリガ信号を受け取るように結合される制御端子を有するクランプデバイスであって、該クランプデバイスは、前記トリガ信号に応答して前記第1の電源端子と前記第2の電源端子との間に電流路を提供するためのものである、クランプデバイスとを備える、過電圧保護回路。 - 前記基準電圧生成器は、
前記第1の電源電圧におけるトランジェントをフィルタリングするための抵抗−コンデンサ回路と、
前記抵抗−コンデンサ回路に結合されるタイマ回路であって、該タイマ回路は、前記基準電圧を所定の期間にわたって固定するためのものである、タイマ回路とを備える、
請求項10に記載の過電圧保護回路。 - 前記タイマ回路は、
前記第1の電源端子に結合される第1の端子、および第2の端子を有する抵抗素子と、
前記抵抗素子の前記第2の端子に結合される第1の板電極、および前記第2の電源端子に結合される第2の端子を有する容量性素子とを備える、
請求項11に記載の過電圧保護回路。 - 前記トリガ回路は、
第3の電源端子および第4の電源端子と、
前記第3の電源端子に結合される第1の板電極、および第2の板電極を有する容量性素子と、
前記容量性素子の前記第2の板電極に結合される第1の端子、および前記第4の電源端子に結合される第2の端子を有する抵抗素子と、
前記容量性素子の前記第1の板電極に結合される第1の電流電極、前記基準電圧を受け取るための制御電極、および、前記容量性素子の前記第2の板電極に結合される第2の電流電極を有するトランジスタと、
前記容量性素子の前記第2の板電極に結合される入力端子を有するインバータとを備える、請求項10に記載の過電圧保護回路。 - 前記過電圧保護回路は、
複数の入出力端子と、
複数のトリガ回路であって、該複数のトリガ回路の各々は、所定数の前記複数の入出力端子に対応する、複数のトリガ回路とをさらに備える、
請求項10に記載の過電圧保護回路。 - 前記第1の電源電圧の漸増を検出するためのパワーオンリセット回路をさらに備え、該パワーオンリセット回路の出力信号と前記トリガ信号とに応答して、前記第1の電源端子と前記第2の電源端子との間の前記電流路を前記クランプデバイスが提供することが妨げられる、
請求項10に記載の過電圧保護回路。 - 過電圧保護回路であって、
複数の入出力端子と、
複数のトリガ回路であって、該複数のトリガ回路の各々は、所定数の前記複数の入出力端子に対応し、該トリガ回路の各々は、基準電圧および第1の電源電圧を受け取るように結合され、該トリガ回路は、前記基準電圧を前記第1の電源電圧と比較するためのものであり、前記基準電圧よりも前記第1の電源電圧よりが高い旨の検出に応答して、該トリガ回路の各々は、過電圧事象の電圧レベルに比例する電圧を有するトリガ信号を提供する、複数のトリガ回路と、
複数のクランプデバイスであって、該複数のクランプデバイスの各々は、第1の電源端子に結合される第1の端子と、第2の電源端子に結合される第2の端子と、前記トリガ信号を受け取るように結合される制御端子とを有し、該複数のクランプデバイスは、前記トリガ信号に応答して前記第1の電源端子と前記第2の電源端子との間に電流路を提供するためのものである、複数のクランプデバイスとを備える、過電圧保護回路。 - 前記基準電圧を提供するための基準電圧生成器をさらに備え、前記基準電圧は、前記第1の電源端子上の電圧信号のフィルタリングされた電圧である、
請求項16に記載の過電圧保護回路。 - 前記基準電圧生成器は、
前記第1の電源端子上の前記電圧信号におけるトランジェントをフィルタリングするための抵抗−コンデンサ回路と、
前記抵抗−コンデンサ回路に結合されるタイマ回路であって、該タイマ回路は、前記基準電圧を所定の期間にわたって固定するためのものである、タイマ回路とを備える、
請求項17に記載の過電圧保護回路。 - 前記タイマ回路は、
前記第1の電源端子に結合される第1の端子、および第2の端子を有する抵抗素子と、
前記抵抗素子の前記第2の端子に結合される第1の板電極、および前記第2の電源端子に結合される第2の端子を有する容量性素子とを備える、
請求項18に記載の過電圧保護回路。 - 前記複数のトリガ回路の各々は、
第3の電源端子および第4の電源端子と、
前記第3の電源端子に結合される第1の板電極、および第2の板電極を有する容量性素子と、
前記容量性素子の前記第2の板電極に結合される第1の端子、および前記第4の電源端子に結合される第2の端子を有する抵抗素子と、
前記容量性素子の前記第1の板電極に結合される第1の電流電極、前記基準電圧を受け取るための制御電極、および、前記容量性素子の前記第2の板電極に結合される第2の電流電極を有するトランジスタと、
前記容量性素子の前記第2の板電極に結合される入力端子を有するインバータとを備える、
請求項16に記載の過電圧保護回路。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US12/772,769 US8456784B2 (en) | 2010-05-03 | 2010-05-03 | Overvoltage protection circuit for an integrated circuit |
| US12/772,769 | 2010-05-03 | ||
| PCT/US2011/031183 WO2011139459A2 (en) | 2010-05-03 | 2011-04-05 | Overvoltage protection circuit for an integrated circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2013526079A JP2013526079A (ja) | 2013-06-20 |
| JP5753255B2 true JP5753255B2 (ja) | 2015-07-22 |
Family
ID=44858078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013509076A Expired - Fee Related JP5753255B2 (ja) | 2010-05-03 | 2011-04-05 | 集積回路のための過電圧保護回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8456784B2 (ja) |
| EP (1) | EP2567435B1 (ja) |
| JP (1) | JP5753255B2 (ja) |
| CN (1) | CN102884697B (ja) |
| WO (1) | WO2011139459A2 (ja) |
Families Citing this family (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8373953B2 (en) * | 2008-12-29 | 2013-02-12 | Freescale Semiconductor, Inc. | Distribution of electrostatic discharge (ESD) circuitry within an integrated circuit |
| US8791679B2 (en) * | 2011-03-31 | 2014-07-29 | Fairchild Semiconductor Corporation | Self-sustaining, high voltage tolerant power supply |
| US8879220B2 (en) * | 2011-04-20 | 2014-11-04 | United Microelectronics Corp. | Electrostatic discharge protection circuit |
| US8982517B2 (en) * | 2012-02-02 | 2015-03-17 | Texas Instruments Incorporated | Electrostatic discharge protection apparatus |
| US8634500B2 (en) * | 2012-03-27 | 2014-01-21 | Oracle International Corporation | Direct feedback equalization with dynamic referencing |
| JP5942756B2 (ja) * | 2012-09-28 | 2016-06-29 | 株式会社ソシオネクスト | 保護回路、インタフェース回路、及び通信システム |
| US9042064B2 (en) | 2012-10-04 | 2015-05-26 | Qualcomm Incorporated | Electrostatic discharge protection for class D power amplifiers |
| US9438030B2 (en) * | 2012-11-20 | 2016-09-06 | Freescale Semiconductor, Inc. | Trigger circuit and method for improved transient immunity |
| US9640988B2 (en) | 2014-12-12 | 2017-05-02 | Globalfoundries Inc. | Comparative ESD power clamp |
| US10320185B2 (en) | 2016-09-22 | 2019-06-11 | Nxp Usa, Inc. | Integrated circuit with protection from transient electrical stress events and method therefor |
| US10074643B2 (en) * | 2016-09-22 | 2018-09-11 | Nxp Usa, Inc. | Integrated circuit with protection from transient electrical stress events and method therefor |
| US10317921B1 (en) * | 2018-04-13 | 2019-06-11 | Nxp Usa, Inc. | Effective clamping in power supplies |
| US10581423B1 (en) | 2018-08-17 | 2020-03-03 | Analog Devices Global Unlimited Company | Fault tolerant low leakage switch |
| US11088540B2 (en) * | 2018-10-30 | 2021-08-10 | Semiconductor Components Industries, Llc | Switch circuit with high voltage protection that reduces leakage currents |
| US11222889B2 (en) * | 2018-11-13 | 2022-01-11 | Western Digital Technologies, Inc. | Electrostatic discharge protection circuit |
| US11004843B2 (en) * | 2019-01-18 | 2021-05-11 | Nxp Usa, Inc. | Switch control circuit for a power switch with electrostatic discharge (ESD) protection |
| US11056879B2 (en) * | 2019-06-12 | 2021-07-06 | Nxp Usa, Inc. | Snapback clamps for ESD protection with voltage limited, centralized triggering scheme |
| CN111211673A (zh) * | 2020-01-10 | 2020-05-29 | 伟芯科技(绍兴)有限公司 | 一种esd电源保护钳位电路 |
| US10855277B1 (en) * | 2020-01-27 | 2020-12-01 | Qualcomm Incorporated | Mitigating reliability issues in a low-voltage reference buffer driven by a high-voltage circuit |
| US12243614B2 (en) * | 2022-10-17 | 2025-03-04 | Globalfoundries U.S. Inc. | Single ended sense amplifier with current pulse circuit |
| CN116567898B (zh) * | 2023-04-27 | 2025-07-25 | 广东沐光智能照明有限公司 | 轨道灯组件和轨道照明装置 |
| CN117081025A (zh) * | 2023-10-12 | 2023-11-17 | 芯耀辉科技有限公司 | 电源钳位保护电路和芯片 |
Family Cites Families (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03222516A (ja) * | 1990-01-29 | 1991-10-01 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
| US5255146A (en) * | 1991-08-29 | 1993-10-19 | National Semiconductor Corporation | Electrostatic discharge detection and clamp control circuit |
| US5508649A (en) * | 1994-07-21 | 1996-04-16 | National Semiconductor Corporation | Voltage level triggered ESD protection circuit |
| US5917689A (en) | 1996-09-12 | 1999-06-29 | Analog Devices, Inc. | General purpose EOS/ESD protection circuit for bipolar-CMOS and CMOS integrated circuits |
| US6400546B1 (en) * | 1999-09-02 | 2002-06-04 | Ati International Srl | I/O pad voltage protection circuit and method |
| US6385021B1 (en) | 2000-04-10 | 2002-05-07 | Motorola, Inc. | Electrostatic discharge (ESD) protection circuit |
| US6472927B1 (en) * | 2000-10-30 | 2002-10-29 | Hewlett-Packard Compnay | Circuit having increased noise immunity and capable of generating a reference voltage or terminating a transmission line |
| US6724601B2 (en) * | 2001-03-16 | 2004-04-20 | Integrated Device Technology, Inc. | ESD protection circuit |
| FR2831328A1 (fr) * | 2001-10-23 | 2003-04-25 | St Microelectronics Sa | Protection d'un circuit integre contre des decharges electrostatiques et autres surtensions |
| US6760209B1 (en) | 2002-05-16 | 2004-07-06 | Lattice Semiconductor Corporation | Electrostatic discharge protection circuit |
| US6724603B2 (en) | 2002-08-09 | 2004-04-20 | Motorola, Inc. | Electrostatic discharge protection circuitry and method of operation |
| US7187530B2 (en) * | 2002-12-27 | 2007-03-06 | T-Ram Semiconductor, Inc. | Electrostatic discharge protection circuit |
| US6970336B2 (en) * | 2003-10-10 | 2005-11-29 | Freescale Semiconductor, Inc. | Electrostatic discharge protection circuit and method of operation |
| US7245468B2 (en) | 2005-02-04 | 2007-07-17 | Agere Systems Inc. | Electro-static discharge (ESD) power clamp with power up detection |
| US7446990B2 (en) * | 2005-02-11 | 2008-11-04 | Freescale Semiconductor, Inc. | I/O cell ESD system |
| US7522395B1 (en) * | 2005-02-22 | 2009-04-21 | Integrated Device Technology, Inc. | Electrostatic discharge and electrical overstress protection circuit |
| US20070115600A1 (en) * | 2005-11-22 | 2007-05-24 | Lsi Logic Corporation | Apparatus and methods for improved circuit protection from EOS conditions during both powered off and powered on states |
| US7660086B2 (en) | 2006-06-08 | 2010-02-09 | Cypress Semiconductor Corporation | Programmable electrostatic discharge (ESD) protection device |
| US20080239599A1 (en) * | 2007-04-01 | 2008-10-02 | Yehuda Yizraeli | Clamping Voltage Events Such As ESD |
| JP2008283122A (ja) * | 2007-05-14 | 2008-11-20 | Nec Electronics Corp | ノイズ検出回路 |
| WO2009023099A2 (en) | 2007-08-10 | 2009-02-19 | Skyworks Solutions, Inc. | Power clamp for on-chip esd protection |
| US7777998B2 (en) | 2007-09-10 | 2010-08-17 | Freescale Semiconductor, Inc. | Electrostatic discharge circuit and method therefor |
| JP2009267072A (ja) | 2008-04-25 | 2009-11-12 | Hitachi Ltd | 保護回路 |
-
2010
- 2010-05-03 US US12/772,769 patent/US8456784B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-04-05 EP EP11777773.0A patent/EP2567435B1/en not_active Not-in-force
- 2011-04-05 CN CN201180022504.8A patent/CN102884697B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2011-04-05 WO PCT/US2011/031183 patent/WO2011139459A2/en not_active Ceased
- 2011-04-05 JP JP2013509076A patent/JP5753255B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20110267723A1 (en) | 2011-11-03 |
| JP2013526079A (ja) | 2013-06-20 |
| WO2011139459A2 (en) | 2011-11-10 |
| EP2567435B1 (en) | 2018-08-08 |
| EP2567435A2 (en) | 2013-03-13 |
| WO2011139459A3 (en) | 2011-12-22 |
| US8456784B2 (en) | 2013-06-04 |
| CN102884697B (zh) | 2015-02-04 |
| EP2567435A4 (en) | 2013-10-23 |
| CN102884697A (zh) | 2013-01-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5753255B2 (ja) | 集積回路のための過電圧保護回路 | |
| US9520716B2 (en) | Electrostatic protection circuit and semiconductor integrated circuit apparatus | |
| EP2937901B1 (en) | Electrostatic discharge protection circuit | |
| US9716382B2 (en) | Electrostatic protection circuit and semiconductor integrated circuit apparatus | |
| US9013845B1 (en) | High voltage RC-clamp for electrostatic discharge (ESD) protection | |
| US9548738B2 (en) | High voltage RC-clamp for electrostatic discharge (ESD) protection | |
| US10354991B2 (en) | Integrated circuit with protection from transient electrical stress events and method therefor | |
| US20080285199A1 (en) | Circuit Arrangement and Method For Protecting an Integrated Semiconductor Circuit | |
| US7394631B2 (en) | Electrostatic protection circuit | |
| CN104242282A (zh) | 静电保护电路 | |
| US10320185B2 (en) | Integrated circuit with protection from transient electrical stress events and method therefor | |
| CN103368158B (zh) | 用于使用高压设备来增强低压esd箝位的选择性电流泵浦 | |
| CN102204054B (zh) | 低电压静电放电保护 | |
| US9553446B2 (en) | Shared ESD circuitry | |
| US8958184B2 (en) | ESD protection devices and methods | |
| US8681461B2 (en) | Selective current pumping to enhance low-voltage ESD clamping using high voltage devices | |
| JP2018157217A (ja) | 静電気保護回路及び半導体集積回路装置 | |
| JP4957916B2 (ja) | 半導体素子駆動回路 | |
| JP2016528721A (ja) | 静電放電保護回路及び静電放電保護方法 | |
| JP6405986B2 (ja) | 静電気保護回路及び半導体集積回路装置 | |
| JP6384223B2 (ja) | 静電気保護回路および集積回路 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140326 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20141226 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150106 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150331 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150421 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150521 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5753255 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |