JP5732869B2 - 分光分析方法および分光分析用サンプリングユニット - Google Patents
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Description
20 試料載置部
30 試料プレート
40 ダクト
50 サンプリングプレート支持部
60 サンプリングプレート
61 反射板
62 有機高分子膜
70 試料
80 ポリ塩化ビニルと相溶したフタル酸エステル類
100 分析装置(正反射法)
101 分析装置(透過法)
110 分光器
120 試料室
130 赤外検出器
140 AD変換器
150 フーリエ変換処理
Claims (8)
- 試料を、第1の温度で加熱し、前記試料に含まれる特定物質以外の物質を蒸発させる工程と、
前記試料を前記第1の温度よりも高い第2の温度で加熱し、前記試料から特定物質の蒸気を発生させる工程と、
前記蒸気中に、電磁波を反射する反射部材に前記特定物質と相溶性のある有機高分子膜を成膜させたサンプリングプレートを曝露する工程と、
前記有機高分子膜に前記電磁波を照射し、前記反射部材から反射された反射スペクトルを測定する工程と、を有し、
前記特定物質は、フタル酸エステルであり、
前記第1の温度は80℃以上かつ200℃未満の温度範囲であり、
前記第2の温度は200℃以上かつ400℃以下の温度範囲であることを特徴とする分光分析方法。 - 試料を、第1の温度で加熱し、前記試料に含まれる特定物質以外の物質を蒸発させる工程と、
前記試料を前記第1の温度よりも高い第2の温度で加熱し、前記試料から特定物質の蒸気を発生させる工程と、
前記蒸気中に、電磁波を反射する反射部材に前記特定物質と相溶性のある有機高分子膜を成膜させたサンプリングプレートを曝露する工程と、
前記有機高分子膜を前記反射部材から剥離し、前記電磁波を照射して前記有機高分子膜を透過した透過スペクトルを測定する工程と、を有し、
前記特定物質は、フタル酸エステルであり、
前記第1の温度は80℃以上かつ200℃未満の温度範囲であり、
前記第2の温度は200℃以上かつ400℃以下の温度範囲であることを特徴とする分光分析方法。 - 前記有機高分子膜は、PMMA(Poly Menthyl Methacrylate) である、ことを特徴とする請求項1または請求項2のいずれか1項に記載の分光分析方法。
- 前記有機高分子膜は、ポリ塩化ビニルである、ことを特徴とする請求項1または請求項2のいずれか1項に記載の分光分析方法。
- 前記ポリ塩化ビニルの有機高分子膜の膜厚は、1μm以上かつ10μm以下であることを特徴とする請求項4に記載の分光分析方法。
- 前記試料の加熱に用いる第2の温度は、250℃以上かつ400℃以下の温度範囲であることを特徴とする請求項4または請求項5のいずれか1項に記載の分光分析方法。
- 前記蒸気雰囲気に前記有機高分子膜を曝すときの前記反射板の温度は、60℃から80℃の温度範囲にあることを特徴とする請求項3乃至6のいずれか1項に記載の分光分析方法。
- 特定物質を含有する試料を載置し、前記試料を第1の温度及び第2の温度で加熱する試料載置部と、
電磁波を反射する反射部材に、前記試料中に含まれる特定物質と相溶性のある有機高分子膜を生成したサンプリングプレートと、
前記試料の上方に配置され、前記有機高分子膜を下方に向けた前記サンプリングプレートを第3の温度に制御して支持するサンプリングプレート支持部と、
前記試料載置台上に載置された試料を囲んで配置され、前記試料から蒸発した特定物質を前記有機高分子膜に導くダクトと
を有し、
前記特定物質は、フタル酸エステルであり、
前記第1の温度は80℃以上かつ200℃未満の温度範囲であり、
前記第2の温度は200℃以上かつ400℃以下の温度範囲であり、
前記第3の温度は30℃以上かつ80℃以下であり、
前記有機高分子膜は、ポリ塩化ビニル又はPMMA(Poly Menthyl Methacrylate)である
ことを特徴とする分光分析用サンプリングユニット。
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