JP5647129B2 - 少なくとも2つのプロセッサコアを有する演算ユニットにおいてプロセッサコアを検査する方法及び装置 - Google Patents
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Description
しかしながら、この検査によっては、特定のエラー検出度しか保証されない。なぜならば、このような検査は、短時間しか演算ユニットを妨げてはならないからである。演算ユニットは、検査の後再び即時に制限なく利用される必要があるため、利用可能なテストパターン、及び、エラーカバレージも限定される。
Claims (14)
- 少なくとも2つのプロセッサコア(2、3)を有する演算ユニット(1)においてプロセッサコアを検査する方法であって、前記プロセッサコア(2、3)は内部接続システム(7)を介して互いに接続され、2つのプロセッサコア(2、3)は機械の動作シーケンスに寄与する、前記方法において、
第1のプロセッサコア(3)に対する検査が実施される間に、同時に第2のプロセッサコア(2)内で前記機械の前記動作シーケンスを実施するためのプログラムが実行され、前記検査のために、
前記第1のプロセッサコアのスキャンチェーンが、前記第1のプロセッサコアの内部のフリップフロップがシフトレジスタに接続されることによって形成され、
前記第2のプロセッサコアによって、メモリ(6)からテストデータがロードされ、
前記第1のプロセッサコア(3)の前記スキャンチェーンがアクセス可能であることによって、前記第2のプロセッサコア(2)により前記第1のプロセッサコア(3)がテストモードに切り替えられ、
前記第1のプロセッサコア(3)のための前記検査結果を提供するために、前記第2のプロセッサコア(2)を用いて、前記第1のプロセッサコア(3)の前記スキャンチェーンによって前記テストデータが読み出され、
前記第2のプロセッサコア(2)によって、前記第1のプロセッサコア(3)のために獲得された前記検査結果の妥当性が検査される、ことを特徴とする、方法。 - 1つのプロセッサから他のプロセッサコアに対して検査問合せが行なわれ、前記検査問合せに2つのプロセッサコア(2、3)が同意した後に、第1のプロセッサコア(3)はテストモードに置かれ、第2のプロセッサコア(2)は、第1のプロセッサコア(3)にテストデータを与え、前記検査の終了後に前記第1のプロセッサコア(3)の前記検査結果の正確性を検査することを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記検査問合せが周期的に行なわれることを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- 前記プロセッサコア(2)は、前記検査問合せへの2つのプロセッサコア(2、3)の前記同意を最初に確定する検査を起動することを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- 前記プロセッサコア(2)は、所定の時点に前記検査問合せに対する前記プロセッサコア(2、3)の前記応答を評価する検査を起動することを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- 前記テストデータが、前記プロセッサコア(2、3)を備える前記演算ユニット(1)の内部メモリ(6)から読み出されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記テストデータが、前記機械の他の制御装置から読み出されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記テストデータは、検査を実施するために変化することを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記第1のプロセッサコア(3)上での前記検査の間に、前記機械の前記動作シーケンスのために必要な前記プログラムのシーケンスの少なくとも一部が、前記第2のプロセッサコア(2)によって実行されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記第1のプロセッサコア(3)上での前記検査の間に前記第1のプロセッサコア(3)に対して宛てられる、前記機械の前記動作シーケンスからの命令シーケンスが前記メモリに格納されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記検査は、前記プロセッサコア(3)の所定のタイムスロットにおいて実施されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記タイムスロットは、時間駆動型プロセッサコア(3)において、前記プロセッサコア(3)のアイドル段階に設定されることを特徴とする、請求項11に記載の方法。
- 前記検査は、所定のイベントに続いて実施されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 少なくとも2つのプロセッサコア(2、3)を有する演算ユニット(1)においてプロセッサコアを検査する方法であって、前記プロセッサコア(2、3)は内部接続システム(7)を介して互いに接続され、2つのプロセッサコア(2、3)は車両の走行動作に寄与する、前記方法において、
第1のプロセッサコア(3)に対する検査が実施される間に、同時に第2のプロセッサコア(2)内で前記車両の前記走行動作を実施するためのプログラムが実行され、前記検査のために、
前記第1のプロセッサコアのスキャンチェーンが、前記第1のプロセッサコアの内部のフリップフロップがシフトレジスタに接続されることによって形成され、
前記第2のプロセッサコアによって、メモリ(6)からテストデータがロードされ、
前記第1のプロセッサコア(3)の前記スキャンチェーンがアクセス可能であることによって、前記第2のプロセッサコア(2)により前記第1のプロセッサコア(3)がテストモードに切り替えられ、
前記第1のプロセッサコア(3)のための前記検査結果を提供するために、前記第2のプロセッサコア(2)を用いて、前記第1のプロセッサコア(3)の前記スキャンチェーンによって前記テストデータが読み出され、
前記第2のプロセッサコア(2)によって、前記第1のプロセッサコア(3)のために獲得された前記検査結果の妥当性が検査される、方法。
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