JP5636921B2 - 分析支援装置、及びこの分析支援装置を備えた表面プラズモン共鳴蛍光分析装置 - Google Patents
分析支援装置、及びこの分析支援装置を備えた表面プラズモン共鳴蛍光分析装置 Download PDFInfo
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16 表示部
20 励起光出射部
32 光測定部
40 分析支援部(分析支援装置)
41 欠陥領域検出部
42 判断部
43 補正部
50 分析チップ
51 プリズム
55 金属膜
55a 金属膜の表面
α 励起光
Claims (6)
- 金属膜に生じさせる表面プラズモン共鳴を利用して検体の分析を行う分析装置において前記検体の分析を支援する装置であって、
前記金属膜において欠陥が生じている欠陥領域を検出する欠陥領域検出部と、
前記欠陥領域に関する値が所定の閾値未満の場合に前記金属膜が前記検体の分析に適すると判断してこの判断結果を外部に出力する一方、前記欠陥領域に関する値が前記所定の閾値以上の場合に前記金属膜が前記検体の分析に不適切であると判断してこの判断結果を外部に出力する判断部と、を備え、
前記欠陥領域検出部は、前記金属膜の表面の輝度分布から前記欠陥領域を検出するものであり、光が前記金属膜の表面に入射したときの当該金属膜の表面の輝度分布である第1の輝度分布と、前記表面プラズモン共鳴を生じさせるための励起光が前記金属膜の裏面に入射したときの当該金属膜の表面の輝度分布である第2の輝度分布とから前記欠陥領域を検出することを特徴とする分析支援装置。 - 前記金属膜の表面からの光を測定する分析装置の光測定部が出力する測定結果信号を補正する補正部をさらに備え、
前記補正部は、前記金属膜が検体の分析に適すると前記判断部が判断した場合に、前記欠陥領域検出部における欠陥領域の検出結果に応じて前記測定結果信号を補正することを特徴とする請求項1に載の分析支援装置。 - 前記補正部は、前記金属膜の表面における欠陥領域の面積に応じて前記測定結果信号を補正することを特徴とする請求項2に記載の分析支援装置。
- 表面プラズモン共鳴を利用して検体若しくは検体に付された蛍光物質を励起することによって前記検体の検出を行う表面プラズモン共鳴蛍光分析装置であって、
所定の面の面上に金属膜が形成されたプリズム内に励起光を入射させて当該励起光をプリズム側から前記金属膜で反射させる励起光出射部と、
前記金属膜のプリズムと反対側の面である表面からの光を測定し、この測定結果を測定結果信号として出力する光測定部と、
請求項1乃至3のいずれか1項に記載の分析支援装置と、を備えることを特徴とする表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 分析支援装置からの出力を受信してこれを表示する表示部を備えることを特徴とする請求項4に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
- 前記分析支援装置に接続される制御部を備え、
前記制御部は、前記分析支援装置において前記金属膜が検体の分析に不適切と判断された場合に、当該表面プラズモン共鳴蛍光分析装置での検体の分析を中止せる一方、前記分析支援装置において前記金属膜が検体の分析に適切と判断された場合に、前記励起光出射
部に励起光を出射させると共に前記光測定部により前記金属膜の表面側からの光を測定させることを特徴とする請求項4又は5に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
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