JP5447172B2 - 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 - Google Patents
表面プラズモン共鳴蛍光分析装置及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 Download PDFInfo
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Description
20 分析素子チップ
21 プリズム
23 反射面(所定の面)
25 金属薄膜
35 入射角情報(所定の面への光の入射角に関する情報)
40 光源
50 角度調整部(制御手段)
60 蛍光測定手段
70 試薬チップ
α 光
θ 入射角
θ5 電場最大角
Claims (6)
- 分析素子チップを用いることによって検体に含まれる蛍光物質が表面プラズモン共鳴に基づく電場により励起されて発した蛍光を測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置であって、
前記分析素子チップは、所定の面の面上に金属薄膜が形成されたプリズムと、前記プリズムの所定の面上に前記検体を流す流路を形成するための流路部材とを備え、前記プリズム内における前記所定の面への光の入射角に関する情報が搭載され、
前記所定の面で全反射されるように前記所定の面と異なる面からプリズム内に光を入射させる光源と、
前記分析素子チップに搭載された前記入射角に関する情報を取得する情報取得部と、
前記情報取得部が取得した前記入射角に関する情報に基づいて、前記金属薄膜の膜厚、前記金属薄膜の屈折率、前記金属薄膜の消衰係数、前記プリズムの屈折率、前記流路部材の屈折率、並びに前記所定の面へ入射する光の波長及び強度をパラメータとして演算して前記光源における光の射出方向を調整する制御手段とを備えること
を特徴とする表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 分析素子チップを用いることによって検体に含まれる蛍光物質が表面プラズモン共鳴に基づく電場により励起されて発した蛍光を測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置であって、
前記分析素子チップは、所定の面の面上に金属薄膜が形成されたプリズムと、前記プリズムの所定の面上に前記検体を流す流路を形成するための流路部材とを備え、前記プリズム内における前記所定の面への光の入射角に関する情報が搭載され、
前記分析素子チップを着脱できるように保持可能な保持部と、
前記保持部で保持された状態の分析素子チップに対し、前記所定の面で全反射されるように前記所定の面と異なる面からプリズム内に光を入射させる光源と、
前記分析素子チップに搭載された前記入射角に関する情報を取得する情報取得部と、
前記情報取得部が取得した前記入射角に関する情報に基づいて、前記金属薄膜の膜厚、前記金属薄膜の屈折率、前記金属薄膜の消衰係数、前記プリズムの屈折率、前記流路部材の屈折率、並びに前記所定の面へ入射する光の波長及び強度をパラメータとして演算して前記光源における光の射出方向を調整する制御手段とを備えること
を特徴とする表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記入射角に関する情報は、前記金属薄膜の膜厚であること
を特徴とする請求項1または請求項2に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記入射角に関する情報は、前記金属薄膜の屈折率、前記金属薄膜の消衰係数、前記プリズムの屈折率、前記流路部材の屈折率、並びに前記所定の面へ入射する光の波長及び強度であること
を特徴とする請求項1または請求項2に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記入射角に関する情報は、前記入射角の値であること
を特徴とする請求項1または請求項2に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 検体に含まれる蛍光物質が表面プラズモン共鳴に基づく電場により励起されて発した蛍光を測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析方法であって、
所定の面の面上に金属薄膜が形成されたプリズムと、前記プリズムの前記所定の面上に前記検体を流す流路を形成するための流路部材とを有し、前記プリズム内における前記所定の面への光の入射角に関する情報が搭載された分析素子チップを準備する準備工程と、
前記分析素子チップに搭載された前記入射角に関する情報に基づいて、前記金属薄膜の膜厚、前記金属薄膜の屈折率、前記金属薄膜の消衰係数、前記プリズムの屈折率、前記流路部材の屈折率、並びに前記所定の面へ入射する光の波長及び強度をパラメータとして演算して光源における光の射出方向が調整された入射角で光が前記所定の面に入射するように前記プリズムに対して光を出射する出射工程と、
前記金属薄膜の前記プリズムと反対側の面に接するように前記検体を流し、前記出射工程における光に基づく前記金属薄膜のプリズムと反対の面側で生じた蛍光を測定する検査工程と、を備えること
を特徴とする表面プラズモン共鳴蛍光分析方法。
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